Спектроскопия / Бёккер Ю. - М. Техносфера, 2009. - 528 с. - ISBN 978-5-94836-220-5. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/ISBN9785948362205.html (дата обращения: 11.08.2026). - Режим доступа : по подписке. |
Аннотация
Спектроскопия ядер, атомов, ионов и молекул принадлежит сегодня к группе важнейших и наиболее распространенных методов инструментальной аналитики. Высокотехнологичные эмиссионные, абсорбционные и флуоресцентные спектрометры обеспечивают точное определение качественного и количественного состава газообразных, жидких и твердых веществ, позволяют изучать поверхностные слои материалов, проводить локальный и послойный анализ. В настоящей монографии дается обзор различных современных методов ядерной, атомной, ионной и молекулярной спектрометрии, а также приборов, реализующих эти методы. Рассматриваются многие аналитические проблемы, решаемые в лабораториях промышленных предприятий, в естественнонаучных и технических учреждениях, а также вопросы изучения и защиты объектов окружающей среды.
Предисловие
В связи с прогрессом в области измерительной техники и особенно микроэлектроники в последние 10—20 лет отмечалось бурное развитие инструментальной аналитики, которая тоже достигла впечатляющих успехов. Благоприятные изменения в этой сфере потребовали, кроме прочего, повышения уровня компетентности сотрудников химических лабораторий, от техников-лаборантов до химиков-исследователей, использующих в своей работе разнообразные методы анализа и современное измерительно-аналитическое оборудование. Оптимальное, то есть проблемно-ориентированное и приближенное к практике, применение спектроскопии в соответствии с уровнем аналитической техники достижимо теперь лишь при условии владения основами новых методик, при точном знании возможностей и ограничений предлагаемого оборудования и существующих аналитических систем.
Юрген Беккер, химик-аналитик с богатым опытом производственной и преподавательской деятельности, рассматривает в своей книге самые популярные и наиболее распространенные на сегодняшний день методы спектрометрии. Методика и техника анализа обсуждаются здесь в весьма доступной форме с ориентацией на практические условия. Каждая глава ведет читателя от теоретических основ к детальному описанию конкретного метода. Оценивая достоинства и недостатки, равно как возможности и ограничения определенных способов и соответствующего аналитического оборудования, книга учит осознанному подходу к выбору методик анализа, предусматривающих высокий уровень технического оснащения, наличие эффективного программного обеспечения и гарантирующих получение достоверных и надежных данных.
Ознакомившись с приведенной информацией, химик-аналитик перестает быть лицом, приставленным лишь обслуживать некую систему «черного ящика» и нередко чувствующим себя чем-то вроде регламентирующей компьютерной программы. Перед ним открываются связи и зависимости, помогающие оптимально использовать имеющийся в распоряжении «аналитический инструмент». Я от всей души желаю этой книге успеха у заинтересованных читателей — в надежде, что представленные Ю. Беккером сведения с подробным описанием методов анализа и измерительно-аналитической техники будут способствовать реальному развитию и совершенствованию современной инструментальной аналитики.
Профессор Георг Шведт, |
От автора
Именно аналитическая химия с ее традиционными вопросами касательно качественного и количественного состава веществ сотни лет назад была положена в основу химии как науки. Но к началу XX века наметилось определенное отставание аналитики от стремительно набирающей силу химии синтетических материалов, которой, благодаря некоторым революционным открытиям и постоянно возрастающим требованиям в области естествознания, медицины, материаловедения, технического оснащения, а также зашиты окружающей среды, удалось выдвинуться на передний план. При этом, однако, не осталось незамеченным очевидное отстранение данной отрасли от нужд практического производства, как и от насущных проблем собственно химической промышленности, в то время как аналитическая химия все увереннее становилась важнейшим экономическим фактором с упором на удовлетворение потребностей широких слоев населения. Так, именно с помощью химии были успешно решены некоторые проблемы в борьбе с опасными болезнями, многие вопросы защиты окружающей среды, экономного использования сырьевых ресурсов и энергии. Если бы химическая аналитика несколько раньше была поставлена на службу конкретным отраслям науки и техники, она бы давно развилась в самостоятельную и максимально востребованную дисциплину.
Весовой и объемный анализы относят к классическим методам исследования веществ так называемым «мокрым способом». Бурное развитие электроники и эффективных технологий в области приборостроения привело к тому, что химико-аналитические приемы стали вытесняться более точными и более быстрыми физическими методами определения и идентификации. Современная химическая аналитика ориентирована на техническое оснащение высокого уровня. Развитие инструментальной аналитики в сочетании с электронной обработкой данных не только расширило область применения аналитических способов, но и позволило заметно понизить существующие прежде пределы обнаружения. Одновременно резко сократилась продолжительность самих анализов. Но это еще не означает, что полный успех способна гарантировать лишь дорогостоящая приборная техника, без которой вряд ли стоит рассчитывать на удовлетворительный результат. Различные спектроскопические методы, как то: спектроскопия ядерного резонанса, ИК- либо масс-спектрометрия, — широко используются сегодня при поиске ответов на многие вопросы касательно строения молекул или качественного и количественного состава веществ.
От точности проведения анализов зависит развитие химических наук и всех так или иначе связанных с ними отраслей. С каждым днем все яснее становится значение инструментальной аналитики для технологического прогресса в целом. Далее, она незаменима на уровне распознавания и устранения факторов, опасных для окружающего мира и вредных для здоровья человека. Таковы описанные вкратце и в целом области использования современной аналитики, форсирующей развитие любой сферы науки, техники и вообще человеческой деятельности в цивилизованных государствах.
Огромные объемы информации, полученной в результате ревизии действующих химико-аналитических лабораторий, были взяты за основу при разработке национальных и международных норм и регламентов применительно ко всем областям науки, здравоохранения и экологической защиты. Однако условием принятия целесообразных и квалифицированных решений всегда были и остаются точные и надежные данные измерений, ибо даже незначительное искажение результатов способно привести к нежелательным последствиям. Поэтому в сфере аналитики такие ключевые понятия, как «качество», «обеспечение качества» и GLP (gute Laborpraxis - хорошая лабораторная практика), определяют условия, при которых должны функционировать аналитические лаборатории. Здесь следует заметить, что требования к аналитике как таковой все больше возрастают, в то время как общие затраты на проведение анализов в силу мощной конкуренции на рынке специального оборудования практически не меняются. В связи с этим была поставлена дальнейшая, достаточно амбициозная цель: достижение максимально высокого качества при минимально возможных затратах. Это послужило поводом для широкомасштабных преобразований, начавшихся сегодня в лабораторной практике. Руководители и сотрудники лабораторий обязаны строить свою работу, не в последнюю очередь, на принципах рациональности, эффективности и экономичности. Тенденция к всеобщей автоматизации и рационализации четко проявляется и в инструментальной аналитике. Производители аналитического оборудования, чутко уловившие эти запросы, предлагают все более чувствительные, более точные и быстродействующие, значительно более удобные в обслуживании приборы и инструменты, отличающиеся высокой степенью автоматизации на всех уровнях — от отбора и подготовки проб до обработки данных.
В достижении поставленной цели неоценимую помощь оказывают компьютеры с соответствующим программным обеспечением. За последнее время были разработаны определенные регламенты, предлагающие однозначную систему гарантированного обеспечения качества. В техническом плане создаются условия для осуществления дистанционного обслуживания, контроля и управления комплексными аналитическими системами. Раскинувшиеся по всему миру высокоскоростные сети призваны реализовать глобальный обмен информацией между разными предприятиями и корпорациями.
Если ранее деятельность специалиста-аналитика ограничивалась преимущественно контролем качества изделий и изучением структуры новых веществ и материалов, то сегодня аналитические исследования полностью интегрированы в общий производственный процесс, что дает известные преимущества. Прежде изолированные друг от друга сферы — «производство» и «аналитика» — вынуждены переходить на уровень тесного взаимодействия, в частности и в силу того, что именно оптимизация всех процессов способна эффективно влиять на создание стоимости. В качестве примера можно назвать стремление к повышению эффективности рутинной, то есть каждодневной и стандартной, аналитики за счет снижения стоимости лабораторных анализов, дальнейшей автоматизации труда, более удобного обслуживания оборудования, принятия специальных решений, экспрессного получения результатов, текущего тестирования используемых средств контроля и постоянного накопления опыта и знаний. Автоматизация позволяет простым и надежным способом выполнять достаточно сложные анализы. Но аналитик при этом должен владеть современными технологиями, иметь представление обо всех перспективных ноу-хау. Очевидным становится желание создать определенные методические и технические связи между разными способами проведения анализов с целью их совместного использования. Именно благодаря такого рода сопряжениям, сочетаниям и совмещениям спектральных методов первоначально ориентированная на частное применение аналитика сделала значительный шаг вперед.
Известно, что по мере развития промышленного производства человек все больше загрязняет свой окружающий мир сточными водами, отработанными газами и отложениями разного рода. При этом неразлагающиеся отходы сохраняются в почве, в воде и в воздухе, рано или поздно попадая в продукты питания и далее — в организм человека. Обнаружение содержащихся во внешней среде вредных веществ остается одной из приоритетных задач аналитики объектов окружающей среды. К сожалению, при решении экологических проблем определяющим моментом нередко становятся связанные с этим затраты, в то время как развитие окружающего мира, насущные проблемы экономики и общества отодвигаются на задний план. Тем не менее рынок услуг в сфере аналитики именно на уровне защиты окружающей среды заметно изменился в последние годы, причем резко возросла потребность в достоверной информации. Экологическая безопасность производства тех или иных продуктов и изделий стала фактором конкуренции на международном уровне.
И все же по-прежнему существует очевидный диссонанс между бесспорным практическим значением аналитической химии и учебными планами кафедр специализированных вузов. В ФРГ аналитика традиционно связана с неорганической химией. Решение многих вопросов, поставленных на уровне аналитических исследований, требует порой тесного взаимодействия на стыке наук с выходом далеко за рамки химии как таковой. Работать в сфере аналитической химии невозможно без специальных знаний из области собственно аналитики, без особого способа мышления и умения принимать требуемые стратегические решения. При этом успех определяется конкретными действиями на всех этапах, начиная от правильного взятия проб, их максимально чистой подготовки (включая оптимальный выбор необходимого оборудования) и заканчивая грамотной обработкой и интерпретацией полученных данных. В отличие от классических химических дисциплин, разработка методов проведения анализов происходит не только в НИИ или высших учебных заведениях, но и в заводских лабораториях и на фирмах, занимающихся выпуском соответствующего оборудования.
Аналитические инструменты стали проще по конструкции, удобнее в обращении и меньше по размеру. Автоматизированные и компьютеризованные приборы облегчают процесс проведения анализов, но требуют одновременно достаточно высокого уровня квалификации сотрудников. К сожалению, обусловленное происходящей автоматизацией процессов сокращение персонала считается иногда более важным экономическим фактором, чем достоверность получаемых результатов. Не следует, однако, забывать о том, что окончательная оценка метода и интерпретация данных осуществляются все же человеком, а компьютер является всего лишь его вспомогательным средством. Условием для принятия квалифицированных решений были и остаются надежные и сопоставимые результаты анализа, которые достигаются лишь при наличии опытного и хорошо обученного персонала.
Настоящая книга была задумана исходя в том числе и из этих соображений. Инструментальная аналитика не рассчитана на специалиста такого уровня, который способен только управлять автоматами согласно прилагаемой инструкции и не знает, что же конкретно он делает. Данный учебник составлен практиком в области инструментальной аналитики, ориентированной на конкретное применение. Изучая общую химию, автор приобрел богатый опыт работы с «классической» приборной (еще не компьютеризованной) техникой, а позднее создал в Институте автоматизации производственных процессов (ТРА) в Штутгарте лабораторию инструментальной аналитики, последовательно разрабатывающую оптимальные методы исследования поверхности. Полученные аналитические знания позднее широко использовались фирмой IBM при создании изделий на основе высоких технологий.
Начиная с 1984 г. автор читает курс инструментальной аналитики в Техническом университете г. Ален в рамках специальности «методы исследования поверхности и материаловедение». Первоначально разрозненные лекции были объединены в общий сборник, который постоянно расширялся и дополнялся все последние годы. Настоящее издание отражает современный уровень развития инструментальных методов и демонстрирует возможности их применения. Как используемая приборная техника, так и положенные в ее основу методы инструментальной аналитики максимально открыты для инноваций и требуют от всех пользователей постоянного обновления и углубления своих знаний. Главной целью автора является доведение до читателя информации о новейших разработках в области инструментальной аналитики. Квалифицированный персонал химико-аналитических лабораторий, учащиеся специализированных учебных заведений и все специалисты, так или иначе связанные с химией, могут почерпнуть здесь сведения о самых разных инструментальных методах анализа и получить ответы на многочисленные вопросы из области аналитики.
Для тех, кто только приступает к изучению заявленной тематики, довольно обширные и порой весьма сложные аспекты предлагаются в максимально доступной форме. При этом теоретические основы ограничены лишь объемом, необходимым для понимания конкретных методов, рассмотрение же самых популярных из них приближено к практическим условиям с указанием возможностей и ограничений, равно как имеющихся достоинств и недостатков того или иного способа. Читатель получит полное представление о различных методах инструментального анализа с описанием требуемого для их реализации оборудования.
Приведенная библиография и многочисленные ссылки на специальную литературу дают возможность при необходимости обратиться за более подробной информацией с целью расширения и углубления знаний по соответствующим вопросам.
Юрген Беккер, Штутгарт |
ГЛАВА I
ВВЕДЕНИЕ
Без аналитических данных не обойтись, если физические, химические или биологические свойства материальных систем неорганической или органической природы, которые мы хотели бы понять, использовать или изменить, зависят от содержания компонентов данных систем. В равной мере это относится ко всем аспектам нашего материального мира и ко многим связанным с ним областям науки и техники, которые могут перемежаться и пересекаться друг с другом. Вещественная сфера простирается от горных пород, минерального и органического сырья, водных систем, атмосферы, почвы, растительного и животного мира до объектов наших материальных потребностей.
Прежде всего для распознавания примесей, способных изменять свойства загрязненных ими химических веществ, требуется предельно высокая способность к обнаружению при достаточной надежности информации, затраты на получение которой, конечно, не должны быть чрезмерными. Итак, три важнейших критерия оценки аналитического метода — чувствительность, правильность и стоимость — теснейшим образом связаны друг с другом [1.1]. Аналитическая работа стоит немалых денег, и затраты на проведение анализов в значительной мере зависят от поставленных вопросов, используемых методов, достоверности показаний, сложности обработки и общего объема работы. Рутинные лабораторные анализы безусловно обойдутся дешевле решения сложных аналитических задач, но это не причина отказываться от перспективных планов. В ситуации демпинговой политики в отношении персонала и стремления к снижению стоимости анализов особенно страдают аналитические лаборатории с низким уровнем специализации. Поскольку лабораторные анализы с применением методов по нормам DIN (Промышленный стандарт Германии) или DEV (Немецкие стандартные способы исследования воды) осуществляются порой силами не обладающих специальными знаниями сотрудников, то не стоит удивляться, имея на выходе весьма сомнительные результаты. Если мы хотим не просто предъявить некие данные, так сказать, для проформы, но выполнить именно «правильные» анализы, нам следует работу на всех этапах - от взятия проб и до оценки результата - поручить квалифицированным специалистам.
Сегодня область применения аналитических методов расширяется поразительно быстрыми темпами. В технологии это были сначала только полупроводники и чистые вещества, позднее оптические волноводы и сверхпроводники, а теперь еще и высокотемпературная керамика — словом, все то, что требует наилучшей обнаружительной способности [1.2]. Возможность получать изделия воспроизводимого качества является одним из важнейших условий современного производства. Используемые ныне методы анализа приобретают все более сложное инструментальное оснащение, что значительно расширяет их перспективы.
Многообразию методов, предлагаемых пользователю в области аналитической химии, соответствует многообразие сфер их применения — от научных дисциплин, таких как химия, физика, биология и медицина, и до множества технологических отраслей. Взаимодействие между методической стороной аналитики и ориентированными на конкретное применение интересами пользователей открывает пути для инноваций в аналитической химии, причем та или иная цель задается, в частности, стремлением к высокой чувствительности обнаружения, максимальной надежности и наиболее благоприятному соотношению цены и качества при использовании определенных аналитических методов. В общем и целом можно отметить, что в сфере инструментальной аналитики еще никогда не удавалось измерять такой объем компонентов за столь короткое время, как это делается в настоящее время. Человеческий фактор уже на этапе взятия проб, их подготовки и дозировки с лихвой компенсируется автоматизацией и поддержкой со стороны робототехники, а выполняющее функции экспертной системы программное обеспечение оказывает помощь при оценке результатов измерений [1.3].
В деле решения текущих вопросов, касающихся характеристики веществ и материалов в зависимости от поставленной аналитической задачи, разработка новых способов на основе уже внедренной методики столь же необходима, как и совершенствование самих методов, когда методические предпосылки для решения возникающих проблем еще только предстоит создать. В области развития элементной аналитики методы следовых анализов, как и прежде, остаются в высшей степени актуальными, причем особые требования выдвигаются в отношении надежности определения на все более сложных матрицах [1.4]. Это касается самых разных областей применения — от создания новых веществ [1.5] и до традиционных отраслей биологии и медицины. В рамках производственного процесса аналитика повсеместно используется в самых разных формах. Здесь за основу берутся четыре базовых понятия: получение активных веществ, безопасность выполняемых операций, обеспечение качества и защита окружающей среды.
Но что развивает наше общество сильнее, чем даже инновационные технологии, без которых не обойтись хотя бы в силу быстрого прироста мирового населения? Это, безусловно, все возрастающая опасность для окружающей среды и в конечном счете для здоровья и жизни человека [1.6]. К сожалению, в современном индустриальном мире далеко не все осознают, что без аналитической химии едва ли удастся требуемым образом оптимизировать технологии и минимизировать связанные с ними риски. Таким образом, аналитика из разряда первоначально вспомогательной дисциплины, стоящей на службе химической промышленности, вырастает до уровня всесторонне востребованной самостоятельной отрасли, так что уже не будет большим преувеличением говорить о создании как таковой аналитической науки (analytical science).
Многие стоящие перед химиками цели и задачи можно свести к одной простой формулировке: требуется находить и создавать полезные для человека вещества, применяемые как биокатализаторы в медицине, ветеринарии и сельском хозяйстве, а также как материал для всех уже известных или еще стоящих на пороге открытия областей [1.7]. Печальный факт: Германия на протяжении нескольких последних лет отстает в этом вопросе от Японии и США. Не стоит забывать, что упущения на уровне исследований ослабляют экономическое положение страны на мировом рынке. Справедливости ради следует отметить, что в области экологически чистых технологий, ставших в наши дни решающим фактором конкуренции, Германия занимает ведущее положение в мире [1.8].
1.1. Историческая справка
Поиск подходящих активных веществ люди вели еще в доисторические времена. Занимаясь поиском пиши, они учились различать съедобные и ядовитые дары природы, в ходе собственных наблюдений отмечали целебное действие некоторых трав и т.д. На основе народной медицины проводились и первые воспроизводимые опыты по использованию природных соединений в терапии.
В то время как воздействие того или иного вещества на биологическую систему — будь то человек, животное или растение — в силу комплексности процессов сегодня еще не всегда понятно и требует тщательного изучения специалистами самых разных направлений, первые необходимые для жизни человека материалы были найдены или созданы им уже на ранней стадии развития. В качестве примера можно назвать металлы, керамику и стекло, а открытие бронзы и железа стало началом целых культурных эпох. Ранее человек опытным путем учился добывать вещества со специальными свойствами и особого качества. Он пытался их формовать, закалять или окрашивать.
С учетом этого доисторического опыта развивалась затем современная наука, а именно на основе анализа и синтеза. Разные методы анализа учили нас понимать состав, чистоту, структуру и качество поверхности. Благодаря взаимодействию анализа и синтеза удавалось распознавать определенные свойства и структуры и затем сознательно придавать отдельным веществам специальные признаки. Сейчас полным ходом идет процесс создания новых перспективных материалов с особыми механическими, тепловыми, электрическими и магнитными свойствами.
Хотя работы, направленные на получение новых активных веществ и иных материалов, могут в корне отличаться друг от друга, в любом случае трудно не согласиться с тем, что исследования во всех названных областях становятся все более целенаправленными и ведутся скорее на основе умозаключений и реже — эмпирическим путем. Знание отношений между структурой и действием, а также между строением и свойствами все чаще позволяет решать проблемы на молекулярном уровне. При поддержке эффективной аналитики подобные разработки могут способствовать решению многих проблем с принятием во внимание всех необходимых аспектов — удобства и простоты в обращении, совместимости с окружающей средой и экономии ресурсов.
Использование весов при проведении химических экспериментов, чем мы обязаны А.Л. Лавуазье (1743—1794 гг.), положило начало эпохе так называемой современной химии. Р.В. Бунзен (1811 — 1899 гг.) и Р. Фрезениус (1818—1897 гг.) считаются основателями аналитической химии в Германии. Бунзен уже в середине XIX века проводил фундаментальные исследования химических процессов, проходящих в доменных печах. Одним из замечательных результатов его деятельности стала возможность заметного снижения удельного расхода топлива. Профессор Фрезениус открыл в 1848 г. в Висбадене частную учебную лабораторию, объединив под одной крышей исследовательскую работу, учебные занятия и прикладную химию. В центре активной работы этого учреждения находились прежде всего проведение анализов воды, исследование технических изделий и минералов, определение качества сахара и алкоголя, обнаружение неорганических компонентов в растениях, анализ почв и удобрений, а также изучение атмосферного воздуха [1.9].
В. Оствальд (1853—1932 гг.) в 1894 г. издал в Лейпциге книгу под названием «Научные основы аналитической химии», отказываясь тем самым от привычного тогда представления об аналитической химии как о некоем вспомогательном предмете. За свои основополагающие работы по изучению катализа Оствальд получил в 1909 г. Нобелевскую премию в области химии. Далее последовали достижения Вант-Гоффа (1852—1911 гг.), З.А. Аррениуса (Нобелевская премия по химии в 1903 г.) и В.Г. Нернста (Нобелевская премия по химии в 1920 г.). Эта классическая эпоха аналитической химии протекала преимущественно под знаком химических реакций, объединенных в целях достижения аналитического разделения, что в своей основе превосходно оправдывало себя в прикладной аналитике на протяжении многих десятилетий.
Открытие новых химических элементов было мощнейшим импульсом для творческого подъема среди химиков, причем разработка каждого нового способа анализа влекла за собой дальнейшие открытия. Если элемент германий был открыт в 1886 г. уже известным к тому времени методом химического осаждения, то выделение для щелочных металлов рубидия и цезия в минеральных водах Р. Бунзену совместно с физиком Кирхгоффом (1824—1887 гг.) удалось разработать в 1861 г. с помощью эмиссионного спектрального анализа. При химическом разделении прослеживались важнейшие спектральные линии обоих металлов, а после каждого выполненного разделения продолжалось отслеживание той их части, где линии оказывались наиболее интенсивными. Позднее на основе эмиссионного спектрального анализа были открыты: таллий (1861 г.), индий (1863 г.), галлий (1875 г.) [1.10].
В качестве другого примера можно упомянуть развитие радиохимических методов, которые привели мадам Кюри в 1898 г. к обнаружению радия и полония. За открытие этих элементов, а также их описание и исследование с указанием эффективного выделения Мария Кюри получила в 1911 г. Нобелевскую премию в области химии. Далее последовали успехи других ученых: в 1922 г. был найден гафний, а в 1925 г. — рений как последний из отсутствующих в периодической системе естественных элементов, причем достигнуто это было именно на основе только что внедренного в практику рентгеноспектрального анализа.
С расцветом химической промышленности на эту положительную фазу, связанную с накоплением новых знаний (открытие не известных ранее элементов, создание теории атомов, теории газов, закона действия масс, изучение стехиометрии, процесса расщепления ядра и др.), накладывалась и отрицательная, где в значительной мере девальвировалась научная сторона аналитической химии. Последняя использовалась в основном только для стандартного контроля продуктов синтеза, в ходе которого эти продукты приходилось вновь подвергать разложению, привлекая дополнительные средства.
Для характеристики органических продуктов синтеза на протяжении достаточно долгого времени предлагался исключительно анализ органических элементов в качестве единственного аналитического принципа. Таковой был разработан Ю. фон Либихом в 1837 г., а позднее усовершенствован сначала Ф. Преглом в 1920-е годы, затем к этому процессу подключились и многие другие микроаналитики. За развитие микроанализа органических веществ Прегл получил в 1923 г. Нобелевскую премию по химии. Если во времена Либиха использовались еще пробы весом до грамма, то теперь их вес был снижен до нескольких миллиграммов. Это не только позволило сократить продолжительность анализов, но и дало возможность проводить элементные анализы дорогостоящих природных соединений. Предпринимались многократные попытки сократить навески проб до нижнего мкг-диапазона, однако эти довольно затратные методы позднее были заменены масс-спектрометрией.
Вообще, 1920—1930-е годы были периодом развития классического микроанализа. При этом в качественном анализе предпочтение отдавали исследованиям с помощью паяльной трубки и микрокристаллическим реакциям, которые были не только в своем роде эстетичными, но и чрезвычайно чувствительными и более надежными, чем ранее популярные цветовые и капельные реакции. Но в 1950—1960-е годы работы по развитию и совершенствованию приемов в методах микроисследований начали сворачиваться по причине сложившегося к тому времени весьма отрицательного отношения общественности к аналитической химии в целом.
В гораздо более благожелательной обстановке, чем это было в случае с химической промышленностью, развивалась в 1950-е годы элементная аналитика в геохимии и металлургии. Здесь значительно раньше, чем в других отраслях, была осознана ее незаменимость в деле оптимизации свойств продукции (например, сплавов и сталей), а также при получении новых знаний о строении земной коры, что ускорило добычу содержащихся в недрах Земли сырьевых ресурсов. Была сделана ставка на спектральный анализ Бунзена с привлечением множества последующих стимулов, способствующих развитию современной инструментальной аналитики. Однако, несмотря на уже начавшееся активное внедрение физических методов анализа — спектроскопии, — химическая аналитика по сей день остается в первую очередь той областью химии, открытия в которой нередко делаются, так сказать, «на кончике пера», ибо только глубокое знание веществ и материалов способно создать прочную базу для собственно аналитической химии.
1.2. Преимущества инструментальной аналитики
Прямые инструментальные приемы являются в основном физическими относительными методами, где аналитические измеряемые величины отличаются от результатов в классической аналитической химии (пример: масса осадка), представляя собой электрические параметры, обусловленные, допустим, пучками электронов, фотонов, нейтронов и ионов. Искомая концентрация или, соответственно, определяемое абсолютное количество элемента либо соединения становятся, таким образом, функцией соответствующей калибровки оборудования.
При условии правильно выполненной калибровки приборной техники преимущества инструментальной аналитики состоят, во-первых, в возможности регистрировать очень малые (следовые) концентрации (вплоть до нижнего микродиапазона),
1.2. Преимущества инструментальной аналитики
причем с использованием сравнительно небольшого количества вещества, и, во-вторых, в быстроте проведения анализа, чем обеспечиваются предпосылки для автоматизации процесса и многократного использования одной и той же пробы, поскольку исследуемое вещество в ходе анализа не претерпевает никаких изменений.
1.2.1. Следовая аналитика
Методы классической аналитической химии, дающие при определении содержания чрезвычайно точные результаты вплоть до тысячной доли процента, основаны преимущественно на химических реакциях, в том числе на реакциях осаждения труднорастворимых продуктов (гравиметрия) либо интенсивно окрашенных продуктов (титриметрия). Поскольку подлежащие исследованию элементы находятся в виде ионов в водном растворе, можно говорить о «мокрых» способах химического анализа. Эти классические методы определения сверхмалых объемов уже не годятся для экономичной лабораторной аналитики в следовом диапазоне.
Если, например, надо выполнить количественное определение концентрации элемента 1 нг/г в клетке, то уже потребуется метод определения с абсолютной обнаружительной способностью в фемтограммовом диапазоне (1 фг = 10-15 г). Понятно, что аналитическая информация и в этом случае должна быть еще достаточно надежной. Сомнительность полученных данных не исключена сегодня на всех фазах аналитического процесса, когда приходится определять ничтожно малые концентрации в единицах нг/г и ниже. Причиной такого положения является наличие систематических погрешностей, которые имеют в традиционных анализах лишь второстепенное значение, но роль которых резко возрастает при определении все более низкого содержания элементов.
В то время как известные статистические ошибки не выходят за рамки законов вероятности и поэтому математически хорошо описаны (что позволяет сократить их число за счет многократного повторения измерений), источники систематических погрешностей нередко имеют комплексную природу, поэтому распознаются с большим трудом и от них не застрахованы даже самые опытные специалисты по следовым анализам. Таким образом, минимизация систематических погрешностей стала главной проблемой ультраследового анализа (рис. 1.1). Максимально возможное исключение такого рода ошибок требует очень большого опыта и, прежде всего, квалифицированной критичности.
Здесь отмечается тенденция к развитию экономичных инструментальных прямых методов, реализуемых с применением весьма дорогостоящего оборудования и основанных на физических принципах. Специалисты сразу взяли на вооружение современный термин «инструментальная аналитика». С точки зрения необходимых затрат важную роль играют экспрессные прямые методы определения для использования в стандартных анализах, в том числе и с управлением в режиме реального времени. Производители соответствующего оборудования предлагают широкий выбор самых разных измерительных схем — от высокоэффективной исследовательской установки до миниатюрного устройства для проведения анализов прямо на рабочем месте.
1.2.2. Высокий оборот проб
В настоящее время все более популярным становится такое понятие, как «производительность», «эффективность» или «продуктивность». Повышение производительности является непременным условием достойного уровня жизни, каковой общественная система способна предложить своим гражданам. Поэтому частные промышленные предприятия и многие общественные организации неустанно ищут и находят все новые пути улучшения качества товаров и услуг. Изготовители научно- исследовательского оборудования оказались в последние десятилетия в числе тех, кто наиболее энергично способствовал повышению производительности в самом широком смысле этого слова. Вспомним хотя бы, как выглядела раньше типовая аналитическая лаборатория. В ней имелся огромный запас стеклянных принадлежностей — разного рода пипеток и бюреток и несметное число высококвалифицированных научных сотрудников, которые проводили полный рабочий день за лабораторным столом. Но результат их каждодневного труда был, мягко говоря, неадекватным: ничтожное число исследованных образцов.
В настоящее время вследствие использования современных высокоэффективных приборов объем выполненных работ резко вырос. Сегодня многие лаборатории ежедневно анализируют, как правило, тысячи образцов, а полученная в результате этих усилий дополнительная информация служит основой для последующих исследований. Минералы и масла обнаруживаются сейчас гораздо эффективнее, быстрее перерабатываются в конечные продукты, причем количество отходов сильно сокращается — и все это заметно снижает объем затрат! Добротность используемых в промышленности сырьевых материалов и конечной продукции за последние годы несомненно повысилась, так что потребитель вправе ожидать и значительно более качественных, чем в прошедшие годы, продуктов питания, фармацевтических изделий и товаров длительного пользования.
Нормы обеспечения качества требуют высокоэффективных аналитических исследований в ходе всего производственного процесса. Вместо принятого ранее взятия выборочных образцов ныне все чаще переходят к проверке каждой отдельной упаковки — например, в рамках контроля поступления товаров. В связи с этим аналитика должна быть готова к наплыву все большего объема проб, а обработка многократно возросшего объема материала при том же (или даже меньшем) количестве сотрудников возможна только на основе автоматизации и экспрессных методов анализа. Поскольку основная часть времени обычно приходится на пробоподготовку, то ускорить работу в целом удается преимущественно за счет сокращения времени на эту операцию либо даже полного отказа от нее. Таким образом, можно говорить о тенденции к переходу на методы измерения, интегрированные в процесс либо действующие в реальном масштабе времени (In-line и, соответственно, On-line).
Представьте себе тот огромный объем анализов, который необходимо выполнять в настоящее время в рамках защиты объектов окружающей среды. С ручными способами из прошлых времен здесь просто нечего делать! Ясно, что без современного аналитического оборудования мы не могли бы сегодня столь эффективно контролировать процессы и управлять состоянием окружающего мира, в котором живем.
Обработку большого объема материала для текущих анализов можно теперь переложить на плечи машин и автоматов. Эффективно действующие аналитические автоматические устройства обычно обходятся дешевле, чем обслуживаемые вручную приборы для проведения классических анализов. При этом автоматы выдают результаты, не обремененные субъективной оценкой (например, со стороны обслуживающего персонала). Автоматическое оборудование, используемое в инструментальной аналитике, можно классифицировать примерно следующим образом:
-
полуавтоматические устройства, при которых часть операций собственно анализа выполнятся вручную,
-
полностью автоматические устройства, обеспечивающие полностью автоматический процесс выполнения анализов,
-
логические автоматы — частично или полностью автоматические устройства, способные на основе результатов измерений изменять (например, оптимизировать) ход анализа,
-
автоматы управления процессом — системы, обеспечивающие дальнейшую обработку результатов анализа в микро-ЭВМ (например, при управлении дозировочными насосами).
В настоящее время стремительно растет спрос на все более производительные, более гибкие автоматические системы подготовки и обработки проб. Сами же устройства — по причине оснащения их ЭВМ и при наличии микропроцессорного управления — все меньше нуждаются в обслуживающем персонале. Во избежание ошибок и погрешностей оборудование снабжается автоматической системой контроля результатов, выдающей сообщение об ошибке, если измерения выходят за границы поля допуска.
1.3. Спектроскопия
Большую часть сведений о строении материи получают на основе экспериментов, в ходе которых свет — или, как обычно говорят, излучение — и материя вступают в определенное взаимодействие. Со времени первого практического спектрального анализа, проведенного Бунзеном и Кирхгоффом, основанная на взаимодействии между излучением и материей спектроскопия с ее огромным многообразием методов превратилась в важнейшее вспомогательное средство современной аналитики. Это можно объяснить как прогрессом в области совершенствования оборудования, так и фундаментальными теоретическими трудами, успех которых был бы невозможен без — открывающих новые пути — познаний в области квантовой механики.
Известно, что свет имеет двойственную природу — волновую и корпускулярную, и для его описания используются характеристики двух видов: волновые и квантовые.
Одни физические явления, вызванные взаимодействием света и материи, могут быть описаны с помощью волновой природы света, другие — только на основе корпускулярной теории. Видимый свет является примером электромагнитного излучения. В качестве других примеров можно назвать: рентгеновское излучение, ультрафиолетовое излучение и инфракрасное излучение. Все эти виды излучения имеют нечто общее: их можно регистрировать в виде электромагнитных волн, распространяющихся со скоростью света и отличающихся только частотой.
Развитие классической спектроскопии и применение абсолютно новых принципов в спектральной аналитике стали основными причинами повышения роли спектроскопии в наше время. Она обладает столь мощными информационными возможностями, что можно смело утверждать: современная атомная и молекулярная спектрометрия способна дать ответ практически на любой осмысленный вопрос из области аналитики. Еще 30 лет назад спектры УФ-излучения и комбинационного рассеяния света регистрировались с помощью фотопластинок, а спектры И К-излучения точка за точкой записывались гальванометром, причем оснащенные трубками аналоговычислительные усилители считались вершиной конструкторской мысли, а спектрограммы составлялись путем механической сортировки перфокарт.
Суть любого контроля качества — это вопрос идентичности. Для практической работы контрольной лаборатории требуются измерительно-технические способы, обеспечивающие квантуемые и воспроизводимые параметры. Определенная измерительная техника всегда может отобразить лишь часть всех свойств продукта и в идеале должна выборочно регистрировать признаки, указывающие на то или иное качество. К простому измерению относится определение температур плавления и кипения, показателя преломления или вязкости. Если же речь идет о химических различиях, селективности таких способов оказывается явно недостаточно. С другой стороны, химические анализы, производимые известным «мокрым способом», нередко занимают слишком много времени, особенно если требуется получить количественные показатели.
Итак, запомним: спектроскопия есть наука о взаимодействии между светом и материей.
Внедрение спектроскопии в сферу аналитики послужило мощным стимулом для ее развития и совершенствования. Одномерные способы анализа дают для каждого вещества всего одну измеряемую величину (температуру плавления, время запаздывания и т.д.). Методы спектроскопии представляют собой как минимум двухмерные способы анализа, дающие для вещества в каждом разрешимом диапазоне длин волн (или масс) спектра хотя бы одно значение интенсивности. Поэтому информативность спектроскопии достаточно велика для того, чтобы ответить практически на любой вопрос из области аналитики. Это, собственно, одна из причин успешного развития спектроскопических методов анализа.
Спектроскопия по определению занимается описанием атомов, ионов, радикалов и молекул на основе регистрации и расшифровки их спектров, получаемых с помощью различных измерительных устройств, среди которых можно назвать: атомно-абсорбционный спектрометр, атомно-эмиссионный спектрометр или спектрофотометр. Спектроскопические приборы состоят, как правило, из трех основных узлов: источника излучения, устройства для спектрального разложения и детектора для измерения излучения.
Практическая спектроскопия очень скоро начала развиваться в двух направлениях, разделившись на атомную и молекулярную. Аналитические методики использовали для этой цели переходы в схемах энергетических уровней молекул и атомов с квантами излучения (фотонами) из участков спектра от рентгеновского излучения до ультракоротких волн. При атомной спектроскопии речь идет о качественном и количественном определении элементов в разных веществах и областях концентраций. Сюда относятся, например, способы атомной абсорбции, атомной эмиссии и рентгеновской флуоресценции. Методы молекулярной спектроскопии на основе УФ/видимой, ИК-областей спектра, комбинационного рассеяния и ЯМР (ядерный магнитный резонанс) позволяют сделать вывод о связях и структуре молекул. Характеристические полосы или комбинации полос спектра могут стать свидетельством того или иного качества, равно как и основой для определения отдельных компонентов.
К общему понятию «спектроскопия» относят также методы масс-спектрометрии и электронной спектрометрии. Хотя, строго говоря, масс-спектрометрия не является методом, основанным на взаимодействии между электромагнитным излучением и материей, а есть метод разделения.
Многообразие предлагаемых методов позволяет получить ответы на весьма специфические вопросы, для чего можно взять на вооружение: микро- и следовый анализ, анализ поверхности, исследование тонкой структуры комплексных систем и аналитику реактивных систем. Многие спектроскопические способы действуют недеструкционно, то есть без разрушения образца, что позволяет многократно и по-разному исследовать одну и ту же пробу, которая и после этого вполне еще может быть пригодна для дальнейшего изучения. Это особенно удобно, например, в случае анализа произведений искусства или при конечном контроле качества готовых изделий. Но особенно важным представляется то обстоятельство, что многие спектроскопические способы могут быть реализованы непосредственно на месте нахождения подлежащего исследованию образца, а результат анализа выдается в реальном времени, что позволяет своевременно вмешаться в процесс, осуществляя требуемые регулировки, либо вообще прервать работу в связи с аварийной ситуацией и т.п.
Сегодня представляется излишним говорить о значении физико-химических методов анализа, которые стали повседневным делом каждой современной химико-аналитической лаборатории. С помощью спектроскопических методов удается решать, в частности, следующие задачи:
Благодаря многообразию возможностей применения, высокой точности результатов и замечательной чувствительности обнаружения, не говоря уже о существенном сокращении времени на проведение анализов, спектроскопические методы достигли высшей степени экономической эффективности. Без них сегодня не произвести ни одной тонны стали, не создать ни одного электронного блока. Существуют законодательно установленные требования в отношении качества продуктов питания, а также таких жизненно важных материй, как вода и воздух, и, наконец, лекарственных препаратов разного рода, и эти требования подлежат строгому выполнению. С помощью спектроскопических методов удается держать под контролем и побочные продукты человеческой деятельности: мусор, отработанный воздух и сточные воды. Исследование экономических основ в широком смысле — от биохимии до астрономии — немыслимо без современных спектроскопических методов анализа.
В настоящее время в области инструментальной аналитики все чаще находят применение компьютеры, благодаря чему само оборудование становится удобнее и проще в обслуживании, а обработка результатов возможна в любой форме. В этих условиях оператору в принципе достаточно иметь лишь общее представление о сути анализа, а иногда он может вообще ничего не знать о нем. Однако при этом не стоит забывать (и здесь кроется главная опасность!), что надежность того или иного прибора всегда зависит от точности его калибровки, и, следовательно, необходимо постоянно и скрупулезно проверять получаемые результаты. Аналитическое устройство не должно становиться своеобразным «черным ящиком», а вычисленные показатели ни в коем случае нельзя слепо доверять компьютеру, поскольку тот способен лишь обработать результаты выполненного анализа. Но «правильный» анализ во многом зависит от тщательности отбора проб, их подготовки и обеспечения соответствующих условий работы.
Практически все используемые в спектроскопии приборы содержат — часто в модульном исполнении — системы для взятия проб и возбуждения аналитического сигнала. Далее вступает в действие спектрометр для создания спектра в интересующем интервале длин волн и выделения специфичного для данного вещества сигнала; затем наступает очередь детекторной системы для регистрации измерительного сигнала и, наконец, задело принимается устройство для обработки данных измерения. Важная роль отводится и системе управления всеми процессами измерения с поддержкой вычислительных машин. В последние годы в этой области особой популярностью пользуются персональные компьютеры. Наряду с внедрением высокопроизводительных ПК, развитию многих новых методов анализа эффективно способствовало появление таких конструкционных узлов, как лазерные источники излучения и волоконные световоды.
Сегодня автоматизированы многие трудоемкие операции (взятие проб, их подготовка, размещение в устройстве), а световые волокна дают возможность исследовать образцы, которые находятся за пределами спектрометра либо относятся к опасному, чувствительному или весьма ценному материалу. Предполагается, что в будущем многие анализы, выполняемые сегодня еще по методу Либиха (отбор проб, транспортировка их в лабораторию, проведение собственно анализа, обработка результатов), будут осуществляться в реальном времени прямо на рабочем месте либо с применением миниатюрных специализированных спектрометров или оптических волноводов, соединяющих разные пункты взятия проб с центральным спектрометром.
Целью настоящего издания является обсуждение проблем спектроскопии, но не стоит рассматривать эту книгу как пособие для спектроскописта. Она обращена, прежде всего, к занятым в промышленном производстве химикам-практикам и инженерам, использующим спектроскопические исследования в качестве вспомогательного средства при решении разного рода химических задач. Изложенное выше введение призвано дать обзор существующих спектроскопических методов и побудить названную целевую группу активнее привлекать эти методы в своей собственной работе.
1.4. «Ничто»: кок его найти
Понятно, что расстояние от Штутгарта до Красной площади в Москве не покроешь за два прыжка: между ними протянулась воздушная линия длиной в 2000 км. Два миллиметра этого пути составляют 1 ppb (миллиардная доля), что соответствует одной миллиардной части всей трассы. Уже в данном случае — при наличии числа «всего» с девятью нулями — наступает предел человеческому воображению. Способность человека представить определенный размер или число связана скорее с его повседневной жизнью: каждому понятно, например, какова тяжесть одного килограмма. Ни одному человеку не составит труда показать руками примерную длину в один метр. И любой знает, сколько длится один час, особенно если его приходится провести в томительном ожидании. Но вот при упоминании тысячи тонн, сотой доли миллиметра и 4000 лет человек уже чувствует границу, за которой его воображение бессильно, а уж число световых лет, количество наносекунд и частей на миллиард заставит его разум полностью капитулировать.
В былые времена столь редкими единицами измерения оперировали исключительно естествоиспытатели. Но сейчас подобное обозначение можно встретить во всех средствах массовой информации, когда сообщается, скажем, о мощности электростанции (мегаватт), об открытии нового гормона (микрограммов) или о загрязнении грунтовых вод (частей на миллиард).
Современная аналитика занимается, так сказать, «миром после запятой». За последние два десятилетия ни одна наука не достигла столь впечатляющих успехов, как аналитика — наука обнаружения веществ и определения их концентраций. Если более 40 лет назад количество любого вещества до десятой части промилле приходилось считать равным «нулю», то сегодня мы вполне можем обнаружить всего одну миллиардную часть грамма. Таким образом, данная наука способна определять количества на уровне следов, что абсолютно не поддается человеческому воображению, и этот успех придал совершенно новое измерение, в частности, обсуждению проблем зашиты окружающей среды. Практически уже можно попытаться обнаружить нечто, обозначаемое ранее как «ничто». Это касается в том числе и упомянутых выше следовых остатков в почве, воде, воздухе и, наконец, в продуктах питания.
Строго говоря, «нулевого остатка» вообще не бывает, но аналитика обнаруживает еще и следы каких-то следов. Нуль, таким образом, остается теоретической величиной, к которой можно приблизиться, но никогда нельзя достигнуть. Рисунок 1.2 наглядно демонстрирует величины концентрации на уровне ультраследов. Самым чистым веществом, какое сегодня можно изготовить, является кремний. Даже при использовании способа зонного плавления удается в лучшем случае получить чистоту порядка 109 примесных атомов на см3. Если упрощенно принять 1023 атомов на см3, это соответствует загрязнению, равному примерно 1014 атомов, или 0,01 ppt (триллионная доля).
Но высокая эффективность аналитики имеет и свои подводные камни: вновь и вновь приходится сталкиваться с ситуациями, когда из результатов анализа делаются ошибочные выводы, поскольку обращение с «крошечными» размерами требует строгого соблюдения множества граничных условий. Все мы являемся в некотором смысле заложниками аналитики, оставляя без ответа вопрос: какую же концентрацию «подозрительного» вещества все-таки считать опасной? Здесь наука просто ставит нас в тупик. Политики уходят от ответа, возросшая чувствительность методов обнаружения будоражит общественность.
Благодаря чрезвычайной чувствительности современной аналитики мы можем обнаружить в почве, в воде, в воздухе и в наших продуктах питания гораздо больше веществ, и среди них будут те, о которых мы ранее даже не подозревали, ибо не располагали необходимым оборудованием.
Многие из этих веществ присутствуют лишь в виде едва различимых следов, лежащих много ниже своего порога токсичности. Кроме того, в случае большинства следовых концентраций мы ничего не знаем о токсикологической или экологической релевантности, то есть оценка результатов определенно отстает от прогресса в области самой следовой аналитики. Также и при обсуждении допустимых нагрузок на окружающую среду все чаще используются такие понятия, как ppm (миллионная доля), ppb (миллиардная доля), ppt (триллионная доля), а с недавнего времени даже ppq (квадрильонная доля), в отсутствие четкого представления о фактическом объеме обозначенных такими единицами «загрязнений» либо о добротности полученных результатов анализа.
Пожалуй, трудно найти наглядные примеры для такого рода величин. Впрочем, одна часть на тысячу других, то есть промилле, нам еще знакома — прежде всего, по опыту проверки содержания алкоголя в крови у водителей автотранспорта. Что касается ppm, то здесь можно в шутку представить одного жителя Пруссии (пруссака) в миллионном городе Мюнхене, то есть 1 P(reuse) p(ro) M(ünchen) — «один пруссак на Мюнхен», а вот с ppb дело обстоит гораздо сложнее, так как эта единица будет означать 5 человек на все население Земного шара, если принять таковое за 5 миллиардов. Следующий (в сторону уменьшения) размер — ppt — мог бы продемонстрировать факт засорения 100 000 тонн пшеницы в товарном составе длиной 20 км одним-единственным зернышком ржи или — в пересчете на меру длины — отобразить «отрезок» в 0,4 миллиметра на пути от Земли до Луны. …Вряд ли стоит продолжать. Далее любая попытка привести наглядный пример просто потерпит крах.
При подобных порядках величины уже никого не удивляет, что в настоящее время некие субстанции обнаруживаются даже там, где этого никто не предполагал. Люди снова и снова слышат и читают о таких «находках», однако это не означает, что найденных сейчас веществ ранее здесь не было, — просто прежде их не удавалось обнаружить. Этот нюанс нередко остается за рамками общественных дискуссий. Решения о вреде или пользе, о степени опасности, о необходимости выработки адекватных мер принимаются не на основе того факта, что какое-то вещество вообще обнаруживается. В значительно большей степени это зависит от измеренного объема данного вещества и от степени вероятности нашего с ним контакта. Лишь та доза, которую человек действительно поглошает, имеет значение при рассмотрении воздействия на его организм того или иного материала [1.11]. Еще почти 500 лет назад врач ТБ. фон Хоэнгейм, известный под именем Парацельзуса, констатировал: «Ничто, поглощенное в избыточном количестве, абсолютно безвредно».
Тем не менее, если оставить в стороне иронию, именно сверхточные результаты измерения в современной химической аналитике используются ныне как оружие против самой химии и ее так называемых ядов. И все же аналитика с ее современным техническим оснащением сумела обеспечить ученым подходы к тем сферам, которые долгое время оставались для них недосягаемыми. Достаточно упомянуть хотя бы значение «следовых элементов» в нашей повседневной жизни. В слишком высокой концентрации они действуют как токсины, в точно выверенном объеме признаются порой даже полезными, а при недостатке способны вызвать синдром дефицита.
Для получения надежных результатов требуется самая тщательная подготовка и правильное проведение анализа, что особенно справедливо в отношении измерений следов тех или иных веществ. Эти требования касаются не только процесса взятия проб, их хранения и подготовки, но также оснащения лаборатории, квалификации (и поведения) персонала, выполняющего определенные операции. Если, например, вы позволяете себе курить в лаборатории, то не стоит удивляться, обнаружив повышенное содержание кадмия в исследуемом веществе; попытка же измерить на вощеном лабораторном столе содержание углерода в количестве менее миллиграмма на литр будет по понятным причинам обречена на провал, а что уж говорить об определении следов металла в пробах воды, взятых металлическим ведром!
Еще более проблематична ситуация, когда абсолютно необоснованно считают, что действие следов веществ соотносится с их концентрацией. Это объясняется, вероятно, тем, что мы еще со времен Ньютона и Декарта привыкли обобщать и экстраполировать на основе нашего привычного линейного представления о нераздельности причины и действия. Сегодня приходится отказываться от устаревших способов мышления, в том числе и в материальной сфере. Экстраполяции и обобщения, вполне уместные при определении достаточно высоких концентраций, оказываются абсолютно недопустимыми в случае очень низкого содержания вещества. Нам придется научиться мыслить более многослойно и комплексно. Все чаще мы вынуждены, наряду со столь удобными решениями типа «или-или», допускать и решения на уровне «как …, так и …», если мы хотим соответствовать реалиям нашего сложного мира.
Понятия «правильно» и «неправильно» можно однозначно применять, пожалуй, только в сфере качественной аналитики. Однако с точки зрения количественной аналитики эти определения в некоторых областях вообще неприемлемы. Обычно количественный анализ считается правильным, если он может быть воспроизведен в диапазоне статистически установленных границ погрешности. И при этом уже вообще никакой роли не играет тот факт, что полученный результат может оказаться безнадежно ошибочным. Это означает, что в сфере количественного анализа к понятиям «правильность» и «неправильность» приходится добавлять еще третье понятие — сравнимость, или сопоставимость, результатов.
Количественный анализ считается правильным, если в области заданной статистической достоверности от раза к разу получают одинаковые результаты анализа. Стандарты калибровки приборов, как правило, тщательно изучаются и служат мерой всех вещей. Но если иной стандарт не подходит, аналитики вынуждены находить сопоставимые параметры. Следовательно, анализ классифицируется как «правильный», поскольку ни один аналитик не работает подругой методике и другим стандартам. Значит, возможности получать правильные, неправильные либо сопоставимые результаты в области количественной аналитики устанавливаются иногда просто волевым решением.
1.4.1. Пример: платина
Из многочисленных примеров, наглядно доказывающих необходимость более широкого аналитического мышления, здесь можно упомянуть и не столь пока распространенную ситуацию, в которую нас ввергло внедрение платиновых катализаторов. Платиновые катализаторы в значительной мере способствуют уменьшению эмиссии окиси азота и углеводородов. Для этой цели ежегодно перерабатывается около 50 тонн платиновых металлов [1.12]. Правда, в небольшом объеме платина все же выделяется и накапливается в окружающей среде, ибо даже в рабочих условиях катализатора она не может вести себя абсолютно индифферентно. При используемых у нас трехходовых катализаторах объемы высвобождающейся платины достигают всего лишь среднего нанограммового диапазона из расчета на километр движения. Впрочем, эти столь мизерные объемы со временем заметно возрастают за счет постепенного накопления.
При современном уровне знаний пока еще нельзя уверенно констатировать вероятность наступления тех или иных физиологических последствий для организма человека в результате воздействия на него этой высвободившейся платины. Речь может идти в данном случае о платиновой астме, платинозе, раке, но повторим: необходимо тщательно изучить еще и характер распределения и вид связи платины как важнейших критериев оценки риска.
Поскольку естественная и присущая всем концентрация платины в крови составляет около 10-9%, то необходимые методы для определения объема в единицах пикограммов еще нуждаются в тщательной проработке. Тем не менее уже сегодня удается надежно устанавливать столь низкие концентрации платины в организме человека и в важных для окружающей среды веществах. Люди, напрямую соприкасающиеся с платиной, уже обнаруживают ее концентрации на порядок выше, чем те, что работают с применением надежных защитных средств.
В любом случае, платины в окружающем нас мире накопилось уже гораздо больше того объема, который можно получить в результате эмиссии через катализаторы. Причина известна: содержание платины, например в топливе, автомобильных шинах, удобрениях и т.д., приводит к ее постепенному накоплению в окружающей среде. Особое опасение внушает тот факт, что даже металлическая платина, очень тонко диспергированная, поглощается растениями и животными, попадая затем в продукты питания человека. Поэтому следующим шагом должна стать еще более сложная задача: выяснить механизм мобилизации платины.
Этот яркий пример, предлагаемый вместо множества других при оценке экологических рисков, однозначно демонстрирует весь комплекс взаимодействий между элементами и жизнью, показывая огромную значимость аналитической химии для качества нашего будущего существования. Представляется целесообразным использовать современную высокоразвитую аналитику именно для защиты окружающей среды, причем совершенно ясно, что пренебрежительное отношение к некоторым граничным условиям и непонимание порой весьма сложных зависимостей открывает дорогу к неверным результатам и сомнительным выводам.
1.4.2. Ограничения следовой аналитики
Одна из серьезных проблем следовой аналитики состоит в том, что аналитические данные оказываются тем менее надежными, чем более низкая область концентраций подлежит определению. В сверхмалом (следовом) диапазоне (в единицах нг/г или пг/г) порядок величин погрешностей результатов анализа может оказаться весьма значительным. И тогда обязательно встанет вопрос: имеет ли смысл в таких условиях стремиться к улучшению обнаружительной способности данного метода? На этот вопрос не может быть общего ответа. В будущем все реже будут задаваться целью определять еще меньшее общее содержание — то есть относительные концентрации — элементов в биотических матрицах. Вездесущие концентрации элементов образуют здесь еще пока целесообразные низкие пределы определения [1.13]. И все же следует искать пути понижения абсолютных пределов обнаружения, чтобы иметь возможность регистрировать элементы (например, платину) вплоть до ничтожно малых концентраций.
Между тем результаты анализов в пикограммах с проникновением в область фемтограмм-единиц являются уже вполне обычным делом. Просматривается и перспектива достижения аттограммового уровня, что делает понятие «нулевая концентрация» достаточно абсурдным, хотя его еще и сегодня можно встретить в некоторых нормирующих документах.
Пример. Нынешний уровень следового анализа для регистрации ничтожных концентраций, способных вызвать определенные последствия — например, изменение физических и химических свойств материалов либо физиологических свойств организмов, — предполагает использование проб довольно большого объема, иногда более 1 грамма. В результате могут быть получены только интегральные, то есть усредненные по данной пробе, данные. Если же потребуются более подробные сведения о распределении элемента, например платины, в отдельной белковой фракции сыворотки крови, то уже не обойтись без методов с более высокой (в 10—100 раз) чувствительностью обнаружения. Наряду с суммарным определением элементов неуклонно растет интерес к так называемым специфичностям (species)[1], то есть к идентификации элементов с учетом их состояния связи. Общая концентрация элемента в пробе еще не является достаточным доказательством его возможного токсичного действия. Для более точной оценки должны быть известны форма и устойчивость связи исследуемого вещества. Аналитика специфичности металлов (metal-species) как раз занимается этой проблемой. Поясним на примере: хром, используемый во многих отраслях промышленности, в виде соединений Cr (VI) токсичен даже в минимальной концентрации, поскольку хромат способен проникать в клетки. Соединения же Cr (III) считаются существенными для липидного и углеводного обмена веществ [1.14].
Эта серьезная задача требует от химика-аналитика особого творческого подхода и максимальной критичности на всем этапе реализации метода — начиная от взятия проб, их консервации и подготовки и заканчивая градуировкой выбранного способа определения.
Вопрос специфичности приобретает особое значение в области наук, связанных с изучением объектов окружающей среды, но он не менее важен также в сфере биологии и материаловедения. Вместе с этим заметно возросла и роль анализа микрораспределения, так что относящиеся сюда задачи расширились до размеров самостоятельной области. Способы анализа микрораспределения на основе максимальной способности к абсолютному обнаружению создали условия для распознавания потоков веществ в диапазоне микроединиц. Это применимо как в молекулярной биологии — для изучения процессов на клеточном уровне, так и в материаловедении - при решении вопросов появления и значения осаждений на поверхности кристаллической решетки и на границах раздела.
1.4.3. Путь к оптимальным методам следового анализа
Инструментальные анализы относятся к относительным, но не к абсолютным методам. Это значит, что любой прибор (инструмент) подлежит калибровке согласно принятым стандартам. В то время как в измерительной технике существуют специальные образцовые меры (эталоны), в аналитике находят применение стандартные материалы и эталонные способы. Для этого существует идеальная предпосылка — наличие неискаженного аналитического сигнала, то есть изолированного сигнала в чистом виде, не подверженного воздействию со стороны прочих компонентов пробы [1.15]. Сильной стороной почти всех спектроскопических способов является обнаружение и идентификация упомянутых выше специфичностей, ибо они обращены на атомную или, соответственно, молекулярную структуру. В случае многокомпонентных смесей нередко происходит наложение спектроскопических сигналов друг на друга.
Такие систематические перекрестные модуляции аналитических сигналов обычно отмечаются в пробах сложного состава, причем (за небольшим исключением) тем чаще, чем меньше определяемая концентрация. Еще допустимые концентрации других компонентов пробы не просто варьируют от способа к способу, но зависят от множества других параметров. Поэтому в преобладающем числе случаев для компенсации систематических погрешностей требуются стандартные эталонные материалы, состав которых — посредством точного анализа — должен быть максимально приближен к таковому у исследуемой пробы. Достаточно надежные стандарты, с большой тщательностью разрабатываемые специалистами многих международных и национальных институтов, существуют сегодня только для важнейших групп веществ и материалов и к тому же лишь для достаточно высоких концентраций [1.16].
Абсолютно неосвоенной остается пока еще область сверхнизких концентраций (< 1 нг/г). Поэтому, как правило, большинство попыток чисто инструментальными средствами исследовать соответствующие твердые образцы напрямую, то есть без дополнительной пробоподготовки, в еще не изученных концентрационных условиях, приводили — несмотря на возможно хорошую воспроизводимость результатов — к сомнительным либо просто ошибочным выводам. При этом на основе полученных данных принимались жизненно важные решения в сфере экономики, экологической безопасности и развития здравоохранения: вредные последствия таких действий, возможно, проявятся уже в обозримом будущем.
Вытекающие отсюда проблемы в области аналитики тоже носят многослойный характер. Овладеть методикой можно довольно легко, пройдя курс обучения под руководством опытных специалистов. Значительно труднее найти решения насущных проблем нашего общества, помочь политикам и экономистам осознать возложенную на них ответственность. Известно, что последние обычно исходят из постулата, что представленные результаты анализов принципиально верны. Чтобы поколебать эту безоглядную веру в цифры, требуется кропотливая разъяснительная работа.
Аналитические результаты должны интерпретироваться исключительно специалистами-аналитиками, которым не следует выпускать из рук полученную на основе проведенных анализов информацию. Приходится констатировать, что даже сам аналитик порой не сразу понимает открывшуюся перед ним картину, что уж говорить об оказавшихся рядом дилетантах. Поэтому ни в коем случае нельзя предоставлять право оценки результатов, например, юристам. Аналитика кончается там, где в нее вторгается некомпетентность. Вряд ли стоит позволять кому попало делать выборки по своему усмотрению, вносить изменения в полученные данные или иным образом воздействовать на результат.
Для ответа на вопрос, как удается в ходе следового анализа прийти к применимым результатам, предлагается опять-таки обратиться к принципу классического «мокрого» способа анализа, как это показано на рис. 1.3. В сфере следовой аналитики принято говорить о комбинированных (или многошаговых) способах, при которых собственно определению предшествуют химические методы для приведения проб в растворимую форму и для требуемого разделения. Предварительное разделение в автономном режиме или режиме реального времени с применением хроматографии получило широкое распространение на практике. Это позволяет избежать упомянутых выше перекрестных модуляций и более успешно решить проблему калибровки. Правда, теперь в случае таких комбинированных способов приходится принимать во внимание другие систематические погрешности, которые, впрочем, удается довольно успешно компенсировать.
Наличие связи между хроматографами и спектрометрами позволяет осуществлять быструю идентификацию компонентов, в том числе и в комплексных смесях [1.17]. Проблемным источником погрешностей остаются примеси при опасности занесения грязи в аналитическую систему — из приборов, реактивов и воздуха лаборатории — с получением так называемых холостых (контрольных) значений. При этом очень сложно удерживать загрязнение на достаточно низком и постоянном уровне при определении элементов, в очень высокой концентрации содержащихся в окружающей среде. Тогда следовым аналитикам приходится идти на разного рода уловки, требующие порой принятия довольно затратных мер: это может быть, например, обеспечение стерильности в лаборатории, создание замкнутых в себе комбинированных систем для функционирования в режиме реального времени, разработка специальных способов очистки реагентов и проч.
В настоящее время в некоторых случаях удается проникнуть в нижний пикограмм-диапазон или на уровень триллионных долей. Понятно, что это доступно лишь немногим специально оборудованным лабораториям. Прежние принципы определения безусловно ограничивают возможности обнаружения в сфере элементной аналитики, заставляя обратить взор на новые и более чувствительные физические методы. Так, на основе уже разработанной лазерной спектроскопии достигается принципиальная возможность обнаружения на уровне аттограммов (1 аг = 10-18 г).
К сожалению, для решения многих насущных проблем, число которых в будущем будет, вероятно, только возрастать, не существует патентованных рецептов. Эффективность того или иного метода либо комплекса методов может рассматриваться только в сочетании с поставленной аналитической задачей. Решение комплексных проблем немыслимо без глубоких знаний в области аналитики, в противном случае не избежать принятия ошибочных решений с широкомасштабными печальными последствиями для здоровья человека, экологии и хозяйственной деятельности [1.18]. При этом следует иметь в виду, что все аналитические методы — это лишь инструмент, использование которого в поисках оптимального решения аналитических проблем требует еще и тщательно продуманной стратегии. (Аналогия: собранные вместе молоток, резец и кусок мрамора еще не есть скульптура — для ее создания нужен мастер, которому предстоит долгая и кропотливая работа.)
Одновременно не стоит забывать о том, что аналитика возможна только при условии получения: от приборостроителя - соответствующего оборудования, а от производителя химикатов - необходимых препаратов. Резюмируя, можно утверждать, что в принципе существуют все условия для проведения правильных — и сопоставимых! — анализов. Для этого достаточно привлечь к работе грамотного химика-исследователя .
1.4.4. Взятие проб
В современной аналитической методике для исследования веществ достаточно в большинстве случаев использовать пробы совсем небольшого объема. Поступивший в лабораторию материал представляет собой обычно некий сборный образец, нуждающийся в соответствующей предварительной подготовке. С учетом желаемой репрезентативности проба не может быть сколь угодно малой. Операции по взятию и подготовке проб требуют определенных затрат, и небрежное обращение с представленным для исследования веществом может резко увеличить и без того немалые расходы. Действующие нормы ДИН и принятые законодательные акты предписывают, кроме прочего, добросовестное ведение документации с фиксацией результатов входного, производственного и конечного контроля продукции. В этом отношении особенно строги требования в области защиты окружающей среды, где «уровень техники» нередко определяется точностью проведения анализа - без учета гораздо более серьезных ошибок при взятии проб.
Надежность показателей часто основывается исключительно на аналитике или, соответственно, на погрешностях, связанных с выполнением анализа. Процессам взятия, обработки и подготовки проб уделяется, к сожалению, слишком мало внимания. Ошибки, совершаемые при выборе подходящего места для взятия проб, определении их объема и количества, по своим последствиям порой в десятки раз превышают упущения при проведении собственно анализа. Можно ли требовать от специалиста точности проведения анализа на уровне, так сказать, нескольких разрядов после запятой, если сбои на этапе взятия проб заведомо не позволяют достичь такой точности.
Инструментальный способ проведения анализов будет безупречным лишь в той степени, в какой это допускает процесс пробоподготовки. Недостаточно обработанные пробы, загрязненные или обремененные мешающими примесями, равно как и количественные потери в силу реакций обмена или прочих химических превращений, — все это снижает эффективность чувствительных методов измерения. В принципе справедливо было бы утверждать, что инструментальный метод пригоден лишь для измерения того, что количественно выделено на этапе подготовки пробы. Поэтому контроль качества всегда предполагает также принятие во внимание процесса взятия пробы [1.19]. Объем каждого отдельного образца зависит от особенностей исследуемого материала и числа подлежащих определению параметров. В отношении многих материалов операции отбора и подготовки образцов регламентированы соответствующими нормами. Так, конкретно для твердого топлива разработан стандарт ДИН 51 701, для керамического сырья — ДИН 51 061, для пряностей — ДИН 1020 и т.д. Также и в сфере контроля сточных вод согласно нормам DIN/DEV (Промышленный стандарт ФРГ/Стандартный способ исследования воды в Германии) взятие проб есть первый шаг на пути любого химического исследования. Ошибки, допущенные на этой стадии, обычно не удается скорректировать даже путем весьма трудоемких аналитических и вычислительных операций. В момент отбора следует избегать контакта с материалами, из которых могут выделиться вещества, переходящие в пробу и способные исказить результат исследования. При этом, в зависимости от параметров исследования, нормы DIN/DEV предъявляют разные требования к используемому оборудованию [1.20]. Так, в ряде случаев обязательным условием является применение неактивных материалов типа боросиликатного стекла или тефлона.
Чрезвычайно важно, чтобы в расчет принималось все поперечное сечение потока анализируемого вещества, а емкость для проб была абсолютно чистой и соответствующей количеству взятого вещества. Для получения репрезентативного поперечного сечения выборки предлагается следующий принцип: на протяжении всего процесса через четко установленные интервалы времени забирается несколько отдельных проб, объединяемых затем в один сборный образец. Прямо на рабочем месте возможно проведение лишь ограниченного числа исследований. Поэтому за взятием проб обычно следует доставка их в лабораторию. Во время этой транспортировки пробы должны быть в охлажденном состоянии и обязательно защищены от света — в целях предотвращения химического распада ингредиентов.
1.5. Тенденции развития аналитики объектов окружающей среды
Аналитические определения применительно к объектам окружающей среды в последние годы привлекают все более пристальное внимание общественности. Неуклонно продолжается внедрение высоких технологий в этой области. Германия в Европе и Япония в азиатском регионе занимают ныне ведущие позиции в деле изучения и защиты окружающей среды, производства экологически чистых продуктов и развития эффективных и безопасных способов утилизации бытовых и производственных отходов. На долю национальных проектов по глобальной защите окружающей среды приходится в Германии около 65%, а в Японии почти 80% всех научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ в секторе частной экономики [1.21].
Законодательные акты по вопросам экологической защиты ориентируются преимущественно на производственные мощности отрасли аналитической химии. Европейский спрос (в частности, со стороны бывшей ГДР) на лабораторную аналитику в будущем будет только расти. Причина заключается в безусловной необходимости осуществления надзора за состоянием природных и промышленных объектов, обеспечения контроля качества производимой продукции и проверки разрабатываемой документации по общезначимым проектам и планам [1.22].
На данный момент у населения сформировалось достаточно противоречивое отношение ко всему, что связано с химией. Так, всю химическую продукцию не совсем справедливо сделали ответственной за большую часть проблем, касающихся окружающей среды: чуть что, сразу вспоминают диоксины, средства защиты растений и т.п., забывая при этом о многих чрезвычайно полезных изделиях химического производства, используемых, например, в медицине [1.23]. Иначе обстоит дело с аналитической химией, к которой общество относится гораздо благосклоннее. Любопытно, однако, что в глазах широких масс населения столь многогранная вещь, как аналитическая химия, была сведена преимущественно к задачам экологической защиты во всех ее формах. Впрочем, за прошедшие годы удалось вывести тему окружающей среды из «экологической ниши», поместив в центр внимания общественности более широкомасштабные проблемы. Все чаше граждане требуют от аналитиков ответа на волнующие их вопросы касательно наличия или отсутствия вредных либо даже токсичных веществ в окружающей среде, что сопровождается обоснованным или необоснованным страхом за свое здоровье в связи с опасным воздействием тех или иных элементов. Как бы ни относились к такому положению дел сами аналитики, они в равной мере принадлежат и к тем, кто виновен в подобной ситуации, и к тем, кто извлекает из нее немалую выгоду.
Сформированы были эти условия, кроме прочего, бурным развитием инструментальной аналитики в последние годы, что позволило многократно расширить спектр анализируемых веществ и материалов и продвинуть пределы обнаружения в область гомеопатических концентраций. Эта тенденция еще не исчерпала себя. К радости приборостроителей, она приводит к тому, что техническое оснащение лабораторий приходится приспосабливать к последнему уровню техники, причем по возможности в самые короткие сроки, что очевидно было бы немыслимо без соответствующего увеличения капиталовложений. То же касается, впрочем, и некоторых ноу-хау, которые в определенной степени даже обгоняют процессы инновационного оснащения лабораторий контрольно-измерительной аппаратурой.
Взаимодействие аналитики объектов окружающей среды и правовых норм представляется бесспорным, если прорыв в область нано- и пикограмм-единиц не считать самоцелью. Высокая значимость результатов аналитической химии побудила к внесению соответствующих изменений в будущее законодательство. Таким образом, эффективность аналитической химии получила свое отражение в правовом аспекте, и накопленные научные знания учитывались при разработке конкретных законодательных актов по защите окружающей среды [1.24].
Формулируя обязательные требования, законодатель обычно оказывается перед дилеммой: с одной стороны, приходится учитывать правовые интересы граждан, выражающиеся чаще всего в предъявлении претензий к отдельным веществам и материалам; с другой стороны, нельзя упускать из виду возможные расходы, связанные с исполнением определенных обязательств [1.25]. Но одна лишь законодательная база не способна охватить все многообразие подлежащих нормированию веществ и материалов [1.26]. В прошлые времена это порой приводило к тому, что законодательство рассматривало лишь отдельные «модные» вещества, которые особенно горячо обсуждались в народе, но объективно не соответствовали вынесенному общественностью приговору в отношении их потенциальной опасности [1.27].
При исследовании воздействия того или иного вещества на здоровье человека используют в большинстве случаев известный показатель МАК (максимально допустимая концентрация на рабочем месте). Речь идет о концентрации на рабочем месте, например, газа, пара или иных витающих в воздухе веществ. Эта концентрация согласно «современному уровню знаний» при восьмичасовом рабочем дне, как правило, не сказывается отрицательно на здоровье человека. Соблюдение величин МАК есть официально установленная абсолютная минимальная мера защиты здоровья людей. Но эмиссия примесных химикатов, которые сегодня можно обнаружить практически в любом изделии промышленного производства, возможна не только на рабочем месте, но и в собственном жилище. Это проявляется, скажем, в неожиданно высоком выделении химических веществ у мониторов ПК [1.28]. Далее, следует иметь в виду, что величины МАК отнесены к одному конкретному веществу, в то время как на одном и том же рабочем месте возможно наличие множества опасных веществ, вредное действие которых суммируется либо даже преумножается.
При этом бесспорен тот факт, что в некоторых случаях приходится идентифицировать и количественно оценивать отдельные химические соединения. При работе с неорганическими веществами, особенно если они находятся в водных растворах, распространена общепринятая практика, вполне приемлемая даже с учетом необходимых затрат. В этой связи имеет смысл вспомнить о вполне элегантных спектрометрических методах определения анионов и катионов и методах ионообменной хроматографии, позволяющих сократить стоимость проведения анализов.
Совсем иначе обстоит дело с органической химией. В силу сложности отдельных органических соединений их определение, в том числе с использованием самых современных способов хроматографии (например, при сочетании газовой хроматографии с масс-спектрометрией либо при высокоэффективной жидкостной хроматографии), требует гораздо более значительных затрат и в принципе представляется целесообразным только при поиске ограниченного числа известных соединений, обладающих высокой репрезентативностью для какой-то группы веществ с четко выраженным потенциалом вредности. Хотя это и возможно, например при определении в питьевой воде легколетучих хлорпроизводных углеводородов или химических средств защиты растений, но именно там релевантность определения полициклических ароматических углеводородов оказывается весьма сомнительной, ибо, как известно, вещества этого класса отличаются чрезвычайно низкой водорастворимостью и поэтому демонстрируют лишь незначительную подвижность в круговороте воды.
Изучение метаболизма есть еще одно относительно новое научное направление. Под «метаболизмом» понимаются в данном случае процессы изменения структуры и распада органических веществ в живой и неживой природе. Аналитическое исследование используемых в сельском хозяйстве пестицидов, фунгицидов и гербицидов считается весьма сложным и тяжелым делом, без которого, однако, не обойтись при оценке потенциального риска от их применения. Для изучения переноса и перемещения метаболитов требуются долговременные эксперименты, охватывающие множество специальных аспектов. Так, например, совместимость с окружающей средой не может быть обеспечена лишь за счет того, что определенные вещества растворимы в воде и, следовательно, подвержены разложению под действием микроорганизмов, поскольку, с другой стороны, высокая растворимость вызывает опасность заражения грунтовых вод [1.12].
Что касается так называемых «старых химических отходов», которые выносятся фильтрационными водами со свалок и складов и в результате могут попасть в грунтовые воды, а далее — в культурные слои почвы и, наконец, в наши продукты питания, то здесь определяемые в настоящее время концентрации как правило уже столь высоки, что вполне могут устанавливаться традиционными методами [1.30]. Сюда стоит добавить еще вред, причиняемый окружающей среде всего мира разными видами вооружений. В ФРГ насчитывается до 240 000 мест, подозрительных с точки зрения «старых химических нагрузок на природные объекты». Как ненадежна база данных по этой проблематике, так неверна и оценка затрат, связанных с решением проблем в данной области [1.31]. При этом аналитическая задача состоит, прежде всего, в минимизации необходимых для этой цели затрат [1.32]. Число мест экологически опасных «старых нагрузок» столь велико, что их вряд ли удастся проверить и оценить каждое в отдельности. С учетом этого Общество немецких химиков подготовило и издало реестр веществ и материалов, подлежащих первоочередной переработке и утилизации в силу их особой опасности для окружающей среды [ 1.33]. И здесь обязательно встает вопрос относительно общедоступных технологий для проведения обязательной санации и т.п. [1.34].
Также и при аналитике отходов речь идет о значительно более высоких определяемых концентрациях, чем, например, в случае анализа остаточных пестицидов. С большим трудом формируется здесь гораздо более сложная матрица произвольного состава, различающаяся от партии к партии и от места к месту. Полный анализ в данном случае едва ли возможен, но, с другой стороны, потенциальная опасность для человека и окружающей среды исходит от отдельных дискретных веществ, присутствующих порой лишь в виде следов или побочных компонентов. Поэтому в области аналитического исследования отходов для получения ориентированных на матрицу показателей состава находят применение как суммарные параметры и экспресс-тесты, так и обладающая хорошим разрешением следовая аналитика на основе хроматографии [1.35].
Отлично зарекомендовала себя аналитическая концепция в отношении поверхностных и сточных вод, которая как раз закон о защите вод ставит в центре деятельности химиков-исследователей, а не наоборот. Таким образом, в отношении разделения по принципу хроматографии органических веществ, в большом количестве присутствующих в сточных и поверхностных водах, «закон пока не писан», поскольку эти вещества (уже в силу затрат времени и средств) обычно не могут быть более или менее полно идентифицированы и количественно определены, не говоря уже о том, что для преобладающего числа известных нам более чем 7 миллионов химических соединений просто не существует токсикологических или экологических оценок. Помимо этого, на практике иногда можно отказаться от определения характеристик отдельных веществ. Такое происходит, например, при оценке способов обработки сточных вод, которые обычно не касаются специфичности веществ, так что результат очистки может быть легко описан на основе одного суммарного параметра [1.36].
Поэтому характеристика органических веществ, содержащихся в воде, во многих случаях традиционно основана на суммарных параметрах, причем большинство ингредиентов с одинаковыми либо похожими свойствами покрывается одним способом определения. При этом набор суммарных параметров простирается от углеводородов и фенольного числа с узким спектром веществ до химического потребления кислорода, включающего огромный объем веществ. В ходе реализации ряда рационализаторских предложений в лабораториях по исследованию грунтовых вод было установлено общее содержание органического углерода (TOC — Total Organic Carbon). От химического потребления кислорода и биохимического потребления кислорода общее содержание органического углерода отличается, в частности, тем, что процесс анализа здесь относительно легко преобразуется инструментальными средствами. Доказательством тому может служить наличие на рынке множества приборов для определения общего содержания органического углерода. Многие из них, кроме прочего, еще и в высшей степени автоматизированы, так что способ ТОС сегодня уже широко используется при контроле процесса. Также и для определения биохимического потребления кислорода появились новые виды экологически безопасного измерительного оборудования, помогающего сократить до минимума затраты на процесс измерения [1.37].
Наряду с химической аналитикой возросло значение биотестов при контроле сточных вод, что позволило определять токсичность вещества в тех случаях, где это невозможно сделать прямым химическим анализом. При биотестах используются живые организмы, а именно таким образом и в таком количестве, чтобы в ходе реакции можно было измерить активность химических ингредиентов на основе проявлений их жизни. Биотесты можно отнести, следовательно, к суммарным параметрам, отображающим общую биологическую активность пробы. Так как бактерии в принципе поддаются консервации, для применения биотестов могут быть предложены готовые «законсервированные» бактерии. При светящихся бактериях реакция на свет привязана к общему обмену веществ этих бактерий. Подавление свечения таких бактерий в токсичных пробах измеряется с помощью люминометра [1.38].
Гораздо более серьезные проблемы возникают при оценке глобальных рисков, обусловленных, например, парниковым эффектом, озоновыми дырами [1.39] и т.д. либо вырубкой лесов или иными изменениями природы под действием выделяющихся вредных веществ [1.40]. Наибольшей сложностью для аналитики является тогда определение чрезвычайно низких концентраций активных веществ. Значимые величины таких концентраций, которые нередко и так уже достигают области триллионных долей, трудно себе представить и не менее трудно обнаружить [1.41]. Но лишь надежные результаты измерений при высокой чувствительности обнаружения позволяют сделать правильные выводы о реальных нагрузках на окружающую среду [1.42]. Последние можно представить тогда в виде математических моделей климата с целью моделирования процессов в комплексной системе химии атмосферы [1.43].
Вызывает удовлетворение тот факт, что аналитика окружающей среды стала сейчас достоянием широкой общественности. Все возрастающее значение результатов анализов несомненно способствует росту профессионализма специалистов, занятых аналитическим исследованием объектов окружающей среды по широкому фронту [1.44].
Аналогично внедрению системы менеджмента качества согласно ДИН ИСО 9000, вводятся и системы управления экологической защитой. Можно надеяться, что при этом будут учтены известные ошибки и недочеты упомянутой системы менеджмента качества. Было разработано специальное предписание ЕЭС 1836/93 касательно добровольного участия производственных предприятиях в совместной работе по управлению и контролю в сфере зашиты окружающей среды. С вступлением в силу 1 июля 1993 г. этой европейской нормы во всех странах Европейского экономического сообщества создаются системы экологической зашиты, целью которых является, кроме прочего, воспитание сознания людей на всех производственных уровнях в духе защиты окружающей среды, что способствовало бы улучшению ее состояния. Этот созданный на добровольной основе механизм позволит проводить систематическую, регулярную, объективную и документированную оценку мощности любого предприятия с точки зрения экологической безопасности [1.45]. Подобные «экологические аудиты» на предприятиях становятся плодотворным источником рационализаторских предложений, шаг за шагом совершенствующих благородное дело защиты окружающей среды [1.46].
Не исключено, что это новое образование натолкнется на определенный скепсис и частично даже неприятие со стороны некоторых слоев общества. Но главное достижение заключается в том, что человечество будет получать достоверную информацию о возможных рисках. Вся промышленность и большая часть сферы услуг будут путем предоставления открытой и честной информации способствовать повышению доверия к ним со стороны населения. Европейская промышленность, особенно в странах с «перегретой» экономикой и высокой средней заработной платой, при производстве основных химикатов, изделий широкого потребления и частично также промежуточной продукции уходит из высокоразвитых промышленных стран, перемещаясь в развивающиеся страны с более низким уровнем оплаты труда. Причиной этого является не только разница в производственных затратах, но также и недооцененная экспертами враждебность европейцев к совершенствованию технологий, что резко снижает в глазах общества уровень доверия к химическим процессам [1.47|. Но, перемещаясь в соседние страны, рискованные технологии не становятся безопаснее.
Аналитика объектов окружающей среды непосредственно на месте нахождения объекта приобретает все большую популярность [1.48], будь то исследование свалок или выемок грунта либо набирающие силу тренды регистрации и санирования так называемых «старых нагрузок». Далее, стоит упомянуть исследование прямо на месте и контроль так называемых «опасных грузов». Для всех проверок такого рода требуется ускоренное измерение и экспрессность, то есть высокий темп получения результата, так сказать, не сходя с места. Это позволяет быстрее, надежнее и эффективнее обнаружить источники опасности для человека и окружающей среды. Все мыслимые анализы, особенно в сфере следовой аналитики, могут быть проведены за самые короткие сроки с помощью систем, разработанных по последнему слову техники. Сегодня существует возможность почти все современное аналитическое оборудование встроить в специальные передвижные лаборатории. Даже высокочувствительные измерительные приборы, сочетающие, например, газовую хроматографию с масс-спектрометрией, или атомно-абсорбционные спектрометры могут прямо на месте использоваться для целей мобильной аналитики. Следовательно, здесь находят применение не методы экспресс-анализа, а обычные для стационарной лаборатории приборы и системы, в полной мере отвечающие всем необходимым требованиям (см. нормы ДИН).
В заключение можно утверждать, что в области зашиты окружающей среды последующие годы будут отмечены четкой тенденцией к высокотехнологичной аналитике, причем такой тренд проявит себя даже в отношении весьма сложных способов определения в текущей лабораторной практике. Специальное оборудование в сочетании с современной электроникой, техникой управления и регулирования уже сейчас усовершенствовалось настолько, что на основе соответствующих методов удается обнаруживать элементы и соединения в единицах пико- и фемтограммов. Подобное развитие безусловно имеет свою цену. И затраты на приобретение необходимых приборов, и оплата высококвалифицированного персонала продолжают неуклонно расти.
ГЛАВА 2. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ МЕЖДУ СВЕТОМ И МАТЕРИЕЙ
До начала XX века существовало две модели представления излучения — волновая и корпускулярная, с помощью которых исследователи пытались описать разные физические явления. Поэтому и говорят о двойственности света, имея в виду волну и частицу, или корпускулу. Уже в 1865 г. Максвеллом и Герцем была распознана единая сущность электромагнитного излучения. Описание феноменов интерференции и дифракции базируется на волновой природе света. С другой стороны, в отношении эффекта Комптона, благодаря которому рентгеновское излучение при столкновении с электроном ведет себя как материальная частица, применимы законы упругого столкновения. Следовательно, данный эффект можно понимать в физическом смысле, представляя свет в виде пучка корпускулярных фотонов или энергии квантов. Первая модель излучения летящих частиц, или корпускул, восходит еще к Ньютону. Количественные связи между двумя моделями были впервые изучены Планком и Эйнштейном в начале XX столетия.
Большой шаг в истории естественных наук с широко идущими последствиями сделал Планк в 1900 г. Теорию отданной энергии черного луча он попытался привести в зависимость от частоты эмиссионного излучения, предполагая, что черное тело построено из известных гармонических осцилляторов (способных к колебаниям и излучению молекул). Согласно классическим представлениям, такие осцилляторы поглощают или испускают излучение своей собственной частоты, причем абсорбция и эмиссия происходят непрерывно. По Планку, эти процессы протекают не непрерывно, но квантами. Энергия поглощенного или испускаемого излучения, а следовательно, и энергия осцилляторов должны быть поэтому целочисленным кратным кванта энергии. Размер этого кванта пропорционален собственной частоте ν0 осцилляторов:
|
Коэффициент пропорциональности h обозначается как постоянная, или константа Планка. Она имеет размерность действия: энергия × время. Собственно квантованная величина обладает размерностью действия, а квантованная энергия есть лишь результат этого действия.
Эйнштейн увидел в данном выражении Планка связующее звено между двумя представленными выше моделями света. Количество энергии Е идентично энергии кванта корпускулярного излучения, если собственную частоту v0 заменить любой частотой ν излучения:
|
Тогда, согласно законам механики, фотоны тоже обладают всеми свойствами, присущими корпускулярным частицам. Данное выражение представляет собой нечто большее, чем обычное отношение между энергией и частотой. Оно демонстрирует в некотором смысле отход от классических теорий, становясь исходной точкой для абсолютно новой фазы в истории развития естественных наук. Со времен Ньютона существовало представление, что изменения энергии любой системы происходят непрерывно. Оно базировалось на законах классической механики, а иной подход, по крайней мере в атомной сфере, привел к необходимости развития новой — квантовой — механики.
Электромагнитное излучение есть форма энергии, причем эта энергия пропорциональна ее частоте. Речь идет о поперечных волнах, когда колебания электрического и магнитного векторов проходят перпендикулярно друг другу. Скорость распространения электромагнитного излучения не зависит от частоты и составляет в вакууме 299 790 км с-1. Излучение описывают либо через указание частоты, либо через указание длины волны:
|
где с — скорость света; λ — длина волны света; ν — частота света.
Электромагнитное излучение может разными способами вступать во взаимодействие с химическими процессами. Помимо прочего, это важнейшее вспомогательное средство для определения структурных характеристик и химического поведения молекул. Электромагнитное излучение с различными длинами волн и к тому же с разным количеством энергии используется для изучения самых разных аспектов материи. Интервал частот, необходимый для аналитических показаний, простирается примерно от 106 до 1020 с-1, то есть от области радиоволн, теплового излучения, света (от видимого до ультрафиолетового) и вплоть до рентгеновского и гамма-излучения. Частоты у-лучей и радиоволн отличаются примерно на 15 десятичных порядков, и на столько же различаются количества энергий, преобразуемых при эмиссии или, соответственно, абсорбции этого излучения в результате взаимодействия с материей.
2.1. Внутренние и внешние взаимодействия
Когда луч света интенсивностью I0 падает на исследуемую пробу, то одна часть излучения отражается от поверхности (Ir), другая часть (Is) рассеивается содержащимися в пробе частицами, а третья часть (Iа) поглощается молекулами. Остаточное излучение I пропускается, как показано на рис. 2.1. Итак, имеем:
|
Следовательно, надо различать внешние (неквантованные) и внутренние (квантованные) эффекты.
Ir — по величине и направлению зависит только от макроскопических свойств пробы и не содержит никакой информации о ее внутримолекулярном строении;
Is — определяется отношением диаметров частиц к длине волны света и принимает максимальное значение, когда оба эти параметра составляют сравнимый порядок величин. Рассеянное излучение может исходить как от очень малых частиц коллоидных растворов (рассеяние Тиндаля), так и от отдельных молекул (рэлеевское рассеяние). При феномене Рэлея свет возбудителя приводит электроны молекулы в состояние вынужденных колебаний. Эти колеблющиеся электрические диполи представляют собой источники вторичного излучения, причем излученный свет имеет ту же длину волны, что и свет возбудителя. Подобные рассеяния тоже относятся к внешним эффектам;
Ia — это та самая доля света, которая поглощается молекулами. При этом световая энергия обычно превращается в другую форму энергии. Такой процесс преобразования протекает при возбужденных состояниях молекулы.
2.2. Абсорбционная и эмиссионная спектроскопия
Атомы и молекулы существуют в дискретных энергетических состояниях. Между этими состояниями возможны переходы, индуцированные поглощением либо излучением энергии. При абсорбционных измерениях прослеживается изменение излучения, выходящего из источника света, при вводе поглощающего вещества в ход лучей. При этом материя при переходе в более богатые энергией состояния возбуждения отбирает энергию у света. В зависимости от энергии излучения могут исследоваться разные возбужденные состояния. Это энергетические состояния атома или молекулы, претерпевающие изменение при поглощении излучения: атом или молекула переводится из одного энергетического состояния Еa в другое энергетическое состояние Ee, причем Ee > Ea.
Поскольку эти процессы протекают в атомных или, соответственно, молекулярных размерностях, то для них имеют силу законы квантовой теории, согласно которым молекула может принимать не любые, а лишь совершенно определенные внутренние энергетические состояния.
Для возбуждения из состояния A в состояние В требуется дискретная энергия, то есть поглощается только излучение, у которого лучистая энергия Е равна разности энергий ΔΕ между состоянием возбуждения В и основным (невозбужденным) состоянием А:
|
в то время как излучение другой энергии пропускается. Между увеличением энергии молекулярной системы и частотой ν или, соответственно, длиной волны λ поглощенного света справедливо отношение:
|
Главная задача абсорбционной спектроскопии состоит в установлении зависимостей между положением и интенсивностью этих мест поглощения и целым рядом свойств исследуемой пробы.
И наоборот: также «возбужденные», то есть находящиеся на более высоком энергетическом уровне, атом или молекула при излучении света частоты ν могут перейти в состояние с энергией, меньшей на ΔΕ. Надо различать, следовательно, спектры поглощения и спектры эмиссионного излучения. Измерения эмиссионного излучения возможны благодаря тому, что атомы или молекулы, возбужденные в результате действия высоких температур, электронной бомбардировки либо поглощения излучения, вновь отдают свою избыточную энергию в виде излучения и сами при этом «светятся».
2.3. Атомная и молекулярная спектроскопия
Чтобы понять, какие элементарные процессы могут побудить молекулу к поглощению или испусканию электромагнитного излучения, следует исходить из гораздо более простых отношений у свободных атомов. Для атома возможны только совершенно определенные энергетические уровни, каждый из которых соответствует характеристической конфигурации электронов. Все изменения энергии в пределах одного атома осуществляются через электронные переходы между орбиталями разных энергий. Из-за их ограниченного числа обмен энергией с окружающей средой не может осуществляться непрерывно, но происходит в совершенно определенных ΔΕ-модулях, которые равны разности энергий электронных уровней и которым соответствуют строго установленные частоты поглощенного и излученного света. Эти частоты являются до некоторой степени «собственными частотами» атомной системы, взаимодействие которой с электромагнитным излучением можно приблизительно - как это утверждает классическая дисперсионная теория - описать по аналогии с резонансом механических осцилляторов. Так же, например, как начинает колебаться камертон при поглощении энергии, когда частота возбуждающего звука совпадает с его собственной частотой, так и при излучении с собственными частотами атомов происходят квантовые переходы электронов на более высокие энергетические уровни.
Вследствие этого из непрерывного светового спектра атом поглощает лишь те частоты ν1, ν2, ν3 и т.д., которые соответствуют его собственной частоте. Такие же частоты могут излучаться возбужденным атомом при обратных электронных переходах на орбитали с меньшей энергией.
Атомные спектры есть линейчатые спектры.
Их поглощения и эмиссионные излучения находятся в области видимого и ультрафиолетового света, поскольку разности ΔE между внешними электронными оболочками, где происходят соответствующие переходы, как раз эквивалентны этому диапазону частот электромагнитного излучения. У атомов оба перехода, то есть абсорбция и эмиссия, находят применение в спектроскопии. Таким образом, различают атомно-абсорбционную и атомно-эмиссионную спектроскопию.
В силу более сложной структуры у молекул возможны более разнообразные энергетические переходы, чем у атомов. Электронная система молекулы тоже строится из дискретных электронных уровней с разной энергией и в этом смысле весьма похожа на электронную оболочку атома. Поэтому и у молекул имеют место находящиеся вблизи видимой области и основанные на электронных переходах поглощения. Однако здесь речь идет не об отдельных линиях поглощения, а о полосах поглощения, состоящих из множества отдельных линий.
Молекулярные спектры есть полосатые спектры.
Они образуются в результате того, что у молекул, в отличие от атомов, электронный переход является не единственно возможным способом изменения количества энергии. При объединении двух или нескольких атомов в одну молекулу возникает пригодное для атомных колебаний образование, колебательная энергия которого квантована таким же способом, что и энергия электронов.
Но кванты энергии ΔE, определяемые собственными частотами колебаний и необходимые для их возбуждения, все же гораздо слабее количества энергии, требуемого для возбуждения электронов, так что поглощения колебаний происходят не вблизи видимой области, а в обладающей меньшей энергией инфракрасной области спектра электромагнитного излучения.
И наконец, в отличие от атома, молекула способна поглощать энергию также в форме вращательной энергии. Поскольку необходимые для возбуждения вращательных степеней свободы кванты энергии еще меньше, чем кванты колебательной энергии, то поглощения вращательной энергии приходятся на еще более дальнюю длинноволновую часть спектра — область дальней ИК- и микроволн, которым соответствуют длины волн в порядке величин миллиметров и сантиметров.
Одни только вращательные переходы можно исследовать изолированно от изменений прочих внутренних энергетических состояний молекулы. Но линейчатый спектр получают лишь в условиях возбуждения сильно разреженных газов. В противном случае свободные вращения молекул так или иначе затрудняются межмолекулярными столкновениями, и контуры линий в большей или меньшей степени стираются.
Это не касается случаев возбуждения колебаний, поскольку имеющейся здесь энергии всегда достаточно и для возбуждения вращательных степеней свободы, так что каждый колебательный переход сопровождается целым рядом близких друг к другу вращательных переходов. Еще сложнее отношения при возбуждении электронных переходов, которые постоянно сопровождаются самыми разными колебательными и вращательными переходами.
Таким образом, каждый колебательный и, соответственно, электронный переход состоит из последовательности почти прилегающих друг к другу линий, которые у молекул со сложной структурой сливаются в полосы поглощения и обычно уже не поддаются разрешению с помощью обычных спектрометров коммерческого назначения. В случае твердых, жидких или растворенных веществ исследование линейчатой структуры в принципе не возможно из-за межмолекулярных помех. Это является причиной появления упомянутых выше полосатых спектров, возникающих у молекул в видимой и УФ-областях вместо атомных линейчатых спектров (см. рис. 2.2).
Квантовые переходы самого богатого энергией движения (например, возбуждения электронов) определяют положения полос, а сопровождающие их наложения переходов с меньшей энергией (вращение и колебание) — форму полос.
Как и при атомной спектрометрии, в случае молекулярной спектрометрии также существуют разные способы измерения абсорбции (спектроскопия в УФ/видимой и ИК-области) и эмиссии (флуоресцентная спектроскопия).
2.4. Условия возбуждения
Предстоит выяснить вопрос, каким образом молекула может вступать во взаимодействие с электромагнитным излучением и в какой форме регистрируется энергия возбуждения.
Поглощение электромагнитного излучения возможно только у молекул, обладающих перманентным дипольным моментом.
Согласно классической теории электрических диполей, периодическое изменение в пространстве их направления, размера либо того и другого приводит к эмиссии электромагнитного излучения. Если частота периодического изменения диполя есть νa, то частота эмиссионного излучения тоже будет νa. Периодическое движение диполя при этом постепенно затухает, его энергия преобразуется в излучение.
Возможен и обратный вариант, когда находящийся в состоянии покоя электрический диполь в результате поглощения электромагнитного излучения возбуждается до состояния периодических движений. Электромагнитное переменное поле света воздействует на центры тяжести положительного или отрицательного зарядов диполя и сообщает ему соответствующие периодические движения. Эти условия схематически показаны на примере двухатомной молекулы, обладающей непрерывным дипольным моментом (например, СО, HCl, NO и др.), см. рис. 2.3.
Изменение дипольного момента по размеру и направлению осуществляется посредством вращения (случай «а»), колебания (случай «б») и изменения распределения электронов в молекуле (случай «в»). Все три формы движения носят периодический характер. Так, для случая «а» можно указать частоту вращения μвращ., для случая «б» — частоту колебаний μrjkt,. и для случая «в» — частоту электронов μЭЛ.
Итак, периодическое изменение молекулярного дипольного момента в результате вращения, колебания или электронного возбуждения достигается только с совершенно определенными частотами.
Следовательно, поглощение происходит, когда частота света совпадает с одной из возможных частот диполя. Этим объясняется избирательное поглощение из многочастотного непрерывного излучения. Если двухатомная молекула не имеет дипольного момента (например, Н2, Ν2, Сl2), то есть когда μвращ. = μколеб. = 0, то вращение и колебание не могут быть возбуждены путем поглощения излучения. Тогда обе эти формы движения будут «не активны».
Такие условия возбуждения действительны не только для двухатомных соединений, но могут быть целесообразно перенесены и на молекулы более сложного строения. В то время как частоты поглощения определяются возможными частотами диполя, размер поглощения зависит, во-первых, от величины изменения дипольного момента и, во-вторых, от направления, которое диполь принимает относительно вектора напряженности электрического поля световой волны. Чем больше изменение дипольного момента, тем больше и поглощение.
При заданной величине диполя поглощение будет самым мощным, когда направления диполя и вектора напряженности электрического поля световой волны параллельны, и поглощение будет равно нулю, когда эти направления проходят перпендикулярно друг другу. Но такую зависимость от направлений можно обнаружить только при использовании поляризованного света и на пробах с ориентированными молекулами (например, в монокристаллах). Во всех других твердых, жидких и газообразных образцах молекулы статистически ориентированы по всем направлениям пространства, что не позволяет доказать зависимость поглощения от направленности дипольного излучения.
2.5. Классификация областей спектра
Видимое излучение есть часть электромагнитного спектра, воспринимаемая человеческим глазом. Не в последнюю очередь именно по этой причине данную область спектра сразу привлекли для проведения химических анализов. Электромагнитный спектр простирается от обладающего огромной энергией космического излучения до рентгеновского, ультрафиолетового, видимого излучения и далее — до ИК-излучения и маломощных радиоволн. Частоты гамма-лучей и радиоволн различаются на 15 десятичных порядков, и такие же различия имеют количества энергии, которые при эмиссии или, соответственно, абсорбции этого излучения преобразуются в результате взаимодействия с материей (см. табл. 2.1).
Эмиссия гамма-лучей, длина волны которых составляет всего 10-11 см, осуществляется на основе ядерных реакций. Рентгеновские лучи с длинами волн 10-8 см образуются в результате электронных переходов между внутренними оболочками так называемых ядерных электронов. Они практически не зависимы от состояния связи атомов. Для возбуждения вращения, колебания, а также электронного возбуждения молекул используется только одна относительно небольшая спектральная область с длинами волн от 10-1 до 10-6 см.
| Спектр | Взаимодействие | Область спектра | Длина волны |
|---|---|---|---|
Рентгеновский спектр |
внутренние электроны |
рентгеновские лучи |
0,01-1 нм |
Электронный спектр |
электроны σ-связей |
УФ в вакууме |
10-190 нм |
Колебательный спектр |
высшие гармоники |
ближняя ИК |
0,8-2,5 мкм |
Вращательный спектр |
вращение молекул |
дальняя ИК |
50-500 мкм |
Эту область ИК-, видимого и УФ-излучения именуют также «оптическим спектром», так как здесь в качестве экспериментальных вспомогательных средств находят применение оптические элементы: линзы, зеркала, призмы и дифракционные решетки.
Минимальная энергия излучения использует вращение молекулы вокруг трех инерциальных осей х, у, z. Напомним, что энергию излучения не следует путать с интенсивностью излучения. Интенсивность излучения есть количественная мера силы света и не содержит в своем определении длину волны λ, в то время как энергия, выраженная здесь через λ, описывает качество излучения. Вращение возбуждается уже длинноволновым излучением и приходится на микроволновую или дальнюю ИК-область спектра.
Колебания молекул требуют для своего возбуждения повышенной энергии. Поглощение осуществляется при более коротких длинах волн в области И К-излучения. При этом атомы и группы атомов молекул начинают колебаться относительно своего положения покоя. Так как при этом одновременно возбуждаются вращения молекул, то речь идет, если говорить точнее, о вращательно-колебательных спектрах.
При длинах волн ниже 800 нм, то есть в видимой и УФ-областях спектра, энергии излучения достаточно, чтобы вступить во взаимодействие с электронами молекул. При этом возбуждаются только валентные электроны соединений, причем более слабо связанные ^-электроны кратных связей и «-электроны гетероатомов поглощают в области более длинных волн, чем σ-электроны простых (одинарных) связей. Поскольку при этом возбуждается движение всех трех видов, то речь идет о вращательно-колебательно-электронных спектрах.
2.6. Измерительные системы спектроскопии
Спектр поглощения определяется двумя параметрами:
2.6.1. Место поглощения
Существует несколько возможных вариантов описания места поглощения. Так как электромагнитное излучение представляет собой колебательный процесс, то используют следующие три показателя:
Эти величины измерения следующим образом соотносятся друг с другом:
|
2.6.2. Интенсивность поглощения
Наряду с длиной волны и, соответственно, частотой поглощения измеренная интенсивность поглощения является второй по важности характеристикой, получаемой на основе спектроскопического исследования. Интенсивность поглощения зависит, во-первых, от плотности населенности и, во-вторых, от вероятности перехода.
2.6.2.1. Отношение заселенностей
Наряду со световой энергией, возбужденные состояния может создавать и тепловая энергия. Это означает, что в зависимости от окружающей температуры отдельные энергетические уровни имеют разную заселенность. Поглощение будет происходить лишь в той мере, в какой состояние меньшей энергии заселено сильнее, чем состояние большей энергии. При очень большом числе идентичных частиц (атомов или молекул) отдельные энергетические уровни заселены по-разному. В термическом равновесии для заселенности обоих состояний — Е0 основного состояния и Е1 возбужденного состояния — действительно распределение Больцмана:
|
где N1 — число частиц в возбужденном состоянии, Ν0 — число частиц в невозбужденном состоянии, ΔE — энергия возбуждения Е1 — Е0, k — константа Больцмана (1,38-10-23 Дж·К-1), Т — абсолютная температура.
Следовательно, в термодинамическом равновесии при заданной температуре интервал между энергетическими уровнями определяет отношение заселенностей между Ν1 и N0. Если интервал между энергетическими уровнями больше тепловой энергии, значит, основное (невозбужденное) состояние имеет более высокую заселенность, чем возбужденное состояние. Если возбужденное состояние находится вблизи от невозбужденного состояния, то отношение заселенностей приближается к значению 1, и тогда оно особенно сильно подвержено действию изменения температуры.
При комнатной температуре тепловая энергия kТ составляет порядка 1260 Дж·моль-1, что соответствует волновому числу примерно 100 см-1. Это означает, что при всех спектроскопических методах в диапазоне частот ниже 100 см-1 можно рассчитывать на примерно равную заселенность энергетических уровней.
Как при электронном возбуждении, так и при колебательном возбуждении разность энергий между невозбужденным и возбужденным состояниями обычно значительно превышает количество тепловой энергии, так что вещества пребывают в действительном на данный момент основном состоянии и, значит, предлагаются для поглощения света в максимально возможном количестве. Напротив, энергия возбуждения для разных вращательных состояний меньше тепловой энергии при комнатной температуре. Поэтому при нормальных условиях молекулярные вращения, в отличие от колебаний, уже термически возбуждены. Наблюдаемые интенсивности будут соответственно меньше.
2.6.2.2. Вероятность перехода
Очевидно, что интенсивность поглощения зависит от того, как часто возникают переходы между отдельными энергетическими уровнями или, иными словами, насколько велика вероятность такого перехода. Не каждый переход между двумя энергетическими состояниями равновероятен. Вероятность перехода может рассматриваться как число энергетических переходов в единицу времени.
Разные вероятности перехода, а с ними и наблюдаемые интенсивности поглощения при электронном возбуждении могут различаться на несколько десятичных порядков. Поэтому при регистрации спектра в соответствующей УФ/видимой области представляется целесообразным вести запись поглощения в логарифмическом масштабе, то есть на уровне оптической плотности[2]. При колебательном возбуждении расхождений в вероятностях перехода гораздо меньше, и здесь вполне годится регистрация поглощения в линейном масштабе.
2.6.2.3. Закон Ламберта-Бера[1]
В абсорбционной спектроскопии определяются почти исключительно соотношения интенсивностей. Если луч монохромного света интенсивностью I0 падает на пробу, которая поглощает этот свет, то данный световой луч покидает пробу с ослабленной интенсивностью I. Поскольку нас интересует исключительно ослабление интенсивности света в результате поглощения его пробой, то явления отражения и рассеяния являются попутными помехами, которые требуется устранить любым способом. Это может быть достигнуто, например, за счет того, что интенсивность I соотносится не с I0, а с уже ослабленной в результате отражения и рассеяния интенсивностью I0. На практике обычно поступают таким образом, что в эталонный луч равной интенсивности I0 вводится поглощающая ячейка идентичной конструкции, которая в случае исследований растворов содержит чистый растворитель. Свет I0, выходящий из этой кюветы сравнения, ослаблен действием Ir (отражение), Is (рассеяние) и иногда Ia (поглощение) растворителя.
Тогда определяем:
|
А н Т еще не есть константы данного материала. Они зависят от толщины слоя и, поскольку исследования часто проводятся на растворах, от концентрации поглощающей среды. В отношении интенсивности поглощения сформулированы два эмпирических закона. Закон Ламберта гласит, что поглощенное количество света не зависит от интенсивности источника излучения. Закон Бера указывает, что поглощение пропорционально числу поглощающих молекул.
Отсюда можно вывести следующее отношение:
|
Величина Ελ означает оптическую плотность и как логарифм частного от деления интенсивностей падающего и выходящего света не имеет размерности; величина d показывает длину пути света, прошедшего через поглощающую пробу, то есть толщину слоя; ε есть постоянная материала, которая, если используется концентрация с в моль/л и толщина слоя d в см, обозначается как молярный коэффициент поглощения, или молярный показатель поглощения с размерностью см/миллимоль. Эта величина отображает оптическую плотность одномолярного раствора при толщине слоя 1 см. Рисунок 2.4 демонстрирует ослабление интенсивности света при прохождении через поглощающую ячейку.
Наглядные примеры зависимости между поглощением, пропусканием и оптической плотностью приведены в табл. 2.2.
| I | А | Т | Е |
|---|---|---|---|
I = I0 |
0% |
100% |
0,000 |
I = 1/10 I0 |
90% |
10% |
1,000 |
I = 1/100 I0 |
99% |
1% |
2,000 |
Ослабление до 1/10 величины I0 означает поглощение света на 90 % и, соответственно, пропускание на 10%, следовательно, оптическая плотность составляет 1,000.
2.7. Количественный и качественный анализы
С помощью спектроскопии можно получать как качественные, так и количественные результаты. Но в идеальном варианте вещества при этом должны быть абсолютно чистыми, ибо в случае смеси веществ происходит суммирование поглощений отдельных компонентов; не стоит забывать и о возможности появления дополнительных межмолекулярных взаимодействий. Если мы имеем дело с неизвестной смесью веществ, то, по крайней мере, для молекулярной спектроскопии потребуется предварительное разделение этой смеси на отдельные субстанции — например, с применением способов хроматографии. В отличие от этого, атомная спектроскопия благодаря своим особенностям обладает чрезвычайно высокой селективностью, так что разделения на составляющие при этом обычно не требуется, если не возникают какие-либо перекрестные помехи.
2.7.1. Качественный анализ
Спектр поглощения, то есть графическая запись процесса поглощения излучения относительно длины волны или, соответственно, частоты света, дает информацию касательно того, о каком именно веществе идет речь. Разные вещества, описанные через формулы химического строения, различаются своими структурами — атомной, пространственной и электронной. Поэтому каждое вещество по-своему реагирует на электронное, колебательное или вращательное возбуждение, формируя характерный только для него спектр. Таким образом, у каждого вещества его спектр поглощения столь же индивидуален, как и отпечатки пальцев у человека.
В случае смеси веществ получают суммарный спектр на основе всех содержащихся в этой смеси компонентов. С математической точки зрения здесь возникает проблема одного уравнения с n неизвестными (одного спектра с n веществами). Если области поглощения входящих в состав смеси веществ накладываются друг на друга, то по суммарному спектру не удастся сделать вывод о виде и количестве отдельных компонентов. И только если области поглощения в суммарном спектре не будут перекрываться, отдельные вещества в принципе могут быть идентифицированы.
Особая ситуация возникает, когда известны n-1 веществ и их спектры поглощения. На основе специальных вычислений с помощью ПК сегодня не составляет труда вычесть эти известные спектры из полученного суммарного спектра, и тогда мы получим спектр неизвестного вещества.
С другой стороны, регистрация спектра вещества может быть предложена в качестве ускоренного метода для определения его чистоты, ибо по виду спектра обычно легко обнаружить присутствие определенного количества примесей. Известно, что чистые соединения дают узкие, хорошо разрешенные пики, а наличие в пробе нескольких компонентов приводит к широким, плохо разрешенным полосам из-за слияния близко расположенных линий индивидуальных соединений.
2.7.2. Количественный анализ
В основе количественного анализа лежит закон Ламберта — Бера, то есть определение оптической плотности Е при той длине волны, при которой исследуемое вещество поглощает свет. Этот закон справедлив для всех видов светопоглощения, то есть как для электронного, так и для колебательного и вращательного способов возбуждения. Между тем, в силу разных причин, в реальности возможны здесь так называемые истинные и мнимые отклонения.
Следует иметь в виду, что в строгом смысле закон Ламберта — Бера имеет силу только в отношении монохроматического света и идеальных растворов (концентрация → 0), поскольку молярный коэффициент поглощения ε только в том случае может быть не зависим от концентрации, если на состояние поглощающих молекул не влияют (в зависимости от концентрации) разного рода межмолекулярные взаимодействия, как то: диссоциация, комплексообразование, изменение степени сольватации и т.д. На практике в большинстве случаев можно получить хорошую линейную зависимость между оптической плотностью и концентрацией до величины оптической плотности порядка 1,000: выше этого значения отмечается все возрастающее отклонение от линейного закона. При необходимости результатов очень высокой точности анализы лучше всего проводить с оптическими плотностями < 0,5. Применение закона Ламберта-Бера осуществляется согласно следующим двум уравнениям:
|
Такое уравнение позволяет вычислить концентрацию с вещества на основе измеренной оптической плотности Е, если известен молярный коэффициент поглощения этого вещества. Определение концентрации целесообразнее всего осуществлять при длине волны максимума полосатого спектра.
Однако на практике чаще всего поступают таким образом, что определяют оптическую плотность Е на растворах разных известных концентраций с и графически наносят на диаграмму величины Е относительно величин с. При действии закона Ламберта — Бера, если принять толщину слоя d за постоянную величину, получают прямую линию (так как ε есть константа), и в идеальном варианте эта прямая проходит через нулевую точку, как это видно на рис. 2.5.
Поскольку в абсорбционной спектроскопии определяют только ослабление света I относительно исходной интенсивности I0, то всегда приходится проводить два отдельных измерения для обеих интенсивностей света. То есть определяют сначала I0, измеряя интенсивность эмиссионного излучения, поступающего на детектор от источника без пробы в поглощающей ячейке. Соответствующий сигнал устанавливается на индикации прибора (раньше — на аналоговой, теперь — на цифровой) на 100%-пропускание или, соответственно, на оптическую плотность 0,000. Все современные устройства располагают для этой цели кнопкой «автоматического нуля» (Autozero). Затем соответствующее измерение проводится с пробой в поглощающей ячейке и определяется ослабленная поглощением интенсивность I. Принцип количественного анализа наглядно представлен в схеме на рис. 2.6.
Такого графического представления на миллиметровой бумаге при наличии современных устройств уже не требуется. Иногда прибегают к «вводу фактора», имея в виду Е = фактор·с, так что на индикации прибора появляется в качестве показания не оптическая плотность, а только что найденная концентрация. При компьютеризованном оборудовании градуировочный график с установленным стандартным отклонением может индицироваться на экране ПК.
Количественное определение какого-либо компонента в растворе предполагает, что этот компонент имеет полосу поглощения при длине волны λ, при которой данный абсорбер не поглощает вовсе либо способен лишь на минимальное поглощение. С другой стороны, можно определять также концентрации нескольких компонентов А, В и С последовательно друг за другом, если хотя бы одна полоса поглощения каждого из них не перекрывается (или перекрывается лишь незначительно) полосами поглощения прочих компонентов.
Смеси нескольких абсорбирующих веществ пригодны для количественного анализа при условии отсутствия взаимного влияния возможных поглощений. В таком случае устанавливается общая оптическая плотность смеси как сумма парциальных оптических плотностей отдельных компонентов. В итоге для смеси с n компонентами получают уравнение с n неизвестными (с1 с2,…, сn):
|
что позволяет осуществлять определение индивидуальных концентраций путем измерения оптической плотности при п разных длинах волн.
2.8. Традиционный спектрометр
В абсорбционной спектроскопии используется спектрометр, включающий в себя следующие конструкционные узлы:
Источник видимого излучения должен посылать для соответствующей спектральной области полихроматический свет максимально близкой интенсивности. Однако не существует такого источника излучения, который способен выполнить это требование по всей интересующей области спектра — от вакуумного ультрафиолета до дальней инфракрасной зоны. Например, лампа накаливания пригодна только для видимой и ближней ИК-областей спектра и совершенно не подходит для ультрафиолетовой и инфракрасной зон.
Поскольку существующие источники, за исключением отражающих клистронов в микроволновом диапазоне, посылают непрерывный свет, то есть имеют эмиссионное излучение, непрерывно распределяемое в широком интервале длин волн, но, с другой стороны, при спектроскопии интерес представляет именно поглощение при определенных длинах волн, то здесь не обойтись без монохроматора, разлагающего сложный лучистый поток на его монохроматические составляющие. Итак, речь идет об устройстве для спектрального разложения света. Ранее эту функцию выполняли призмы, ныне как стандартный вариант применяют оптические решетки, действующие по принципу дифракции света. Эта дисперсионная система, которая, естественно, не может поглощать в самой спектральной области, разлагает излучение в спектр, из которого через узкую выходную щель, более или менее монохроматично, может быть выделена желаемая длина волна.
Носитель пробы, включая всю оптическую систему, должен быть проницаем для используемого излучения. Стекло, например, не годится ни для УФ-, ни для ИК-лучей, так как оно само поглощает излучение обоих этих видов. Приемник, именуемый также детектором, срабатывает на используемую область излучения и преобразует принятый световой сигнал в измеряемое электрическое напряжение.
Из приведенных кратких объяснений следует, что, если рассматривать в аппаратурном плане, представляется маловероятной возможность с помощью одного спектрометра без замены конструкционных элементов за один прием регистрировать всю интересующую область спектра. Кроме прочего, для веществ в разных спектральных областях предусмотрены и разные способы пробоподготовки.
В отношении источника излучения необходимо принимать во внимание следующее.
-
Каждый источник излучения проходит определенный период розжига: имеется в виду, что излучение постоянной интенсивности начинается только спустя несколько минут, после чего отмечается долговременная стабилизация.
-
Излучатели с непрерывным распределением энергии действуют в широком интервале длин волн, но не с равной интенсивностью, то есть I0 зависит от имеющейся длины волны.
-
Как любая лампа накаливания, источники излучения в спектроскопии тоже могут стареть и изнашиваться, что приводит к постепенному снижению интенсивности I0, отмечаемому в долговременной характеристике.
Кроме того, приемник излучения, детектор, обладает обычно зависимой от частоты чувствительностью, что послужило основанием для создания двух типов спектрометров — одно- и двухлучевого.
2.8.1. Однолучевые спектрометры
Как следует из названия, в данном случае на оптической скамье в устройстве находится только один световой луч от источника к детектору. Этот вид устройства рассчитан исключительно на количественные измерения, при которых интенсивность излучения I0 определяется при одной измеряемой длине волны в самом начале анализа и далее - при необходимости - через установленные промежутки времени.
Итак, традиционные однолучевые спектрометры предназначены исключительно для количественного анализа.
2.8.2. Двухлучевые спектрометры
Так называемые двухлучевые спектрометры обладают более сложной оптикой и значительно дороже однолучевых исполнений. Их разрабатывали специально для регистрации спектров. Поскольку интенсивность источника излучения /0 зависит от длины волны, то есть каждый излучатель с непрерывным распределением энергии излучает в широком интервале длин волн не с постоянной интенсивностью, это необходимо учитывать при регистрации спектра, для чего и используется двухлучевой прибор. Падая от источника непрерывного излучения, свет поочередно проходит через измерительную кювету и кювету сравнения. Это достигается посредством вращающегося секторного зеркала, причем детектор срабатывает на одну и ту же частоту, принимая попеременно I0 и I.
Итак, для регистрации спектров с помощью традиционного оборудования требуются двухлучевые спектрометры, позволяющие, конечно, проводить и количественные измерения.
«Розжига» источника излучения при таком типе спектрометра в принципе не требуется, поскольку изменения его интенсивности всегда компенсируются двухлучевым способом работы. Расположение поглощающих ячеек у разных типов приборов различно. Они могут находиться перед монохроматором либо после него, как показано на рис. 2.7.
Описанным здесь традиционным устройствам можно противопоставить современные мультиплексные способы, позволяющие регистрировать спектры также и в однолучевом режиме. К ним относятся в первую очередь матрицы фотодиодов, которые, действуя по принципу цифровой фотопластинки спектрографа, дают возможность наблюдать одновременно множество длин волн с последующим считыванием необходимой информации. Далее следует назвать спектральные фурье- приборы, содержащие вместо монохроматора интерферометр.
ГЛАВА 3. СПЕКТРОСКОПИЯ В УΦ- И ВИДИМОЙ ОБЛАСТЯХ СПЕКТРА
Спектроскопия в УФ- и видимой областях спектра (именуемая иногда электронной спектроскопией) входит в число стандартных методов, успешно применяемых в аналитических исследованиях на протяжении многих десятилетий. За эти годы спектрометры в техническом отношении шагнули далеко вперед. В то время как в отношении обычного лабораторного оборудования шли путем упрощения оптических компонентов, стремясь снизить его стоимости, для приборов нового поколения применение микропроцессоров только набирало силу. В целях поддержки пользователя нередко прибегали даже к сочетанию спектрометров с терминалами обработки данных.
Качество спектрометров для УФ- и видимой областей, несмотря на почти повсеместное оснащение их микропроцессорами, все еще определяется прежде всего добротностью используемой оптики и эффективностью отдельных оптических элементов. Встроенные внешние блоки обработки данных предусмотрены главным образом для дальнейшей обработки информации, полученной оптическими средствами.
Если еще несколько лет назад распространенной темой дискуссий были лишь одно- или двухлучевые системы, сейчас большую долю рынка занимают мультиплексные способы, нашедшие применение в линейных диодных матрицах и устройствах, функционирующих по принципу преобразования Фурье [3.1]. Огромный выбор самых разных моделей обусловил и широкий разброс цен. Самые простые приборы предлагаются по цене порядка 3000 нем. марок, а цена оборудования с оптической точностью высокого разрешения достигает уже 100 000 нем. марок.
Благодаря технологии на основе матриц фотодиодов, которая все это время активно внедрялась в спектроскопию УФ- и видимой областей, требующие больших затрат времени традиционные способы регистрации спектров путем сканирования, или считывания (scanning), то есть механического просмотра определенного интервала длин волн, были заменены большим числом почти вплотную прилегающих друг к другу фотодиодов с жестким монтажом. Скорость регистрации при этом весьма велика и может быть ограничена лишь темпом считывания и скоростью обработки данных.
Простое и более удобное обслуживание оборудования, с одной стороны, позволяет широко применять его в повседневной работе, но, с другой стороны, таит в себе опасность недооценки вероятности ошибок и погрешностей. Высокая эффективность в сфере фотометрии, то есть при квантификации компонентов анализируемого вещества, открывает широкие возможности для проведения самых разных аналитических определений, которые, однако, выдвигают достаточно высокие требования к пользователю, особенно на уровне хемометрики.
3.1. Классификация электронных переходов
В видимой и УФ- областях спектра кванты света обладают таким количеством энергии, что благодаря этому электроны с самыми слабыми связями — валентные электроны — могут возбуждаться и, соответственно, подниматься на более высокий энергетический уровень. Как электроны атомов (атомные спектры), так и электроны молекул поглощают фотоны и испускают их при возврате в основное состояние. Миграция электронов продолжается в течение примерно 10-16 с[3]. В зависимости от участвующих электронов возможны переходы между разными энергетическими уровнями.
Валентные электроны соединений принято подразделять на электроны σ- и π-связей. В случае гетероатомов добавляются еще несвязывающие электроны неподеленных пар, определяемые как n-электроны. В невозбужденном состоянии электроны парами с противоположным спином заселяют низшие энергетические уровни молекулы. В результате абсорбции квантов света, или фотонов, соответствующей энергии электроны могут переходить в вакантное несвязывающее состояние, обозначаемое верхним индексом (звездочкой) рядом с символом электрона. При использовании такой классификации возможны электронные переходы, представленные в табл. 3.1.
Длинноволновые поглощения двойных связей, происходящие в результате электронных переходов между высшими заполненными и низшими свободными орбиталями π-связей молекул, известны как π → π*-переходы. Подобные длинноволновые переходы возможны еще только при наличии атомов с электронами неподеленных пар. Они основаны на электронных переходах с несвязывающих орбиталей атомов на возбужденные орбитали молекул σ- или π-связей (так называемые n → σ* или n —> π*-переходы).
Абсорбция соединений, содержащих только электроны σ-связей, протекает, как правило, в вакуумной УФ-области ниже 180 нм. В этом диапазоне, которому соответствуют уже весьма значительные энергии возбуждения, обнаруживают также упорядоченные полосы серий Ридберга (Ν → R*-переходы), которые по аналогии с соответствующими сериями атомных спектров осуществляются в результате возбуждения электрона на вышележащие орбитали молекул в направлении их ионизации.
| Символ | Вид перехода |
|---|---|
π → π* |
Переход между заселенными и незаселенными энергетическими уровнями π-связей |
n → σ* |
Переход л-электрона из несвязывающего атомного энергетического состояния на незаселенный энергетический уровень σ-связей |
n → π* |
Переход л-электрона из несвязывающего атомного энергетического состояния на незаселенный энергетический уровень π-связей |
σ → σ* |
Переход между заселенным связывающим и возбужденным несвязывающим энергетическим уровнем σ-связей |
Ν → R* |
Переходы между основным состоянием и вышележащими молекулярными орбиталями (Ν - невозбужденное состояние, R - состояние Ридберга) |
Молекулы обладают обычно одним синглетным состоянием с антипараллельными спинами электронов в качестве невозбужденного состояния и — как синглетным, так и триплетным — состояниями с параллельными спинами электронов в качестве электронно-возбуждаемых состояний. Поскольку взаимодействие между спином электрона и электромагнитным полем света не столь активно, вероятность изменения ориентации спина при электронном возбуждении очень низка. Здесь действует правило отбора (как в случае атомов), согласно которому переходы разрешены только между состояниями равной мультиплетности, то есть исключительно между синглетными или между триплетными состояниями. Поэтому переходы с переориентацией спина «запрещены». С возрастанием атомного веса элементов в результате так называемой спин-орбитальной связи, то есть связи спина электрона с электронными орбиталями, становятся возможны и синглетно-триплетные переходы, вызывающие явления фотолюминесценции.
Многие молекулы обладают электронной конфигурацией с возбужденными
связывающими и также несвязывающими электронами. Например, в случае
карбонильной группы
могут возбуждаться как связывающие
π-электроны, так и несвязывающие «-электроны атома О (см. рис. 3.1). В
подобных случаях поглощение осуществляется, конечно, при разных длинах
волн.
3.1.1. Принцип Франка — Кондона
При переходах между отдельными энергетическими состояниями в отношении изменений квантовых чисел действуют специальные правила отбора. Для возможных изменений колебательного квантового числа вместо правила отбора применяют известный принцип Франка — Кондона. Переходы из одного электронного состояния в другое осуществляются настолько быстро (10-15 с), что в течение этого времени в силу более медленных ядерных колебаний (их длительность около 10-13 с) межатомное расстояние почти не меняется. Это означает, что электронный переход протекает во времени — по сравнению с колебаниями инерционных ядер атомов — гораздо быстрее, так что при электронном возбуждении расположение атомных ядер практически не может измениться.
Итак, принцип Франка — Кондона гласит: при одновременном электронном возбуждении наиболее вероятны колебательные переходы, происходящие без изменения межъядерного расстояния.
Так как при комнатной температуре заселено преимущественно основное колебательное состояние, то при электронном возбуждении всегда наиболее вероятными будут переходы, ведущие в колебательные состояния, для которых вероятность жизни атомных ядер является максимальной также и при равновесном интервале основного состояния. При электронном возбуждении часто осуществляется переход с наибольшей вероятностью не в нормальное колебательное состояние возбуждения, а в одно из вышележащих колебательных состояний. С меньшей интенсивностью возможны наряду с этим и переходы в соседние колебательные состояния с большей или меньшей энергией возбуждения, так что самая интенсивная полоса после более высоких или более низких частот сопровождается менее интенсивными полосами.
3.2. Теоретический расчет электронных переходов
По уравнению ΔΕ = ΕB — ЕA = hν можно вычислить поглощение света чисто теоретическим путем, если удастся рассчитать разные энергетические состояния молекулы EA, EB, EC и т.д. Путь такого решения принципиально ясен. Он проистекает из квантовой механики и реализуется через уравнение Шредингера. Однако точное теоретическое измерение возможно только для атома водорода, а при атомной системе даже из двух электронов правильное вычисление недостижимо из-за взаимного влияния электронов. В отличие от атомов, где мешающим фактором можно считать исключительно электронные взаимодействия, у молекул дополнительно еще приходится принимать во внимание взаимодействия с другими ядрами, как и самих ядер друг с другом. Связь молекулы есть следствие электронного обмена из-за неразличимости, что приводит к вероятности конечной жизни электронов и, соответственно, их заряда между ядрами.
Не существует чисто математического способа решения задач с собственными значениями молекул и, следовательно, унифицированного описания химической связи на основе квантовой механики. У двухатомных молекул еще вполне допустимо описание электронных состояний с помощью главного квантового числа, орбитального квантового числа, магнитного квантового числа и спинового квантового числа.
Но если молекула состоит из нескольких атомов, то ее рассмотрение ограничивается электроном, выполняющим переходы. Следовательно, для проведения необходимых расчетов придется прибегать к упрощениям во избежание известных сложностей математического характера. Для решения такого рода проблем предлагается два принципиально разных метода приближенного вычисления молекулярных функций, а именно: молекулярно-орбитальный (МО) и валентных связей (ВС).
Метод валентных связей использует линейные комбинации атомных орбиталей, исходя от раздельных атомов и их орбитальных функций (атомные орбитали). Молекулярно-орбитальный метод идет от уже готового скелета ядра молекулы и так называемых молекулярных орбиталей. При этом энергетические состояния электронов в наипростейшем случае получаются из линейных комбинаций подходящих атомных орбиталей в форме молекулярных орбиталей, а скелет молекулы с его остаточными электронами рассматривается как постоянный. Таким образом, речь идет об одноэлектронном приближении с созданием так называемой молекулярно-орбитальной схемы энергетических уровней для всех электронов молекулы.
Эта схема энергетических уровней заполняется по принципу Паули. Энергию перехода электрона из высшей заполненной молекулярной орбитали HOMO-Orbital (highest occupied МО) на низшую вакантную молекулярную орбиталь LUMO-Orbital (lowest unoccupied МО) можно приблизительно вычислить, сделав прогноз касательно характеристики поглощения в видимой и УФ-областях спектра. Значительное упрощение и, следовательно, лучшее приближенное вычисление достигается в случае легко возбудимых электронов π-связей, которые несут основную ответственность за поглощение света в видимой и УФ-областях спектра. Указанные π-электроны в первом приближении не взаимодействуют с прочими электронами, так что при определении энергий возбуждения можно ограничиться рассмотрением π-электронных состояний.
Эти полуэмпирические способы имеют огромное значение для теоретической интерпретации электронных спектров. Они позволяют соотносить наблюдаемые полосы с определенными электронными переходами. Теоретически оценивать можно не только области поглощения отдельных полос, но и сведения об интенсивности и влиянии соответствующих заместителей. Интересное применение можно здесь усмотреть, например, в разработке наносимых на кожу солнцезащитных средств. Их задачей является защита кожи путем поглощения опасных лучей УФБ (от 320 нм). На основе математических расчетов удается теоретически структурировать соответствующие молекулы, которые еще пропускают желаемые лучи УФА (до 320 нм), необходимые для получения загара, и поглощают большую часть нежелательных лучей УФБ, способных вызвать рак кожи (рис. 3.2).
Далее, такие расчеты демонстрируют зависимости между УФ-спектрами, полуволновыми потенциалами, потенциалами ионизации и рядом других свойств. Однако они имеют большее значение для химиков-теоретиков, чем для химиков-аналитиков.
3.2.1. Энергия диссоциации и потенциал ионизации
Два важных параметра — энергия диссоциации и потенциал ионизации — дают информацию об электронных спектрах. Можно было бы предположить, что оптическая диссоциация молекулы при поглощении энергии диссоциации в возбужденном электронном состоянии была бы возможна в результате только одного колебательного возбуждения. Но вероятность перехода из основного колебательного состояния по мере возрастания квантового числа все понижается, а в состоянии диссоциации (с высоким квантовым числом) почти равна нулю.
Оптическая диссоциация возможна только при одновременном электронном возбуждении. В результате поглощения из нормального электронного состояния могут возбудиться все колебательные состояния электронного возбуждения, в том числе и ведущие к диссоциации. Затем с переходом через порог диссоциации осуществляется поглощение в непрерывный спектр энергии переноса диссоциированных молекул. Теперь в спектре можно наблюдать систему сходящихся к порогу диссоциации полос с примыкающим к ней непрерывным спектром поглощения.
Ионизационный потенциал есть энергия, которую должна получить молекула для отрыва электрона. Если возбуждать молекулы до отрыва электрона и далее, то появление непрерывного спектра поглощения (ионизационного континуума) характеризует порог ионизации и, следовательно, ионизирующую энергию. Следует отметить, что определяемые отсюда потенциалы ионизации молекул теоретически понять гораздо сложнее, чем потенциалы ионизации атомов, но они дают более обширную информацию о поведении электронов связи.
3.2.2. Хромофоры
Термином «хромофор» (от греч. chromos — цвет, окраска) обозначают систему, электроны которой ответственны за происходящую абсорбцию света. Большинство простых, несопряженных хромофоров из табл. 3.2 обладают столь энергетически сильным и поэтому коротковолновым поглощением, что польза от них невелика.
|
Органическими соединениями, содержащими только электроны σ-связей, являются насыщенные углеводороды. Поскольку σ-электроны из-за их близости к ядру относятся к сильно связанным, то для их возбуждения требуется довольно большой энергетический вклад, то есть высокоэнергетическое, коротковолновое излучение. По этой причине насыщенные углеводороды поглощают лишь на уровне ниже 150 нм. Для обнаружения таких абсорбций привлекаются специальные вакуумные спектрометры, чтобы исключить начинающееся с длины волны 190 нм собственное светопоглощение[4].
Насыщенные вещества, содержащие гетероатомы неподеленных электронных пар, поглощают при более длинных волнах, чем насыщенные углеводороды. При этом имеет место переход n-электрона из несвязывающего атомного энергетического состояния на незаселенный уровень σ-связей. Хромофоры, гораздо более мощные, чем атомные группы со свободными парами электронов, присутствуют в соединениях с кратными связями. Все же возбуждение электронов π-связей требует, по причине особого распределения их зарядов, подведения значительно меньшей энергии, чем возбуждение соответствующих σ-электронов.
Все прочие атомные группы с изолированной парой электронов л-связей, как
то:
и т.д., имеют еще, помимо
двойной связи, неподеленную пару электронов. Поэтому в их спектрах
наряду с переходами π → π* дополнительно появляются также n → π*-переходы при более длинных волнах, но с меньшей интенсивностью.
С—С-тройная связь состоит из одной σ- и двух π-связей. Обе π-связи расположены перпендикулярно друг к другу, причем интервал между ними меньше, чем при двойной связи, что и обуславливает более сильную связь π-электронов. Для π → π*-перехода обнаруживают в ацетилене две полосы поглощения, так как здесь могут возбуждаться две разные π-связи, одна из которых будет с более длинными волнами, другая — с более короткими, чем переход при соответствующей двойной связи. Полосы поглощения тройной связи в интервале более длинных волн находятся на уровне выше 200 нм, однако они столь малоинтенсивны, что С—С-тройную связь просто не принято относить к хромофорным группировкам.
Когда в молекуле находится несколько хромофоров, то степень влияния на характеристику поглощения зависит от их взаимного расположения. Если они далеко отстоят друг от друга, спектр поглощения в значительной мере складывается как сумма полос хромофорных группировок. Если же таковые связаны с соседними или даже с теми же самыми атомами, то обнаруживается смешение в длинноволновую сторону и повышение оптической плотности.
Практическое значение в спектроскопии УФ- и видимой областей спектра приобретают только хромофоры, в которых имеет место сопряжение. Сопряжение групп, содержащих электроны π-связей, приводит к интенсивному взаимодействию между ними и к делокализации π-электронов. В то время как изолированная двойная связь, например в бутене, вызывает максимум поглощения при длине волны примерно 190 нм и, следовательно, является «чересчур» коротковолновой для проведения простых измерений, при сопряженной двойной связи, например в бутадиене, энергетический уровень высшей заполненной орбитали поднимается, а уровень низшей свободной несвязываюшей орбитали понижается, как это видно на рис. 3.3. В бутадиене появляется легко идентифицируемый и измеряемый простым способом максимум поглощения π → π*-перехода при длине волны 217 нм.
Если эти орбитали перекрываются более чем двумя π-связями, интервал между энергетическими уровнями продолжает сокращаться, и абсорбция наступает при более длинных волнах. У гексатриена максимум поглощения наступает при 258 нм. Наконец, в случае длинноцепных полиенов максимум поглощения смешается в сторону видимой области. В качестве примера можно назвать каротин (С40Н56) и изомерный ликопин (красящее вещество томатов, плодов шиповника и многих других фруктов), содержащие по 13 сопряженных двойных связей.
Итак, можно сделать следующее заключение: чем длиннее сопряженная система, тем на более длинноволновую область приходится максимум поглощения.
Активные взаимодействия сопряженных электронов π-связей могут быть описаны путем наложения граничных структур. Фактическое электронное распределение в молекуле определяется как промежуточное состояние (мезомерия) этих граничных структур, из которых каждая в отдельности не дает правильного толкования состояния связи. Поскольку в таких мезомерных молекулах π-электроны уже не принадлежат одиночным связям, а более или менее делокализованы в сопряженной системе, то — за некоторым исключением — невозможно отнести полосы поглощения к отдельным хромофорам сопряженной системы. Поглощение света в видимой и УФ-областях спектра при сопряженных соединениях более типично для общей π-электронной системы.
Сопряженные системы отличаются не только длинноволновым, но и очень интенсивным поглощением. Легкая подвижность электронов π-связей способствует образованию возбужденных структур с большими дипольными моментами из преимущественно неполярных основных состояний. Отсюда вытекают большие переходные моменты, служащие толчком к появлению наблюдаемых сильных поглощений.
Бензол имеет три электронные пары π-связей и как простейший ароматический углеводород представляет собой особенно идеальную систему сопряжения. Хотя имеет место полное выравнивание связи в пределах молекулы, поглощение на участке самых длинных волн можно найти в дальнем ультрафиолете. В этом состоит особенность положения бензола как не обладающей большой энергией симметричной системы из шести электронов π-связей. По сравнению с гексатриеном, показывающим максимум поглощения при длине волны 258 нм, бензол имеет три полосы поглощения. Полоса поглощения в самой длинноволновой области порядка 255 нм, демонстрирующая лишь незначительную интенсивность, относится к запрещенному π → π*-переходу, возможному только при условии наложения колебаний атомов. Рисунок 3.4 показывает, что эта полоса обладает четко выраженной колебательной структурой. За более коротковолновым поглощением около 200 нм следует несколько более мощное поглощение, которое также соответствует запрещенному π → π*-переходу. И только третье, высокоинтенсивное поглощение бензола при длине волны 185 нм может быть отнесено к разрешенному π → π*-переходу.
3.3. Разрешенные и запрещенные переходы
С разделением на разрешенные и запрещенные электронные переходы связаны абсолютно разные интенсивности поглощения. Облучение соединений может, но не обязательно должно приводить к возбуждению электронов, поскольку не каждый переход в равной степени вероятен. Интенсивность полосы поглощения, основанной на запрещенном переходе, на десятичные порядки ниже интенсивности полосы разрешенного перехода.
Способность к светопоглощению посредством переходов между двумя электронными состояниями с разной энергией зависит от того, можно ли под влиянием электромагнитного излучения перевести электронное распределение основного состояния в электронное распределение возбужденного состояния. Для их взаимодействия с электрическим полем света необходимо, как и в случае ИК-спектров, чтобы при возбуждении осуществлялось изменение распределения зарядов, определяемое через так называемый момент перехода: он как раз показывает происходящее при электронном возбуждении изменение распределения зарядов. Этот момент всегда достаточно велик при переходах между электронными состояниями с разной симметрией распределения зарядов. В таком случае имеет место разрешенный переход, инициирующий интенсивное поглощение.
Напротив, переходы между электронными состояниями равной симметрии распределения зарядов запрещены, так как при этом не возникает указанного момента перехода. Только в результате одновременного участия колебаний атомов, нарушающих симметрию распределения зарядов, электронное распределение в обоих состояниях изменяемо настолько, что запрет на переход уже не будет таким уж строгим и может быть нарушен. Однако интенсивность основанной на таком переходе полосы поглощения будет все же на несколько десятичных порядков меньше, чем в случае разрешенного перехода. Примером разрешенного перехода может служить полоса бензола при длине волны 255 нм (π → π*-переход) либо ее эквивалент в более сложных системах.
Заключение о том, что максимально возможные интенсивности поглощения должны возрастать с увеличением размеров поглощающей системы сопряжения, вытекает из достаточно простого рассуждения, что свет может поглощаться только тогда, когда фотон «встречается» с поглощающей электронной системой. Следовательно, существует прямая пропорциональная зависимость между геометрическими размерами молекулярной «зоны назначения» и интенсивностью поглощения, которая, кроме прочего, зависит еще и от упомянутой выше вероятности соответствующего электронного перехода. Существует множество факторов, оказывающих влияние на вероятность определенного перехода. На первом месте стоят правила, указывающие на то, какие переходы являются разрешенными и какие запрещенными. Они довольно сложны, поскольку зависят от симметрии и мультиплетности как основного, так и возбужденного состояния.
Конденсированные ароматические циклические системы имеют общую, растянутую на все циклы, электронную систему π-связей, ответственную за поглощение света. Полосы поглощения приходятся на участок спектра, именуемый областью «отпечатков пальцев». Положение полос поглощения зависит от числа конденсированных циклов и их расположения относительно друг друга. При четко выраженных системах сопряжения поглощение в конце концов смещается вплоть до видимой области, в результате чего получают цветные вещества или, соответственно, красители.
Итак, интенсивное длинноволновое поглощение делает вытянутые π-электронные системы особенно удобными для исследований в видимой и УФ-областях спектра.
Это означает, что в случае наибольшего числа органических соединений, поглощающих в ближней УФ- и видимой областях спектра, речь идет о мезомерных соединениях с системами сопряженных кратных связей. Но не существует простого правила или метода, позволяющего идентифицировать один хромофор, ибо на спектр воздействует слишком много факторов, так что пришлось бы иметь дело с несметным числом возможных структур.
3.4. Принцип измерения
Традиционные спектрометры в УФ- и видимом интервалах длин волн состоят из следующих основных узлов:
В спектроскопии УФ- и видимой областей спектра различают два вида приборов: фотометр и спектрометр.
Фотометры при выбранных установленных длинах волн измеряют поглощение, причем длина волны выбирается с помощью оптических фильтров в ходе лучей. Такие устройства используются только для количественных анализов и не предназначены для регистрации спектров.
Спектрометры последовательно и автоматически регистрируют отдельные длины волн, причем длина волны устанавливается с помощью дифракционной решетки. Чтобы компенсировать различия в зависимой от длины волны интенсивности света I0, спектрометры могут иметь двухлучевое исполнение.
3.4.1. Источники света
В качестве источников света в УФ- и видимой областях находят применение излучатели либо со сплошным, либо с линейчатым спектром. Последние могут использоваться только в фотометрах, где отдельные линии выделяются посредством оптических фильтров. Подходящие интерференционные фильтры с шириной полос от 10 до 15 нм предлагаются для каждого участка спектра. Излучателям со сплошным спектром требуется монохроматор для спектрального разложения лучистого потока.
Среди излучателей с линейчатым спектром наибольшей популярностью пользуется ртутная спектральная лампа благодаря ее высокой интенсивности и возможности получения большого числа линий. Поскольку давление заполнения у этих ламп оказывает влияние на спектральное распределение интенсивности, то в зависимости от области применения выбираются лампы высокого, среднего либо низкого давления. Лампы низкого давления заполнения (от 1 до 100 Па) довольно интенсивно излучают линии в УФ-области спектра. Так, интересная для химикоаналитических целей линия около 254 нм у этого вида ламп обладает очень высокой интенсивностью. Лампы среднего и высокого давления заполнения (от 0,1 до 10 бар) имеют равномерное распределение интенсивности в ультрафиолетовой и видимой областях спектра.
Рисунок 3.5 демонстрирует спектральное распределение интенсивности галогенной лампы высокого давления. Здесь отчетливо видна обусловленная относительно высоким давлением часть сплошного спектра.
Если рассматривать исключительно спектрометры, то в этом случае в качестве источников света допустимы только излучатели с непрерывным распределением энергии. При этом для УФ-области спектра предлагаются дейтериевые, а для видимой области — вольфрамово-галогенные лампы. Спектры излучения этих обоих видов ламп представлены на рис. 3.6. При прохождении по всему интервалу длин волн достигается за счет переключения зеркал автоматическая смена света — с дейтериевой лампы на галогенную.
Если приходится использовать всю спектральную область при наличии одного-единственного излучателя, то в таком случае самыми подходящими считаются ксеноновые лампы. Из рис. 3.7 видно, что ксеноновые лампы в значительной части спектра дают непрерывное излучение, а в средней части получается несколько наложенных друг на друга узких линий. Но благодаря высокой доле сплошного спектра можно для большой УФ/видимой области выбирать любую желаемую длину волны. Однако при этом следует учитывать, что все эти источники света в граничных интервалах длин волн показывают сильное понижение интенсивности излучения.
Многие ксеноновые лампы классифицируются как «лампы без озона», так как они обладают кварцевой колбой, не проницаемой для света ниже 250 нм. По этой причине значительно сокращается озонирование окружающего воздуха, так что отпадает необходимость в специальном отводном оборудовании. Прямой свет лампы ни в коем случае не должен попадать в глаза: яркие УФ-лучи разрушают сетчатку и роговицу глаза.
3.4.2. Монохроматор
Белый свет ламп, проходя через монохроматор, последовательно заполняет все пространство. Современные монохроматоры в большинстве своем содержат дифракционные решетки, качество которых определяется, кроме прочего, размером и числом штрихов. В двойных монохроматорах часто выбираются также комбинации из призм и решеток, что несомненно повышает качество устройства.
Следует различать плоские и вогнутые дифракционные решетки. Плоские решетки, как правило, нарезаются механическим способом, причем индивидуальная форма отдельного штриха определяет длину волны для максимальной эффективности («угол блеска»). Вогнутые решетки изготовляются голографическим способом и не имеют собственно угла блеска. Они не достигают пиковой эффективности решеток со штрихами, которая может составлять даже 95%, но зато обеспечивают более равномерную, распределенную по всей области спектра, но в целом несколько меньшую эффективность. Голографические решетки отличаются, естественно, ничтожно малыми погрешностями, генерируя в 10—100 раз меньше рассеянного света.
Для щелевой функции чрезвычайно важно, чтобы входная и выходная щели монохроматора могли одновременно настраиваться на разную спектральную ширину. При традиционном применении (в случае спектрометров последовательного действия) через выходную щель из спектра выделяется одна-единственная длина волны, то есть мы имеем дело с монохроматичностью. Свет попадает в камеру образца, которая - в отличие от ИК-спектроскопии - располагается позади диспергирующего элемента, чтобы проба как можно меньше подвергалась воздействию высокоэнергетического излучения.
Свет будет обладать тем большей монохроматичностью, чем более узкую щель удается установить. Однако уменьшение ширины щели ограничено требованием, касающимся достижения максимально благоприятной для измерения интенсивности пропущенного света, и зависит, следовательно, от силы света устройства и чувствительности детектора. Выходящий из щели лучистый поток имеет, таким образом, некую конечную «спектральную ширину», порядок величины которой составляет от 0,5 до 2 нм и которая — наряду с погрешностями измерения и считывания - ограничивает точность определения положения полос спектра поглощения.
3.4.3. Детектор
В качестве приемников, или приемно-регистрирующих устройств, служат либо фотоэлектронные умножители (ФЭУ), либо фотодиоды. Более дорогие и более чувствительные фотоумножители, именуемые также вторично-электронными умножителями (ВЭУ), представляют собой электровакуумные фотоэлементы, которые посредством динодов (10—14) по каскадному принципу усиливают электроны, на основе фотоэффекта удаляемые фотонами из фотокатода (рис. 3.8). Их число в широком диапазоне пропорционально числу возникающих фотонов. Это умноженное число электронов формирует на аноде соответствующий сигнал.
Наиболее распространенные типы умножителей различаются преимущественно материалом катода и материалом окна. Их область применения простирается от вакуумного ультрафиолета и видимого излучения до И К-участка спектра. С учетом высокого выхода электронов в умножителях, в качестве катодного материала используются исключительно щелочные металлы либо их соединения (чаще всего окислы щелочных металлов).
Фотоэлектронные умножители очень удобны для измерения самых слабых световых импульсов. Благодаря пониженному шумовому фону, высокому усилению и большому диапазону линейности они считаются наиболее подходящими для указанной цели и широко используются в спектрально-оптических аналитических приборах, детекторах частиц и фотометрах.
Все детекторы, как и человеческий глаз, обладают зависимой от длины волны чувствительностью. У фотоумножителей материал катода определяет положение максимума чувствительности и ее спектральное распределение. Длинноволновой предел чувствительности задан потенциалом выхода электронов при данном материале катода. Чтобы индицировать всю УФ/видимую-область, применяют сложные (многокомпонентные) щелочные фотокатоды. Для материала окна выбирают либо кварц (с перекрытием всего УФ-спектра), либо боросиликатное стекло, ограничивающее УФ-область на уровне ниже 300 нм, как это видно на рис. 3.9.
Стандартом ДИН нормирована УВ/видимая область спектра для 200—780 нм. Коммерческие устройства предлагаются в большинстве случаев в интервале от 190 до 900 нм. Данные, приведенные в проспектах для диапазона измерения ниже 190 нм, релевантны лишь при условии, что весь спектрометр продувается азотом (пути прохождения света, монохроматор, камера образца). В противном случае при длине волны ниже 190 нм излучение будет полностью поглощаться кислородом воздуха.
3.4.4. Кюветы
Широко распространенным способом регистрации является измерение в растворе, для чего используются кюветы — обычно с толщиной слоя 1 см. Однако при необходимости возможна меньшая (до 0,1 мм) или большая (до 100 мм) толщина. Для проб небольшого объема предлагаются кюветы с уменьшенным поперечным сечением, но с той же толщиной оптического слоя. Оптическая проницаемость определяется материалом кюветы, в качестве которого находят применение разные виды стекла. Так, оптическое стекло прозрачно только до длины волны около 300 нм. Для измерения всей УФ-области до 190 нм требуются кюветы из более дорогого кварцевого стекла.
В наипростейшем варианте кюветы заполняются вручную и помешаются в камеру образца. Иногда устройства оснащаются подходящими направляющими салазками для одновременного приема сразу нескольких кювет. Наряду с вариантами ручного заполнения пользуются популярностью также самозаполняющиеся кюветы и исполнения с загрузкой через воронку, находящуюся за пределами камеры. Опорожнение и промывка осуществляются путем подключения небольшого всасывающего насоса. В других случаях раствор пробы подается по принципу всасывания через тефлоновый шланг. Для непрерывных измерений в режиме реального времени имеются специальные кюветы с прокачкой.
Понятно, что камера образца должна быть надежно закрыта от окружающего света лаборатории. Ее размеры выбираются с расчетом на то, чтобы обеспечивалось термостатирование не только кюветы, но и самой камеры. Это позволяет исключить влияние экстремальных температур на электронику измерительного устройства. Геометрия хода лучей рассчитывается таким образом, чтобы и при большой толщине слоя (например, 10 см) ход лучей не соприкасался с краями кюветы.
3.5. Измерение спектра
Подлежащие исследованию пробы могут быть представлены во всех трех агрегатных состояниях. Для изучения строений веществ самыми благоприятными представляются спектры газа, при которых связь между поглощением света и структурой отдельных молекул в наименьшей степени нарушается межмолекулярными взаимодействиями. Но для целого ряда соединений такой вариант не годится, поскольку они в допустимом диапазоне температур не обладают требуемой летучестью.
Поэтому самым ходовым способом регистрации остается измерение в сильно разбавленном растворе, причем используются кварцевые кюветы с нормальной толщиной слоя в 1 см. Расход вещества здесь совсем невелик, и, как правило, находят применение растворы от 10-2 до 10~5 моль/л.
В качестве растворителей могут рассматриваться все вещества, не обнаруживающие самопоглощения в исследуемой области спектра. Измеренные в растворе спектры поглощения с точки зрения положения, интенсивности и формы их полос по сравнению со спектрами газа изменены тем больше, чем сильнее межмолекулярные взаимодействия между растворенным веществом и растворителем, так что для целей спектроскопии в качестве растворителей более всего подходят неполярные углеводороды — гексан, гептан или циклогексан.
| Растворитель | Миним. допустимая длина волны |
|---|---|
Вода |
185 нм |
Ацетонитрил |
190 нм |
Петролейный эфир |
195 нм |
Циклогексан |
195 нм |
Метанол |
200 нм |
Этанол |
200 нм |
Сложный эфир |
210 нм |
Дихлорметан |
220 нм |
Хлороформ |
237 нм |
Т етрахлорметан |
257 нм |
Бензол |
270 нм |
Перечень чаще всего используемых растворителей приведен в табл. 3.3.
Здесь регистрация спектров осуществляется преимущественно в форме графика, где оптическая плотность Е наносится относительно длины волны λ. Поскольку коэффициенты оптической плотности отдельных полос поглощения могут различаться до нескольких десятичных порядков, то лишь в логарифмическом масштабе даже совсем слабьте полосы способны еще проявиться наряду с областями очень интенсивных поглощений.
Полученные таким образом спектры поглощения тоже могут играть роль «отпечатков пальцев» при идентификации тех или иных веществ. Но по причине гораздо меньшего числа их полос они не столь характеристичны, как ИК-спектры. В случае проб, у которых интересующий компонент в биологических материалах или при относительно сильном основном поглощении отличается слишком слабой абсорбцией, проблемы выбора способа измерения пытаются решать на основе или дифференциальной (разностной), или производной спектрометрии.
Особо ценные сведения о строении исследуемого вещества дает теоретическая расшифровка спектров, которая делает абсорбционную спектроскопию в видимой и УФ-областях незаменимым вспомогательным средством для любой современной химической лаборатории.
3.5.1. Тонкая колебательная структура
Как уже говорилось в теоретической части, для переходов между отдельными электронными уровнями молекулы не существует четких линий поглощения, а наблюдаются системы широких полос, проистекающих от наложения одновременно осуществляемых колебательных и вращательных переходов через электронный переход.
Для наблюдаемых частот поглощения имеет силу следующее уравнение:
|
где νэл., νкол. и νвращ. есть частоты чисто электронного, колебательного и врашательного переходов. Возбуждение электронов сопровождается, следовательно, колебательными и вращательными переходами, так что поглощение, возникающее первоначально в виде линии, переходит в широкую полосу с тонкой колебательной и вращательной структурой, как это видно на рис. 3.10. В результате взаимодействия между растворенными молекулами и молекулами растворителя тонкая структура обычно стирается, постепенно исчезая, так что в конце концов приходится наблюдать просто гладкую линию. В газообразной фазе, в неполярных растворителях, а также при некоторых других ситуациях (например, у бензола с полосой около 255 нм) иногда можно обнаружить тонкую колебательную структуру.
Следовательно, электронному переходу, который в случае атомов приводит к поглощению практически монохроматического света, у молекул соответствует целая система колебательных полос, которые, в свою очередь, опять-таки имеют тонкую структуру из тесно прилегающих друг к другу вращательных линий.
В то время как при получении производной аналогового сигнала привлекается постоянная времени устройства и нет собственно прямой производной по длине волны (из-за чего возможны проблемы при смене ламп и фильтров), при вычислительных способах производной спектрометрии этого не случается. Кроме прочего, здесь достигается еще и то преимущество, что необработанные исходные данные всегда сохраняются на случай возможных в дальнейшем иных подходах к оценке. Поскольку в математическом плане каждая производная укладывается в последовательность точек, смысл производных высшего порядка до сих пор удавалось показать только на примере некоторых производных с порядком выше второго.
3.6. Определение концентрации по окраске
Естественно, не все молекулы поглощают в УФ-области спектра. Окрашенные вещества поглощают в видимой области, то есть энергия имеет здесь более узкие интервалы. В случае органических молекул ответственность за это несут так называемые хромофорные группы, состоящие из сопряженных двойных связей. Чем длиннее сопряженные цепочки, тем больше поглощение сдвигается в сторону видимой области. С другой стороны, комплексные соединения переходных металлов показывают характеристические поглощения в видимой области (цвет) через электронные переходы с нижнего на верхний вырожденный энергетический уровень.
Видимая для человеческого глаза часть излучения включает в себя световые волны длиной от 400 до 800 нм. Глаз не в состоянии разложить полихромный свет на его составляющие. Воспринимается только один цвет, возникающий в результате сложения всех попадающих в глаз световых лучей. Если спектральный состав дневного света не изменяется, то он воспринимается как белый. И только когда часть спектра гасится при поглощении, создается цветное зрительное впечатление дополнительно к поглощенному цвету спектра.
| Интервалы длин волн в видимой части излучения, нм | Цветочувствительность человеческого глаза |
|---|---|
400-435 |
фиолетовый |
435-480 |
синий |
480-500 |
сине-зеленый |
500-560 |
зеленый |
560-580 |
желто-зеленый |
580-595 |
желтый |
595-610 |
оранжевый |
610-750 |
красный |
Волны в разных областях этого интервала формируют в глазу совершенно определенные цветоощущения (см. табл. 3.4). Вещество, поглощающее, например, в синей области спектра, покажется глазу в желтом цвете.
Смесь световых волн всех длин наблюдатель воспринимает как бесцветную. Цветными предметы будут казаться, когда они поглощают волны определенных длин и отражают весь остальной спектр (табл. 3.5). Если в видимой области возникает несколько полос поглощения, то о простом составе уже говорить не приходится, и цвет вещества порой лишь с трудом удается предугадать по спектру поглощения.
| Интервал длин волн в видимой части излучения, нм | Цвет объекта (отраженная объектом область цветности) | Поглощенная объектом область цветности |
|---|---|---|
400-435 |
фиолетовый |
желто-зеленый |
435-480 |
синий |
желтый |
480-500 |
сине-зеленый |
оранжевый |
500-560 |
зеленый |
красно-фиолетовый |
560-580 |
желто-зеленый |
фиолетовый |
580-595 |
желтый |
синий |
595-610 |
оранжевый |
сине-зеленый |
610-750 |
красно-фиолетовый |
зеленый |
Если раствор какого-то вещества имеет зеленую окраску, то он поглощает свет из красной и синей областей спектра. Для достижения максимально возможной чувствительности фотометрического определения концентрации измерение целесообразно проводят при той длине волны, при которой поглощение особенно велико. Подходящую длину волны устанавливают следующими способами:
Бесцветные вещества не поглощают свет из видимой части электромагнитного спектра, но большинство материалов поглощают свет в не видимой для человеческого глаза ультрафиолетовой области. Способы измерения при этом идентичны.
3.7. Многокомпонентный анализ
Если в одной пробе содержится несколько веществ, спектры которых накладываются друг на друга, значит, придется иметь дело с так называемым «факторным анализом». При многокомпонентном анализе предполагается, что линейность закона Ламберта-Бера выполнена для всех компонентов и что никакие взаимодействия не нарушат существующую аддитивность [3.2].
Цель такого анализа состоит в измерении концентраций по суммарным спектрам на основе содержаний отдельных компонентов в смесях. Каждый спектр реконструируется посредством линейной комбинации значимых факторов, причем соответствующие значимости служат в качестве коэффициентов. Тогда можно с помощью множественно-линейной регрессии установить корреляции между значимостями факторов и измеренными величинами экстинкций. В качестве примера на рис. 3.11 представлены индивидуальные спектры витаминов В1 В6 и В12 и полученный суммарный спектр.
Допустим, для n компонентов в пробе надо измерить оптическую плотность при n разных длинах волн. При двухкомпонентном анализе было бы вполне достаточно измерения при двух длинах волн. Оптические плотности формируются тогда следующим образом:
|
Это означает, что оптическая плотность при длине волны λ1, Е(λ1), складывается из фактора α(A,1), умноженного на концентрацию вещества А, СА, плюс фактора α(B,1), умноженного на концентрацию вещества В, СB. Соответствующим образом получают и оптическую плотность при длине волны λ2. Данные факторы должны быть сначала определены на основе спектров отдельных компонентов. При смеси из двух компонентов имеем тогда два уравнения с двумя неизвестными, СА и СB, решаемые математическим путем. При n компонентах используют соответственно п уравнений, то есть n значений оптической плотности при п разных длинах волн, чтобы определить все концентрации отдельных компонентов.
На первый взгляд, проведение такого факторного анализа кажется довольно рискованным делом. До некоторой степени это верно, поскольку именно калибровка, как при любом количественном анализе, требует здесь особой тщательности. С другой стороны, этот анализ чрезвычайно прост и в большинстве случаев занимает гораздо меньше времени, чем альтернативные методы. Более совершенные спектрометры располагают для этой цели соответствующим программным обеспечением, что значительно облегчает проведение факторного анализа благодаря управлению через меню.
3.8. Измерение по принципу двойной длины волн[2]
В 1951 г. Чанс предложил новый метод измерения мутных проб в биохимическом анализе — измерение по принципу двойной длины волн [3.3]. Хотя этот метод используется в первую очередь для быстрого и точного измерения небольших изменений поглощения при двух установленных длинах волн в мутных суспензиях, он годится и для измерений в прозрачных растворах. При этом не следует путать «двойную длину волн» с «двойным лучом», при котором измерения поглощения проводятся при двух длинах волн для определения концентрации с помощью симультанных уравнений.
При измерении по принципу двойной длины волн свет посредством двух монохроматоров с дифракционной решеткой разлагается в два луча. Исходящие от двух решеток лучистые потоки с разной длиной волны претерпевают под действием вращающегося секторного зеркала сдвиг во времени и последовательно друг за другом проходят через одну и ту же ячейку с раствором пробы. Измеряется разность поглощений ΔА между длинами волн λ1 и λ2. Таким способом удается точно измерить даже очень малое изменение поглощения пробы при использовании полной шкалы.
Из рис. 3.12 видно, что детектор, синхронизированный с частотой вращающегося секторного зеркала, принимает, всегда попеременно, λ1 и λ2. При этом сигнал λ1 есть опорный сигнал, а λ2 - собственно сигнал исследуемой пробы. Используя все возможности электронных способов, можно растянуть шкалу поглощения в 100 раз. Благодаря этому обстоятельству данный метод особенно благоприятен для измерений совсем небольших количеств вещества, а также для наблюдения субстанций в области минимальной поглощающей способности.
При традиционной фотометрии полное поглощение А пробы измеряется обычно при длине волны λ путем сравнения со стандартной пробой, как показано на рис. 3.13. Если же раствор пробы содержит еще и другой фон, вызванный помутнением или взаимно влияющими друг на друга компонентами, то определение искомых веществ уже не возможно. Собственно измерения полного поглощения для количественного определения тех или иных компонентов не требуется. Поэтому в фотометрии по принципу двойной длины волн измеряется разность поглощений ΔA между двумя длина волн λ1 и λ2, так что никакой стандартный раствор здесь не нужен. Важнейшим необходимым условием для этого является линейность или пропорциональность между измеренными сигналами и концентрацией искомых компонентов. Таким способом удается путем выбора подходящей комбинации из двух длин волн устранить многие виды фоновых помех.
Как видно из рис. 3.14, при методе двойной длины волн используется только одна измерительная ячейка. Благодаря этому полностью исключается множество так или иначе связанных с ячейками ошибок и погрешностей — например, вероятность отклонения от заданного положения или от константы ячейки и появления различий между раствором пробы и стандартным раствором (по мутности, концентрации и проч.). В результате того, что проба сама используется в качестве стандартного раствора, при спектроскопии по принципу двойной длины волн сокращаются до минимума проблемы, вызываемые рассеянием, неравными длинами волн и разными концентрациями реагентов.
В случае пробы со сравнительно сильным поглощением и четко выраженным рассеянием удается обнаружить даже ничтожно малые изменения в поглощении. Тогда можно обойтись без разбавлений и фильтраций, обычно требуемых для подготовки проб при традиционной фотометрии. Путем сканирования (растрирования) двойных длин волн с близкими значениями λ1 и λ2 получаются производные спектры.
При измерении двойной длины волн можно легко и точно, без всяких вычислений, анализировать многокомпонентные системы одновременно — посредством эквиабсорбционного метода. Так, на основе содержащей вещества А и В двухкомпонентной пробы измеряются оптические плотности при λ1 и λ2 с получением разностной оптической плотности:
|
Если второй компонент В при обеих длинах волн λ1 и λ2 показывает такое же поглощение, то есть EB(λ1) — EB(λ2) = 0, то уравнение упрощается и принимает вид:
|
Поскольку разностная оптическая плотность ΔΕ теперь уже не зависит от концентрации компонента В, то концентрацию компонента А можно определить независимо от концентрации компонента В. Такой эквиабсорбционный метод представлен на рис. 3.15.
Если не удается найти две подходящие длины волны, при которых оптические плотности не анализируемой компоненты В равны, можно воспользоваться методом усиления сигнала, когда разные величины оптической плотности компоненты В компенсируются электронным способом в самом устройстве.
3.9. Разностные спектры
В случае дифференциальной спектроскопии сравниваются в ходе измеряемых и эталонных лучей два раствора, каждый из которых содержит компоненты, вызывающие основное поглощение, причем раствор в ходе измеряемых лучей дополнительно еще содержит собственно пробу [3.4]. Здесь следует напомнить о том, что при образовании разности двух достаточно сильных поглощений ни в коем случае не устраняются проблемы, связанные с паразитным излучением. Высокое самопоглощение растворителя снижает интенсивность I0 которую приходится компенсировать до появления шумов путем соответствующего усиления на детекторе.
3.10. Производные спектры
В производной спектроскопии представлены три разных метода, при которых или оптическим путем, или через аналоговый сигнал, или посредством прямой компьютерной обработки преобразованного в цифровую форму аналогового сигнала формируется производная [3.5]. Так как при оптических способах всегда можно получить только первую производную, на данный момент обсуждению подлежат лишь аналого-электронные и цифро-вычислительные способы. Но в любом случае следует помнить о том, что производная сигнала не повышает уровень информативности, но лишь максимально уточняет уже полученные ранее результаты [3.6]. Эти возможности используются, например, при перекрывающих друг друга пиках или при незначительных изменениях сигналов на весьма слабо изогнутых
3.11. Требования к современному спектрометру
При проведении типовых лабораторных анализов, например для определения концентрации или контроля чистоты, выбирается преимущественно спектроскопия УФ/видимой области, позволяющая получить простым и быстрым способом точные результаты исследования. Рутинная аналитика означает регулярное использование определенного метода анализа, причем, как правило, с большим количеством разных проб. В настоящее время отмечается бесспорная тенденция к созданию условий по доставке аналитического прибора к исследуемой пробе, а не пробы к прибору. В качестве ключевого понятия здесь выступает термин «децентрализация». Достаточно простые анализы проводятся прямо на рабочем месте, то есть непосредственно на производстве, а не транспортируются в центральную лабораторию. Понятно, что это экономит и время, и деньги. В свою очередь, центральная аналитическая лаборатория разгружается от примитивной повседневной работы и может эффективнее использоваться для решения более сложных задач.
Основной предпосылкой правильного фотометрического измерения можно считать наличие надежной высококачественной оптики. Соответствующие характеристические параметры, как то: малый рассеянный свет, высокая фотометрическая точность и хорошая долговременная стабильность, — могут быть просто позаимствованы из спецификаций оборудования. Знание этих данных позволяет сделать правильный выбор в пользу тех или иных фотометров от разных изготовителей [3.7].
Не менее важное значение имеет также наиболее подходящая для поставленной аналитической задачи реализация метода и, наконец, простота и надежность проведения анализа. Это возможно лишь при условии, что процесс определения будет недвусмысленным и ясным, с четкой идентификацией образцов и наглядным представлением результатов. Все больше возрастает сегодня роль таких факторов, как удобство обслуживания и правильная расшифровка полученных данных [3.8]. Выбор оптимальной длины волны для количественного определения осуществляется в современных спектрометрах с программным управлением. Из спектров стандартов, а также репрезентативных проб с матрицей выбирается длина волны, дающая наилучшие результаты с точки зрения линейности, точности, избирательности и воспроизводимости [3.9].
В каждодневной работе аналитической лаборатории применяются обычно самые разные фотометрические методы, которые могут различаться на уровне длин волн, некоторых факторов, а иногда и других параметров. Современные устройства с микропроцессорным управлением либо работающие в сочетании с ПК дают возможность сохранения отдельных методов измерения на любой по длительности срок. При необходимости можно запросить из памяти ПК тот или иной метод и немедленно начать процесс измерения — без новой установки соответствующих параметров [3.10]. Само собой разумеется, что предварительно придется потрудиться над созданием наиболее подходящих методов анализа для решения конкретных аналитических задач.
Собственно анализ проводится достаточно быстро и не требует каких-либо специальных знаний. Но определенная квалификация нужна, в частности, специалистам, занятым разработкой перспективных методов, составлением и проверкой надежности градуировочных графиков. При этом иногда оказывается весьма полезным обеспечение надежной зашиты в отношении программы, метода и функции калибровки во избежание возможного некомпетентного вмешательства. Создатель того или иного метода может тогда передать «закрытый» в электронном смысле прибор менее опытному коллеге, которому тогда останется только запрашивать нужные методы и запускать их в дело. Для этого достаточно вставить кювету в фотометр и нажать пусковую клавишу. Подобные анализы можно проводить вдали от центральной лаборатории и без текущего специализированного контроля.
Наряду с нормальной регистрацией спектра рекомендуется осуществлять и циклическое снятие спектра со свободно выбираемыми интервалами — для наблюдения за изменениями спектра во времени. Представление производных спектров с помощью современных спектрометров не составляет проблемы. Для кинетических исследований предлагается регистрация оптической плотности во времени при выбранной измеряемой длине волны. Программирование длин волн дает возможность проводить измерения пробы при многих длинах волн. Соответствующая программа для длин волн находит применение, например, при контроле степени чистоты веществ и материалов.
Концентрационные измерения занимают в рутинной аналитике одно из важнейших мест. На основе оптических плотностей и относящихся к ним стандартных концентраций прибор выполняет необходимые вычисления и составляет соответствующий градуировочный график. Для более сложных измерений, то есть в случае мутных проб и сложных смесей, существуют разные, иногда достаточно дорогостоящие, способы измерений, целесообразно реализуемые с помощью компьютеризованных программ расшифровки.
Простейшую интерпретацию обеспечивает анализ на основе одной длины волны, причем оптическая плотность обычно измеряется в максимуме спектра с последующим вычислением концентрации. Если требуется определить какое-то вещество при наличии фона, то должна быть проведена коррекция базовой линии. В зависимости от положения последней может быть выбран метод двойной или тройной длины волн. В то время как при измерении по принципу двойной длины волны базовая линия проходит параллельно оси абсцисс, при измерении с тройной длиной волны производится коррекция базы по прямой между двумя опорными длинами волн λ1 и λ2, слева и справа от измеряемой длины волны. Из рис. 3.17 видно, что при этом возможна не горизонтальная коррекция базовой линии.
Особый способ определения концентрации представлен на рис. 3.18, где концентрация вычисляется по площади полос поглощения. С этой целью регистрируется спектр образца. Прибор интегрирует площадь полос между двумя определяемыми длинами волн λ2 и λ2, вычисляя отсюда концентрацию. Такой способ хорошо зарекомендовал себя прежде всего в отношении проб, резкий максимум которых может сдвигаться под действием эффектов растворителя.
Вторая производная спектра есть испытанный метод количественного определения веществ в сложных матрицах (см. рис. 3.19). Здесь используется то обстоятельство, что расстояние между соседними максимумом и минимумом пропорционально концентрации вещества. Такой метод успешно применяют, в частности, при измерении концентрации в мутных пробах и в многокомпонентных системах. Эта вторая производная не зависит от фоновой оптической плотности, так что с помощью данного метода достигается точное определение концентрации даже при комплексных матричных эффектах.
3.12. Диодные матрицы в спектроскопии УФ- и видимой областей
Повышенные требования к разрешению, как и возрастающий интерес к измерениям в относительно широком интервале длин волн, послужили толчком к совершенствованию конструктивных исполнений и появлению новых концепций при разработке спектрометров. Создание спектрального фотометра с диодной матрицей стало безусловным прогрессом в области современной инструментальной аналитики. По сравнению с традиционными спектральными фотометрами с их последовательной регистрацией спектральных данных, с помощью приборов с диодной матрицей удается получить полный спектр одновременно при всех длинах волн. С этой целью проба просвечивается лампами с непрерывным распределением энергии, после чего свет спектрально разлагается в монохроматоре с дифракционной решеткой и проецируется на уложенные в ряд фотодиоды. Одновременно регистрируемые при этом спектральные данные сохраняются в памяти ЭВМ и затем последовательно считываются в виде спектра с выводом на экран ПК или графопостроитель [3.11].
Очевидным преимуществом для пользователя является при этом высокий темп получения результатов: регистрация полного спектра при длине волн 190—800 нм длится всего 0,1 секунды. Целый ряд несомненных достоинств по сравнению с традиционными приборами способствовал в конечном счете тому, что теперь устройства с диодной матрицей в большинстве случаев не только успешно заменяют общепринятое оборудование, но и во многом превосходят его.
Как в лабораторной диагностике, так и в области контроля качества по-прежнему широко практикуется спектроскопия УФ- и видимой областей как один из наиболее быстрых методов. В связи с заметным улучшением характеристик используемой при этом оптики развернулась дискуссия на тему большей либо меньшей пригодности одно- или двухлучевых способов. В итоге рынок ограничился небольшим числом обладающих более качественной оптикой двухлучевых спектрометров. Но одновременно популярность в области стандартных измерений начали завоевывать и доступные по цене компьютеризованные однолучевые приборы.
Диодные матрицы благодаря их быстродействию стали конкурентоспособны сначала только в области лабораторных химико-аналитических исследований. Но в целом их разрешение по длинам волн считалось не особенно хорошим, а фотометрическая линейность, в частности в УФ-области, недостаточно убедительной. Это, безусловно, связано и с тем, что на первых порах диодные матрицы как оптоэлектронные конструкционные элементы разрабатывались в меньшей степени спектроскопистами, а в большей — инженерами полупроводниковых технологий. Когда же оказалось, что они особенно подходят для решения проблем в хроматографии и их внедрение открывает совершенно новые возможности расшифровки результатов измерений, к ним стал проявлять повышенный интерес рынок оборудования для спектроскопии в УФ- и видимой областях [3.12].
Первоначально все преимущества новой техники по причине высокой стоимости приборов использовались относительно небольшим числом специализированных лабораторий. С течением времени обнаружилось, что диодные матрицы могут находить применение не только в традиционных целях: открылось множество специальных областей, реализуемых исключительно на основе быстрого обнаружения с привлечением миниатюризованных элементов диодной матрицы.
В результате сопряжения со световодами (оптическими волноводами) они — после успешных испытаний в области лаковых покрытий — стали интересны и для многих других специальных отраслей. Такой успех привел даже к тому, что со световодами начали соединять обычные спектрометры последовательного действия, которые благодаря этому стали конкурировать с диодными матрицами, особенно в сфере измерений в отраженном свете.
Так как при обработке полученных спектральных данных никак не обойтись без ЭВМ, здесь активно использовались достижения другой области аналитики. Программное обеспечение позволяет внедрить множество прогрессивных способов, в том числе для проведения многокомпонентного анализа, оценки производных, сравнения и вычитания спектров, вычисления отношений, составления смешанных спектров и обработки статистических данных. Повышенные требования к «хорошей лабораторной практике» и ужесточение законодательных актов в области контроля продукции, например в фармацевтической промышленности, в немалой степени способствовали тому, что давно известные способы статистической обработки результатов анализа внезапно приобрели огромную популярность и широкое распространение.
Сегодня приборы с диодной матрицей от разных изготовителей предлагаются по цене, вполне сравнимой со стоимостью традиционного оборудования. Рынок насыщен компьютеризованными однолучевыми спектрометрами для самых разных областей применения, равно как и регистрирующими двухлучевыми устройствами и диодными матрицами различного качества и назначения. При этом, наряду с лабораторной аналитикой и клинической диагностикой, возрастает и значение диодных матриц, в частности в сфере хроматографии, проверки качества, контроля процесса и в еще довольно молодой области — сенсорике [3.13].
3.12.1. Традиционный спектрофотометр
Начиная с применения в области колориметрии несколько десятилетий назад, спектрометры видимой и УФ-областей спектра в виде как однолучевьтх, так и регистрирующих двухлучевых приборов в течение многих лет заполняли широкий и разнообразный рынок специального оборудования. На рис. 3.20 представлена в упрощенном виде конструктивная схема оптической системы обычного однолучевого спектрофотометра, у которого полихромный свет источника излучения (дейтериевая или галогенная лампа с вольфрамовой нитью) фокусируется на входную щель монохроматора (призма или дифракционная решетка). Из монохроматора свет выходит с соответственно узкой полосой, определяемой шириной щели. Оптическая плотность пробы устанавливается на основе измеренных интенсивностей света — без пробы и с пробой в ходе лучей.
Такое конструкционное исполнение хорошо подходит для измерения оптической плотности при постоянной длине волны. На практике же часто требуется измерять разные пробы при различных длинах волн либо регистрировать спектры этих проб. При обычных спектрофотометрах изменение длины волн достигается путем вращения диспергирующего элемента в монохроматоре. Тем самым значительно усложняется вся конструкция, ибо воспроизводимость механической перестановки непосредственно ограничивает воспроизводимость длины волны. Следует еще добавить, что подобная последовательная форма сбора и обработки данных представляет собой довольно длительный процесс.
3.12.2. Спектрофотометры с диодной матрицей
Диодная матрица состоит из ряда фотодиодов, размещенных бок о бок на кремниевом кристалле. Такого рода матрица, в зависимости от конструктивного исполнения, содержит, например, 328, 512 или 1024 фотодиодов, обеспечивающих спектральное разрешение от 1 до 2 нм. Вследствие этого спектральная информация одновременно попадает на приемно-регистрирующее устройство и подлежит затем последовательному считыванию.
Здесь необходимо делать различие между двумя периодами времени. Прежде всего, требуется определенное число фотонов для генерации минимального сигнала на фотодиоде. В этом случае, с учетом интенсивности падающего света, время может измеряться наносекундами (если используется лазер) либо миллисекундами (при более слабых источниках излучения). От указанного периода следует отделять время, необходимое для считывания информации из электронных схем, включенных параллельно фотодиодам. В зависимости от используемого метода, это время составляет от 10 до 50 миллисекунд на полную строку.
Технология создания диодных матриц близка к производству схем со сверхвысокой степенью интеграции. Диодные матрицы обладают сложной конструкцией, но при этом весьма надежны, поскольку речь идет о твердотельных структурах. Светочувствительная площадь составляет около 18 х 0,5 мм, причем интервал между отдельными фотодиодами равен примерно 25 мкм. Кремниевые диоды демонстрируют высокую стабильность при постоянной температуре, поэтому большинство диодных фотометров весьма просты в изготовлении и оснащены однолучевой оптикой.
Рисунок 3.21 показывает в упрощенном варианте оптическую систему спектрофотометра с диодной матрицей. Весь свет проходит через пробу и фокусируется на входной щели полихроматора. Диспергирующий элемент вызывает спектральное разложение света, но, в отличие от монохроматора, выходная щель здесь отсутствует. Вместо этого диодная матрица таким образом позиционируется в спектрально разложенном свете, что этот свет перекрывает всю спектральную область.
При этом к каждому диоду отнесена определенная узкая область спектра. Далее, ширина полосы на каждый диод есть функция размера входной щели и дисперсии полихроматора, а также ширины отдельного диода. Роль выходной щели в монохроматоре здесь берет на себя геометрия каждого отдельного диода. В отличие от традиционных спектрофотометров, проба и диспергирующий элемент в ходе лучей меняются местами, в связи с чем такую конструкцию нередко называют инверсной оптикой.
3.12.3. Преимущества технологии диодных матриц
Устройства с диодной матрицей обладают фундаментальными, обусловленными конструктивными особенностями, достоинствами, создающими множество несомненных удобств для пользователя. Быстрота обработки данных есть, вероятно, самый известный признак этой технологии. Простота конструкционного исполнения гарантирует высокую надежность, а стационарная оптическая система обеспечивает выдающуюся воспроизводимость длин волн и, следовательно, высокую точность количественного измерения по всей ширине спектра.
3.12.3.1. Однолучевые приборы
Высокоэффективные спектрофотометры традиционно исполняются, с учетом лучшей стойкости к дрейфу, в виде двухлучевых устройств. Однако со временем, в силу достигнутого за прошедшие годы прогресса в области лампового производства и электроники, все больший интерес стали вызывать также однолучевые приборы, которые по стойкости к дрейфу лишь немного не дотягивали до двухлучевых исполнений, но зато имели преимущества более высокого светопропускания и более простой конструкции. Спектрофотометры с диодной матрицей вообще очень удобны для однолучевых конфигураций, поскольку здесь отмечается чрезвычайно быстрая регистрация спектров и сокращение до минимума временного интервала между эталонным измерением и измерением пробы. Поэтому колеблющиеся температуры окружающей среды, отрицательно сказывающиеся на системной устойчивости кремниевых диодов, здесь себя почти никак не проявляют.
На рис. 3.22 представлена конструктивная схема оптической системы спектрометра с диодной матрицей в одно- и двухлучевом исполнениях.
При измерении веществ в УФ- и видимой областях спектра фотоны измерительного света содержат большое количество энергии. Если интенсивность этого излучения слишком высока, то в случае не устойчивых к фотоэффектам веществ может наступить соответствующая фотореакция. В то время как при традиционной спектроскопии на пробу приходится лишь незначительная часть интенсивности измеряемого света, при технологии с диодной матрицей ход лучей состоит одновременно из всех длин волн. Это способно привести к достаточно высоким интенсивностям облучения, распределенным по всей спектральной области, так что не исключены соответствующие фотохимические реакции. Воспрепятствовать этому поможет затвор, благодаря которому проба подвергается световому воздействию лишь в течение совсем короткого времени.
3.12.3.2. Экспрессная регистрация спектральных данных
Спектры в интервале длин волн от 190 до 820 нм снимаются за десятые доли секунды. На обработку и сохранение спектра потребуется менее половины секунды. Такая ускоренная регистрация данных как безусловно самое известное свойство спектрофотометров является особым преимуществом в тех случаях, когда осуществляются измерения с несколькими длинами волн и работа ведется с большим количеством проб. Принимая во внимание экспрессную запись данных, спектрофотометры с диодной матрицей предпочитаются также при проведении измерений в динамических системах — например, в жидкостной хроматографии, в области контроля процессов и кинетических исследований. Кстати, для жидкостной хроматографии разработаны специальные, оптимизированные для данного конкретного применения, детекторы с диодной матрицей, обладающие очень короткими циклами измерения и особыми ячейками с прокачкой.
3.12.3.3. Одновременное измерение спектра
Во многих областях применения требуются измерения при нескольких длинах волн. Известно, что с обычными спектрофотометрами тоже можно проводить подобные измерения, правда, это происходит последовательно и длится очень долго. А вот устройство с диодной матрицей обеспечивает одновременное измерение при всех длинах волн. Это позволяет прибегать к специальным мерам в целях улучшения качества аналитических результатов. Измерение относительно «внутреннего стандарта» применяют с расчетом на уменьшение погрешностей, вызванных колебаниями интенсивности света в результате нестабильности лампы либо ее смещения. При таком методе определяется некая стандартная длина волны, как можно более близкая к аналитической длине волны, но при условии отсутствия там поглощения. Величины измерения при этой стандартной длине волны вычитаются затем из величин измерения аналитической длины волны. Так как при этом обе длины волн измеряются одновременно, удается благодаря упомянутому внутреннему стандарту снизить дрейф почти наполовину, сделав его сравнимым с дрейфом прибора в двухлучевом исполнении.
3.12.3.4. Воспроизводимость длин волн
Понятия правильности длин волн и воспроизводимости часто толкуются не совсем верно. Правильность длин волн необходима, когда сравниваются друг с другом измерения, выполняемые на разных приборах. У большинства количественных анализов в УФ- и видимой областях спектра, при которых измерения проводятся с применением стандартов на одном и том же устройстве, правильность длин волн особой роли не играет. В случае обычных спектрофотометров механического действия воспроизводимость длин волн есть погрешность, все возрастающая в процессе эксплуатации по мере механического износа оборудования. Поскольку у спектрофотометров с диодной матрицей конструкционным элементам в целях изменения длины волны нет нужды совершать какие бы то ни было движения, то и описанных выше проблем здесь не возникает.
3.12.3.5. Диапазон измерений
Обусловленное высокой воспроизводимостью длин волн, главное преимущество технологии на основе диодных матриц заключается в том, что отличные результаты можно получать и на краю полосы поглощения. Следовательно, если в силу концентрационных условий поглощение на уровне резкого максимума приходится на место, где точные измерения уже практически невозможны, то приблизиться к ним все же удается путем простого переключения на другую длину волны, при которой поглощение меньше. В случае традиционного оборудования, не способного обеспечить прецизионные измерения по краям полосы поглощения, требуется промежуточный этап для разбавления пробы, вследствие чего, во-первых, теряется время и, во-вторых, не исключено появление разного рода неопределенностей.
Посредством вычислительной обработки нелинейных градуировочных графиков диапазон измерения при необходимости удается расширить и до более высоких значений оптической плотности. Но он может быть распространен также в сторону более низких величин оптической плотности, так как оптическая система здесь несколько проще: она включает в себя меньшее число конструкционных элементов, поэтому светопропускание в данном случае будет выше, а фон ниже. Быструю одновременную регистрацию спектральных данных предлагается использовать в целях дальнейшего снижения фона. Благодаря короткому времени измерения можно регистрировать спектр несколько раз с выводом среднего значения (см. табл. 3.6). Общую продолжительность процесса измерения при регистрации спектра обозначают также как время интегрирования. В результате усреднения данных измерения стандартное отклонение для среднего значения уменьшается на корень квадратный из числа точек (например, при четырехкратном числе измерений фон снижается наполовину). В случае традиционных спектрофотометров такой способ с учетом длительного времени регистрации спектров нельзя назвать практичным решением.
Чувствительность |
Длительность регистрации |
|
|---|---|---|
обычным способом |
с диодной матрицей |
|
1,000 |
30 с |
0,1 с |
4,000 |
8 мин |
1,6 с |
16,000 |
2 часа 8 мин |
25,6 с |
3.12.3.6. Статистика данных измерения
Хотя с помощью спектрофотометра с диодной матрицей спектр может быть измерен всего за 0,1 секунды, время интегрирования нередко выбирается в диапазоне от 0,5 до 1 секунды, поэтому результаты определяются на основе пяти — десяти отдельных измерений. При этом, наряду с вычислением среднего значения для каждой длины волны, вычисляется еще и его стандартное отклонение как мера надежности измеренных величин при каждой отдельной длине волны. Стандартные отклонения такого рода, как правило, не измеряются обычным спектрометром, хотя бы в силу больших затрат времени на эту операцию.
Статистические данные помогают выявить явно плохие показатели. При использовании ячеек с прокачкой удается, например, обнаружить проходящие через ячейку пузырьки воздуха. Такие воздушные пузырьки вызывают кратковременное изменение оптической плотности, что в случае многократных измерений, выполняемых этим прибором, выражается через соответственно высокое стандартное отклонение.
3.13. Сопряжение со световодами
С помощью световодов свет доставляется прямо на место проведения измерения, а оттуда направляется к детектору. Это позволяет обойтись без традиционных операций: заполнения кюветы пробой и размещения ее в специальной камере спектрометра. Сочетание световодов со спектрометрами УФ- и видимой областей дает своеобразную «портативную» кювету, позволяющую проводить измерения на анализируемой пробе либо прямо в ней. Необходимая для этой цели измерительная головка, призванная максимально точно выполнять функцию кюветы, называется погружным зондом, или оптодом (оптическим электродом).
Понятно, что при таком способе работы значительно сокращаются затраты на взятие проб, их подготовку и доставку. При оптимальном использовании световодов в сочетании со спектрометрами основные оптические спецификации системы измерения, как то: фотометрическая точность, шумы фона и разрешение, — максимально приближаются к характеристикам основного прибора. Применение световодов послужило толчком к внедрению ряда инноваций, прежде всего в области техники связи, где за последние годы произошли колоссальные изменения. Это касается как предлагаемых новых материалов для оптических волноводов, так и технологий в сфере телекоммуникаций и обработки данных. Благодаря такому прогрессу появились условия для новых трендов в сфере создания оборудования для инструментальной аналитики.
Интегрирование моноволокон и жгутов оптических волокон с совершенно новыми оптическими системами либо их адаптация к уже существующим спектрометрам открыли перед аналитиками широкие возможности исследования образцов за пределами спектрального прибора. При способе измерения непосредственно в исследуемом материале были в значительной степени удовлетворены запросы пользователей в отношении измерительных систем, работающих в режиме реального времени либо по принципу встроенных блоков [3.14].
3.13.1. Теоретические основы функционирования световодов
Элементарный модуль — оптическое волокно — состоит из волоконного ядра с высоким преломлением и оболочки с низким преломлением. Предлагаемые рынком моноволокна обладают диаметром от 70 до 100 мкм. В сочетании со спектрометрами УФ- и видимой областей используются, как правило, жгуты световолокон, у которых диаметр и входная поверхность подгоняются под геометрию пучка соответствующего прибора.
Материал волоконного ядра является определяющим для характеристики пропускания световода, а разница в преломлениях обуславливает так называемую числовую апертуру, или апертурное число NA. Этот важнейший характеристический показатель определен как:
|
где n1 — показатель преломления окружающей среды, n2 — показатель преломления оболочки, n3 — показатель преломления ядра, Θ — угол падения относительно оптической оси.
Принцип передачи света по световоду в оптическом волокне наглядно отображен на рис. 3.23. Из-за разницы в показателях преломления свет проходит через стекловолокно по зигзагообразной траектории. Он вводится в стекловолокно из источника излучения с оптикой. Числовая апертура является поэтому важной характеристикой, поскольку она показывает предельный угол, при котором лучистый поток еще попадает в световод для последующей передачи. По причине дисперсии материалов ядра и оболочки числовая апертура зависит от длины волны. В составленном изготовителем техническом паспорте на оптические волокна обязательно указываются важнейшие характеристики изделия: диаметр волокна, оптическая прозрачность и числовая апертура. Благодаря вспомогательным оптическим элементам (например, линзам, оптимизированным с расчетом на апертурное число световодов) удается значительно улучшить выход энергии.
Оптические волноводы предлагаются из разных материалов: кварца, стекла либо на полимерной основе. Два последних исполнения годятся, конечно, только для видимой области спектра. При нынешнем уровне техники свет в кварцевых проводах с малым затуханием передается на многие сотни метров. Правда, и кварцевые световоды имеют в области 200 нм неблагоприятные кривые пропускания, так что предел обнаружения в этой области оставляет желать лучшего. Не только характеристика пропускания материала световода, но и полезный диапазон длин волн для всей системы также зависит от спецификаций основного прибора, например от его отношения сигнал/шум, от эффективности корректора базовой линии и возможностей ослабления опорного пучка.
3.13.2. Применение световодной системы
С помощью соединенного со спектрометром оптического электрода можно проводить измерения прямо на месте — без взятия пробы, что было бы связано с потерей времени и появлением тех или иных погрешностей. Устройства, рассчитанные на УФ- и видимую области спектра и располагающие обычной камерой образца, через специальное переходное устройство соединяются с погружным зондом, как это показано на рис. 3.24 [3.15]. При этом получают аналитические системы для измерений в режиме реального времени, полезный интервал длин волн которых зависит прежде всего от характеристики пропускания световодных материалов. При проведении измерения необходимо следить за тем, чтобы, во-первых, погружение оптода проходило без воздушных пузырьков и, во-вторых, не было рассеянного света [3.16].
Преимущества сопряженных со световодами спектроскопических измерительных систем, по сравнению с традиционными исполнениями, состоят в возможности исследования без разрушения образцов, в режиме реального времени, без какой-либо дополнительной подготовки. Итак, основные достоинства описанных систем:
-
контроль оптической плотности или пропускания в аналитике химических процессов (нанесение гальванических покрытий, исследование сточных вод) в режиме реального времени,
-
недеструкционные исследования твердых образцов (лаки, биоматериалы) за пределами камеры,
-
регистрация оптической плотности в биоферментах в качестве дополнительного измеряемого параметра и
-
надежное определение радиоактивных элементов вне горячих зон взятия проб.
Спектроскопия УФ- и видимой областей осуществлялась ранее исключительно в абсорбционных и флуоресцентных системах. Путем сопряжения световодов с диодными матрицами были получены новые устройства, позволяющие проводить измерения также и в отраженном свете. На рис. 3.25 представлены возможные при таком сочетании схемы диодной матрицы в абсорбционной, флуоресцентной и отражательной спектроскопии, причем последняя предлагает чрезвычайно широкую область применения. Наибольший интерес проявляется здесь прежде всего в области исследования твердых образцов (особенно при налинии тонких слоев), а также тонких жидкостных пленок. При этом отраженное на граничных поверхностях этих слоев частичное излучение приводит к интерференциям, дающим информацию о физической толщине слоя и оптических свойствах тонких слоев. В результате мультиплетного отражения на границе фазы, на основе конструктивных и деструктивных интерференций, формируется интерферограмма. По положению экстремальных значений в интерференционном спектре достигается весьма чувствительное вычисление оптической характеристики или толщины слоя. Такой принцип используется в области производства пленок для контроля технологического процесса в реальном масштабе времени.
В спектроскопии с нарушенным полным отражением последнее наступает с определенного предельного угла при переходе излучения от оптически более плотной к оптически менее плотной среде, которую излучение уже более не покидает. Такой эффект находит применение и в случае погружных зондов. Благодаря этому удается получить хорошие результаты даже в очень сильно поглощающих растворах с оптодами из стекла с высоким показателем преломления [3.17|.
3.14. Экспресс-тесты при исследовании воды
Во многих производственных отраслях для управления и наблюдения за процессами требуется разнообразная и максимально полная информация, что служит гарантией обеспечения постоянно высокого качества продукции. Все более жесткие законодательные акты требуют наличия значительно более точных и более разнообразных аналитических методов исследования. В стремительно расширяющейся сфере аналитики объектов окружающей среды, которой придается все большее значение на фоне непрерывно ужесточающихся экологических требований и строгих норм утилизации бытовых и промышленных отходов, объем проводимых исследований растет как снежный ком. Очевидно, что это связано с весьма существенными затратами и средств, и времени.
При этом полученные результаты должны быть надежными и недвусмысленными, и их следует без проволочек передавать производственникам с целью принятия срочных и адекватных мер. С учетом огромного числа требуемых анализов представляется немаловажным удерживать стоимость их проведения в определенных рамках. В такой ситуации ускоренные способы на основе готовых продуктов все чаще дополняют собой менее подверженные воздействию помех, но более затратные методы по нормам ДИН. Специально для проведения анализов воды рынок предлагает огромный выбор самых разных приборов и методов [3.18], так что разброс цен здесь чрезвычайно велик. Готовые тесты очень просты и удобны в обращении и дают быстрый результат. Простота таких методов позволяет работать с ними даже сотрудникам без большого опыта лабораторной практики.
С одной стороны, аналитика проникает в пока еще малодоступную сферу определения следовых количеств благодаря внедрению усовершенствованных хроматографических, спектрофотометрических и электрохимических способов; с другой стороны, обработка множества аналитических данных в разных местах требует создания ориентированных на практические условия аналитических систем. Они должны помочь любому заинтересованному пользователю — при разумном соотношении цены и качества — успешно применять точные и селективные методы анализа. Ускоренные фотометрические способы позволяют проводить надежные определения с меньшим аппаратным оснащением, чем это требует, например, разделение по методу хроматографии. Правда, в первом случае, учитывая трудоемкую пробоподготовку, приходится считаться с более высокой стоимостью расходных материалов и более значительными затратами труда. С другой стороны, фотометрические способы вполне годятся благодаря использованию фотометров с батарейным питанием для проведения анализов прямо на рабочем месте [3.19].
В типовой аналитической лаборатории наиболее часто требуемые параметры лучше всего определять с помощью полностью механизированных лабораторных автоматов. Для этой цели промышленность предлагает отличное оборудование с набором соответствующих реагентов. Подлежащие определению следы (либо нежелательных загрязнений в матрице, либо полезных добавок) требуют специальных методов анализа. Одним из наиболее популярных способов в рамках аналитического определения следовых количеств считается концентрирование и изолирование следовых элементов и их последующая идентификация фотометрическим методом.
Для выполнения того и другого этапов данного способа предлагаются органические реагенты, образующие с определяемыми веществами интенсивно окрашенные комплексы. На высокой селективности и очень большой чувствительности, отличающих данные реагенты, основаны многочисленные фотометрические методы анализа. Для таких случаев промышленность предлагает различные варианты быстрого определения следов веществ в водных растворах: это могут быть тесты в кюветах и специальные наборы для ферментативных и фотометрических тестов в сочетании с переносными ручными аналитическими устройствами. В водонепроницаемом исполнении и при наличии батарейного питания такое оборудование вполне пригодно для использования даже в полевых условиях.
3.14.1. Пример: фотометрическое определение следов меди
Из многочисленных комплексообразователей для катионов и анионов, более или менее селективных для одного вида ионов, возьмем для примера фотометрическое определение следов меди. Бис-циклогексилиденгидразид щавелевой кислоты с тривиальным названием «купризон» (см. структурную формулу на рис. 3.26) есть очень чувствительный реагент высокого избирательного действия, широко используемый для фотометрического определения малых содержаний меди. Речь идет о почти белом или, скорее, о серовато-желтом порошке, не растворимом в воде и эфире, трудно растворимом в метаноле и этаноле, но растворимом в бензоле и хлороформе. Купризон образует с ионами меди в щелочном растворе водорастворимый голубой комплекс, максимум поглощения которого приходится на 595 нм.
На процесс определения никак не влияет железо и одновременное присутствие большинства содержащихся в стали металлов — марганца, ванадия, титана, молибдена, вольфрама, ниобия, тантала, а также хрома в шестивалентном состоянии. Трехвалентный хром является помехой и поэтому должен быть окислен путем добавления хлорной кислоты к хрому (VI). Лишь большие количества кобальта и никеля способны помешать успешному определению. Среди анионов нитрат, сульфат, хлорид, фосфат и перхлорат никакого воздействия не оказывают.
3.14.2. Стержневые индикаторы
Это самый простой и дешевый способ полуколичественного определения ионов и разных других веществ. Так называемые «индикаторные палочки», как и известная индикаторная бумага для определения величины pH, состоят из пластмассовых полосок, на одном конце которых предусмотрена контрольная зона, пропитанная реагентами, буферными растворами и другими необходимыми добавками. Это тестовое поле гарантирует безупречное сравнение с такой же величины полями на цветной шкале, прилагаемой к поставляемым стержневым индикаторам такого типа.
Концентрированные растворы разбавляются до тех пор, пока интенсивность окраски индикаторной бумаги в области измерения не будет однозначно классифицирована. Соответствующий коэффициент разбавления включается в определение содержания. Цветная шкала имеет в большинстве случаев от 5 до 7 градаций цвета, поэтому возможен лишь полуколичественный результат, как это видно на рис. 3.27. При некоторых испытаниях зона реакции под действием того или иного реагента уже интенсивно окрашена. Репрезентативное окрашивание устанавливается поэтому только после проведения реакции согласно руководству по пользованию.
Стержневые индикаторы позволяют проведение неразрушаюших испытаний, когда из большого числа образцов выбираются те, которые затем подлежат количественному определению с применением более чувствительного, например фотометрического, метода.
Такие индикаторы обладают селективностью в отношении определенного иона или соединения. Значимые помехи со стороны примесных ионов проявляются в отклонении окраски контрольной зоны от цвета цветной шкалы. Изготовитель обычно дает необходимые сведения касательно воздействия других катионов и анионов и рекомендации по устранению возможных помех.
3.14.3. Комплекты для сравнительных экспресс-тестов (колориметрия)
Часто возникает необходимость в проведении экспресс-тестов в среднем диапазоне чувствительности на основе колориметрии, используемой также и при исследовании окрашенных или замутненных вод. При колориметрических способах к пробе добавляется один или несколько реагентов, вступающих с определяемым веществом в селективную цветовую реакцию. В зависимости от содержания подлежащего определению вещества в составе, раствор окрашивается с разной степенью интенсивности. Полученный цвет сравнивается с заданным цветным стандартом, к которому отнесены соответствующие концентрационные показатели. Данные стандарты входят в комплект для сравнительных тестов и предлагаются в форме специальных цветовых таблиц либо так называемых компараторов.
Прилагаемая цветовая карта отличается большими и хорошо различимыми градациями цвета. После добавления предусмотренных реагентов измерение проводится таким образом, что компаратор удерживается против света на уровне глаз, и цвет испытуемого раствора соотносится с эталонным цветом. Для облегчения считывания можно закрыть соседние поля шаблоном, как показано на рис. 3.28.
Исследуемые пробы воды в большинстве своем прозрачны либо только слегка окрашены или замутнены, так что анализ можно проводить без какой-либо дополнительной подготовки. При достаточно сильном замутнении подлежащей исследованию воды придется либо дождаться осаждения большей части мути, либо подвергнуть пробу фильтрации.
При слишком интенсивном окрашивании пробы прибегают к компенсационному принципу, изображенному на рис. 3.29. При этом окрашенная водная проба обрабатывается с точным соблюдением указаний в руководстве по пользованию. Для сравнения цвета наполняют компенсационную кювету исследуемым веществом без добавления каких бы то ни было реагентов и помещают ее позади цветового стандарта компаратора. Таким образом, при сравнении цвета компенсируется с обеих сторон собственная окраска раствора.
Однако следует заметить, что этот способ все же имеет свои ограничения, если мы имеем дело с очень интенсивной собственной окраской наряду с ничтожно малым содержанием исследуемого вещества. Тогда слабый цвет реакции будет перекрыт окраской пробы. Кроме того, может так случиться, что собственный цвет водной пробы изменится под воздействием добавленных реагентов (например, в результате смещений величины pH при определенных реагентах). Это явление почти всегда выражается в том, что уже невозможно соотнести цвет раствора с цветовым стандартом.
3.14.4. Малогабаритные фотометры с готовыми программами
Применение экспрессных тест-методов в сочетании с фотометром представляется весьма практичным и эффективным вариантом исследования качества и состава воды. Прогресс в развитии микропроцессорной техники позволяет постепенно уменьшать размеры фотометров с одновременным повышением их эффективности. Стандартные способы, повсеместно используемые при многочисленных исследованиях водных проб, теперь могут храниться в памяти ПК, что помогает намного ускорить освоение оборудования и принципы работы с ним [3.20].
Рассматриваемая аналитическая система состоит из фотометра, набора готовых к употреблению реагентов плюс комплекта разнообразного оборудования и необходимых принадлежностей — от пипеток до защитных очков. Инструкции по эксплуатации фотометров содержат, наряду с указаниями по пользованию прибором, точное руководство по проведению каждого конкретного анализа и массу дополнительных практических рекомендаций. Столь тщательно продуманная система позволяет проведение разного рода аналитических операций — даже в лабораториях, не располагающих достаточным штатом квалифицированных сотрудников, и предназначена не только для проведения анализов питьевой воды, сточных бытовых и производственных отходов, но и для исследования почв и промытого шлама [3.21].
В области аналитического исследования воды известно четыре основных источника возможных погрешностей: фотометры, реагенты, анализатор (человек) и проба либо ее матрица. Впрочем проистекающие из этих источников погрешности удалось свести к минимуму благодаря внедрению упомянутого выше комплектного оборудования. Применение круглых кювет способствовало популяризации фотометрических методов анализа при исследованиях воды. Одновременно прогрессировало развитие достаточно эффективных, работающих независимо от сети, фильтрующих фотометров, позволяющих не только проводить измерения оптической плотности, но и с помощью функций программирования напрямую определять состав пробы воды без дополнительной калибровки. Новинкой на рынке стала техника программирования с применением программных карт в сочетании с малогабаритными фотометрами.
После ввода данных касательно предстоящего анализа фотометр автоматически выполняет необходимую для их расшифровки настройку прибора и производит все относящиеся сюда расчеты. Далее устройство извлекает из программного обеспечения характеристики калибровки, диапазон измерения, возможное нулевое решение (да/нет), автоматически устанавливает требуемую измерительную длину волны и, наконец, вычисляет результат анализа в мг/л.
В этом плане наиболее приемлемыми по цене являются фильтровые фотометры, в которых за счет монтажа определенных оптических фильтров в ходе лучей между излучателем с непрерывным распределением энергии (галогенная или дейтериевая лампа) и кюветой пропускается только одна единственная длина волны. Существуют оптические фильтры, например, для длин волн 254, 365, 385, 405, 446, 470, 495, 525, 550, 565, 585, 635, 660 и 690 нм.
Наряду с использованием стандартных прямоугольных кювет размером 10, 20 и 50 мм, здесь находят применение также круглые кюветы в отдельной приемной камере, что дает следующие преимущества: как только такая круглая кювета помещается в предназначенную для нее камеру, она автоматически поворачивается и регистрирует десять величин измерения. Далее, при наличии программы для сглаживания выбросов (с формированием среднего значения из 10 измеренных величин) определяется окончательный результат с высокой точностью измерения. Коэффициент вариации метода есть важнейший статистический параметр, дающий информацию о функциональной точности аналитической системы.
3.14.5. Метод опорного пучка
Малогабаритные фотометры с вогнутой дифракционной решеткой в качестве монохроматора выполнены как однолучевые устройства со всеми характерными для них погрешностями, связанными, например, со старением ламп, колебаниями напряжения, прожиганиями и проч. С помощью метода опорного пучка (см. рис. 3.30) удается в той или иной степени компенсировать погрешности такого рода. Основным компонентом такой оптики с расщепленным пучком (split-beam) является делитель пучка, или светоделитель, отделяющий какое-то количество света от исходного светового луча.
Эта часть энергии лампы направляется на детектор (эталонный элемент), в то время как основной объем излучения подается на пробу. Таким способом распознаются возможные изменения интенсивности источника света и затем компенсируются посредством соответствующей электроники. Тем самым обеспечивается стабильность двухлучевого прибора, а интенсивность направленного на пробу лучистого потока почти достигает таковой у однолучевого устройства [3.22].
3.15. Резюме и перспективы развития спектроскопии УФ- и видимой областей
Спектроскопия УФ- и видимой областей стремительно развивалась в последние десятилетия, достигнув уровня стандартного лабораторного метода, предназначенного, в частности, для проведения количественных анализов, и считается сегодня одним из самых быстрых приемов аналитического исследования. На фоне отмечаемого в последние годы прогресса произошло значительное усовершенствование оборудования коммерческого назначения, что сделало его максимально удобным для пользователя. Поскольку пробы измеряются почти исключительно в разбавленном растворе, их подготовку можно назвать минимальной. Вода, прозрачная в интересующем диапазоне длин волн от 190 до 800 нм, является в этом смысле практически идеальным растворителем, обеспечивая чрезвычайно широкую область применения в самых разных отраслях.
Весьма сильны позиции спектроскопии УФ- и видимой области именно в количественной аналитике — фотометрии. Анализы, проводимые в реальном масштабе времени при использовании кювет с прокачкой, и интегральные анализы с оптическими электродами весьма просты в исполнении. Оснащенные микропроцессорами фотометры в сочетании с готовыми наборами реагентов служат основой для простых и быстрых способов анализа — без общепринятого лабораторного комплекта для аналитических исследований. Такая методика, усиленная устройствами на батарейном питании, находит широкое применение также в сфере набирающей популярность аналитики непосредственно на рабочем месте. Компьютеризованные спектрометры позволяют реализовать даже программы расшифровки с линейной и нелинейной коррекцией базовой линии в целях определения концентраций даже в очень сложных матрицах.
Регистрация спектра УФ- и видимой областей происходит очень быстро, а вот результаты качественного анализа, то есть сведения о том, какое вещество в данный момент исследуется, создают, в отличие от ИК-спектроскопии, значительные трудности, поскольку полученные спектры лишь в редких случаях являются характеристическими для исследуемого соединения. Отрицательно сказывается тот факт, что существует целый ряд соединений, например парафины, которые в УФ-области спектра до длины волны 190 нм не обнаруживают характеристических поглощений. С другой стороны, имеется слишком много факторов, так или иначе воздействующих на УФ/видимую область спектра. Хромофоры — группировки, вызывающие избирательное поглощение электромагнитных колебаний в УФ-области, не столь легко поддаются идентификации на основе простых правил или методов. В принципе УФ- и видимая области спектра дают тем больше информации, чем «сложнее» структура исследуемого вещества. Спектр со многими полосами, простирающийся вплоть до видимой области, показывает, например, наличие длинного сопряженного хромофора либо полициклического ароматического хромофора. В то же время соединение только с одной полосой или меньшим их количеством при длине волны ниже 300 нм предположительно содержит всего два или три сопряженных структурных элемента.
В соответствии с установленными требованиями предлагаемый модельный ряд приборов включает в себя от вполне доступных по цене малогабаритных фотометров до обладающих высоким разрешением двухлучевых устройств с достаточно дорогостоящей оптической системой. Среди традиционного оборудования различают одно- и двухлучевые спектрометры. При этом однолучевые исполнения требуют меньшего числа оптических компонентов и механических узлов (делитель пучка и зеркало). Поэтому с точки зрения цены они значительно благоприятнее и отличаются пониженным износом. Правда, здесь не исключены проблемы в отношении стабильности ламп и усилительной электроники.
Высокоэффективные спектрометры последовательного действия предлагаются в виде двухлучевого исполнения, что позволяет заметно улучшить ситуацию с долговременной стабильностью ламп, детектора и электроники. Но с учетом гораздо более сложного хода лучей и при наличии деления пучка приходится использовать более интенсивные лампы и более дорогие оптические компоненты — для достижения сигнала такой же силы, что и в случае однолучевых приборов. Тем не менее последовательные двухлучевые устройства продолжают утверждать себя в сфере проведения специальных исследований, например, в случае сложных многокомпонентных анализов. Благодаря возможности любого изменения ширины щели, регулирования ослабления, усиления и скорости регистрации, а также весьма благоприятному отношению сигнал/шум данная измерительная техника все активнее используется для самых изысканных спектроскопических исследований. Но при этом скорость подачи ограничивается примерно 2400 нм в минуту с учетом длительности цикла между измеряемым и эталонным лучами. Спектральное разрешение будет тем хуже, чем больше становится разность длин волн между двумя ходами лучей.
Если у традиционных приборов длина волны последовательно проходит через пробу по ширине спектральной полосы, заданной выходной шелью монохроматора, и затем измеряется детектором, то у мультиплексных устройств наблюдается сразу весь спектр. При этом диодные матрицы должны отличаться от приборов, функционирующих по принципу Фурье-преобразования.
У диодных матриц 512 либо 1024 отдельных фотодиодов размещены рядом в одной ячейке. Свет от монохроматора веерообразным пучком падает на диодную ячейку, после чего каждый отдельный фотодиод может быть отнесен к определенной длине волны или, соответственно, к узкому интервалу длин волн. В результате этого спектральная информация одновременно попадает на детектор, правда, затем она считывается опять последовательно. В силу значительного удешевления диодных матриц они все чаше стали вытеснять стандартные приборы последовательного действия.
Благодаря диодным матрицам в последние годы на рынке появились новые системы, у которых оптические пути между отдельными компонентами и приемником шунтируются световодами, что позволяет получить удобные модульные конструкции. Тогда становится возможным также измерение в отраженном свете, что вызывает большой интерес, прежде всего в области исследования твердых образцов (особенно в случае тонких слоев) или жидкостных пленок с малой толщиной слоя. При этом отдельные лучи, отраженные на поверхностях раздела этих слоев, приводят к интерференциям, из которых черпается информация о физической толщине слоя и оптических свойствах тонких слоев.
Разработки на основе диодных матриц дают толчок к увеличению числа диодов с меньшим темновым током и лучшей динамикой сигналов при более низком пределе их обнаружения. Время измерения и считывания значительно сократилось. Оптические многоканальные системы представляют собой высококачественные диодные матрицы с высокой чувствительностью и хорошим временным разрешением, причем для кинетических измерений возможно разрешение до наносекундного диапазона. Кроме того, ожидается расширение области спектра дальше длины волны 1100 нм в ближней И К. Это можно только приветствовать, поскольку здесь предполагаются интересные применения, в частности в сфере производства продуктов питания.
Устройства, действующие по принципу преобразования Фурье, открывают дальнейшие перспективы применения мультиплексных методов. Принцип Фурье-преобразования успешно развивается в ИК-спектроскопии, а вот в УФ- и видимой областях спектра предлагаются пока лишь дополнительные устройства, функционирующие преимущественно в ближней И К.
В спектрометрах задействованы микропроцессоры для задач управления, сбора и обработки данных. В современные спектрометры обязательно встроен микропроцессор для выполнения функций управления. Кроме прочего, следует различать устройства с внутренним блоком обработки данных, включая монитор, и устройства, снабженные присоединением для внешнего вычислительного блока. Но при этом необходимо позаботиться о том, чтобы передача информации между спектрометром и управляющей вычислительной машиной не оказалась критической по времени. Эта проблема возникает, в первую очередь, в случае спектрометров с диодной матрицей, так как у этих приборов при быстром чередовании спектров, например в процессе обработки кинетических данных, вся информация в течение миллисекунд должна быть передана на диодную ячейку.
Способы расшифровки результатов на уровне многокомпонентного анализа или кинетических алгоритмов довольно медленно внедряются в спектроскопию УФ- и видимой областей. Благодаря использованию диодных матриц с чрезвычайно эффективными вычислительными машинами или терминалами обработки данных алгоритмам интерпретации спектров практически нет предела. При многокомпонентном анализе на основе калибровочных спектров осуществляется вычислительным путем количественное определение долей отдельных компонентов в смеси. Возможны также более скрупулезные расчеты и моделирования. Диффузная спектроскопия в отраженном свете находит применение при анализах в тонкослойной хроматографии. Направленное отражение приобретает все большее значение в области исследования качества поверхности и процессов коррозии.
Терминалы обработки данных готовы к созданию значительно более совершенной среды пользователя и большего числа алгоритмов расшифровки результатов. Хотя спектроскопия УФ- и видимой областей предлагает — по сравнению с ИК-спектроскопией — меньше информации на уровне специфичности молекул, тем не менее и в этой области спектра можно ожидать появления алгоритмов поиска, разработанных для библиотек спектров и банков данных.
Несмотря на все описанные выше прогрессивные тенденции, остается бесспорным тот факт, что возможности использования спектрометра с точки зрения анализа результатов и введения их в банки данных обусловлены производительностью применяемых вычислительных машин и их программного обеспечения, а качество спектрометра определяется его оптикой. Это означает, что изготовитель должен предлагать оборудование и с хорошим качеством оптики, и с самой современной цифровой электроникой.
ГЛАВА 4. ФЛУОРОМЕТРИЯ
Когда биологи и химики впервые попытались использовать феномен флуоресценции, им пришлось сильно разочароваться, поскольку оказалось, что одни вещества флуоресцировали очень слабо либо делали это только в специальных растворах, а другие решительно отвергали излучение любого света, какие бы усилия для этого ни прилагались. К счастью, со временем, в ходе проводимых в этой области экспериментов, обнаружилась весьма специфическая связь с окружающей средой: было установлено, что в случае люминесценции речь идет о своего роде зонде, который, будучи направлен на микроскопический мир молекул и клеток, сигнализирует о тончайших изменениях в своем окружении. Поляризация, температура, время жизни и квантовый выход есть изменяемые величины в уравнении флуоресценции. Каждый из этих параметров требует своего собственного способа рассмотрения, причем необходим также и особый вид спектральных флуорометров, чтобы привести к общему знаменателю все эти столь разные показатели.
4.1. Теоретические основы люминесценции
Любое горячее тело посылает тепловое излучение, обусловленное энергией движения атомов и молекул. В отличие от этого, люминесценцией называют такое излучение, которое вещества испускают после предварительного возбуждения без всякой помощи тепловой энергии. Следовательно, о люминесценции можно говорить, когда какие-либо вещества светятся при обычной температуре среды, причем подобное излучение вызывается не температурой излучающего тела. Здесь также не исключен вариант, что возбужденная молекула безызлучательно передает свою энергию другим молекулам, которые затем испускают свет. В зависимости от того или иного механизма возбуждения возможны разные виды люминесценции (см. табл. 4.1).
Хемилюминесценция есть излучение света в результате химической реакции, чаще всего окисления. Молекула возбуждается, то есть она поглощает энергию. При отдаче этой энергии она либо светится сама, либо передает свою энергию другой молекуле, которая затем излучает свет. Хемилюминесценция генерируется синтетическими химикатами. Типичными люминогенами являются, например, акридиновый эфир, люминол, люкугенин и лофин. Биолюминесценция есть особая форма хемилюминесценции в живых организмах вроде бактерий и светящихся насекомых. Для биолюминесценции требуются энзимы (например, люциферазы) и субстраты (например, люциферины) [4.1].
| Вид люминесценции | Механизм возбуждения | Пример |
|---|---|---|
Радиолюминесценция |
Воздействие высокоэнергетических частиц или гамма-излучение радиоактивных процессов |
Самосветящиеся цифры на циферблате часов |
Электролюминесценция |
Воздействие электрических полей |
Свечение газоразрядных ламп |
Хемилюминесценция |
Излучение, возбужденное химическими реакциями (почти исключительно экзотермическими) |
Окисление белого фосфора на воздухе |
Биолюминесценция |
Химико-биологические процессы |
Светящиеся рыбы, жучки, бактерии |
Т риболюминесценция |
Механическое воздействие |
Растирание или разбивка кристаллов сахара |
Кристалло- люминесценция |
Кристаллизация |
Окислы мышьяка |
Фотолюминесценция |
Поглощение света УФ/видимой или ИК-области спектра |
Флуоресценция и фосфоресценция |
У фотолюминесценции различают - в зависимости от продолжительности процесса излучения - флуоресценцию и фосфоресценцию. Флуоресценция возникает, когда участвующие возбужденные состояния имеют в качестве исходной точки для фотоэмиссии среднее время жизни порядка 10-8 с; фосфоресценция имеет место, когда это время составляет более 10-3 с. В последнем случае не редкостью считается и средняя продолжительность от несколько секунд до нескольких часов.
Рассмотрим подробнее эти два явления и их использование в измерительной технике. УФ- и видимая области спектра являются важнейшими для флуорометрии. Оптическая флуорометрия, именуемая также флуоресцентной спектроскопией, ограничивается, следовательно, интервалом длин волн примерно от 200 до 2000 нм. Поглощение излучения в этом диапазоне поднимает электроны с самой внешней электронной оболочки (валентные электроны) на более высокий, возбужденный энергетический уровень. Эту подведенную энергию молекулы могут вновь отдавать посредством безызлучательной дезактивации, разложения, реакций или посылки света.
Итак, флуорометрия — это эмиссионная спектроскопия, которая находит применение как в качественной, так и в количественной аналитике. При известных компонентах можно по уровню сигнала сделать заключение об их концентрации, неизвестные же вещества идентифицируются путем сравнения спектров.
При большом числе химических соединений флуоресценция вообще не обнаруживается.
Поглощенная энергия в большинстве случаев вновь отдается путем безызлучательной дезактивации, причем следует делать различие между межмолекулярными и внутримолекулярными процессами. К внутримолекулярным процессам относят столкновения второго рода, при которых энергия возбуждения при соударении с другими молекулами принимается ими в виде кинетической или колебательной энергии («тушение флуоресценции»). Представляется, что дезактивация вообще не флуоресцирующих веществ должна осуществляться на основе так называемых предиссоциационных процессов. Это возможно, поскольку энергия возбуждения достигает величин энергии разрыва соответствующей связи.
Итак, фотолюминесценция наступает только у органических соединений, содержащих электроны π-связей.
В силу характеристических свойств электронов π-связей эти соединения не требуют большой энергии для оптического возбуждения, но имеют, с другой стороны, столь стабильную систему связи, что не диссоциируют в условиях возбуждения. При значительно большем числе флуоресцирующих органических веществ речь идет об изо- и гетероциклических соединениях с ароматическими системами связи. Почти все ароматические углеводороды отличаются сильной флуоресцентной способностью, которая, однако, нередко значительно снижается в результате ввода заместителей. В частности, заместители нитро-, карбонокислотной, SH-групп и родственные им почти полностью «тушат» флуоресценцию ароматических углеводородов.
Наряду с короткоживущей флуоресценцией со средней продолжительностью затухания 10-8 с, у многих органических соединений обнаруживается излучение с продолжительностью затухания в несколько секунд. Для такого почти произвольно возникающего разделения существует точное физическое обоснование. Большая разница во времени жизни объясняется тем, что в случае флуоресценции речь идет о синглет-синглетных, а в случае фосфоресценции — о триплет-синглетных переходах. Фосфоресценция связана с долгоживушим метастабильным состоянием, достигаемым безызлучательно после возбуждения из первичного возбужденного состояния.
4.2. Флуоресценция
При комнатной температуре большинство молекул находится на низшем колебательном уровне основного состояния S0. В результате поглощения энергии молекулы могут достигать либо первого возбужденного состояния S1 либо второго возбужденного состояния S2 При нормальных «разрешенных» поглощениях, время перехода у которых составляет всего 10-15с, вероятность излучательного перехода столь велика, что среднее время жизни этих возбужденных состояний находится в диапазоне от 10-9 до 10-8 с.
Если переход осуществляется из возбужденного состояния А* в основное состояние А в результате того, что энергия возбуждения ΔΕ отдается в обращении абсорбционного процесса путем излучения света относящейся сюда частоты v, то можно говорить о флуоресценции:
|
С принятием во внимание исключительно электронного возбуждения можно было ожидать, что длина волны флуоресценции точно совпадает с длиной волны поглощения, как это бывает при эмиссии возбужденных атомов (резонансная флуоресценция). Однако в экспериментах с флуоресценцией молекул наблюдают обычно длинноволновое смешение относительно абсорбции, происходящее с участием атомных колебаний (правило Стокса).
В результате возбуждения молекула может достигать любого из колебательных уровней, которые следует воспринимать как подуровни отдельных возбужденных состояний. После того как молекула поглотит энергию и достигнет одного из верхних колебательных уровней возбужденного состояния, она вследствие соударений очень быстро теряет избыток колебательной энергии и вновь падает на низший колебательный уровень возбужденного состояния (рис. 4.1).
Дополнительно почти у всех молекул, населяющих состояние выше состояния второго рода, осуществляются внутренние переходы из нижних колебательных уровней более высокого возбужденного состояния на обладающие близкой энергией более высокие колебательные уровни более низкого возбужденного состояния. Здесь молекулы вновь теряют колебательную энергию вследствие соударений, пока не достигнут низшего колебательного уровня первого возбужденного состояния. Такое внутреннее преобразование осуществляется безызлучательно, продолжительность этих внутренних переходов составляет около 10-12 с.
После такой безызлучательной дезактивации молекула при переходе из первого возбужденного состояния на один из колебательных уровней основного состояния может отдавать высвобождающуюся энергию в форме света. Наблюдается флуоресцентное излучение, смешенное относительно поглощения к более длинным волнам, то есть к «красной» области спектра, и, следовательно, к меньшей энергии. Никакого сдвига к красному не происходит при «резонансной флуоресценции», например в случае атомов. У атомов не может быть распределения энергии на другие степени свободы, допустим, на колебания.
Так как энергетические интервалы между колебательными уровнями при электронно-возбужденных состояниях являются часто энергетическими интервалами между более низкими электронными уровнями, то это приводит к образованию симметричных спектров для поглощения и эмиссионного излучения соединения. Переход из низшего колебательного уровня основного состояния на низший колебательный уровень первого возбужденного состояния, так называемый 0-0-переход, в энергетическом отношении одинаков при явлениях поглощения и излучения. Поэтому оба спектра — поглощения и флуоресценции — имеют полосу 0-0-перехода. Все прочие переходы при поглощении требуют больше энергии, чем любой переход при флуоресцентном излучении. Полосы эмиссионного излучения сдвинуты относительно полос поглощения, соответственно меньшим полосам их энергетических уровней, примерно зеркально-симметрично 0-0-переходу (рис. 4.2).
Поэтому теоретически все спектры поглощения и спектры излучения флуоресценции должны перекрываться при длине волны, соответствующей 0-0-переходу. В действительности же 0-0-переходы при поглощении и излучении совпадают крайне редко. Это объясняется тем, что в интервалах длин волн, где абсорбционные и эмиссионные спектры пересекаются, происходит частичная реабсорбция излученного света, которая зависит от концентрации поглощающего вещества и толщины слоя, приводя - из-за ослабления коротковолновых составляющих излученного света - к длинноволновому сдвигу полос флуоресценции без установления различий в собственно разностях термов для 0-0-переходов при абсорбции и эмиссии.
Поглощение энергии для первого возбужденного состояния лишь незначительно влияет на форму молекулы. Это означает, что распределения колебательных уровней в основном состоянии и в первом возбужденном состоянии очень похожи. Следовательно, энергетические интервалы между полосами эмиссионного излучения идентичны таковым между полосами поглощения. Поэтому спектр флуоресценции нередко становится зеркальным отражением спектра поглощения.
Так как излучение флуоресценции всегда вызывается переходом из низшего колебательного уровня первого возбужденного состояния, то внешние формы спектра излучения всегда одинаковы и в принципе не зависят от длины волны возбуждающего света. Графическое представление интенсивности излучения на оси у относительно длины волны, отложенной на оси х, при заданной постоянной длине волны возбуждения обозначают как спектр флуоресцентной эмиссии. Если изменить длину волны светового возбуждения и отложить интенсивность излучения пробы относительно длины волны возбуждения, получится спектр возбуждения флуоресценции.
Если, несмотря на меняющуюся длину волны возбуждения, удерживать на постоянном уровне интенсивность возбуждающего света, то это будет специальный «скорректированный спектр возбуждения», поскольку он скорректирован из расчета на неизменяющуюся энергию возбуждения. Квантовый выход большинства органических молекул в принципе не зависит от длины волны возбуждающего света и определяется только коэффициентом экстинкции, или мольным коэффициентом поглощения, для соответствующего соединения. При этом спектр возбуждения с постоянной энергией возбуждения, то есть скорректированный спектр возбуждения, соответствует спектру поглощения того же вещества.
С точки зрения измерительной техники, о которой речь пойдет ниже, флуоресцентная фотометрия может быть до четырех раз чувствительнее абсорбционной фотометрии.
4.3. Фосфоресценция
Флуоресценция и фосфоресценция существенно различаются по времени затухания. Если излучение флуоресценции затухает в течение 10-9—10-6 с, то при появлении фосфоресценции световое излучение длится дольше возбуждения на период от 10-4 до 100 с. Объяснение такой разницы во времени затухания следует искать в электронной теории.
При возбуждении электронов обычно сохраняется их момент количества движения, или момент импульса (спин). У пар электронов с противоположными спинами при возбуждении сохраняется в большинстве случаев и их четность. Но может произойти переориентация возбужденного электрона, и тогда образуется молекула с неспаренными спинами. Согласно квантовой теории, такая молекула может существовать в трех формах энергии, то есть она находится, как принято говорить, в триплетном состоянии. Прямой переход из основного состояния в триплетное с точки зрения квантовой теории запрещен. Весьма вероятный процесс переориентации спина может осуществляться только в результате так называемой спин-орбитальной связи, то есть при взаимодействии спина электрона с его орбиталями. Триплетное состояние достигается исключительно на основе перехода из возбужденного синглетного состояния равной энергии.
В то время как возврат из синглетного состояния в основное в случае флуоресцентного излучения происходит легко и быстро, возврат из триплетного состояния в основное затруднителен, так как при этом вновь должна произойти переориентация спина. Связанное с этим запаздывание излучения света и есть фосфоресценция.
Следует различать два типа фосфоресценции: излучение, протекающее преимущественно при повышенной температуре и по своему спектру совпадающее с флуоресценцией, — высокотемпературная, или α-фосфоресценция, и длинноволновое, наблюдаемое только при низкой температуре излучение, — низкотемпературная, или β-фосфоресценция (см. рис. 4.3).
При α-фосфоресценции молекула из метастабильного триплетного состояния в результате поглощения тепловой энергии вновь возвращается в возбужденное состояние S1, откуда теперь осуществляется обычное излучение флуоресценции, которое, однако, в силу промежуточного пребывания возбужденной молекулы в метастабильном состоянии Т запаздывает по сравнению с нормальной флуоресценций.
При наблюдаемой в большинстве случаев β-фосфоресценции переход в основное состояние осуществляется прямо из возбужденного метастабильного триплетного состояния. Поскольку в триплетном состоянии молекула обладает меньшей энергией, чем в соответствующем синглетном состоянии, то при этом излучается меньше световой энергии. Таким образом, излучение β-фосфоресценции всегда происходит в интервале более длинных волн, чем излучение флуоресценции (рис. 4.4).
Но, поскольку молекулы способны относительно долго оставаться в триплетном состоянии, создаются условия для того, что они начинают терять свою энергию не только в результате фосфоресценции, но и другим путем. Особенно активно тушат фосфоресценцию соударения с молекулами растворителя, чаще молекулы с неспаренными электронами, например кислород, даже в минимальных концентрациях чрезвычайно эффективны при тушении фосфоресценции. Поэтому фосфоресценция растворов при комнатной температуре считается достаточно редким феноменом.
Фосфоресценцию можно наблюдать только при замораживании молекулярного движения, ибо лишь в этом случае сохраняется триплетное состояние и проба приводится в «замедленное свечение». Это может произойти в результате охлаждения пробы до очень низких температур в соответствующем сосуде Дьюара. Способ генерации фосфоресценции при комнатной температуре основан на адсорбции пробы, размешенной на твердой поверхности, например на фильтровальной бумаге. Эта твердая матрица в значительной степени ограничивает возможность молекул вступать в реакцию с кислородом.
4.4. Параметры измерения при флуорометрии
Флуорометрия отличается высокой чувствительностью и большим диапазоном линейности, действует без разрушения образца и для измерения не нуждается в большом количестве вещества. Проблемы при флуорометрическом анализе сложных проб связаны прежде всего со спектральными наложениями и тушением флуоресцентного свечения.
Интенсивность и спектральное распределение флуоресцирующих веществ чрезвычайно зависят от внешних влияний — температуры, вида связи или вязкости растворителя. Особенно сильно воздействует на флуоресценцию растворитель, то есть непосредственное химическое окружение вещества, причем с возрастанием полярности флуоресцентное излучение ослабевает. Весьма важны с аналитической точки зрения разные механизмы передачи энергии от возбужденной молекулы на соседние молекулы, которые затем начинают флуоресцировать. Здесь различают электронно-обменный механизм, прямую передачу энергии посредством фотонов и резонансный переход. Последний способ основан на том, что энергия возбуждения может передаваться на большие расстояния безызлучательно, то есть без обходного пути через световые кванты.
По сравнению с абсорбционной спектроскопией, при которой коэффициент поглощения может определяться в качестве единственного параметра, флуоресцентная спектроскопия обладает гораздо большей информативностью. Она позволяет проводить измерение множества независимых друг от друга параметров (среди них: квантовый выход флуоресценции, время жизни возбужденного состояния) и осуществлять целенаправленное тушение флуоресценции подходящими вспомогательными средствами.
4.4.1. Квантовый выход флуоресценции
Эффективность, с которой протекают процессы поглощения и испускания света, называют квантовым выходом. Этот параметр показывает степень вероятности того, что произойдет эмиссия поглощенного фотона — с той же или иной длиной волны. В случае фотолюминесценции квантовый выход Ф составляет:
|
В отличие от выхода энергии, который постоянно уменьшается из-за смещения Стокса, квантовый выход флуоресценции у всех соединений должен быть равен 1, если в дезактивации возбужденных состояний не участвуют никакие иные процессы, кроме лучистой эмиссии. Тогда на каждый поглощенный фотон должен вновь испускаться тоже один квант света. Но с флуоресценцией конкурируют процессы безызлучательной дезактивации, от скорости которых зависит, можно ли наблюдать флуоресценцию у того или иного соединения.
Для получения максимума информации о флуоресцирующем веществе необходимо иметь представление о квантовой эффективности «флуоресцентоносителя». Квантовый выход вещества в принципе можно определять путем прямого измерения поглощенных и излученных квантов. Но в техническом отношении проще другой способ — на основе сравнительного измерения с использованием стандартного вещества с известным квантовым выходом. При этом определяют сначала точку пересечения обоих спектров поглощения. При заданной длине волны гарантируется одинаковое поглощение, причем равной концентрации для обеих проб не требуется. Соотношение площадей в пределах спектров поглощений и дает квантовый выход.
4.4.2. Количественный анализ
В отношении количественного анализа следует отметить основополагающее различие между абсорбционной и люминесцентной фотометрией. В то время как при поглощении измеряются интенсивность I0 поглощенного света и интенсивность I пропущенного света (закон Ламберта-Бера), измеряемая флуоресцентная эмиссия зависит от предшествующего поглощения возбуждающего излучения. Для интенсивности Q флуоресцентной эмиссии получаем:
|
где I0 — интенсивность возбуждающего излучения, Ф — квантовый выход флуоресценции, с — концентрация пробы, d — толщина слоя раствора.
Интенсивность флуоресценции прямо пропорциональна концентрации вещества, так что определить ее очень легко. Как и при поглощении, это будет относительный, но прямой способ измерения. При этом измерению подлежит непосредственно свет, который излучает данное вещество.
Таким образом, измерение флуоресценции обладает, по сравнению с измерением поглощения, гораздо более высокой чувствительностью обнаружения, что можно объяснить следующим образом. При определении флуоресцентного излучения измеряемая величина Q прямо пропорциональна поглощаемой интенсивности I0, в то время как при измерении поглощения определяется отношение I/I0. Это означает, что чувствительность измерения поглощения ограничена способностью измерительного устройства различать два больших, но порой совсем незначительно отличающихся друг от друга сигнала I и I0. При измерении же флуоресценции определятся интенсивность светового сигнала, излучения флуоресценции, относительно нуля, то есть относительно темноты. Такое измерение интенсивности позволяет получить в оптическом и электронном смысле более чувствительную измерительную систему, чем это возможно при измерении разности двух световых сигналов. Справедливости ради следует все же упомянуть, что в силу отсутствия эталона коррекция люминесцентного спектра с учетом разброса характеристик оборудования связана с определенными трудностями.
Оцениваемый электронным способом выходной сигнал фотоумножителя ограничивается темновым током, то есть сигналом, выдаваемым также и при полностью затемненном приемно-регистрируюшем устройстве. Величина темнового тока зависит от температуры, так что в результате охлаждения может быть достигнуто более благоприятное отношение сигнал/шум и, следовательно, более высокая чувствительность.
На практике возможны пределы обнаружения от 10-8 моль при абсорбционном анализе, в то время как с флуорометрами достижимы пределы до 10-12 моль. При высоких концентрациях веществ надо иметь в виду, что интенсивность флуоресценции Q уже не является линейной функцией концентрации с. Чтобы остаться в зоне линейности, максимальная концентрация не должна превышать смакс = 0,05/ε·d. Поэтому измерения флуоресценции всегда проводятся на соответствующим образом разбавленных пробах, в противном случае не избежать реабсорбции излученного света.
Чтобы исключить также инструментально обусловленные нелинейности (например, перерегулирования фотоумножителя), представляется целесообразным в любом случае путем серии калибровок определять участок линейности для подлежащего измерению раствора.
4.4.3. Тушение флуоресценции
Процессы определения концентрации могут быть затруднены тушением флуоресценции, которое бывает внешним и внутренним. Тушение флуоресценции может быть вызвано другими растворенными веществами, например кислородом, либо высокой концентрацией анализируемого вещества в результате так называемого самотушения. Повышение концентрации флуоресцирующего вещества приводит в большинстве случаев к резкому сокращению выхода флуоресценции.
Существуют разные механизмы собственного или концентрационного тушения. Во-первых, различные флуоресцирующие соединения при высоких концентрациях могут складываться в не флуоресцирующие двойные молекулы. Во многих случаях обнаруживается при этом рост медленно затухающей фосфоресценции. При других соединениях концентрационное тушение основано на сокращении времени жизни возбужденных молекул, чему способствуют прежде всего соударения с гомогенными невозбужденными молекулами. По этой причине в чистых жидкостных соединениях флуоресценция тоже, как правило, отсутствует.
С концентрационным тушением тесно связано и так называемое внешнее, или постороннее, тушение, при котором примеси, иногда даже совсем в небольших концентрациях, вызывают чрезвычайно интенсивное тушение, не вступая с флуоресцирующими соединениями в сколько-нибудь прочные связи. Многие «тушители» на основе их абсорбционных спектров вообще не в состоянии поглощать длину волны флуоресцирующего света. К сильно действующим тушителям принадлежат, например, ионы тяжелых металлов, ионы галогенов, кислород, а также большое число непредельных и ароматических соединений.
Внешнее тушение под действием молекул-тушителей осуществляется или до электронного возбуждения, или после него. Во-первых, перед возбуждением образуются обратимые, не способные к флуоресценции ассоциированные соединения с тушителем. Во-вторых, только в возбужденном состоянии происходит взаимодействие с молекулой-тушителем. Безызлучательный отвод энергии осуществляется посредством биомолекулярных обратимых реакций, причем в многочисленных операциях тушения участвуют окислительно-восстановительные процессы посредством захвата или отдачи электронов.
Целенаправленное использование веществ для тушения флуоресценции англичане называют «quenching». Большое число тушителей (quencher) находит вполне специфическое применение согласно конкретно поставленной задаче, поскольку разные тушители не всегда одинаково воздействуют на те или иные люминофоры с возможностью специальной модификации их физико-химических свойств. Типичными тушителями такого рода считаются, в первую очередь, пирокатехин, гидрохинон и другие фенолы, а также анилин, нитробензол и сродственные к ним соединения.
4.4.4. Флуоресцентные индикаторы
В результате реакции с подходящими реагентами даже не флуоресцирующие прежде вещества могут быть превращены во флуоресцирующий продукт, который затем можно обнаружить методом флуорометрии. Для флуорометрического определения ионов металла используются флуоресцентные индикаторы, которые в результате комплексообразования изменяют свойства флуоресценции. Идеальный флуоресцентный индикатор должен вызывать отчетливое изменение спектральных характеристик после реакции с ионами металла. При этом вследствие комплексообразования происходит сдвиг максимума поглощения как для возбуждения, так и для излучения. Как и в абсорбционной спектроскопии, здесь также имеются соответственно более или менее селективные флуоресцентные индикаторы. Кроме того, при условии большого выхода флуоресценции получают на порядок более высокую чувствительность обнаружения.
Но определенные проблемы нередко создают еще и спектральные наложения, поскольку спектры флуоресценции многих ионных комплексов металлов не обладают требуемой специфичностью. В качестве примера флуоресцентного индикатора можно назвать 8-оксихинолин-5-сульфокислоту. Полным ходом идет поиск индикаторов, специфичных в отношении тех или иных исследуемых веществ. При этом речь идет об индикаторах не только для ионов металлов, но и для других классов веществ. Углеводы успешно идентифицируются, например, с помощью 2-аминобензамида.
4.5. Флуоресцентные спектрометры
Принцип флуорометрии заключается в том, что вещество возбуждается источником света, после чего интенсивность флуоресцентной эмиссии измеряется как функция длины волны возбуждения и эмиссионного излучения. В отличие от абсорбционной спектроскопии, при измерении флуоресценции всегда рассматриваются две длины волн — длина волны возбуждения и длина волны эмиссионного излучения. Как и любой спектрометр, флуорометр состоит из следующих основных узлов: источника света с выбираемой длиной волны, носителя пробы и приемника излучения. Дополнительно должна регулироваться длина волны эмиссионного излучения. Как и в абсорбционной спектроскопии, здесь тоже различают фотометры и сканирующие (растровые) флуорометры. Простые устройства используют оптический фильтр для выбора длины волны возбуждения и эмиссионного излучения. Такие фотометры предназначены для количественных анализов.
Для сканирующих приборов требуются монохроматоры с дифракционной решеткой (рис. 4.5). В отличие от классических двухлучевых исполнений в абсорбционной спектроскопии, сканирующие флуорометры выполнены в виде однолучевого устройства. При этом, во-первых, благодаря малому числу оптических компонентов обеспечивается максимально возможное пропускание света; во-вторых, можно выбирать значительно более высокую скорость сканирования, так как при однолучевой системе не надо учитывать переключение излучения с образца на стандарт и обратно, чем существенно ограничивается максимальная скорость. Правда, при однолучевом методе приходится еще корректировать регистрируемые спектры.
Рассеиваемый во все направления пространства флуоресцентный свет детектируется под углом 90° к падающему световому лучу с максимально большим пространственным (телесным) углом. Расстояние между кюветой и детектором должно быть как можно меньше. За счет изменений ширины щели на обоих монохроматорах могут варьироваться спектральные участки пропускания относительно ширины полос спектра. Большая спектральная ширина полосы обеспечивает высокую чувствительность обнаружения для эмиссионного излучения. При малой спектральной ширине полосы лучше разрешается эмиссионный спектр. Удается распознать специфичную для вещества тонкую структуру, причем особенно отчетливо — в случае полициклических углеводородов и их производных.
Однако в целях лучшего детектирования диффузного света с принятием во внимание его интенсивности работа ведется обычно с меньшим, чем при абсорбционной спектроскопии, спектральным разрешением, задаваемым шириной шел и и используемыми рассеивающими решетками. Как правило, находит применение ширина шели 5 нм в ходе лучей возбуждения и от 10 до 20 нм в ходе эмиссионных лучей. Но учитывая, что электронные переходы в случае молекул обычно имеют естественную ширину полосы более 50 нм и обладают в своем большинстве не столь тонкой структурой, как соответствующие абсорбционные спектры, такое пониженное спектральное разрешение вполне приемлемо.
Для регистрации флуоресцентного свечения с как можно большим телесным утлом в качестве детектора применяют почти исключительно фотоумножитель с фотокатодом большой площади. Диодные же матрицы, играющие доминирующую роль в абсорбционной спектроскопии, по причине недостаточной площади детектора подходят меньше, несмотря на все преимущества мультиплексности.
В принципе для возбуждения флуоресценции используются те же источники излучения, что и в абсорбционной спектроскопии, то есть либо излучатели с непрерывным распределением энергии (ксеноновые лампы), либо линейные излучатели (ртутные спектральные лампы). Наиболее распространенным источником излучения считается ксеноновая лампа, дающая непрерывный спектр. Ртутные лампы высокого давления обладают большей интенсивностью, но их энергия распределяется по отдельным спектральным линиям, что не позволяет выполнять измерение спектров возбуждения.
Варьирующая в зависимости от длины волны интенсивность возбуждающего излучения компенсируется электронным способом. Для этого с помощью светоделителя одна часть монохроматического света возбуждения направляется к счетчику квантов, который измеряет интенсивность, а другая часть света возбуждает пробу. В качестве счетчика квантов используются кремниевые фотодиоды.
4.5.1. Разные виды спектров
В зависимости от того, варьируется ли длина волны возбуждения или длина волны эмиссионного излучения, говорят о спектре возбуждения или, соответственно, эмиссионном спектре — собственно спектре флуоресценции.
Если вместо фильтра эмиссионного излучения использовать монохроматор, то излучение флуоресценции можно регистрировать как функцию длины волны. Таким образом, эти устройства дают спектр флуоресцентной эмиссии.
Если фильтр возбуждающего излучения заменить монохроматором, то при постоянной длине волны излучения флуоресцентная эмиссия измеряется как функция длины волны возбуждения. Запись дает спектр светового возбуждения, предлагающий часто дополнительную информацию о структуре вещества. Помимо этого, с помощью монохроматора возбуждающего излучения можно установить длину волны и ширину полосы возбуждения с таким расчетом, что создаются оптимальные условия для измерения эмиссии.
Чтобы полностью использовать возможности флуоресцентного анализа, можно прибегнуть к разложению как возбуждающего излучения, так и эмиссионного излучения посредством не зависимых друг от друга дифракционных монохроматоров. При этом будут регистрироваться и спектры возбуждения флуоресценции, и спектры флуоресцентной эмиссии. Так как оба они специфичны в отношении конкретных веществ, то с помощью подходящего оборудования удается в полной мере реализовать возможности флуоресценции в области качественных анализов.
Далее, такие устройства обеспечивают вариант «синхронизированного сканирования». При синхронной спектроскопии оба монохроматора сканируются одновременно с определенной разностью длин волн. Результатом будет своеобразная смесь из спектров эмиссионного излучения и возбуждения. Такую методику применяют главным образом в целях контроля чистоты, ибо при этом удается наблюдать в спектре значительно больше структур.
В качестве нового способа может быть предложена трехмерная флуоресценция. Спектр трехмерной флуоресценции составлен из переменных — длины волны возбуждения, длины волны эмиссионного излучения и интенсивности флуоресценции. Таким образом, все возможные комбинации длин волн возбуждения и излучения регистрируются в одном трехмерном графике. При этом объемные спектры флуоресценции одновременно содержат спектральную информацию, которая не может быть считана в стандартных спектрах возбуждения и излучения. Объемные спектры предоставляют максимально быстро и в исчерпывающем объеме данные о спектральной флуоресценции исследуемой смеси веществ. Описанный трехмерный метод обеспечивает, следовательно, точную идентификацию соединений. Он обнаруживает у практически идентичных соединений даже малейшие различия, обусловленные возможными загрязнениями или занесенными изготовителем примесями.
К слову сказать, указанные достоинства трехмерной флуоресценции известны уже давно, но этот способ использовался крайне редко из-за больших затрат времени на его проведение. При обычной скорости сканирования макс. 1200 нм/мин на запись одного трехмерного спектра потребуется около 1 часа. Правда, благодаря сверхскоростной обработке данных в настоящее время возможны скорости до 500 нм/с, что сокращает продолжительность регистрации до 1—2 минут.
4.5.2. Коррекция спектров
Записанные спектры отображают прежде всего значения интенсивности, которые путем радиометрической коррекции должны быть преобразованы в реальные спектры. Это необходимо, поскольку и источник излучения, и детектор, и оба монохроматора с дифракционной решеткой функционируют в зависимости от длины волны. То есть интенсивность лампы, эмиссионная характеристика решетки и чувствительность фотоумножителя есть нелинейные функции длины волны. Эти обусловленные аппаратурными признаками дисперсии накладываются на измеренный спектр и подлежат соответствующей коррекции, чтобы можно было выполнить не зависимое от прибора сравнение спектров. Такая коррекция осуществляется, во-первых, на стороне возбуждения (источник света и решетка возбуждения), во-вторых, на стороне эмиссионного излучения (детектор и решетка флуоресценции). На спектрах возбуждения коррекция сказывается сильнее, чем на эмиссионных спектрах. Поскольку абсолютных методов, не зависимых от длины волны, просто не существует, приходится довольствоваться сравнением со стандартизованными лампами или, соответственно, стандартизованными эталонными спектрами.
Так как спектры возбуждения и спектры поглощения идентичны, коррекцию хода возбуждающих лучей выполняют путем индивидуального определения обоих спектров с последующим сравнением на основе формирования отношений.
Далее, коррекция по возбуждению возможна с помощью «оптического интегратора». Для этого часто используют концентрированный раствор родамина «В» в этиленгликоле в качестве «химического» счетчика квантов. Этот раствор поглощает все падающие лучи света независимо от длины волны. Так как эмиссия наблюдается при определенной длине волны, дисперсию в ходе эмиссионных лучей можно оставить без внимания. Частота монохроматического выходного излучения не зависит от частоты посылаемых квантов света. Интенсивность выходного излучения счетчика квантов пропорциональна величине интегрирования всех падающих квантов. Раствор родамина «В» имеет преимущество линейной работы в относительно широком интервале частот от 200 до 600 нм, то есть в пределах этого диапазона измерения поглощается столько же фотонов, сколько испускается. Это касается, естественно, только поглощаемых фотонов с длиной волны короче эмиссионной длины волны раствора.
Для коррекции спектра излучения необходимо выровнять чувствительность детектора или устранить зависимость КПД эмиссионной решетки от длины волны. Спектр подлежит коррекции из расчета на полную интенсивность, то есть на общее число инициируемых флуоресценцией фотонов. Надежный метод основан на отдаче энергии калиброванной стандартной вольфрамовой лампой, мощность излучения которой подтверждена документально. При этом сначала регистрируют эмиссионный спектр лампы, затем значения градуировки делят на величины измерения, отнесенные к определенным длинам волн. Результатом будут соответствующие поправочные коэффициенты. Они сохраняются в компьютере и соотносятся с измеренным спектром флуоресценции.
Еще одна возможность коррекции состоит в том, что измеренный спектр эмиссионного излучения стандартного вещества посредством формирования отношений сравнивают с его реальным, документально зафиксированным спектром. В качестве примера вещества с калиброванным эмиссионным спектром можно назвать сульфат хинина (рис. 4.6).
4.5.3. Рассеяние света
Наряду с абсорбцией и эмиссией, при облучении вещества возможны также дополнительные явления рассеяния. Подобно флуоресценции, рассеянное излучение распространяется по всем направлениям пространства. При этом оно может исходить как от отдельных молекул (рассеяние Рэлея), так и от мельчайших частиц коллоидных растворов (рассеяние Тиндаля). Интенсивность рассеянного излучения пропорциональна 4-й степени частоты возбуждения, то есть коротковолновое возбуждающее излучение рассеивается гораздо сильнее, чем длинноволновое. Для флуоресцентной спектроскопии это означает, что частота возбуждающего света оказывается не так уж далеко в коротковолновой УФ-области, поскольку здесь значительная часть энергии теряется из-за рассеяния. Но, с другой стороны, частота возбуждения не может располагаться и вплотную к эмиссионным частотам, в противном случае будет иметь место сильное фоновое излучение. Чувствительность обнаружения вследствие этого понижается с переходом через границу линейности приемника излучения.
С учетом заметно меньшей доли рассеянного света вогнутые дифракционные решетки представляются более подходящими для флуорометрии, чем их плоские варианты. В более дорогих приборах находят применение двойные решетки, обеспечивающие отличное подавление рассеянного света. Это наилучший выбор для мутных, то есть сильно рассеивающих, проб. Простые спектрометры, без сомнения, обойдутся дешевле. Помимо прочего, простой монохроматор с меньшим числом оптических поверхностей будет даже эффективнее. Его более высокое пропускание может иметь решающее значение при анализе весьма слабо флуоресцирующих проб или при исследовании образцов с очень низкой концентрацией.
Наряду с рассеянием Рэлея и Тиндаля необходимо учитывать еще и комбинационное рассеяние растворителя. Дело в том, что при обычных растворителях не происходит электронного возбуждения, но зато возможны колебательное и вращательное возбуждения. Возникающее при этом излучение находится в интервале более длинных волн, чем возбуждающее излучение, и может привести к смешению с излучением флуоресценции либо наложению их друг на друга. Так как явление комбинационного рассеяния всегда наступает на одном и том же расстоянии от длины волны возбуждения, а длина волны излучения флуоресценции от этого не зависит, часто удается путем изменения длины волны возбуждения избежать совпадения этих двух эмиссий.
Хотя интенсивность комбинационного рассеяния совсем невелика, она все же может сильно мешать при малых концентрациях вещества, то есть при слабой интенсивности флуоресценции. Комбинационное рассеяние можно в большинстве случаев распознать по наличию необычайно узких полос в спектре эмиссионного излучения, изменяющихся в зависимости от длины волны возбуждения. При количественных анализах рекомендуется в этом случае использовать соответствующее смещение длины волны возбуждения. Таблица 4.2 приводит для некоторых часто используемых растворителей положение спектральных полос комбинационного рассеяния как функцию длины волны возбуждения.
Растворитель |
Линия возбуждения Нд, нм |
||||
|---|---|---|---|---|---|
248 |
313 |
366 |
405 |
436 |
|
Вода |
271 |
350 |
418 |
469 |
511 |
Этанол |
267 |
344 |
410 |
459 |
500 |
Циклогексан |
267 |
344 |
409 |
458 |
499 |
СС14 |
- |
320 |
376 |
418 |
450 |
Хлороформ |
- |
346 |
311 |
461 |
502 |
Путем выбора подходящего растворителя можно поместить мешающее излучение комбинационного рассеяния достаточно близко к длине волны возбуждения. Таким способом удается также избежать перекрытия излучения флуоресценции полосой комбинационного рассеяния. У тетрахлоруглерода и хлороформа полосы комбинационного рассеяния плотнее всего прилегают к длине волны возбуждения.
Если излучение комбинационного рассеяния растворителя не известно, его следует определить путем регистрации спектра эмиссионного излучения чистого растворителя при высокой чувствительности измерения. Длина волны возбуждения при таком способе измерения должна быть равна длине волны возбуждения при последующем измерении флуоресценции.
4.5.4. Прочие возможные погрешности
«Холостой» результат флуоресцентного измерения можно получить в результате собственной флуоресценции кювет и растворителей. В этом отношении устанавливаются чрезвычайно высокие требования к кюветам: перед началом каждого измерения новые кюветы подлежат проверке на равномерность флуоресцентных свойств. Определенную внутреннюю флуоресценцию могут обнаруживать также оптические компоненты спектрометра — линзы, зеркала и фильтры.
Растворитель должен быть прозрачным по всему диапазону измерения флуоресценции. Серьезной помехой могут стать примеси и загрязнения любого рода. С учетом широкой области пропускания самым благоприятным растворителем считается вода. В принципе категорически не рекомендуется хранить растворители в пластиковых бутылках, ибо при этом выделяются следовые количества аддитивных соединений и мягчителей, показывающих порой сильную флуоресценцию. Столь же отрицательное воздействие могут оказывать и используемые иногда моющие средства.
Поскольку в области флуорометрии приходится работать с сильно разбавленными растворами, следует обратить пристальное внимание на связанные с этим проблемы и возможные источники погрешностей. При измерениях в субмикрограммовом диапазоне незначительная адсорбция вещества на стенках емкости уже может привести к ошибочным результатам.
Так как исследуемые вещества подвергаются действию очень интенсивного возбуждающего излучения флуорометра, то легко могут наступить фотохимические реакции, способные стать причиной серьезного искажения результатов измерений. В таких случаях уменьшается спектральная ширина полосы возбуждающего излучения. Но поскольку при чувствительных веществах все же возможны фотохимические реакции, то представляется целесообразным ограничивать время экспонирования до необходимой для измерения продолжительности. Импульсное управление источником возбуждающего света также способствует сокращению периода экспонирования. Далее, можно прибегнуть к уменьшению длины волны возбуждения или снижению интенсивности возбуждающего излучения.
4.6. Носители (держатели) проб
Так как большинство определяемых флуорометрическим способом веществ представлено в растворе, для проведения измерения необходимы жидкостные кюветы. Наряду с материалом для кювет и выбранным растворителем внимания заслуживает также геометрическая форма кюветы в ходе лучей флуорометра. Поскольку флуоресцентное излучение расходится во все направления пространства, то в принципе возможен его прием из всех направлений, однако следует иметь в виду, что для значительной части измеряемых разбавленных растворов всегда существует некое предпочтительное направление. С точки зрения техники измерения лучше всего принимать излучение флуоресценции под прямым углом к возбуждающему излучению. При такой геометрии сводится к минимуму нежелательная доля рассеянного излучения через стенки кюветы и растворитель. Подобная схема находит применение практически у всех флуорометров. Исходя из этих соображений, выбирается, как правило, кювета квадратной формы, поскольку этот тип считается оптимальным в смысле точности толщины слоя и плоскопараллельности.
При размерах, с которыми светопоглощение измеряемого раствора становится больше, выходящее из кюветы излучение флуоресценции становится все меньше, пока не достигнет точки, в которой будет наблюдаться разве что флуоресценция самого крайнего, внешнего, слоя поверхноста кюветы. В этом случае измерение все еще возможно, даже если доля рассеянного по стенкам света станет весьма значительной (рис. 4.7). Поверхностная эмиссия стремительно приближается к своему предельному значению, то есть возрастающая концентрация пробы не вызывает усиления флуоресцентной эмиссии.
Некоторые коммерческие приборы предлагаются в комплекте с принадлежностями для определения поверхностной эмиссии. Наряду с возможностью разбавления пробы не стоит упускать из виду и способ применения, особенно если оптическая плотность раствора пробы в области флуоресценции превышает 0,1 единицы.
Для измерения флуоресценции на твердых веществах (пластмассы, лаки) могут вводиться специальные добавки, с помощью которых определяется поверхностная эмиссия. Как и в абсорбционной спектроскопии, в области флуорометрии тоже заметно набирают популярность световоды, причем световодные флуоресцентные датчики непрерывно измеряют флуоресценцию анализируемого вещества, позволяя действовать прямо на месте (определение in-situ).
4.7. Влияние температуры
В связи с тем, что число соударений между молекулами пробы (люминофорами) и молекулами растворителей зависит от температуры, этим параметром определяется и само флуоресцентное излучение. В растворах свободно движущиеся люминофоры быстро соединяются с другими и могут таким образом значительно осложнить спектральное определение. В самом худшем случае флуоресценция полностью подавляется. При комнатной температуре причиной уширения спектральных линий является в большинстве случаев неоднородность растворителя: это состояние окружения каждого люминофора, нежелательным образом изменяющее естественную ширину линий его спектрального поведения. В спектре флуоресценции следствием этого будет уширение и взаимное наложение полос.
Итак, с повышением температуры флуоресцентная эмиссия уменьшается.
Необходимо поэтому проводить измерение проб по возможности при постоянной температуре. Для достижения точных измерений температура проб остается на постоянном уровне благодаря термостабилизированному держателю кюветы. У большей части веществ достаточно следить за тем, чтобы разность температур между кюветой и камерой образца была как можно меньше. Поскольку нагревание этой камеры происходит в первую очередь от источника излучения, последний должен быть отделен от нее надежной термоизоляцией. Недостаточная воспроизводимость измеренных параметров часто объясняется именно непостоянством температуры. В целях повышения чувствительности измерения целесообразно прибегают к охлаждению используемых проб.
Если в конце концов достигается охлаждение до температуры жидкого азота (точка кипения — 196°С), то большинство растворителей — в том числе и углеводороды — затвердевают. В этой твердой матрице люминофор из-за столкновения молекул уже не получает неоднородного уширения линий. Безызлучательные переходы при низких температурах минимизированы, так что у ряда веществ вообще может наблюдаться только флуоресценция.
Вместо широких полос у низкотемпературных спектров в затвердевшей матрице появляются многочисленные узкие пики, которые могут быть отнесены к отдельным электронным переходам. Понятно, что благодаря такому спектру высокого разрешения с хорошо разрешенными полосами идентификация веществ протекает более успешно. При столь совершенной методике низкотемпературная флуоресценция приобретает особое значение.
4.8. Флуоресценция, индуцированная лазерным излучением
Лазерное излучение отличается высокой интенсивностью и точностью частоты, заметно превосходящими эти характеристики у всех иных источников излучения. Лазер позволяет осуществлять целенаправленное возбуждение степеней свободы молекул, вызывать тем самым необходимые реакции, после чего исследовать продукты реакций на предмет их возбужденного состояния. Разработка перестраиваемых лазеров высокой интенсивности открыла этим источникам излучения путь в спектроскопию. Высокая спектральная эффективность лазерного излучения обеспечивает максимальную чувствительность, а благодаря острой направленности светового пучка достигается высокое пространственное разрешение вплоть до микрометрового диапазона.
При инициированной лазерным излучением флуоресценции луч лазера используется для возбуждения электронного перехода в молекуле. В качестве источника возбуждающего излучения вполне годятся азотные лазеры с длиной волны 337 нм и перестраиваемые лазеры на красителе для интервала длин волн от 350 до 1100 нм. Лазер чрезвычайно удобен в качестве источника УФ-света, так как обеспечивает высокую плотность энергии и, следовательно, эффективное возбуждение флуоресценции. Здесь после возбуждения может регистрироваться или спектр возбуждения, то есть вся флуоресценция как функция длины волны посылаемого лазером луча, или спектр флуоресценции, то есть флуоресценция со спектральным разрешением.
Индуцированная лазерным излучением флуоресценция отличается очень высокой чувствительностью — до единиц в триллионных долях [4.2]. Благодаря чрезвычайно высокой интенсивности лазерного излучения можно возбуждать соединение до уровня «предельной флуоресценции», то есть до достижения равнозаселенности основного и возбужденного состояний. При этом отдельные молекулы могут возбуждаться многократно. На основе избирательного возбуждения определенных электронных состояний вычисляется отношение заселенностей и локальная температура, например в пламени [4.3]. При использовании импульсных лазеров можно получать и спектры флуоресценции с разрешением во времени, что позволяет существенно повысить желаемую селективность.
Важнейшей областью применения флуоресценции, индуцированной лазерным излучением, является определение полициклических ароматических углеводородов, образующихся в процессе сгорания (автомобильные выхлопы, печи для сжигания и др.). Полициклические ароматические углеводороды служат индикатором загрязнения окружающей среды и, учитывая их токсичность и канцерогенность, подлежат строгому аналитическому контролю. Согласно предписанию по качеству питьевой воды, из примерно 200 известных полициклических ароматических углеводородов сумма шести важнейших соединений (бензопирен, фторантен и их производные) не должна превышать предельного значения 0,2 миллиардной доли.
По нормам ДИН 38 407-F8, определение количества полициклических ароматических углеводородов в питьевой воде в стандартном варианте проводится путем разделения по методу высокоэффективной жидкостной хроматографии и обнаружения с помощью флуоресцентного детектора [4.4]. Без дорогостоящего процесса хроматографического разделения можно, пользуясь инициируемой лазерным излучением флуоресценцией, найти суммарный параметр для нагрузки со стороны полициклических ароматических углеводородов. Влияние других флуоресцирующих веществ, входящих в состав воды (гуминовые вещества и хлорофилл), может быть при этом подавлено на основе интерпретации спектров с временным разрешением.
4.9. Флуорометрия с разрешением во времени
В качестве нового метода предлагается флуорометрия с временным разрешением, где используется разное время жизни флуоресценции отдельных соединений. После возбуждения пробы коротким световым импульсом измерению подлежит либо время тушения флуоресценции, либо флуоресценция в определенный выделенный отрезок времени после отключения светового импульса. Тушение флуоресценции происходит экспоненциально со временем; время спада до половины величины, когда возможно различение отдельных веществ, находится в области наносекунд. Это дает еше один элементно-специфичный параметр для целей идентификации. Путем цифрового согласования кинетики тушения удается определять флуорометрическим методом в том числе и смеси веществ [4.5].
Лазерная спектроскопия с разрешением во времени может успешно применяться при определении полициклических ароматических углеводородов, рассматриваемых как индикатор загрязнения окружающей среды и, с учетом их высокой токсичности и канцерогенности, подлежащих обнаружению в воде на уровне ультраследов. Так как полициклические ароматические углеводороды при возбуждении УФ-излучением флуоресцируют, то через флуоресценцию возможно их обнаружение вплоть до единиц нг/л. Обычно при этом прибегают к разделению полициклических ароматических углеводородов на основе высокоэффективной жидкостной хроматографии [4.6] или планарной хроматографии, после чего количественно оценивают с помощью флуоресцентного детектора. Эти достаточно сложные методы, которые находят применение главным образом в лабораториях высшего класса, специализирующихся на исследовании объектов окружающей среды, могут обходиться совсем простым, разрешенным по времени устройством для измерения флуоресценции. Это позволяет проводить экспрессные анализы загрязненных вод непосредственно на месте, причем с минимальными финансовыми затратами [4.7].
Если флуоресценцию возбуждают светом высокой частоты, то флуоресцентное свечение также модулировано, но со сдвигом по фазе относительно возбуждающего света. При такой технике фазовой флуорометрии тоже можно вычислять время тушения флуоресценции - на основе частоты модуляции и фазового сдвига. Путем изменения частоты модуляции достигается аналитическое определение, в том числе и смесей веществ.
Впрочем, данный метод не получил пока широкого распространения по причине довольно высоких затрат на необходимое оборудование. Однако, учитывая его неоспоримые достоинства и, в частности, быстрое аналитическое определение смесей веществ, есть основания полагать, что рынок все же отреагирует на ситуацию и начнет предлагать вполне доступные по цене флуорометры для этой интересной методики.
4.10. Резюме и перспективы развития флуорометрии
Флуорометрия есть достаточно широко распространенный метод аналитического определения, при котором предусмотрено электронное возбуждение вещества от источника излучения с последующим измерением интенсивности флуоресцентной эмиссии как функции длины волны возбуждения и эмиссионного излучения. При этом регистрации подлежит либо интенсивность флуоресцирующего анализируемого вещества, либо обусловленное этим веществом изменение флуоресценции флуоресцентного индикатора.
На основе флуорометрии можно получать как количественные, так и качественные результаты, причем этот метод отличается высокой чувствительностью и большим диапазоном линейности, действует без разрушения образца и требует для своей реализации минимального количества вещества. Но, как и любой другой способ следового анализа, он нуждается в особой тщательности проведения измерения. Пробы могут быть представлены во всех агрегатных состояниях. При наличии более дорогих и качественных оптических систем легко проводятся также измерения на замутненных, экстремально рассеивающих, пробах.
Для реализации многочисленных возможностей регистрации и расшифровки спектров обязательно необходим присоединенный компьютер, задачей которого является управление монохроматорами и щелью и последующее вычисление скорректированного спектра.
Предлагаемые в области флуоресцентной спектроскопии технические возможности в настоящее время почти столь же многообразны, как велико число занимающихся этой проблематикой ученых. Наряду со стандартным применением флуорометрии появляются новые и все более совершенные методы, например в сфере медицины и экологии.
Благодаря привлечению лазеров в качестве источника возбуждающего излучения удается значительно повысить интенсивность результирующей флуоресценции. С помощью индуцированной лазерным излучением флуоресценции можно на несколько порядков понизить предел обнаружения, что открывает новые перспективы в деле определения мельчайших следов значимых для окружающего мира веществ (пример: озон). Сопряжение со световодами создает условия для проведения измерений на пробах в тяжело доступных местах. Метод флуорометрии с разрешением во времени обеспечивает возможность одновременного распознавания сразу нескольких веществ в смеси — без предварительного разделения ее на отдельные компоненты.
ГЛАВА 5. ИК-СПЕКТРОСКОПИЯ
Диапазон инфракрасного излучения охватывает область от границы видимой части спектра вплоть до микроволновой. Это самый большой участок шкалы электромагнитного излучения с длинами волн от 1 мкм до 1 мм, который, в свою очередь, разделяется на более узкие фрагменты.
Участок спектра примерно от 2,5 до 50 мкм относят к средней ИК-области, где происходит поглощение электромагнитного излучения, связанное с колебательными (и вращательными) переходами в молекулах, поэтому в данном случае можно говорить о колебательной спектроскопии. С одной стороны к ней примыкает длинноволновая (дальняя) ИК-область с длиной волны более 50 мкм, где наблюдаются чисто вращательные спектры более легких молекул. С коротковолновой стороной соседствует ближняя И К-область с интервалом длин волн от 800 до 2500 нм. Здесь наблюдается поглощение излучения, связанное с мультиплексными колебательными переходами. С теоретической точки зрения ближняя ИК- область, безусловно, относится к ИК-спектроскопии, но если принять во внимание используемое при этом оборудование и процесс подготовки проб, то напрашиваются параллели больше со спектроскопией УФ и видимой областей.
В силу высокой информативности спектров и разнообразия возможностей их получения ИК-спектроскопия уже давно считается одним из важнейших методов анализа. Расшифровка инфракрасных спектров оказывается значительно проще, чем теоретическое толкование ультрафиолетовой и видимой областей спектра. Большое количество различных правил и закономерностей позволяет достаточно быстро делать достоверные прогнозы о молекулярном строении анализируемого вещества. Благодаря значительному усовершенствованию оборудования в настоящее время инфракрасная спектроскопия может быть использована не только для простой и вполне заурядной идентификации или контроля чистоты вещества, но и для качественного и количественного анализа реакционных смесей и для определения структуры неизвестных соединений. Правда, для получения столь обширного объема информации иногда требуется весьма дорогостоящая подготовка проб.
Первые коммерческие мультиплексные ИК-спектрометры, использующие преобразование Фурье, появились в конце 60-х годов. Если в УФ/видимой спектроскопии мультиплексность достигается за счет использования диодных матриц, то в ИК-спектроскопии находит применение техника Фурье-преобразования, благодаря которой этот спектральный метод получил мощный импульс к дальнейшему развитию. Прежде всего, пользователей привлекла высокая скорость регистрации инфракрасных спектров. Кроме того, удалось достичь на порядок более низких пределов обнаружения. Все это открыло новые области применения, не доступные до сих пор для традиционных систем.
Тенденция обращения к мультиплексным приборам в сфере ИК-спектроскопии окончательно сформировалась в последние годы. Когда сегодня говорят об инфракрасной спектроскопии, то нет нужды упоминать при этом преобразование Фурье, поскольку ИК-спектроскопия стала практически Фурье-спектроскопией, и это воспринимается так же естественно, как в 70-е годы считалось само собой разумеющимся, что для регистрации инфракрасных спектров используются спектрометры с дифракционной решеткой, а не с призмами.
Так как ИК Фурье-спектрометр принципиально требует оснащения компьютером для отображения спектра, то это дает и все преимущества компьютерной обработки полученных результатов. На основе сравнения спектров идентификация неизвестного вещества осуществляется всего за несколько секунд — в зависимости от мощности ПК и объема библиотеки спектров.
Сейчас рынок предлагает небольшие и вполне приемлемые по цене (от 40 000 марок) И К Фурье-спектрометры, отличающиеся удобством обращения и легкостью обслуживания. Современный Фурье-спектрометр является продуктом высоких технологий, в котором многочисленные оптические и электронные компоненты взаимодействуют настолько органично, что пользователь этого даже не замечает. После того как Фурье-методика полностью завоевала позиции в инфракрасной области спектра, пришла пора подумать о разработке помимо классических так же и новых, ориентированных на область применения, устройств, улучшающих характеристики спектрометра. Спектрометр есть сумма многих свойств, грамотное использование которых требует достаточно высокой профессиональной подготовки. Большинство изготовителей приборной техники активно пользуются услугами квалифицированных научных сотрудников и опытных дилеров.
5.1. Историческая справка
Инфракрасное излучение было открыто В. Гершелем в 1800 г. Первые систематические регистрации ИК-спектров выполнялись У. Кобленцем уже в 1905 г., но только к середине 40-х годов метод был поставлен на коммерческую основу. При этом сначала речь шла исключительно о методе количественного анализа, который использовался, прежде всего, в производстве синтетического каучука. И только после создания двухлучевого спектрометра были осознаны, наконец, исключительные возможности ИК-спектроскопии для идентификации и определения строения вещества. Первый двухлучевой спектрометр был сконструирован в 1939 г. Э. Лерером (ф. BASF, Баденская содово-анилиновая фабрика) [5.11]. Одновременно с этим газовая хроматография сделала столь мощный рывок в своем развитии, что теперь именно этот метод стал самым популярным в области количественного анализа органических веществ.
С внедрением двухлучевых спектрометров инфракрасная спектроскопия используется главным образом для простого и быстрого проведения качественного анализа. Количественные определения здесь несколько отошли на задний план, и только сейчас к ним вновь обратились благодаря заметному улучшению чувствительности приборов.
В 50-е годы спектры приходилось регистрировать еще от точки к точке с помощью гальванометра, составлять реестры спектров и проводить их сравнение путем механической сортировки перфокарт. Первоначальные призменные монохроматоры, учитывая оптическую прозрачность в инфракрасной области спектра, нужно было изготавливать из монокристаллов NaCl (!). Эти приборы обладали солидными размерами и, кроме того, нуждались в эффективной защите диспергирующего излучение элемента от действия влаги. С началом использования дифракционных решеток в качестве монохроматора удалось значительно уменьшить габариты спектрометров до уровня настольного прибора.
В 1887 г. Альберт А. Майкельсон из Чикаго изобрел двуплечный интерферометр, названный впоследствии его именем. Интерферометр Майкельсона является сегодня базовым конструкционным узлом всех современных ИК Фурье-спектрометров. В 1907 г. Майкельсон получил Нобелевскую премию в области физики за созданные им прецизионные оптические приборы и выполненные с их помощью спектрометрические работы.
Вообще говоря, свое начало Фурье-спектроскопия ведет от 1957 г., когда под руководством Пьера Жакино, пионера в области использования преобразования Фурье, состоялся международный коллоквиум на тему «Пути развития интерференционной спектроскопии». Тогда еще никто ясно не представлял, как именно действует новый метод и какое значение будет иметь его дальнейшее развитие. Некоторые даже говорили, что такая техника никогда не будет работать и что достаточно рискованно осуществлять регистрацию спектров столь сложным и непрямым способом. Между тем уже в 1968 г. был создан первый коммерческий И К Фурье-спектрометр.
5.2. Принцип ИК-спектроскопии
В интервале длин волн от 2,5 до 50 мкм происходит возбуждение колебательных движений атомов в молекуле и вращательного движения молекулы в целом. Спектры, записанные в этой области, которая называется средней И К, дают информацию о строении молекул исследуемого вещества. Поскольку атомы способны колебаться абсолютно по-разному, в ИК-спектре обычно имеется большое число полос поглощения. Сравнивая спектр образца со спектрами из библиотеки — либо составленной самим пользователем, либо приобретенной в готовом виде, — можно идентифицировать вещество, причем в настоящее время спектральный поиск ведется с помощью компьютерных программ.
Атомы внутри молекулы находятся в движении благодаря наличию взаимных атомных связей. Они колеблются с определенными (резонансными) частотами, величина которых определяется атомным весом и силой химической связи. Из-за очень малых размеров молекул резонансная частота составляет порядка 1013 с-1, что соответствует 10 миллиардам колебаний в секунду. Если сравнить это с колебанием пружины средней жесткости весом 1 кг, то такая пружина должна была бы колебаться с частотой около 1 с-1.
Каждая молекула способна выполнять колебания множеством разных способов. Чем больше атомов содержит молекула, тем больше вариантов колебаний существует. Формы колебаний определяются структурой молекулы и являются специфическими для нее. Частота инфракрасного излучения составляет тот же порядок величин, что и молекулярные колебания, — около 1013 с-1. Между ИК-излучением и молекулой возможны взаимодействия и перенос энергии, но только тогда, когда частота излучения идентична частоте собственных колебаний молекулы. Если молекула поглощает это излучение, она колеблется при той же частоте, но с большей амплитудой.
Таким образом, когда инфракрасное излучение с широким спектром частот проходит через пробу, то некоторые частоты поглощаются, в то время как прочие пропускаются без поглощения. Поглощенные частоты соответствуют собственным (резонансным) частотам молекулы либо целочисленному кратному этих частот. Нечто похожее происходит с монохромным светом, который поглощается только в том случае, если его частота идентична соответствующей резонансной частоте в молекуле.
Когда молекула поглощает ИК-излучение, количество энергии в ней возрастает, и она начинает колебаться более интенсивно. Но это возбужденное состояние длится совсем недолго. Очень скоро возбужденная молекула в результате столкновений вновь отдает избыток своей энергии соседним молекулам, что проявляется в повышении температуры пробы.
5.2.1. Правила отбора
Инфракрасное излучение поглощается только в том случае, если происходит взаимодействие изменяющегося в результате молекулярного колебания дипольного момента молекулы с колеблющимся вектором электромагнитного поля. Простое правило позволяет определить, когда именно наступает это взаимодействие и, следовательно, возникает поглощение:
«Дипольный момент молекулы в одном экстремуме колебания должен отличаться от дипольного момента в другом экстремуме этого колебания».
Таким образом, условием возбуждения молекулы в результате поглощения электромагнитного излучения является то, что при изменении колебательного состояния молекулы одновременно должен изменяться и ее дипольный момент. Это означает, что все колебания, при которых изменяется дипольный момент, активны, а все колебания, не вызывающие изменения дипольного момента, неактивны, то есть запрещены. Поскольку симметричные молекулы, такие как Н2 и N2, не обладают постоянным дипольным моментом и этот момент из-за симметрии распределения зарядов не возникает также и при колебании, то у таких молекул колебательное возбуждение невозможно. Поэтому по определению нельзя получить И К-спектры некоторых классов веществ, среди которых:
ИК-спектроскопия находит применение прежде всего при анализе органических соединений, но и неорганические соединения, включая соли с ковалентными (атомными) связями (например, КМnО4), также можно проанализировать этим методом.
Прозрачные в ИК-диапазоне соединения тоже имеют определенное значение в инфракрасной спектроскопии. Во-первых, газы типа кислорода, азота или инертные газы служат для продувки спектрометра, так как вода и углекислый газ как составные части воздуха сами поглощают излучение в ИК-диапазоне. Во-вторых, в качестве держателя для пробы — а ранее для призменных монохроматоров — требуются прозрачные для инфракрасного излучения материалы, и как раз для этой цели используются преимущественно щелочные галогениды.
5.3. ИК-спектр
Многоатомная молекула обладает большим числом всевозможных колебаний, в которых принимают участие все ее элементы. Некоторые из этих колебаний в первом приближении можно рассматривать как локальные, связанные с одиночными связями либо функциональными группами (локализованные колебания), в то время как другие воспринимаются как колебания всей молекулы в целом. Локализованные колебания могут быть валентными, ножничными, маятниковыми, крутильными или веерными. Метиленовая группа имеет, например, колебания, показанные на рис. 5.1.
Валентные колебания связей атомов водорода поглощают при высоких частотах, что является следствием малой массы водорода. В иных случаях частоты валентных колебаний следуют правилу: тройные связи поглощают при более высоких частотах, чем двойные связи, а двойные — при более высоких частотах, чем простые одиночные связи. Следовательно, чем больше энергия связи между атомами, тем выше частота валентных колебаний. Деформационные колебания возникают при гораздо более низких частотах, обычно в области «отпечатков пальцев» ниже 1500 см-1.
Многие локализованные колебания служат для идентификации функциональных
групп. Органические молекулы складываются из небольшого числа
структурных элементов, каждый раз выступающих в какой-то иной
конфигурации, например
и т.д. К счастью, взаимодействия между соответствующим структурным
элементом и остальной частью молекулы
довольно малы, то есть полосы поглощения, появляющиеся в связи с
каким-то элементом, всегда находятся — с небольшим отклонением — на том
же самом участке спектра. Именно это позволяет определять структурные
элементы по имеющемуся ИК-спектру с привлечением соответствующих
табличных данных. Поточному положению спектральных полос можно судить о
положении структурных элементов относительно друг друга.
Большинство ИК-спектрометров регистрируют спектры в линейной шкале интенсивности пропускания и в линейной шкале волновых чисел (волновое число ν' = 1/л [см-1]). Волновое число прямо пропорционально энергии колебания, поэтому составные частоты колебаний можно вычислять путем простого сложения.
Колебания скелета молекулы как целого имеют полосы поглощения с относительно низкой энергией менее 1500 см-1 (с длиной волны больше 6,7 мкм), и их расположение специфично для каждой молекулы. Эти полосы часто перекрываются и затрудняют однозначное отнесение локализованных колебаний ниже 1500 см-1. Часто здесь наблюдаются полосы, вызванные не основными колебаниями, а составными или обертонами. Составные частоты возникают при наложении двух или более колебаний. Иногда такие полосы имеют определенное значение для диагностики, но обычно особой пользы от них нет.
Таким образом, инфракрасный спектр состоит из двух областей:
Указанная область отпечатков пальцев используется для установления идентичности вещества с эталонным образцом.
Рис. 5.2. ИК-спектр органического соединения
5.4. Интерпретация спектров
Колебательные спектры возникают при переходах между дискретными энергетическими состояниями колеблющихся и при этом излучающих молекул. Полный анализ всех полос колебательного спектра возможен только для небольших молекул. Более крупные молекулы требуют создания упрощенной модели с отнесением спектральных полос, анализа спектров производных и проведения комплексных итерационных расчетов.
5.4.1. Теоретические основы ИК-спектроскопии
Основополагающий феномен колебательной спектроскопии легче всего проследить на примере двухатомной молекулы, например НС1. В этом случае можно представить механическую модель двухатомной молекулы в форме гантели. Оба атома такой молекулы колеблются в направлении их связи относительно друг друга, как два тела, соединенных пружиной. В нормальном состоянии оба атома находятся на равновесном расстоянии друг от друга rQ. Когда под влиянием внешних факторов это расстояние изменяется (например, в результате растяжения или сжатия), то возникает сила, которая стремится вновь вернуть систему в первоначальное состояние. Под действием этой силы атомы начинают колебаться около своего равновесного положения.
5.4.2. Гармонический осциллятор
Если усилие пружины пропорционально отклонению, то такое колебание называется гармоническим, то есть отклонение обоих атомов изменяется синусоидально со временем. Колебание двух масс можно описать математически — лучше на модели, где одна точка закреплена неподвижно, а другая колеблется. Такую эквивалентную структуру называют осциллятором.
Самая простая механическая модель гармонического осциллятора представляет собой точечную массу, закрепленную на конце спиральной пружины, которая может перемещаться в направлении оси х (рис. 5.3). Другой конец спиральной пружины закреплен на стенке. Когда гармонический осциллятор под действием внешней силы отклоняется из состояния покоя r0 на отрезок х, то этому отклонению противодействует сила К, которая в этом случае пропорциональна величине отклонения х:
|
Величину к обозначают как силовую постоянную, или коэффициент упругости пружины.
При этом возникает маятниковое движение, которое при отсутствии торможения будет постоянно происходить по обе стороны от точки состояния покоя. Для отклонения х этого колебания в зависимости от времени t из уравнения движения Ньютона (сила = масса·ускорение) следует:
|
Решая данное дифференциальное уравнение, получаем в итоге выражение для частоты колебания v точки с массой m:
|
При такой модели гармонического осциллятора колеблется только одна точка массы. Но у молекул всегда колеблются два или больше атомов относительно друг друга. В этом случае для двухатомной системы расчет частоты колебаний дает выражение:
|
причем Μ — это так называемая приведенная масса. Частота колебаний будет тем больше, чем выше прочность связи и чем меньше массы колеблющихся атомов. Частоты колебаний в молекулах составляют от 1013 до 1014 с-1. В теории колебательных спектров величина к называется силовой постоянной химической связи и является мерой прочности связи.
В процессе колебаний изменяется потенциальная энергия осциллятора, которую можно вычислить следующим образом:
|
В положении равновесия (х = 0) потенциальная энергия, естественно, равна нулю. Если после отклонения от положения равновесия под действием силы К = —kх точка массы свободно перемешается назад, то она будет выполнять колебания вокруг равновесного положения, до тех пор, пока в результате трения или других причин не отдаст свою энергию окружающей среде.
Если выразить k через частоту колебания, используя приведенное выше уравнение, то будем иметь:
|
В результате мы получаем квадратичную функцию, которая описывает изменение потенциальной энергии в зависимости от отклонения х из равновесного положения r0. Графически это уравнение представляет собой открытую параболу, вершина которой находится в равновесном положении r0. Все эти соотношения действительны для предельного случая классического колебания. Чем больше энергии поглощает такая система, тем больше становится амплитуда колебаний, и этот процесс ничем не ограничен. Но атомные системы могут поглощать лишь дискретные количества энергии, поскольку их энергия имеет только дискретные собственные значения.
Так как молекулярный осциллятор поглощает излучение только дискретными порциями, то и отклонение изменяется при этом скачкообразно. Минимальное количество квантованной энергии, поглощаемой молекулярным осциллятором, равно hν либо кратно этой величине. Рассмотрение колебаний с точки зрения квантовой механики приводит к следующему выражению для колебательной энергии гармонического осциллятора:
|
Величина ν называется колебательным квантовым числом и может принимать все целочисленные значения 0, 1, 2, 3 … В основном состоянии ν = 0, в первом возбужденном состоянии ν = 1 и т.д.
Как видно из рис. 5.4, для ν = 0 колебательная энергия тоже не равна нулю, а имеет значение 1/2hν. Существование этой нулевой потенциальной энергии, которая не может быть израсходована, с точки зрения классической механики объяснения не имеет.
Согласно положениям квантовой механики для возбуждения молекулярных колебаний необходимы два условия.
-
Для гармонического осциллятора допустимы колебания, при которых колебательное квантовое число ν изменяется на 1. Следовательно, возможен переход с уровня ν = 1 на v = 2 и энергия этого перехода идентична энергии основного перехода с ν = 0 на ν = 1. Невозможны (запрещены) для гармонического осциллятора переходы с ν = 0 на ν = 2.
-
Колебание может возбуждаться, только если при колебании в молекуле изменяется дипольный момент. Величина изменения дипольного момента определяет вероятность возбуждения и коэффициент экстинкции соответствующих колебательных полос.
Таким образом, схема спектральных термов колебательной энергии гармонического двухатомного осциллятора состоит из равноудаленных друг от друга энергетических уровней, расстояния между которыми равны hν. Эти правила отбора и понятие равноудаленности энергетических уровней справедливы только в отношении гармонического осциллятора.
5.4.1.2. Ангармонический осциллятор
Модель гармонического осциллятора годится лишь для грубого описания молекулярных колебаний. Так как речь идет о синусоидальном колебании, данная модель
Следовательно, реальная молекула не является гармоническим осциллятором. Так, амплитуда колебаний не может становиться сколь угодно большой. Если межатомное расстояние превышает определенный предел, наступает диссоциация. С другой стороны, при сжатии сила сопротивления гораздо больше той, которая возникает при растяжении на ту же величину. Модель гармонического осциллятора справедлива только для совсем небольших амплитуд, то есть исключительно для низших колебательных состояний. Истинная кривая потенциальной энергии ангармонического осциллятора не является параболой. При большей удаленности от равновесного состояния, отклонения от линейности закона изменения силы связи весьма значительны, и система приближается к предельному значению энергии диссоциации. При встречном движении атомов кривая потенциальной энергии оказывается более крутой из-за очень резкого отталкивания ядер.
Для коррекции ангармоничности П.М. Морзе ввел в уравнение для колебательной энергии дополнительные эмпирические члены более высокой степени:
|
Из этого уравнения вытекают следующие условия.
-
Расстояния между термами уже не одинаковы. Они уменьшаются при приближении к энергии диссоциации D. которая может быть определена на основании спектроскопических данных.
-
Правило отбора Δν = ±1 уже не действует исключительно во всех случаях. Теперь разрешены также переходы с Δν = ±2, ±3 …, но интенсивность их резко убывает.
В отличие от энергии возбуждения вращательного движения, энергия возбуждения атомных колебаний обычно значительно превышает тепловую энергию молекул при комнатной температуре. Это означает, что в нормальных условиях колебания атомов термическим путем практически вообще не возбуждаются.
Наблюдаемое поглощение осуществляются только при переходах с низшего колебательного уровня (ν = 0). С этого уровня возможны переходы непосредственно во все вышележащие колебательные состояния, но вероятность этих переходов при возрастании ν резко снижается.
Для характеристики перехода принято указывать колебательное квантовое число начального и конечного состояний, различая следующие типы колебаний:
ν = 0 — ν = 1 основное колебание
ν = 0 — ν = 2 первый обертон
ν = 0 — ν = 3 второй обертон
Самое интенсивное поглощение соответствует переходу с ν = 0 на ν = 1 и обозначается как основные колебания. Обертоны значительно менее интенсивны и в соответствии с их более высокой энергии возбуждения находятся в коротковолновой области спектра. Для возбуждения первого обертона требуется примерно двойная энергия основного колебания, для возбуждения второго обертона — тройная энергия основного колебания (см. рис. 5.5).
Однако колебательный переход не состоит, как уже упоминалось в гл. 2, из отдельных абсорбционных линий для отдельных колебательных состояний, а сопровождается вращательными переходами, для которых из-за разных исходных вращательных состояний существует масса возможностей. Очевидно, что при комнатной температуре вращение молекул уже возбуждено тепловой энергией, так что поглощение может осуществляться и для вращательных термов с более высокой заселенностью.
Таким образом, на схему колебательных термов накладывается схема вращательных термов. Каждый колебательный переход с ν = 0 на ν = 1 связан с одновременным изменением вращательного квантового числа ΔJ = ±1. Это значит, что из каждого вращательного уровня нижнего колебательного состояния возможны оба перехода: на следующий более низкий или следующий более высокий вращательные уровни. При этом чисто колебательный переход с ΔJ = 0 запрещен. Линия поглощения, соответствующая переходу без изменения вращательного квантового числа, так называемая 0-0-линия, в спектре отсутствует. Такую вращательную структуру удается наблюдать исключительно в газовой фазе. В этом случае в спектре наблюдается система линий, распадающаяся на две части. Со стороны коротких волн располагаются в соответствии с более высокой разницей в энергиях переходы так называемой R-ветви с ΔJ= +1, при которых энергия вращательного перехода суммируется с энергией возбуждения колебания. С длинноволновой стороны находится Р-ветвь, чьи переходы с ΔJ = —1 осуществляются с более высоких на более низкие вращательные уровни. В этом случае энергия возбуждения колебания уменьшена на величины вращательной энергии. Между двумя этими ветвями нулевая линия отсутствует. На рис. 5.6 в качестве примера представлен спектр HCl в газообразном состоянии. Распределение интенсивностей в пределах обеих ветвей определяется заселенностью вращательных уровней в основном колебательном состоянии.
В заключение можно сказать следующее.
-
Колебательный переход всегда сопряжен с изменениями вращательных уровней, и поэтому в спектре мы наблюдаем полосы колебаний с вращательной структурой.
-
Тонкую вращательную структуру, когда каждая полоса спектра поглощения разделяется на множество отдельных узких спектральных полос, можно наблюдать только в спектрах газов.
-
В конденсированной фазе вращательная структура сливается в одну полосу поглощения, то есть в случае жидких и твердых образцов в спектре поглощения наблюдается всего одна широкая полоса.
5.4.1.3. Многоатомные молекулы
В многоатомных молекулах анализ колебательных спектров сильно затруднен тем обстоятельством, что здесь атомы принимают участие одновременно в нескольких разных колебаниях. Движение атомов внутри молекулы представляет собой чрезвычайно сложный процесс. Для линейных и нелинейных молекул, состоящих из N атомов, существует разное число колебательных степеней свободы. Линейная молекула имеет 3N — 5, а нелинейная 3N — 6 степеней свободы. Количество колебательных степеней свободы равно числу собственных колебаний молекулы. Каждое из этих собственных колебаний имеет характеристическую собственную частоту и в результате поглощения может возбуждаться в определенном частотном диапазоне ИК-области спектра. Следовательно, колебательный спектр многоатомных молекул состоит из множества полос. Теоретическая трактовка колебательных процессов в многоатомных молекулах является очень сложной, иногда даже невозможной.
Для классификации колебаний принято простое разделение их на валентные и деформационные.
Для изменения длины связи требуется усилие примерно в 10 раз больше, чем для изменения угла между связями, поэтому деформационные колебания всегда находятся в более длинноволновой спектральной области, чем валентные колебания.
5.4.2. Эмпирический подход к интерпретации спектров
Полный теоретический анализ колебательных спектров имеет смысл проводить только для простых симметричных молекул. При чрезмерно большом количестве веществ в смеси анализировать спектр подобным способом представляется нецелесообразным. Трудности такого рода стали поводом для создания эмпирического метода интерпретации колебательных спектров многоатомных молекул.
Сложная молекула имеет массу возможностей для колебаний, в которых принимает участие вся молекула в целом. Однако некоторые из этих колебаний в первом приближении ограничены одиночными связями или функциональными группами. Это значит, что многие функциональные группы имеют спектральные полосы поглощения, относительно независимые от остальной части молекулы. Они всегда занимают одинаковое положение в спектре и имеют ту же форму. Такие полосы называются характеристическими групповыми частотами и имеют большое значение для структурного анализа при идентификации функциональных групп в молекуле.
В коротковолновой области спектра от 3700 до 2800 см-1 находятся валентные колебания атомов водорода, связанных с углеродом, азотом и кислородом. На участке от 2400 до 1900 см-1 к ним примыкает область валентных колебаний тройной связи. Далее следует область валентных колебаний двойных связей. Но указанные диапазоны нельзя рассматривать как жесткую схему, так как здесь возможны и другие варианты.
В области ниже 1500 см-1 ясности еще меньше. Тут появляются колебания простых связей, многочисленные деформационные колебания и валентные колебания тяжелых атомов, например в галогенированных углеводородах. За исключением небольшого числа достаточно интенсивных полос поглощения, распознавание колебаний в области ниже 1500 см-1 сильно затруднено из-за большого разнообразия колебаний в многоатомных молекулах.
Таким образом, далеко не все частоты, присутствующие в колебательном спектре молекулы, могут быть отнесены к совершенно определенным связям или атомным группам. Возникают и такие колебания, которые не локализованы на отдельных фрагментах, но охватывают все атомы в молекуле или большее их число. Такие колебания характерны для всей молекулы в целом. Эти так называемые «скелетные» колебания чрезвычайно чувствительны к структурным изменениям. Поэтому все, даже очень похожие молекулы — за исключением оптических изомеров — имеют разные колебательные спектры. Эти нелокализованные колебания служат для идентификации вещества при сравнении со спектрами известных соединений, а также для определения его чистоты.
Строго локализованное, не связанное с остальной частью молекулы колебание представляет собой идеализированный крайний случай, который едва ли встречается в реальности. В ограниченном масштабе всегда имеет место взаимодействие между двумя частями молекулы, которое, так или иначе, влияет на характеристические частоты. Поэтому характеристические частоты не обязательно проявляются точно в одном и том же месте спектра, но их положение изменяется в определенных границах. Это смещение характеристических частот весьма полезно для проведения структурных исследований, так как позволяет сделать некоторые выводы о строении остальной части молекулы.
Влияние структурных изменений в молекуле на частоты колебаний карбонильной группы С=О можно проследить на примерах, приведенных в табл. 5.1. Интенсивность полос поглощения карбонильной группы всегда достаточно велика, причем карбоновые кислоты поглощают сильнее эфиров, а эфиры, в свою очередь, поглощают сильнее кетонов и альдегидов. Чем большей электроотрицательностью обладает группа X в системе R—СО—X, тем выше будет частота колебания. Чем сильнее сопряжение связи С=О, тем в большей степени она ослаблена, а валентное колебание сдвинуто в сторону меньших волновых чисел. В α-, β-непредельных соединениях оно понижено на 15—40 см-1. В циклических соединениях напряженность цикла вызывает довольно значительное смещение полос в сторону более высоких частот. По сдвигу частот можно точно отличить четырех- и пятичленные циклические кетоны от соединений с более высокими циклами. При образовании водородной связи частота колебания карбонильной группы сдвигается в длинноволновую область на 40—60 см-1. Этот эффект проявляется, например, в спектрах карбоновых кислот и амидов.
| Группа | Спектральная полоса, см-1 | |
|---|---|---|
Альдегиды |
насыщенные |
1740-1720 |
Кетоны |
насыщенные |
1725-1705 |
Карбоновая кислота |
насыщенная |
1725-1700 |
Амиды |
первичные |
1690-1650 |
Кислотные ангидриды |
насыщенные |
1790-1740 |
Следует заметить, что в разных агрегатных состояниях существуют различные межмолекулярные взаимодействия, которые оказывают влияние на структуру и положение полос в спектре, а также на их интенсивность. В газообразном ацетоне можно обнаружить полосу поглощения карбонильной группы с частотой 1742 см-1, в то время как в жидком ацетоне из-за слабой ассоциации диполей эта частота равна 1718 см-1. Как уже упоминалась ранее, особенностью спектров газообразных проб является наличие тонкой вращательной структуры полос поглощения.
В растворенных пробах растворитель может оказывать влияние на положение полос. Полярные растворители, в которых существует активное взаимодействие растворенного вещества с растворителем, способны вызывать заметное смещение полос в спектре. Однако такое смешение происходит только в случае колебаний полярных связей. Переход в твердое состояние также обусловлен ростом межмолекулярных взаимодействий и сдвигом частот, который обычно составляет около 10 см-1 по сравнению с жидким состоянием. К тому же в твердом состоянии при определенных обстоятельствах некоторые полосы могут просто исчезнуть, зато могут появиться и новые.
Полный анализ структуры неизвестного вещества только на основе его инфракрасного спектра сделать невозможно. В результате соответствующей расшифровки спектра обычно получают достаточно важную информацию о функциональных группах, что уже позволяет значительно сократить число возможных в данном случае соединений. Собственно идентификация осуществляется затем путем сравнения полученного спектра со спектрами хорошо известных веществ.
Подводя итоги сказанному, можно сделать следующие выводы.
-
Опираясь на известные данные по частотам поглощения отдельных групп атомов, можно идентифицировать их в молекулах по ИК-спектрам.
-
Конкретное положение характеристических полос поглощения локальных фрагментов позволяет сделать определенные выводы о строении остальной части молекулы.
-
Скелетные колебания характеризуют всю молекулу в целом и используются для идентификации вещества при сравнении его спектра со спектром эталона.
Для эмпирической расшифровки инфракрасных спектров многими авторами предлагаются таблицы характеристических частот в различной форме. В табл. 5.2 представлен наиболее известный вариант — так называемая карта Колтупа. Здесь по оси абсцисс отложены волновые числа или, соответственно, длины волн, а по оси ординат расположены отдельные классы веществ. Частоты, характерные для этих веществ, показаны в виде широких горизонтальных линий, рядом с которыми указаны условные обозначения примерной интенсивности полос поглощения (s — сильные, m — средние, w — слабые).
Как было показано выше, каждый локальный фрагмент молекулы имеет несколько колебаний разной формы. Это означает, что для данной функциональной группы в спектре будет наблюдаться несколько характеристических полос. При идентификации атомной группировки нельзя полагаться только на одну-единственную характеристическую частоту потому, что при разном расположении атомов отдельные области поглощения могут полностью перекрываться, но все - никогда. С другой стороны, отнюдь не каждая приведенная в табл. 5.2 область поглощения одинаково важна для распознавания структуры. При проведении исследований такого рода надо опираться в первую очередь на те частоты поглощения, которые почти всегда имеют однозначное отнесение — или из-за своего положения в спектральной области, где появляется мало других полос поглощения, или благодаря своей высокой интенсивности. После этого можно попытаться подтвердить полученный результат и по другим частотам, однозначное отнесение которых не всегда возможно.
Основное правило гласит: отсутствие характеристической полосы какого-то элемента структуры в заданной для этого области является достаточно надежным доказательством отсутствия этого элемента. Наличие же соответствующей полосы поглощения только тогда может служить доказательством существования в молекуле определенной группы атомов, когда оно подтверждено и другими частотами, характерными для данной группы.
|
5.5. Приборы и оборудование для регистрации ИК-спектров
В качестве источника излучения в ИК-спектроскопии чаще всего используют так называемый штифт Нернста или стержень из карбида кремния («глобар»), которые нагреваются электрическим током. Штифт Нернста состоит из смеси оксидов циркония, церия, тория и иттербия и предназначен для спектральной области от 5000 до 400 см-1, однако он очень быстро изнашивается под действием механических нагрузок. Нагретый до 950 °C глобар обладает достаточно интенсивным и стабильным излучением вплоть до 200 см-1 и ниже. Излучение достаточно высокой мощности порядка 100 мВт особенно необходимо при использовании энергозатратных методик, к которым относятся, в частности, ИК-микроскопия, измерения в условиях отражения света и особенно сочетание газовой хроматографии с ИК Фурье-спектроскопией.
Все оптические материалы (линзы, кюветы, а ранее — призмы) должны быть прозрачны для ИК-излучения. Стекло и кварц для этой цели не годятся, поскольку они не пропускают инфракрасные лучи. Для используемых прежде призменных монохроматоров призмы изготовлялись из монокристаллов щелочных галогенидов (NaCl, CaF2, LiF). Со временем эти водорастворимые и гигроскопичные материалы в монохроматорах удалось заменить дифракционными решетками.
Материал |
Область пропускания (50%) |
Примечания |
|
|---|---|---|---|
мкм |
см-1 |
||
Кварцевое стекло |
0,25-3,3 |
40 000-3000 |
|
LiF |
0,12-7,0 |
83 000-1400 |
Слегка растворим в воде |
CaF2 |
0,13-11,0 |
77 000-900 |
Относительно нерастворим в воде, устойчив к большинству кислот и щелочей |
NaCl |
0,25-16 |
40 000-625 |
Растворим в воде и спирте, с учетом пропускания и невысокой цены широко применяется для ИК-окон |
AgCl |
0,4-30 |
25 000-333 |
Нерастворим в воде, растворим в кислотах и NH4CI, чувствителен к УФ излучению |
KBr |
0,23-25 |
43 500^00 |
Хорошо растворим в воде, спирте и глицерине, немного растворим в эфире, гигроскопичен |
CsBr |
0,24-40 |
41 666-250 |
Растворим в воде и кислотах, чрезвычайно высоко гигроскопичен |
ZnSe |
0,5-20 |
20 000-500 |
Относительно нерастворим в воде, устойчив к химреактивам, органическим кислотам, разбавленным кислотам и основаниям, идеально подходит для НПВО |
Ge |
2-18 |
5000-555 |
Нерастворим в воде, растворим в горячей серной кислоте и аммиаке, пригоден для НПВО |
KRS-5 |
0,6-38 |
16 666-263 |
Слегка растворим в воде, растворим в щелочах, не гигроскопичен, высокотоксичен, идеально подходит для НПВО |
Свойства некоторых оптических материалов, которые находят применение в ИК-спектроскопии, приведены в табл. 5.3.
Для определения интенсивности инфракрасного (теплового) излучения применяются способы, позволяющие быстро и с высокой чувствительностью проводить измерения температуры. В качестве детекторов в ИК-спектрометрах раньше использовали термоэлементы или ячейку Голея. Тепловое расширение газа, которым заполнена ячейка Голея, деформирует мембрану, и эта деформация фиксируется с помощью светового указателя.
Кроме «медленных» детекторов на основе термоэлементов или ячейки Голея, существуют и быстродействующие пироэлектрические. В этом качестве в ИК-спектрометрах отлично зарекомендовали себя высокочувствительные, работающие в смежных областях спектра детекторы из InSb и HgCdTe. При наложении их друг на друга получают детектор, так сказать сэндвич-структуры, покрывающий широкую спектральную область от 1 до 18 мкм.
При температуре ниже точки Кюри сегнетоэлектрические вещества типа триглицинсульфата с примесью дейтерированного L-аланина (ДЛАТГС) способны к сильной мгновенной электрической поляризации под действием инфракрасного излучения, когда температура такого кристаллического материала изменяется. Изменение поляризации можно измерить в виде электрического сигнала, если с обеих сторон на поверхности кристалла разместить электроды для образования конденсатора. Этот эффект аналогичен пьезоэлектрическому, когда механическое давление на кристалл вызывает электрическое напряжение в пределах его поперечного сечения. Генерируемое на электродах детектора напряжение возрастает пропорционально температуре. Таким способом формируется сигнал, который линейно зависит от энергии попадающего на детектор излучения. Заметное повышение отношения сигнал/шум достигается при использовании охлаждаемого высокочувствительного фотодиодного детектора на основе твердого раствора HgCdTe (русское сокращение КРТ, по-английски МСТ).
Интенсивность поглощения измеряется, как правило, в процентах пропускания (прозрачности). В этом случае области поглощения проявляются в полученном спектре в виде минимума. Положение полос указывается либо как длина волны λ (в мкм), либо как волновое число ν' (в см-1), которое определено следующим образом:
|
Из этих двух способов предпочтение отдается шкале волновых чисел, так как волновые числа, в отличие от длин волн, прямо пропорциональны энергии возбуждения соответствующих колебательных переходов. В этом случае одинаковые интервалы в спектре соответствуют одинаковым разностям энергий. Таким образом, при использовании шкалы волновых чисел удается достаточно легко распознавать полосы поглощения, относящиеся к обертонам и составным колебаниям. При регистрации в шкале длин волн это невозможно. Волновые числа в большинстве случаев не совсем точно называют частотами колебаний, хотя они отличаются от собственно частот множителем 1/с. На рис. 5.7 приведен в качестве примера инфракрасный спектр полистирола.
5.5.1. Традиционные ИК-спектрометры
До внедрения ИК Фурье-спектроскопии самыми популярными в химико-аналитических лабораториях были дисперсионные спектрометры с дифракционным монохроматором, сменившие, в свою очередь, приборы с призменными монохроматорами. Приборы с дифракционными решетками позволяют получать вполне приемлемые для исследовательских целей и в стандартной аналитике ИК-спектры в диапазоне от 5000 см-1 (2 мкм) до 200 см-1 (50 мкм), но при этом чувствительность, характеристика шумов и фотометрическая точность не всегда отвечают предъявляемым требованиям. Для калибровки волновых чисел часто прибегают к записи спектра пленки полистирола, частоты колебаний которого хорошо известны, и по ним можно проверить воспроизводимость шкалы волновых чисел.
В традиционной ИК-спектроскопии излучение источника после взаимодействия с образцом разлагается в спектр с помощью одной либо нескольких дифракционных решеток и затем последовательно регистрируется при разных волновых числах. Выделение определенного спектрального интервала осуществляется с помощью щели, причем ширина щели и параметры решетки определяют степень разрешения. На практике работают обычно с разрешением от 20 до 0,5 см-1. Для регистрации спектров используются чаще всего двухлучевые спектрометры. В этом случае в канал сравнения помешается кювета с чистым растворителем или пластинка из КВr без пробы вещества.
В приборах первого поколения детектор применялся в качестве так называемого нуль-инструмента, когда интенсивность пучка сравнения ослаблялась за счет перемещения заслонки до тех пор, пока детектор не показывал для обоих лучей одинаковое напряжение. В этом случае положение заслонки определяло степень поглощения анализируемого вещества и выводилось в форме сигнала на самопишущее устройство.
Чувствительность дисперсионных приборов удалось существенно повысить за счет введения системы электронного измерения соотношения интенсивностей пучков. Такой принцип измерения не связан с ослаблением пучка сравнения с помощью гребенчатой заслонки (клина) или других механических устройств. Интенсивность излучения, прошедшего через образец, и интенсивность пучка сравнения попеременно создают на детекторе сигналы разного уровня. Величина пропускания в каждом цикле прерывания формируется электронно-цифровым способом как отношение интенсивности излучения пробы к интенсивности сравнительного пучка. Подобный принцип уже давно используется в спектроскопии УФ и видимой областей. В инфракрасной же спектроскопии его применение было возможно сначала только при использовании дорогостоящей электроники, так как детекторы реагировали на изменение сигнала очень медленно. Разработка быстродействующих пироэлектрических приемников теплового излучения позволила отказаться от дорогой электроники и начать выпуск высокоэффективных ИК-спектрометров по вполне приемлемой цене [5.2].
Поскольку содержащийся в воздухе углекислый газ и вода обладают сильным поглощением в ИК-диапазоне, этому фактору приходится уделять особое внимание при конструировании спектральных приборов. В двухлучевых ИК-спектрометрах поглощение воды и углекислого газа, которые присутствуют одновременно в обоих каналах, компенсируется, если длина пути излучения в канале образца и в канале сравнения строго одинаковы. И все же при проведении точных анализов в любом случае рекомендуется прибегать к дополнительной продувке прибора сухим азотом.
5.5.2. ИК Фурье-спектрометры
Благодаря использованию принципа преобразования Фурье в инфракрасной спектроскопии, который позволяет достичь определенных преимуществ в быстроте, чувствительности и точности метода, были значительно расширены области применения ИК-спектроскопии [3.5]. Для И К Фурье-спектроскопии уже не является проблемой применение техники диффузного отражения для исследования порошков, анализ сильно поглощающих образцов и количественный анализ в водных растворах. Классические дисперсионные приборы не отличаются высокой чувствительностью и обладают лишь ограниченной воспроизводимостью по волновым числам и интенсивности поглощения. И К Фурье-техника не имеет подобных ограничений.
Прорыв ИК Фурье-спектрометров в категорию цен, принятых до сих пор для недорогих традиционных устройств, стал замечательным событием на рынке последних лет. Современная ИК-спектроскопия уже представляется нераздельно связанной с принципом преобразования Фурье. Благодаря лучшим (на порядок!) пределам обнаружения и быстроте регистрации спектров, в сочетании с возможностями ПК, были открыты области применения, абсолютно недоступные для дисперсионного оборудования.
ИК Фурье-спектрометры, без разложения света на составляющие частоты, с помощью интерферометра Майкельсона генерируют интерференционный сигнал — интерферограмму, которая в результате частотного анализа (преобразования Фурье) преобразуется в спектр. Конечно, интерферометр Майкельсона известен еще с начала XX века, но поскольку результат измерения подлежит математическому преобразованию в интересующий аналитика спектр, то выполнение столь сложной процедуры стало возможно только с появлением современной вычислительной техники.
5.5.2.1. Интерферометр Майкельсона
Важными элементами конструкции интерферометра являются неподвижное и подвижное зеркала и светоделитель. Светоделитель расщепляет поступающее от источника излучение на две равные части, которые направляются в разные стороны. Одна часть света попадает на неподвижное зеркало, другая — на подвижное (сканер). После отражения зеркалами обе части излучения вновь объединяются тем же самым светоделителем. На оптическом пути между светоделителем, образцом и детектором оказывается излучение из обоих плеч интерферометра.
На рис. 5.8 представлена принципиальная схема Фурье-спектрометра. Если расстояния обоих зеркал от светоделителя равны, то, независимо от длины волны, возникает интерференционный максимум (конструктивная интерференция). В таком положении наблюдается максимальный сигнал (позиция белого света). Если зеркало отклоняется от равновесного положения, то в результате деструктивной интерференции сигнал быстро затухает. Результатом измерения является функция зависимости интенсивности излучения от изменения длины пути As подвижного зеркала. Эта функция называется интерферограммой.
Запись интерферограммы осуществляется в результате перемещения подвижного зеркала в прямом и обратном направлениях. Соответствующее положение этого зеркала точно определяется с помощью лазера. Интерферограмма, представленная на рис. 5.9, пересчитывается в собственно инфракрасный спектр с помощью Фурье-преобразования. Весь процесс, включающий в себя два этапа — запись интерферограммы и преобразование Фурье, занимает, в зависимости от возможностей прибора и производительности используемого компьютера, всего доли секунды. При технике ускоренного сканирования (rapid-scan) спектры снимаются в стремительной последовательности, причем в точках возврата сканер должен получать максимальное ускорение. Скоростная ПК Фурье-спектроскопия успешно используется для изучения механизмов реакций [5.4].
5.5.2.2. Достоинства И К Фурье-спектрометра
Учитывая, что интерферометр в качестве внутреннего стандарта длины волны всегда использует высокопрецизионный гелий-неоновый лазер, можно выделить четыре основных достоинства данного спектрального метода.
-
Мультиплексность: все длины волн одновременно регистрируются детектором.
-
Высокая светосила: во много раз больший световой поток поступает от источника излучения через пробу к детектору.
-
Лазер как эталон: все длины волн автоматически соотносятся с He-Ne-лазером как внутренним стандартом.
-
Накопление спектров: благодаря экспрессной записи интерферограмм можно за счет аккумуляции значительно улучшить отношение сигнал/шум в спектрах.
Для сканирования спектра подвижное зеркало в зависимости от требуемого разрешения перемещается на определенное расстояние. Разрешение интерферометра определяется как величина, обратная длине пути зеркала (1/Δs). При длине пути 1 см разрешение равно 1 см-1. У высокоэффективных устройств с длиной пути зеркала 10 см достигается разрешение 0,1 см-1. Такое разрешение пригодно для регистрации вращательно-колебательных спектров газов. Для контроля качества жидких и твердых образцов обычно бывает достаточно разрешения от 1 до 4 см-1.
Скорость перемещения зеркала находится при этом в диапазоне от 0,1 до 1 см в секунду. С помощью техники быстрого сканирования достигаются гораздо более высокие скорости, позволяющие измерять до 100 спектров в секунду. С техникой пошагового сканирования (step-scan) можно вести запись интерферограммы с нарастающим во времени разрешением. Зеркало при этом перемещается совсем мелкими шагами. При каждом шаге проводится регистрация сигнала, которая длится всего несколько микросекунд. Когда зеркало таким образом пройдет весь путь, полученные данные обрабатываются с учетом всех отдельных интервалов измерения соответствующей полной интерферограммы, преобразуемой затем в спектр [5.5].
Наряду с высоким разрешением еше одно достоинство интерферометра состоит в том, что во время измерения регистрируется одновременно весь спектр длин волн (преимущество мультиплексности). Если обычные приборы регистрируют только малый участок спектра в течение короткого времени, теряя при этом очень много энергии на узкой входной щели, которая необходима для хорошего разрешения, то при методике с Фурье-преобразованием на протяжении всего периода регистрации измеряются одновременно все длины волн при значительно большей апертуре.
Это дает существенное увеличение энергии, которая возрастает еще и потому тому, что вместо щелей входное отверстие интерферометра имеет круглую форму (преимущество в светосиле). Подобное увеличение энергии приводит к увеличению чувствительности и сокращению времени регистрации спектра. Если на типовой анализ с применением традиционного спектрометра потребуется около 20 минут, то тот же анализ с помощью интерферометра будет выполнен за несколько секунд. Современный уровень техники И К Фурье-спектроскопии позволяет регистрировать до 50 спектров всего за одну секунду. Благодаря сверхбыстрой регистрации многочисленные интерферограммы накапливаются и усредняются, что позволяет улучшить отношение сигнал/шум. После этого в спектр преобразуется только усредненная интерферограмма.
Так как светосила интерферометра по сравнению с дифракционным монохроматором значительно больше, а быстрая регистрация и накопление позволяют улучшить отношение сигнал/шум, то и чувствительность Фурье-спектрометров на два, ато и три порядка выше, чем в традиционной ИК-спектроскопии [5.6].
Большинство Фурье-спектрометров — однолучевые приборы, поэтому оптическая компенсация атмосферных помех (СО2 и вода) здесь невозможна. Используя преимущество быстрой регистрации спектров, в данном случае поступают иначе: записывают сначала спектр «сравнения», то есть без пробы, сохраняют его в памяти ПК и затем вычитают из измеренного спектра пробы. Тем не менее настоятельно рекомендуется все же продувать сухим азотом камеру образца или удалять из нее воздух с помощью вакуумного насоса. В связи с этим сейчас наблюдается четкая тенденция к переходу на более дорогие ИК Фурье-спектрометры, работающие по двухлучевой схеме.
5.5.3. Качественный анализ
Инфракрасный спектр можно зарегистрировать практически для всех соединений. Что касается ультрафиолетовых спектров, то существует целый ряд соединений (например, парафины), которые в области, легко доступной с точки зрения измерительной техники, не имеют полос поглощения. В ИК-спектре всегда присутствует достаточно большое число спектральных полос поглощения (один спектр может содержать до 40 полос и более). Это открывает громадные возможности для идентификации веществ. Именно поэтому ИК-спекгры образно называются «областью отпечатков пальцев» для соответствующего вещества.
При этом химически родственные и близкие по строению соединения имеют в спектре немало похожих общих признаков, так что неизвестные соединения могут определяться по аналогии со спектрами уже хорошо знакомых веществ. Это означает, что вещества с похожей структурой имеют до определенной степени близкие ИК-спекгры, но абсолютно одинаковых спектров все же не существует. Появление нескольких «лишних» полос в спектре вещества указывает на его отличие от других либо, по крайней мере, свидетельствует о наличии в нем примесей.
Проверка двух чистых веществ на идентичность осуществляется путем сравнения ИК-спектров этих веществ. Такое прямое сравнение — это наиболее часто используемый метод при проведении качественного анализа в инфракрасной спектроскопии. В настоящее время сравнение спектров можно проводить автоматически с помощью компьютерных программ. Правда, для этого потребуется метод Фурье-спектроскопии, который позволяет получить спектр, преобразованный в цифровую форму.
Определение чистоты вещества представляет собой еще одно направление качественного ИК-анализа. Из двух проб вещества всегда более чистой будет та, в спектре которой наблюдается меньшее число полос. Для обнаружения примесей очень важно знать, что ИК-спектр смеси веществ — в отсутствие сильных межмолекулярных взаимодействий — есть в некотором роде наложение индивидуальных спектров. Ограниченное число примесей, о которых все же имеется некоторое представление, можно определить путем сравнения со спектрами предполагаемых соединений и последующей оценки их количественных отношений.
5.5.4. Количественный анализ
Наряду с определением структуры и идентификацией, все большее распространение в ИК-спектроскопии получают количественные измерения. Здесь действуют те же закономерности, что и в УФ/видимой спектроскопии, то есть для монохромного света справедлив закон Ламберта — Бера.
Внедрение компьютеров как важных конструкционных элементов спектрометров позволило возложить на них решение тех задач, которые до этого приходилось решать пользователю. Среди этих задач: установка рабочих параметров, запуск измерительных процессов, контроль и расшифровка результатов. В результате математического преобразования интенсивности, зарегистрированные как процент пропускания, пересчитываются в единицы оптической плотности, которые затем используют в последующих вычислениях согласно закону Ламберта-Бера.
В случае многокомпонентных смесей, аналитические полосы которых не перекрывают друг друга, подход к количественному анализу таков, как если бы речь шла об определении отдельных компонентов. Сложнее обстоит дело при перекрывающихся полосах. В этом случае предполагается, что оптические плотности отдельных компонентов суммируются. Отклонения от этого допущения наблюдается, если компоненты смеси вступают во взаимодействие друг с другом.
Для определения п компонентов надо измерить оптическую плотность при п волновых числах. После этого, используя калибровочные данные, можно вычислить п индивидуальных концентраций. Современные методы позволяют быстро и точно вести анализ множества компонентов с минимальными усилиями со стороны оператора.
5.6. Методы подготовки образцов
В принципе спектральные исследования можно проводить во всех агрегатных состояниях вещества (твердом, жидком, газообразном) и в любых консистенциях, в виде пленки или раствора. Способы пробоподготовки и методы измерения в ИК-спектроскопии значительно отличаются от тех, которые используются в УФ и видимой области. Это объясняется, как правило, гораздо более высоким молярным поглощением. Необходимые для анализа количества вещества исчисляются в миллиграммах. Естественно, в случае газов нужна достаточно большая толщина поглощающего слоя, а в случае чистых жидкостей и твердых материалов, напротив, гораздо меньшая, так как плотность поглощающего вещества выше.
Измерение проводится обычно в проходящем свете. Это означает, что окна кюветы, в которую помещается вещество, должны быть прозрачны для инфракрасного излучения. Подходящими для этой цели материалами могут быть щелочные галогениды, например NaCl, КВr и CsJ. Общим свойством этих материалов является их гигроскопичность. Это делает их непригодными для анализа водных растворов, так как в контакте с водой прежде прозрачные окна становятся молочно-мутными. Галогениды серебра (AgCI и AgBr) хотя и нерастворимы в воде, но зато чувствительны к ультрафиолетовым лучам.
5.6.1. Жидкости и растворы
Жидкости исследуются в кюветах, устанавливаемых в спектрометре на пути излучения. При этом вода оказывается совершенно неподходящим растворителем. Во-первых, она обладает сильным поглощением во всей средней ИК-области, так что даже незначительная влажность образца становится существенной помехой. Во-вторых, в ИК-диапазоне для окон чаще всего используют материалы, отличающиеся низкой водостойкостью и даже растворимые в воде. Поэтому водные растворы обычно исследуются с помощью спектроскопии комбинационного рассеяния. В условиях комбинационного рассеяния в спектре воды наблюдается очень мало полос и, кроме того, этот метод позволяет работать со стеклянными кюветами.
Пробоподготовка органических жидкостей, как правило, не создает особых проблем, поскольку подавляющее большинство органических соединений не разрушает материал кюветы. Две плоскопараллельных пластины из оптически-прозрачного материала, например NaCl, образуют окна, между которыми помещается исследуемая жидкость. Такие кюветы бывают цельные или разборные. Для Фурье-спектрометров, из которых откачивается воздух, применяют вакуумуплотненные кюветы.
Толщина слоя вещества в кювете регулируется с помощью выполненной из тефлона или свинца прокладки, которая устанавливается между прозрачными окнами. Обычно толщина рабочего слоя кюветы бывает от 10 мкм до 1 мм (см. рис. 5.10). Собранная таким образом конструкция скрепляется винтами между двумя стальными пластинами. Для цельных кювет вскрытие стяжного блока не предусмотрено. В этом случае в передней стальной пластине имеется заправочное отверстие для заливки пробы и ополаскивания кюветы. У кювет, предназначенных для работы в вакууме, заправочный патрубок закрывается резьбовыми вакуумными заглушками. Такие кюветы предназначены для качественных и количественных исследований. Однако их не стоит использовать для веществ, которые в процессе анализа становятся нерастворимыми либо затвердевают. Промыть такие кюветы достаточно сложно.
Смена прокладки возможна только у разборных кювет. Если использовать быстро закручивающиеся гайки, то такие кюветы можно быстро разобрать на части, чтобы, например, изменить толщину слоя или залить пробу. Кроме того, подобные конструкции удобны для очистки. Это позволяет применять их при исследовании пастообразных материалов, разного рода смазок, вязких жидкостей и веществ, подверженных осмолению. После завершения измерения кювету разбирают и промывают, например с помощью СС14, в ультразвуковой ванне. Поверхности окон при необходимости можно снова отполировать до достижения оптического качества.
Кюветы с переменной толщиной слоя, как показано на рис. 5.11, незаменимы для компенсации полос поглощения растворителя, проведения количественных и дифференциальных исследований. Точно изменения толщину слоя можно выявить в спектре важные подробности. Толщина слоя варьируется в диапазоне от 10 мкм до нескольких миллиметров с помощью винта с накатанной головкой. Для загрузки и промывки кюветы используется специальный шприц.
При работе с образцами, которые испаряются или разлагаются под действием инфракрасного излучения, можно поместить кювету в специальную камеру с водяным охлаждением, чтобы температура пробы не поднималась выше комнатной. Особенно это необходимо при использовании спектрометров с источниками инфракрасного излучения большой мощности.
В некоторых случаях регистрация спектра чистого соединения по разным причинам не приносит желаемых результатов. Такое вещество приходится разбавлять подходящим растворителем. Вода не может быть таким растворителем не только потому, что она не совместима с большинством оптических материалов, но также и из-за сильного собственного поглощения в ИК-области. К сожалению, не возможно найти растворитель, который бы сам не поглощал в инфракрасном диапазоне. Наиболее благоприятные условия создаются при использовании растворителей, молекулы которых состоят из небольшого числа атомов и, кроме того, обладают очень симметричным строением. В этом случае они имеют минимальное число колебательных полос. Поэтому в ИК-спектроскопии особое значение приобретают два растворителя — CS2 и ССl4.
Влияние растворителя может быть частично компенсировано, если чистый растворитель заливают в кювету с переменной толщиной слоя, которую устанавливают в канале сравнения спектрометра. Однако при этом следует иметь в виду, что в спектре имеются области, где сам растворитель поглощает 100% излучения.
5.6.2. Твердые вещества
Исследование твердых веществ методом инфракрасной спектроскопии во многом определяется физическими свойствами образца. Общепринятым способом считается исследование твердых веществ в растворах, однако при этом необходимо учитывать определенные особенности использования растворителей.
Если образец представлен в виде однородного тонкого слоя (например, кусочка пластиковой пленки), то его закрепляют в предназначенном для этого держателе и регистрируют спектр в проходящем свете. Специальный держатель для пленки состоит из пластинки с прямоугольным отверстием, на которое и укладывается пленка. Сверху пленка прижимается магнитной пластинкой, в центре которой тоже есть отверстие. Магнит обеспечивает механическое удерживание пленки в вертикальном положении.
Для разбавления проб разработано два широко используемых способа:
Расход вещества для получения ИК-спектра совсем невелик и составляет всего несколько миллиграммов. Это количество может быть еще уменьшено при использовании специального оборудования.
5.6.2.1. Техника прессования с КВr
Техника прессования с КВr является одним из самых распространенных способов приготовления образцов твердых и порошкообразных веществ. Этот процесс занимает довольно много времени, требует тщательного взвешивания и растирания материала, а также очистки пресс-формы. При подготовке пробы 1—2 мг исследуемого вещества тщательно растирают вместе с 200-300 мг сверхчистого КВr вручную в агатовой ступке, что потребует определенных усилий. Качественные спектры получают только при условии, что размер зерен подлежащего анализу вещества будет меньше длины волны излучения. Для равномерного и воспроизводимого размола проб, особенно если нужно увеличить производительность, лучше всего использовать вибрационные мельницы, с помощью которых можно одновременно готовить сразу несколько образцов. Поскольку КВr обладает прозрачностью в широкой области спектра от 43 000 до 400 см-1 и не имеет полос поглощения, то при спектроскопическом исследовании регистрируется только спектр тонко измельченного в КВr вещества.
Образец, размолотый вместе с КВг, прессуется с помощью гидравлического пресса в брикет в виде таблетки (рис. 5.12). При усилии в 10 тонн КВг становится пластичным и в результате из смеси образца и КВr получается «твердый раствор». Для удаления влаги из материала таблетки, которая делает таблетку мутной и снижает пропускание, а также для откачки остаточного воздуха пресс-форму подключают к вакуумного насосу. Кроме того, желательно до начала использования пресс-форму и порошок КВr прогреть в сушильном шкафу при температуре около 40 °C. Это предотвратит конденсацию влаги воздуха на их поверхности. Вода, содержащаяся в КВr даже в минимальном количестве, сразу становится заметной в спектре в виде соответствующих полос поглощения.
Влажность КВr приводит к появлению полос при 3450 и 1640 см-1, а также к искривлению фона ниже 1000 см-1. Поэтому рекомендуется хранить КВr в эксикаторе над силикагелем. Порошок КВr можно подсушить в вакуумном сушильном шкафу при 150 °C.
В стандартном варианте прессуются таблетки диаметром 13 мм, а для микроанализов могут быть изготовлены таблетки диаметром до 2 мм. Обычно применяют компактные ручные гидравлические прессы мощностью 15 и 25 тонн. Автоматические 15-, 30- и 50-тонные прессы в спектроскопической лаборатории используются преимущественно для подготовки к анализу большого количества твердых образцов. В этом случае с пульта управления устанавливается нужное давление и нажимается кнопка запуска насоса. Давление на поршне пресса повышается до тех пор, пока не будет достигнута установленная величина. После этого пресс автоматически останавливается. Регулировка давления тоже происходит автоматически.
Не стоит забывать о том, что образец в процессе пробоподготовки может претерпеть определенные изменения в результате перестройки кристаллической решетки или в результате химических реакций. Кроме того, при большой разнице показателей преломления исследуемого вещества и КВг (л = 1,53) может возникнуть асимметричное искажение спектральных полос, которое называется эффектом Христиансена. В этом случае придется воспользоваться матрицей с более высоким показателем преломления, например KI (n = 1,62), CsI (n = 1,74), AgCl (n = 1,98) или KRS-5 (n = 2,37).
5.6.2.2. Методика пробоподготовки с парафиновым маслом
Одним из щадящих методов подготовки твердых образцов для спектрального анализа является метод, основанный на приготовлении парафиновых суспензий. В этом случае примерно 2 мг исследуемого вещества энергично растирается в ступке с несколькими каплями медицинского вазелинового масла (смеси жидких высокомолекулярных парафинов). Масло (Nujol) служит для снижения отражения от граней кристаллических микрочастиц образца. Его показатель преломления должен быть максимально близок к показателю преломления исследуемого вещества. Полученная «молочная каша» помешается между двумя круглыми окнами разборной кюветы, затем в проходящем свете регистрируется спектр пропускания. Полосы поглощения парафина, которые относятся к колебаниям групп СН2 и СН3, маскируют обнаружение этих же групп в образце, так как точная компенсация в большинстве случаев здесь невозможна (рис. 5.13).
Этот метод, наряду с прессованием в КВг, рекомендуется использовать во всех тех случаях, когда кроме Н2O нет другого подходящего растворителя для пробы или когда вещество пробы вступает в реакцию с KBr. С технической точки зрения описанная методика более проста, чем техника прессования.
5.6.3. Газы
Так как азот и кислород не имеют поглощений в ИК-области спектра, то инфракрасная спектроскопия является просто идеальным методом обнаружения разных газов в атмосфере. Первые газовые кюветы были длиной до 25 см. Промышленные устройства записи инфракрасного поглощения (URAS) фирмы BASF были фильтрующими приборами для технологического контроля газов, таких как СО, СО2, СН4, N2O, NH3, SO2, HCl, и паров ряда растворителей [5.7]. С 1960 г. начали активно внедрять анализы воздуха с помощью ИК-спектроскопии в сфере промышленного производства. Но сначала при разработке процесса контроля воздушной среды пришлось преодолеть множество препятствий [5.8]. С одной стороны, газы и пары поглощают весьма слабо и для их анализа требуются достаточно длинные пути поглощения; с другой стороны, в спектре газа гораздо больше полос поглощения, чем в спектрах жидких и твердых образцов.
ИК-спектры газообразных проб существенно отличаются от спектров твердых и жидких веществ. В газообразном состоянии молекулы имеют возможность почти беспрепятственно перемешаться в пространстве и обладают независимо от соседних молекул свободным вращением. Вращательное движение в спектре проявляется в виде множества отдельных линий поглощения и создает более сложную картину колебаний, чем это можно было бы ожидать от молекул с простой структурой. По мере увеличения давления молекулы все более сближаются, соударений становится больше. При этом возрастает вероятность того, что во время вращательного движения молекулы столкнутся и свободное вращение будет затруднено. Такая ситуация находит свое отражение в уширении спектральных полос поглощения.
Уширение вращательных полос в спектре зависит от собственного парциального давления компонентов смеси, общего давления в измерительной ячейке и от типа молекулы. Поскольку интервал между двумя вращательными линиями с увеличением молярной массы все более и более сокращается, то при нормальном давлении в случае крупных молекул уже невозможно полное разрешение их тонкой вращательной структуры. В этом случае определение концентраций компонентов по изменению интенсивности каждой отдельной вращательно-колебательной полосы становится нереальным.
Для исследования газов методом ИК-спектроскопии необходимы приборы с особенно высокой разрешающей способностью, так как вращательные уровни молекул газа совсем немного отличаются друг от друга и соответствующие им полосы поглощения располагаются чрезвычайно тесно. В газовой спектроскопии интерес в большинстве случаев представляет не столько анализ отдельных чистых компонентов, сколько определение нескольких компонентов смеси. При этом на передний план выходит анализ газовых отходов камер сгорания и тепловых электростанций, а также контроль воздуха на рабочем месте [5.9]. Изобилие полос в газообразной фазе создает колоссальный объем данных, справиться с обработкой которых под силу разве что малогабаритной, но в высшей степени производительной вычислительной машине.
Современные спектрометры высокого разрешения обеспечивают разрешение до 0,001 см-1, для реализации которого требуется длина пути подвижного зеркала в интерферометре порядка 10 м. Эти приборы служат для определения вредных веществ в атмосфере и стратосфере нашей планеты. Для такого рода измерений естественным источником света служит Солнце. Исходящее от него излучение направляется в спектрометр с помощью устройства, автоматически следящего за положением Солнца.
В области газовой спектроскопии, особенно при высоком разрешении, серьезную техническую проблему создает протяженность источника излучения и расходимость светового пучка. Разрешение, достигаемое Фурье-спектрометром, первично задано через длину пути перемещения зеркала интерферометра. Так как при любой фокусирующей оптике центральные и краевые лучи неточечного источника излучения проходят разные пути, то между ними существует оптическая разность хода. Она должна составлять не более половины длины волны используемого для измерения света для того, чтобы не возникло тушения в результате деструктивной интерференции. Можно приблизить ситуацию к идеальной, если ограничить размеры источника круглой апертурой. Этот эффект будет возрастать с уменьшением длины волны излучения. Однако если излучатель или его образ, «апертура», становится меньше, то и мощность излучения падает. Несмотря на это, светосила Фурье-спектрометров и при использовании круглых апертурных диафрагм несравненно выше, чем в спектрометрах с дифракционной решеткой и щелевой диафрагмой.
Для простых анализов газов, то есть чистых газов или газовых смесей из небольшого числа компонентов, можно использовать простые кюветы с толщиной слоя от 10 до 25 см. Камера образца обычно ограничена размером 25 см. Оптические окна на обоих концах изготовлены, как правило, из КВг или иных прозрачных для ИК-излучения материалов. Напуск и эвакуация пробы осуществляется с помощью двух запорных кранов (рис. 5.14).
Нагреваемые газовые кюветы служат для регистрации спектров газов и паров при температурах до 500 °C. В этих условиях можно исследовать и вещества, которые при комнатной температуре остаются еще твердыми или жидкими. Специальные высокотемпературные кюветы рассчитаны на температуру до 800 °C и могут работать при высоком давлении. Это позволяет проследить ход многих технологических процессов, протекающих при данных условиях, для их последующей оптимизации или вести анализ с разложением веществ. Чтобы избежать перегрева всего спектрометра, обогреваемые кюветы снабжаются водяным охлаждением.
Для определения следов загрязнений в газах длину оптического пути излучения в кювете приходится увеличивать до 1 метра. С этой целью используются многоходовые газовые кюветы [5.10]. В таких устройствах траектория инфракрасного излучения увеличивается в результате многократных отражений с помощью системы зеркал внутри кюветы. Благодаря специальному расположению этих зеркал достигается минимальный общий объем кюветы. Зеркала имеют возможность поворота, что позволяют настраивать разную оптическую длину пути. Таким способом удается последовательно устанавливать толщину поглощающего слоя газа от 25 см (простой путь без участия зеркал) и до 10 метров в корпусе кюветы длиной 25 см.
При минимальном объеме многоходовой кюветы к юстировке зеркал предъявляются повышенные требования. Самые большие кюветы, которые были изготовлены, имеют оптическую длину пути 10, 20 и 40 метров. При реальной длине кюветы 25 см объем ее составляет менее 1 литра. Пределы обнаружения органических газов в таких кюветах находятся в области ppm и sub-ppm. Специальные устройства с максимальной длиной хода 120 метров, предназначенные для исследования атмосферы, были изготовлены в США в количестве всего нескольких штук. Емкость такой кюветы достигает почти 20 литров.
5.7. ИК-спектроскопия отражения
Обычным методом исследования в оптической спектроскопии является измерение прошедшего через пробу излучения, то есть речь идет о спектроскопии пропускания. Кроме этого, с помощью ИК-спектрометра можно анализировать также излучение, отраженное от поверхности материала. Исследование поверхности издавна вызывает большой интерес во всех областях аналитического контроля. Идея использования свойств граничных поверхностей для идентификации веществ столь же стара, как и сама инфракрасная спектроскопия. Когда ИК-излучение попадает на поверхность образца, оно или поглощается, или отражается, или диффузно рассеивается. Каждая возникающая при этом компонента излучения разной интенсивности несет в себе определенную спектральную информацию. Для регистрации спектра в условиях отражения были разработаны специальные приемы, в основе которых:
Спектроскопия отражения с очень малой эффективной толщиной слоя относится к довольно сложным методам. Она получила широкое распространение только благодаря появлению Фурье-спектрометров. В результате гораздо лучшего соотношения сигнал/шум удается регистрировать спектры даже при неблагоприятных энергетических условиях. Возможности вычислительной дифференциальной спектроскопии позволили значительно упростить столь важную в условиях эксперимента компенсацию эталонного фона при всех измерениях в отраженном свете. После вычитания поглощения растворителя из спектров растворов получают отличного качества спектры их ингредиентов. Наряду с качественным анализом можно проводить и количественные исследования, пользуясь эмпирическими функциями калибровки.
В условиях отражения успешно регистрируются спектры веществ, не прозрачных для ИК-излучения, анализ которых в иных ситуациях требует весьма трудоемкого подготовительного процесса. К достоинствам этих способов исследования можно отнести простую пробоподготовку (иногда без этой операции вообще можно обойтись) и нечувствительность к толщине слоя. Кроме того, образец при подобных измерениях не разрушается. Поверхность образцов можно изучать бесконтактно в естественных условиях. Спектроскопия отражения способна решить многие и самые разные проблемы — от исследования поверхности металлов до качественных и количественных анализов пластмассы или идентификации следовых количеств органического либо неорганического порошка.
В отражательной спектроскопии существует принципиальное различие между внешним и внутренним отражением. При внешнем отражении проба контактирует с оптически менее плотной средой, чаше всего с окружающим воздухом, через которую и проходит анализирующее излучение. При внутреннем отражении взаимодействие излучения с образцом происходит при контакте образца с поверхностью оптически более плотного диэлектрика.
Уже на протяжении многих лет спектроскопия нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) применяется для исследования поверхностей (покрытий), сильно поглощающих веществ, вязких и волокнистых материалов или резины и стала стандартным методом ИК-спектроскопии [5.12]. Внешнее зеркальное отражение с малыми углами падения является очень удобным методом качественного и количественного анализа тонких слоев, например лаков или полимерных покрытий, нанесенных на отражающие металлические поверхности [5.13]. Если излучение взаимодействует с образцом под достаточно большими углами падения (около 85 градусов), то становится возможным исследование очень тонких слоев вещества, вплоть до моносля.
В то время как отражательная спектроскопия с большими углами падения представляет собой особый случай зеркального отражения, при диффузном отражении свет отражается от поверхности по всем направлениям. Диффузное отражение — это метод анализа микропроб от 100 мкг до 100 нг, который не требует сложной пробоподготовки [5.14].
5.7.1. Метод НПВО
Применение ИК-спектроскопии для исследования поверхностей по принципу нарушенного полного внутреннего отражения имеет относительно давнюю традицию. Еще в 1961 г. соответствующая методика была впервые описана Й. Фаренфортом, а чуть позднее появились уже коммерческие варианты необходимого для ее реализации оборудования. Метод НПВО стал инновационным решением определенных проблем, привлекательность которого едва ли могла быть снижена тем фактом, что при использовании дисперсионных приборов спектры были не высокого качества и расшифровать их можно было, только пустив в ход всю свою фантазию. Тем не менее был открыт перспективный путь для анализа даже таких нетрадиционных образцов, как снабженные покрытием металлы, полимерная пленка, кинопленка, пасты, мыла или жиры. Сегодня ИК Фурье-спектроскопия, в сочетании с методом НПВО и при поддержке современных способов обработки данных, широко применяется, например, в целях простого и быстрого измерения содержания жиров и масел в продуктах питания, а также для исследования смазочных и топливных материалов, образцов резины и бумаги, покрытий поверхностей, паст и жидкостей. Такая техника позволяет быстро производить качественный и количественный анализ при минимальных затратах на отбор проб и их подготовку [5.15].
5.7.1.1. Принцип метода нарушенного полного внутреннего отражения
Метод основан на физических явлениях, которые возникают при отражении света на границе раздела двух сред с разной оптической плотностью. Когда свет, проходя через среду с относительно высоким показателем преломления (кристалл НПВО) падает на границу раздела со средой с меньшим показателем преломления (образец) под углом падения больше критического (предельный угол полного отражения), то излучение от этой граничной поверхности отражается почти полностью.
Однако даже при полном отражении излучение все же проникает в граничащую с кристаллом среду на небольшую глубину. Глубина проникновения светового луча в пробу является функцией длины волны, показателей преломления кристалла и исследуемого вещества и угла падения.
|
где d — глубина проникновения, n1 — коэффициент преломления пробы, n2 — коэффициент преломления кристалла, α — угол падения луча.
При следующем отражении повторяется тот же процесс (рис. 5.15). В зависимости от того, поглощает или не поглощает излучение соседняя среда, то есть в данном случае образец, изменяется интенсивность отраженного света. В результате получается спектр отражения, подобный спектру пропускания. В этом спектре волновые числа, при которых происходит специфичное для данного вещества поглощение, будут такими же, как при измерении в проходящем свете.
В спектре НПВО сильно отличаются только интенсивности полос. Так как глубина проникновения зависит от длины волны излучения, то понятно, что полосы с увеличивающейся длиной волны (или, соответственно, с уменьшающимся волновым числом) становятся все интенсивнее по сравнению с теми же полосами в спектре пропускания. Спектр нарушенного полного внутреннего отражения по сравнению со спектром пропускания всегда искажен, так как при больших волновых числах (малой глубине проникновения) интенсивности полос всегда меньше, а при убывающем волновом числе (большой глубине проникновения) они больше. Но такому «перекошенному» спектру вполне можно придать вид обычного спектра пропускания путем соответствующей математической коррекции.
В целом интенсивность полос спектра НПВО возрастает с увеличением числа отражений в кристалле. Но изменение толщины слоя образца никак не отражается в спектре.
Анализируемое вещество размещается в соответствующем держателе в непосредственном контакте с поверхностью кристалла, обладающего высоким коэффициентом преломления. Обязательным условием нарушенного полного внутреннего отражения является оптический контакт образца с кристаллом. С помошью прижимного устройства можно достаточно сильно придавить неровную или порошкообразную пробу к кристаллу. Свет от источника излучения попадает в кристалл с плоскими параллельными гранями. Угол падения луча выбирается таким образом, чтобы эффект НПВО возникал именно на этих гранях. После многократных отражений излучение выходит из кристалла и возвращается в прибор. При использовании кристаллов разной формы с углами падения 30, 45 и 60° получают и разное число отражений внутри кристалла (рис. 5.16). Чем меньше угол падения луча, тем больше отражений реализуется в кристалле. Увеличение числа отражений повышает чувствительность при соответственно меньших затратах энергии. Для дисперсионных приборов нормальным считается 25 отражений, для Фурье-спектрометров с центральной фокусировкой и высокой светосилой обычно хватает 6 отражений.
При обеспечении хорошего контакта с кристаллом, например в случае проб с гладкой поверхностью, выбирают достаточно большой угол падения излучения. Для образцов с шероховатой поверхностью необходимо большое число отражений, которого можно достичь, выбрав кристалл с небольшим углом падения. Существуют устройства полного внутреннего отражения, у которых угол падения излучения может изменяться непрерывно, что позволяет проводить исследования проб с разной глубиной проникновения.
Полосы спектра НПВО будут тем интенсивнее, чем ближе угол падения излучения к предельному углу полного отражения. По мере увеличения угла падения постоянно возрастает и интенсивность. Было бы предпочтительнее проводить измерение как можно ближе к предельному углу. Нов этом случае из-за аномальной дисперсии показателя преломления полосы в спектре отражения асимметрично уширяются, и их максимум смещается в сторону меньших волновых чисел. Эти погрешности будут пренебрежимо малы, если угол падения луча больше предельного угла. При этих условиях получают спектры, которые, правда, менее интенсивны, но зато соответствуют спектрам пропускания.
В качестве кристаллического материала для стандартного элемента внутреннего отражения (internal reflection element) используют в большинстве случаев KRS-5. С появлением горизонтальных элементов, для которых нужны кристаллы, стойкие к механическому износу, предпочтение стали отдавать селениду цинка, а в случае водных проб часто используют германий. Полное внутреннее отражение наступает только при переходе излучения из оптически более плотной среды в оптически менее плотную. Поскольку для Ge в инфракрасном диапазоне показатель преломления составляет n = 4,0, это вполне оправдывает его выбор, так как показатели преломления образцов всегда значительно ниже. Но область пропускания германия, как следует из табл. 5.3, ограничена. Более широкий диапазон пропускания имеют ZnSe и KRS-5, но они не обладают абсолютной нерастворимостью в воде. Все эти материалы применимы только для средней ИК-области. Расширить спектральный диапазон до 200 см-1 можно, если использовать в качестве элемента НПВО кремний [5.16].
5.7.1.2. Практическое применение ИК-спектроскопии НПВО
Хотя метод НПВО был значительно усовершенствован в конце 70-х годов в результате общего развития приборной техники, оптики и особенно микроэлектроники, он все еще был ограничен рамками традиционной дисперсионной ИК-спектроскопии. Появление Фурье-спектрометров стало важным этапом в расширении области применения НПВО и позволило проводить исследования даже таких образцов, о которых не могло быть и речи при использовании классической ИК-спектроскопии (сильно поглощающие поверхности, микрослои и проч.) [5.17].
При работе методом ΗПВО даже воду, которая в проходящем свете поглощает большую часть излучения, можно использовать в качестве растворителя. В круговой ячейке НПВО (circle cell) применяют кристаллы с круглым поперечным сечением, которое соответствует апертурным параметрам Фурье-спектрометра и обеспечивает минимальные потери энергии. Это позволяет исследовать образцы в сильно поглощающих растворителях, таких как вода, которые при обычных измерениях в проходящем свете поглощают большую часть энергии излучения. На рис. 5.17 представлен в качестве примера спектр НПВО моющего средства, содержащего воду.
При использовании квадратной ячейки НПВО удается улучшить оптический путь луча, который при круглой форме кристалла заполняет его неравномерно.
После вычитания из спектра раствора спектр чистого растворителя можно получить почти безупречные инфракрасные спектры растворенных веществ. Примером применения такой методики являются исследования водно-масляных эмульсий, полимерных эмульсий, электролитов и хладагентов. С помощью разностных спектров можно определять ингредиенты напитков и настоек, содержащиеся в малых концентрациях [5.18].
Метод НПВО можно использовать не только в отношении «тяжелых» образцов вроде паст и гелей, но и для любых жидких проб вместо обычного измерения в проходящем свете в кюветах. При горизонтальном расположении кристалла в ячейке процесс подготовки пробы сводится к минимуму. Держатель пробы с кристаллом легко вынимается, что облегчает процесс нанесения образца и последующую очистку. При этом сама ячейка НПВО остается в спектрометре, что позволяет обойтись без новой юстировки зеркал.
При использовании проточного держателя для кристалла с образцом проводят исследование ламинарного потока проб, протекающего по поверхности кристалла. Таким способом обеспечивается возможность проведения анализов в реальном времени. В лабораториях с большим объемом исследуемых объектов устанавливают механизм автоматической подачи жидких проб.
Образцы с неровной поверхностью, например порошки, можно прижимать к кристаллу с помощью специального прижимного устройства для улучшения контакта между исследуемым веществом и кристаллом. Именно порошковые материалы и полимеры, которые ранее требовали трудоемкой подготовки для ИК-спектроскопии, могут без всякой дополнительной обработки анализироваться методом НПВО. Этот метод может успешно работать при проведении анализов кожи и без прижимного устройства. В специальной ячейке НПВО для анализа кожи предусмотрена площадка для контакта с образцом. В этом случае возможен контакт с разными частями тела — кистью, предплечьем и т.д. Типичным примером применения измерений in situ является изучение действия на кожу косметических и фармацевтических средств, наблюдение за впитыванием через кожу лекарственных препаратов и простые измерения содержания влаги и жиров.
В отличие от общепринятых методов исследования на просвет, в случае ΗПВО интенсивность поглощения уже не зависит от толщины слоя образца. Это приводит к тому, что появляется возможность анализировать образцы лакокрасочных покрытий, материалов с большой толщиной слоя и сильной пигментацией, то есть почти не прозрачные в И К-диапазоне. Особое преимущество рассматриваемого метода — в силу ограниченной глубины проникновения излучения — состоит в возможности «заглянуть» внутрь многослойных систем либо проследить поверхностные изменения на пленочных материалах. Понятно, что упомянутая независимость интенсивности спектральных полос от толщины пленки лишь до определенной степени справедлива в отношении материалов слоистой структуры. Если контактный слой становится тоньше, чем глубина проникновения излучения, в спектре появляются полосы как верхнего, так и лежащего под ним слоя вещества.
5.7.2. Внешнее отражение в ИК-спектроскопии
В технике внешнего отражения различают зеркальное и диффузное отражение, а также отражение при угле падения, близком к скользящему. Эти методы исследования образцов позволяют легко и быстро анализировать твердые материалы без сложной предварительной пробоподготовки. Кроме того, в этом случае исключается изменение структуры образца, которое может возникнуть при размалывании с КВr и в результате сжимающей нагрузки в штампе для прессования. Правда, интерпретация спектров отражения сложнее, поскольку в реальных образцах почти всегда возникает одновременно зеркальное и диффузное отражение. Однако для практического применения часто бывает достаточно формального сходства между спектрами пропускания и отражения.
Отношение интенсивностей отраженного и падающего излучения называют коэффициентом отражения (reflectance). Если изменение этого параметра графически представить как функцию волнового числа, то можно получить такую же спектральную информацию, как и при расшифровке спектров пропускания, с той лишь разницей, что в спектре отражения надо еще выделить составляющую показателя преломления. Согласно уравнениям Френеля, интенсивность отраженного излучения зависит от показателя преломления образца. Как мы увидим позднее, именно зависимость энергии отраженного излучения от коэффициента преломления приводит к искажениям полос в спектре отражения.
5.7.2.1. Зеркальное отражение
Внешнее, зеркальное отражение при малых углах падения используется для качественного и количественного анализа поглощающих покрытий на поверхностях металлов и неметаллических материалов, отражающих инфракрасные лучи. Принцип зеркального отражения основан на том, что излучение спектрометра с помощью системы зеркал направляется на поверхность образца и отражается от нее под тем же самым углом. Затем излучение попадает на детектор спектрометра. Таким образом, инфракрасный луч пронизывает покрытие и отражается от гладкой поверхности металла. При проникновении в поверхностный слой происходит частичное поглощение энергии излучения в результате его взаимодействия с молекулами покрытия. В итоге получают спектр пропускания исследуемого материала (рис. 5.18).
Преимущество описанного метода по сравнению с техникой нарушенного полного внутреннего отражения состоит в том, что образцы не контактируют ни с каким другим кристаллическим материалом, а сам исследуемый слой не обязательно должен иметь гладкую поверхность. При этом можно анализировать покрытия толщиной от 1 до 100 мкм. Для количественного анализа используют формулу:
|
где R - относительное отражение, ε — мольный коэффициент поглощения, с — концентрация, d — толщина слоя.
Используя метод зеркального отражения, можно изучать органические жидкости, причем для этого достаточно нанести на зеркальную поверхность всего одну каплю вещества. Трудности могут возникнуть только в случае жидкостей с низкой температурой кипения. Если твердые вещества удастся расплавить без разложения, то при быстром охлаждении расплавленного образца на металлической пластинке образуется тонкий слой, с которого можно затем получить ИК-спектр. Такой простой и быстрый способ является полноценной альтернативой трудоемкому методу прессования с К.Вг, причем расход вещества будет приблизительно таким же [5.19].
5.7.2.2. Спектроскопия скользящего отражения
По мере увеличения угла падения луча возрастает глубина его проникновения и связанное с нею поглощение. Это обстоятельство можно использовать для исследования очень тонких поверхностных слоев (рис. 5.19). Эффективная длина пути / излучения, проникающего в среду с толщиной слоя d, равна:
|
Для углов падения > 85°, когда величина cos α быстро приближается к нулевому значению, любое увеличение угла падения вызывает увеличение глубины проникновения и, следовательно, приводит к усилению поглощения в отраженном излучении. Интенсивность спектральных полос возрастает также при использовании поляризованного света. Для отражения от металлической поверхности оптимальной является 90°-ная поляризация излучения.
Технику скользящего отражения используют для исследования тонких слоев на гладкой отражающей поверхности. Эта методика особенно удобна для регистрации спектров поверхностей с толщиной слоя примерно от 0,1 до 10 мкм [5.20]. Такие исследования необходимы в производстве покрытий и полупроводников, для исследования тонких пленок на отражающей металлической поверхности. Но поскольку эти спектры содержат компоненты и поглощения, и зеркального отражения, то количественный анализ здесь затруднен. Компонента зеркального отражения всегда присутствует в спектре и не зависит от исследуемого вещества.
Толщину эпитаксильного слоя на полупроводниковых материалах можно легко определить по спектру интерференции такого слоя (рис. 5.20). Для этого слой не должен быть тоньше длины волны и не толще 50-кратной длины волны используемого излучения. Важно также, чтобы в этой области спектра не было полос поглощения.
Если в качестве отражающей подложки используется вода, то методом скользящего отражения можно изучать мономолекулярные слои на границе раздела вода — воздух. Такие вещества, как мыло, масло, жиры, липиды и т.д., образуют на поверхности воды мономолекулярную пленку, в которой гидрофильная часть молекул ориентирована в сторону воды. Гидрофобная же часть состоит обычно из СН2-звеньев и отталкивается водой. С помощью сдвигающей пластинки эту пленку можно сжать или растянуть для исследования двух фаз. Это дает возможность проводить измерения при разной глубине проникновения. В результате получают информацию о гидрофильных группах, об ориентации гидрофобной цепи, а также о строении и конфигурации пленок. Биологические мембраны могут таким способом исследоваться in situ на их натуральном субстрате.
5.7.2.3. Диффузное отражение
В отличие от зеркального отражения на идеально гладких поверхностях, диффузное отражение возникает на «идеально» шероховатой поверхности. Принцип измерения диффузного отражения основан на фокусировке ИК-излучения эллипсоидным зеркалом на поверхности образца, находящегося в открытой чашечке, как показано на рис. 5.21. Затем диффузно-отраженное от образца излучение собирается вторым эллипсоидным зеркалом и с помощью отклоняющего плоского зеркала направляется к детектору спектрометра [5.21].
Для регистрации спектра сравнения вместо пробы используется хорошо отражающий, но не поглощающий стандарт — чаше всего КВг. Сначала записывают однолучевые спектры сравнения и образца, а затем аналогично тому, как это происходит при получении спектра пропускания, преобразуют однолучевые спектры в спектр диффузного отражения образца.
Методом диффузного отражения на Фурье-спектрометре можно анализировать пробы, с трудом поддающиеся исследованию в проходящем свете. Этот метод не требует большой пробоподготовки и поэтому во многих случаях дает значительную экономию времени. Он находит применение преимущественно для анализа порошков — лекарств и продуктов фармацевтической промышленности, но нередко и вполне успешно используется также для исследования волокнистых материалов, таких как бумага или ткани.
При использовании ячейки диффузного отражения с X-Z-позиционирующим столом можно проводить картографический анализ проб, неоднородных по своей природе или по размерам частиц. Достаточно крупные образцы можно контролировать в отдельных точках по всей поверхности. Таким способом анализируются пластины для тонкослойной хроматографии.
Как и при использовании метода НПВО, здесь тоже необходимо иметь в виду, что глубина проникновения излучения в образец зависит от длины волны. По сравнению со спектрами пропускания, у спектров отражения в результате увеличения глубины проникновения интенсивность полос поглощения возрастает в длинноволновой спектральной области.
Одной из главных трудностей при работе с диффузным отражением является искажение формы спектральных полос из-за присутствия в отраженном излучении зеркальной компоненты (отражение Френеля). При облучении образца какая-то часть падающего света отражается непосредственно от его поверхности, причем угол отражения равен углу падения. Эта часть излучения не поглощается пробой и поэтому не содержит никакой спектральной информации. Так как угол падения и, соответственно, угол отражения для этой части излучения известен, то можно уменьшить его влияние, используя внеосевую конструкцию ячейки диффузного отражения
Кроме этого, лучи могут многократно отражаться от поверхности частиц под разными углами и эти углы могут быть любыми (рис. 5.22). Эта часть излучения оптически может не отличаться от компоненты диффузного отражения. Как правило, здесь помогает разведение пробы непоглощающим веществом, например порошком КВr [5.22]. Еще одну сложность создают иногда сильно поглощающие образцы со слабым сигналом отражения. Низкое отношение сигнал/шум в полученных спектрах иногда удается улучшить за счет удлинения периода измерения либо при использовании более чувствительных детекторов.
Наложение зеркального и диффузного отражений приводит к упомянутым выше асимметричным искажениям полос в спектрах диффузного отражения. Для интенсивных полос поглощения (обычно ниже 2000 см-1) измеренный спектр представляет собой смесь диффузного и зеркального отражения, а полосы имеют форму производной. С помощью математической обработки (преобразование Крамерса — Кронига) можно скорректировать спектры, искаженные из-за высокой доли зеркального отражения.
5.7.2.3.1. ПРЕОБРАЗОВАНИЕ КРАМЕРСА - КРОНИГА
В отличие от спектров пропускания, спектры отражения содержат две составляющих — коэффициент преломления n и коэффициент экстинкции k, что сильно затрудняет их интерпретацию. Связь между отражением и преломлением света описывается уравнениями Френеля. Эти уравнения определяют коэффициенты отражения и пропускания как функцию показателей преломления и углов падения и преломления для излучения, поляризованного параллельно и перпендикулярно плоскости падения. Поскольку отражающая поверхность также и поглощает, необходимо в дополнение к относительному показателю преломления учитывать и коэффициент поглощения. Составляющая показателя преломления выделятся из спектра путем относительно сложного числового интегрирования. В результате так называемого преобразования Крамерса - Кронига экспериментальный спектр трансформируется в обычный спектр пропускания.
На рис. 5.23 представлен спектр полистирола, полученный методом диффузного отражения. Сильное искажение полос в спектре вызвано высокой долей зеркального отражения. После коррекции с использованием преобразования Крамерса — Кронига получают спектр, более пригодный для сравнения со спектром пропускания (см. рис. 5.24).
Ширина и интенсивность полос в спектрах диффузного отражения органических веществ сильно зависят от размера частиц образца. Для поглощающих неорганических веществ, обладающих высоким коэффициентом преломления, изменение спектров в зависимости от размера частиц проявляется еще отчетливее.
5.7.2.3.2. КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ ПРИ ДИФФУЗНОМ ОТРАЖЕНИИ
Метод диффузного отражения используют обычно для качественных и полуколичественных определений. Доля энергии зеркального отражения, которая не зависит от толщины слоя, осложняет проведение количественного анализа. Достаточно успешные количественные измерения возможны при использовании уравнения Кубелки-Мунка:
|
Это уравнение представляет собой аналог закона Ламберта - Бера для диффузного отражения и названо именами его авторов. Оно справедливо для идеальной, бесконечно разбавленной пробы в непоглощающей матрице. R — это относительное отражение пробы при теоретически бесконечной толщине слоя, которая на практике составляет порядка 2 мм. S — это коэффициент рассеяния, зависящий от размера частиц исследуемого образца.
5.7.2.4. Практическое применение отражательной спектроскопии
Спектроскопия диффузного отражения относится к достаточно сложным методам, получившим широкое распространение только с внедрением Фурье-спектрометров. Этот метод успешно используется для анализа образцов, которые по своей физической природе с трудом поддаются исследованию в проходящем свете, либо таких, которые должны анализироваться без каких бы то ни было изменений. Наибольшие трудности при интерпретации спектров диффузного отражения связаны с явлениями, вызванными присутствием доли зеркального отражения.
Этот метод находит применение в исследованиях большого числа самых разных образцов — порошков, волокон или компактных кусков трудно измельчаемых материалов. В пищевой промышленности отражательная спектроскопия занимает особое место при проведении анализа покрытий внутренних сторон консервных банок и емкостей для напитков.
В автомобильной отрасли рассматриваемый метод активно используется для анализа Zn-фосфатированиых стальных листов. В последнее время цинк здесь все чаще заменяют другими металлами, такими как никель, магний или марганец. Для идентификации этих материалов, в ИК-спектрах которых присутствуют соответствующие полосы поглощения фосфата и кристаллизационной воды, вполне подходит метод спектроскопии отражения [5.23].
5.7.2.5. Сопряжение с волоконными световодами
Волоконно-оптическая система позволяет проводить ИК-анализы за пределами спектрального прибора. Это открывает путь к анализу образцов, которые не могут быть размещены в спектрометре. Таким образом, данная система представляется идеальной для проведения простых определений на труднодоступных пробах. Оптический интерфейс направляет ИК-излучение из спектрометра в волокно оптического кабеля, по которому свет при полном многократном внутреннем отражении попадает к измерительной головке, имеющей контакт с образцом. По второму волокну ослабленный свет вновь направляется к интерфейсу и затем поступает на детектор.
Для жидких проб возможны измерения в технике пропускания и полного внутреннего отражения. Принцип действия головки для измерения пропускания основан на внешнем, направленном отражении. Свет через кварцевое либо сапфировое окно проникает в жидкую пробу, отражается зеркалом и вновь проходит через окно в оптоволоконный кабель. При этом толщину слоя, соответствующую двойному расстоянию между окном и зеркалом, можно варьировать, подгоняя к конкретному образцу.
Сопряжение со световодами представляет интерес прежде всего в области производственных анализов и контроля технологических процессов, для чего предлагаются специальные, особо надежные зонды с возможностью охлаждения. Применение подобной методики в средней ИК-области пока еще ограничено, так как обычные материалы для световодов не обладают достаточным пропусканием. Волокна из кварцевого стекла, по возможности свободного от гидроксильных групп, пригодны для использования только в УФ/видимой и ближней ИК-области спектра, то есть для волновых чисел от 4500 до 15 000 см-1 и выше. Фторид циркония (ZrF4) применим в диапазоне волновых чисел от 2200 до 10 000 см-1, то есть для области от ближней до средней ПК.
5.8. Фотоакустическая детектция
Главная проблема ИК-спектроскопии для большого числа твердых и пастообразных образцов заключается в том, что они непрозрачны и, следовательно, недоступны для измерения в проходящем свете. В качестве альтернативы предлагаются разные методы анализа в отраженном свете, но и они имеют свои недостатки. Направленное отражение требует наличия зеркально-гладких поверхностей, для регистрации спектра диффузного отражения пробу нередко приходится измельчать и разбавлять, используя КВг, а при методе НПВО надо заботиться о воспроизводимом оптическом контакте с поверхностью сенсорного кристалла.
Фотоакустическая спектроскопия предлагает простой и быстрый метод анализа для большей части названных категорий образцов [5.24]. Так, без всякой пробоподготовки и деструкции удается исследовать твердые и полутвердые образцы. Заменив измерительную ячейку, можно, в зависимости от вида пробы, проводить измерения поглощения, диффузного отражения или пропускания на порошках, пленках, таблетках, отдельных волокнах, а также на вязких и даже жидких пробах. Фотоакустика, которая часто называется оптоакустикой, представляет собой очень чувствительный метод, при котором дополнительно регулируется еще и глубина проникновения излучения в образец [5.25].
Фотоакустический эффект был открыт Александром Беллом в 1880 г. совершенно случайно. Это явление основано на том, что поглощение модулированного ИК-излучения вызывает периодическое нагревание образца. Это приводит к таким же периодическим изменениям температуры пробы и окружающего газа и тем самым к периодическим колебаниям давления, то есть к звуковым волнам. Белл использовал в качестве источника инфракрасного излучения солнечный свет, а в качестве детектора в его распоряжении было только человеческое ухо. Сегодня для приема звукового сигнала используются чувствительные микрофоны |5.26|.
Проба помещается в заполненную газом, герметичную измерительную ячейку для того, чтобы исключить влияние помех окружающей среды, например звуковых волн. Через прозрачное в ИК-диапазоне окно на образец направляется модулированное по интенсивности излучение из интерферометра (рис. 5.25). При этом некоторая часть излучения отражается прямо от поверхности, а другая проникает в образец с экспоненциально убывающей интенсивностью. Образец при этом нагревается в результате поглощения широкополосного инфракрасного излучения. Поглощенное тепло передается поверхности образца и в окружающую газовую атмосферу. С частотой модулированного ИК-излучения образуются волны давления в атмосфере газа, которые могут улавливаться микрофоном. Звуковой сигнал, имеющий привычную форму интерферограммы, предварительно усиливается, и, как стандартный детекторный сигнал в Фурье-спектрометре, обрабатывается дальше и пересчитывается на основе преобразования Фурье в спектр [5.27].
Герметичная газовая камера может быть заполнена воздухом. Более благоприятной в этой ситуации звукопроводящей средой является гелий, что позволяет получить лучшее отношение сигнал/шум. Регистрируемая область спектра ограничивается только материалом входного окна (обычно это КВг). Положение полос сравнимо со стандартными ИК-спектрами. Как и в случае метода НПВО, здесь тоже необходимо учитывать то обстоятельство, что глубина проникновения возрастает с уменьшением волнового числа.
Поскольку при фотоакустическом эффекте сигнал вызывается только поглощенной образцом энергией, то никаких нежелательных помех здесь не бывает либо они очень небольшие. Эффект Христиансена, то есть асимметричное смешение спектральных полос при анализе порошкообразных образцов в проходящем и отраженном свете, возникающее в результате большой разницы в показателях преломления КВr и пробы, в данном случае совсем не проявляется. При использовании фотоакустического детектора в качестве спектра фона используют спектр углеродного образца.
Интенсивность фотоакустического сигнала зависит как от оптических, так и от термических характеристик пробы. Интенсивность тепловых волн, генерируемых ИК-излучением в веществе, при прохождении через образец к его поверхности снижается. С учетом этого следует принимать во внимание наряду с коэффициентом оптического поглощения также и коэффициент теплопроводности образца. Не исключена ситуация, когда зона теплопроводности оказывается меньше глубины проникновения излучения. В этом случае исследуемый образец может обладать оптической прозрачностью, но измеряемая толщина слоя ограничена из-за малого коэффициента теплопроводности. Такая ситуация приводит к возникновению эффекта насыщения.
Так как эффективная теплопроводность образца есть функция частоты модуляции, то при изменении частоты модуляции путем варьирования скорости перемещения отражающего зеркала интерферометра можно проводить исследования на разной глубине проникновения излучения в пробу. Высокая частота модуляции обеспечивает малую глубину проникновения, и наоборот. Используя эту методику, можно, изменяя частоту модуляции, анализировать слоистые системы при соответствующем выборе глубины проникновения.
Несмотря на некоторые особые феномены, возникающие при фотоакустической детекции, этот метод можно считать элегантной альтернативой традиционным способам измерения. В этом случае удается получать спектры высокого качества, пригодные и для количественного анализа. Благодаря переменной глубине проникновения возможно селективное исследование разнообразных систем покрытий.
5.9. ИК-микроскопия
Инфракрасная спектроскопия уже по самой своей природе может быть отнесена к микроаналитическим методам. Для регистрации спектров твердых образцов с использованием прессования с бромидом калия достаточно, как известно, от 0,1 до 1 мг вещества. При этом диаметр светового пятна на поверхности пробы составляет обычно от 3 до 10 мм. Когда речь идет о том, чтобы отобрать и проанализировать очень небольшой дефектный фрагмент в некоторой партии продукции, могут возникнуть определенные проблемы. В этом случае необходимо использовать микроаналитические методы.
До недавнего времени микроаналитика в ИК-спектроскопии означала анализ образцов диаметром около 0,5 мм и в количестве микрограммов. Меньшие пробы, особенно если речь шла буквально о нескольких частицах, требовали большой подготовительной работы, затраты на которую в рутинной лабораторной практике просто не оправдывали себя. Сначала образец надо было отобрать под микроскопом и зафиксировать на материале, прозрачном для ИК-излучения. Юстировка интересующей области в канале спектрометра с помощью металлических полосок либо диафрагм была порой чрезвычайно затруднительна. Результатом подобных манипуляций были неправильные измерения и ошибочная интерпретация спектров.
Использование специальных фокусирующих устройств не привело к успеху, поскольку время собственно регистрации спектра на современном Фурье-спектрометре составляло лишь малую часть всех временных затрат на пробоподготовку. Кроме того, с обычными фокусирующими устройствами были возможны только измерения в проходящем свете, в то время как многие возникающие проблемы надо было решать с использованием отражения без контакта с образцом.
С появлением инфракрасного микроскопа трудности, связанные с подготовкой образцов и прочими предварительными операциями, удалось преодолеть. Первый ИК-микроскоп появился на рынке уже в 1953 г., но для призменного монохроматора отношение сигнал/шум оставляло желать лучшего. Первый микроскоп, оснащенный высокопрецизионным зеркальным объективом и пригодный как для видимого, так и для инфракрасного света, успешно использовался для спектроскопических исследований в 60-е годы. Однако имевшиеся тогда в распоряжении исследователей призменные и дифракционные монохроматоры были малоэффективны. Это не позволяло в полной мере раскрыть все возможности ИК- микроскопии.
Современные Фурье-спектрометры, благодаря высокому разрешению, большой светосиле и возможности цифровой обработки спектров, значительно повышают чувствительность определения. Поэтому мощный рывок в развитии ИК- микроскопии удалось сделать только в сочетании с Фурье-приборами [5.28]. Первый коммерческий инфракрасный Фурье-микроскоп появился на рынке лишь в 1983 г. [5.29].
Данная методика является определенным шагом вперед не только в плане юстировки образцов и регистрации спектров, но и в процессе пробоподготовки. Стали возможны измерения как в проходящем, так и отраженном свете. Размеры образца менее 10 мкм в диаметре уже не являются проблемой. Фактически размер пробы ограничен только дифракцией используемого инфракрасного излучения в интервале длин волн от 2 до 17 мкм.
Разумеется, процесс подготовки именно микропроб требует особой тщательности. Обработка каждой отдельной частицы может занять иногда несколько часов. При этом в большинстве случаев исследователь отказывается от техники микропрессования и размещает частицу прямо на прозрачной для ИК-излучения подложке, прижимая ее, например, к только что расщепленному кристаллу бромида калия.
5.9.1. Техника и методика ИК-микроскопии
Оптическая система инфракрасного микроскопа представляет собой результат разработок совершенно особого направления. При этом были решены две основные сложные проблемы: поглощение инфракрасного излучения линзами, с одной стороны, и чувствительность прозрачных в ИК-диапазоне материалов к влажности, с другой стороны. Поскольку стекло полностью поглощает ИК-излучение, то классическая линзовая система светового микроскопа здесь неприменима. В данном случае нельзя использовать и прозрачные для ИК-излучения материалы из-за их гигроскопичности, энергетических потерь в результате отражения и чувствительности к механическим воздействиям. Поэтому для ИК-микроскопии пришлось создавать абсолютно новые оптические системы, прозрачные как для инфракрасных лучей, так и для видимого света [5.31].
Работа ИК-микроскопа, соединенного с Фурье-спектрометром, сравнима с работой на обычном световом микроскопе. Интересующий участок образца наблюдается через бинокуляр и центрируется на предметном столике. При выдвижении бинокуляра происходит переключение в режим инфракрасного излучения и регистрация спектра поверхности пробы (рис. 5.26). Так как и инфракрасное излучение, и используемый для наблюдения свет проходят через одну и ту же зеркальную оптическую систему, то визуально установленный участок образца совпадает с тем, который анализируется в инфракрасном свете.
Поскольку ИК-микроскоп может использоваться как для измерения в проходящем свете, так и для измерения в отраженном свете, то и освещение образца осуществляется либо снизу, либо сбоку. Микроскопическое спектральное измерение почти идентично стандартному макроскопическому с оценкой результатов теми же общепринятыми способами. При использовании X-Z-координатного столика могут проводиться исследования по распределению примесей на крупногабаритных образцах.
5.9.2. Образцы для И К-микроскопии
С помощью ИК-микроскопической системы можно анализировать в первую очередь небольшие объекты. Образец крепится на поворотном держателе, причем освещение осуществляется автоматически в проходящем либо отраженном свете. И К-излучение проходит через образец (пропускание) или отражается от его поверхности (отражение). Результирующий луч регистрируется высокочувствительным детектором. Пользуясь переменными апертурами круглой или квадратной формы, можно соответствующим образом выделять пространство образца, минимальный диаметр которого составляет около 10 мкм.
Методом ИК-микроанализа исследуются в основном четыре типа проб:
Высокая чувствительность при обнаружении следов и неоднородных включений на гладких поверхностях достигается благодаря использованию компьютерной техники (с накоплением и сохранением спектров). Очень легко исследуются слоистые полимеры: для этого достаточно с помощью микротома отрезать тонкую полоску от края ламината и разместить ее на окне из КВг. После этого под микроскопом регистрируются И К-спектры каждого отдельного слоя.
ИК-микроскопия весьма удобна и для идентификации в пластмассах некоторых неоднородных вкраплений, именуемых на обиходном языке «подливками», «рыбьими глазами», «веснушками» и т.д. Эта проблема играет важную роль при контроле качества и обработке рекламаций. Часто образцы бывают непрозрачны и тогда на помощь приходит режим отражения ИК-микроскопа. Результирующие спектры отражения отличаются асимметричными полосами, напоминающими первую производную спектра поглощения. Такие искажения можно скорректировать, используя преобразование Крамерса — Кронига.
Все образцы, которые можно изучать в проходящем свете и поверхности которых дают достаточное отражение, пригодны для исследований методом ИК-микроскопии. Возможны, например, определения свойств и идентификация включений в полимерных пленках, текстильных волокнах и многослойных материалах. Области применения ИК-микроанализа многочисленны и разнообразны [5.32]. Этот способ используют и в научных исследованиях разного рода, при качественных анализах, аналитическом изучении объектов окружающей среды, в криминалистической аналитике, для проверок на чистоту, в сфере производства полупроводников, при аналитических определениях в полимерах, искусственных и натуральных волокнах и т.д. ИК-микроскопия открывает все новые области применения в стандартной аналитике, в сфере контроля изделий и технологий, а также новых разработок во многих отраслях. Перечень возможных областей применения этого метода чрезвычайно обширен и продолжает постоянно пополняться [5.33].
5.10. Совместное применение аналитических методов
Границы между отдельными аналитическими методами все больше стираются, особенно в результате комбинирования разных инструментальных приемов. Например, именно благодаря разнообразным вариантам сочетания с хроматографическими способами разделения спектрометрическая техника отлично зарекомендовала себя в роли универсального детектора при анализе отдельных веществ в смеси органических соединений. Особо следует упомянуть соединение газовой хроматографии с Фурье-спектроскопией. Этот пример отчетливо показывает, сколь весомый вклад внесла электронная обработка данных в дело развития и совершенствования инструментальной аналитики. Многие известные технические решения были бы немыслимы без фантастических возможностей современной электроники.
5.10.1. Сочетание газовой хроматографии и ИК Фурье-спектроскопии
Сила инфракрасной спектроскопии в том, что она очень характеристична для относительно чистых веществ и дает представление об их химическом строении. Высокая информативность ИК-спектров уже давно используется при сочетании данного метода с газовой хроматографией. Но сопряжение в режиме реального времени, то есть когда регистрация спектров веществ происходит в протекающем колоночном элюате, стало возможно только при быстродействии Фурье-спектрометров. Недостатком является лишь то, что предел обнаружения не достигает уровня квадрупольной масс-спектрометрии. Поэтому сочетание газовой хроматографии с масс-спектроскопией и впредь будет играть ведущую роль при реализации методов, сопряженных с газовой хроматографией.
Поскольку при газовой хроматографии перемещение вещества через хроматографическую колонку осуществляется только в газообразной фазе, то для достижения соответствующего давления пара для твердых или жидких веществ эту колонку приходится нагревать. При использовании так называемой «световой трубки» (light-pipe) по схеме, представленной на рис. 5.27, вещества из колонки газового хроматографа направляются затем по нагретой золоченой трубке, через которую проходит также инфракрасное излучение [5.34]. В результате регистрируются спектры газообразной фазы чаще всего жидких или твердых в основном агрегатном состоянии проб. Это необходимо учитывать при последующей интерпретации спектров, поскольку спектры газообразной фазы могут отличаться от спектров жидкости или твердого вещества.
При более трудоемкой технике вымораживания элюатов вещества, выходящие из хроматографической колонки, подвергаются вымораживанию на пластинке, охлажденной жидким азотом. Затем осуществляется регистрация спектра с поверхности пластинки. В результате накопления спектров при таком способе достигается гораздо лучшее отношение сигнал/шум. Кроме того, при комнатной температуре вещества находятся в соответствующем агрегатном состоянии, что значительно упрощает процесс поиска спектров в библиотеке.
ИК-спектроскопия отлично подходит для подтверждения структуры отдельных классов веществ, не поддающихся однозначной идентификации с помощью масс-спектрометрии. Этот метод дает важнейшую дополнительную информацию о молекулах с небольшим числом атомов углерода, для которых фрагментация в масс-спектре мало характеристична, или о более крупных молекулах с очень похожими фрагментами, как, например, у изомеров. Особый интерес представляет одновременное сочетание масс-спектрометрии и Фурье-спектроскопии с газовой хроматографией. Так как при измерениях инфракрасным методом вещества не разрушаются, их можно затем потоком направлять к квадрупольному масс-спектрометру. Это дает максимальный объем аналитической информации и, безусловно, будет иметь в будущем огромное значение в области исследования объектов окружающей среды.
5.10.2. Сочетание термогравиметрического анализа с Фурье-спектроскопией
Термогравиметрический анализ (ТГА) относится к давно известным аналитическим методам и используется преимущественно для исследований полимерных материалов [5.35]. Согласно этой методике образец весом от 10 до 20 мг определенным образом нагревается на весах в среде инертного газа. В процессе нагрева регистрируется вес и температура образца. Прежде чем проба достигнет своей собственной температуры разложения, легколетучие компоненты (например, пластификаторы и остатки растворителей) могут улетучиться. Полученный при этом график потери веса при изменении температуры и времени эксперимента является характеристикой данного материала и в случае известных компонентов дает количественную информацию о пластификаторах и прочих присадках в пластмассах и резине [5.36].
Если же освобождающиеся при термообработке вещества неизвестны, то ИК- спектроскопия берет на себя задачу идентификации всех улетучивающихся компонентов в режиме он-лайн. Помимо этого, во время разложения пробы образуется большой объем разных продуктов в форме газа или аэрозоля, инфракрасные спектры которых позволяют получить в дальнейшем информацию о составе пробы [5.37].
Высвобождающиеся на термовесах газы переносятся инертным газом в нагретую газовую ячейку со скоростью от 50 до 100 мл в минуту. Соответствующий передающий трубопровод обычно тоже нагревается и дополнительно еще облицовывается тефлоном во избежание конденсации и каталитического разложения либо поглощения компонентов (рис. 5.28). Для предотвращения вредного воздействия водяного пара окна газовой кюветы чаще всего выполняются из ZnSe.
Вместе с запуском температурной программы в системе термогравиметрического анализа начинается регистрация спектров, осуществляемая каждые 3—5 секунд. Как и в случае сочетания газовой хроматографии с Фурье-спектроскопией, здесь тоже получают газовые спектры, но при этом газовая ячейка в связи с иным объемным расходом имеет другие размеры. При подключении соответствующей ЭВМ на экран дисплея будут одновременно выводиться инфракрасные спектры и данные термогравиметрического анализа (время, температура, потеря веса). При этом в случае термогравиметрического измерения, как правило, рассчитывается дифференцированный измеряемый сигнал, то есть формируется первая производная от изменения веса по времени. Этот сигнал термогравиметрического измерения обладает обычно большей информативностью, чем кривая «температура — вес».
Но нередко бывает так, что выпариваются не чистые вещества, а смесь продуктов, например при анализе полимеров образуются смеси разных углеводородов и других органических соединений. Такие газовые смеси иногда удается разложить на отдельные компоненты расчетным методом по разности. Для получения точной информации о том, через какое время и при какой температуре выделяется определенное соединение, необходимо использовать разделение смеси методом газовой хроматографии. С этой целью испаряющиеся из образца газы адсорбируются активным углем и затем после термической десорбции разделяются на хроматографе и идентифицируются с помощью Фурье-спектрометра. На основе полученных таким образом данных составляются очень точные термограммы.
В качества примера использования термогравиметрического анализа в сочетании с ИК-спектроскопией можно назвать исследование полимеров и ламинатов, горючих веществ, неорганических солей, жиров и смазочных материалов, табака, пищевых продуктов и проч. Как и в отношении других комплексных методик, здесь также справедливо утверждение о том, что в аналитическом смысле подобное сочетание дает много больше, чем простое сопоставление результатов отдельных методов. Впрочем, не следует упускать из виду, что и при использовании ТГА в сочетании с ИК-спектроскопией часто происходит выделение из образца не чистых веществ, а, как в случае полимеров, смеси разных углеводородов и других органических соединений.
5.11. Применение ЭВМ в ИК-спектроскопии
Все Фурье-спектрометры должны располагать высокопроизводительной ЭВМ для выполнения Фурье-преобразования, причем спектр в этом случае переводится в цифровую форму. Прямым следствием использования электронной обработки данных стала возможность временного сохранения спектров в оперативной памяти (ОЗУ) компьютера или их долгосрочное хранение на магнитном носителе. При хранении преобразованных в цифровую форму спектров необходимо исключить всякую вероятность потери информации. Это приобретает особую важность в критических случаях, например при использовании дифференциальной спектроскопии. Поэтому в качестве стандарта для хранения спектров рекомендуется шаг по волновому числу в 1 см-1.
Наряду с сохранением и воспроизведением спектров, важной задачей электронной обработки данных является также улучшение их качества. Добиться этого можно путем повышения отношения сигнал/шум либо применения ряда математических функций (растяжение, сглаживание, коррекция базовой линии) при обработке спектра. Отношение сигнал/шум в ИК-спектроскопии в силу естественных причин значительно ниже, чем при других спектроскопических методах. Уменьшение шума требует особого внимания. Улучшения здесь можно добиться путем повторной регистрации и суммирования спектров с последующим формированием среднего значения (усредненного сигнала).
Часто искажения в ИК-спектрах возникают в результате наложения фонового поглощения. Обычно это можно скорректировать математическим способом, используя две или несколько опорных точек и вычитая затем фон из исходного спектра. Такая компьютерная коррекция базовой линии способствует увеличению информативности спектра.
Таким образом, ЭВМ может существенно улучшить качество эксперимента и наглядность представления ИК-спектров. И после этого начинается решение собственно аналитической задачи, касающейся, например, подлинности продукта. Как раз в этой области на основе накопленного опыта по разработке подходящего программного обеспечения удалось добиться решительного прогресса. В первую очередь наличие высокопроизводительных и удобных в обращении программ сделало настольные ПК незаменимым инструментом в ИК-спектроскопии [5.38].
Ранее идентификацию неизвестных образцов приходилось проводить либо на основе визуального сравнения их спектров с инфракрасными спектрами хорошо изученных веществ (вспомним «область отпечатков пальцев»), либо путем интерпретации ИК-спектра по известным корреляционным правилам или таблицам. Но и то и другое, если это делать вручную, требует больших затрат времени. Компьютер же способен в течение нескольких секунд сравнить спектр незнакомого образца с И К-спектрами из библиотеки, записанной на дискете или жестком диске. Но при этом всегда приходится искать компромисс между успехом поиска, необходимым для этой цели объемом сохраненной информации, требуемым местом в памяти и скоростью проведения поиска [5.39].
В результате библиотечного поиска получают список веществ, имеющих близкие спектры, то есть отбираются спектры с самой малой суммой отклонений от исходного. Если спектр незнакомой пробы содержится в библиотеке, то он отличается от других найденных спектров меньшей суммой погрешностей. После распечатки списка совпадений спектры с самыми низкими суммами погрешностей загружаются из библиотеки в компьютер и для сравнения с исходным спектром все вместе отображаются на экране дисплея либо выводятся на графопостроитель. В результате можно однозначно установить, идет ли речь об идентичном или только о похожем спектре. Если спектр неизвестного образца отсутствует в библиотеке, то находят ближайший к нему, то есть получают в большинстве случаев ссылку на класс соединения. В случае же смесей, как правило, находят их основные компоненты по сходству с библиотечными спектрами. Тогда из спектра смеси вычитают найденный в библиотеке спектр и получают спектр остаточного вещества, в отношении которого вновь можно провести библиотечный поиск.
Перед началом спектрального поиска можно ввести дополнительные сведения: температуры плавления и кипения, показатель преломления и плотность. Это позволяет целесообразно использовать уже известную информацию и повысить шансы на успех поиска. Распечатка списка совпадений, помимо названия соответствующего соединения, содержит также приведенные выше физические параметры.
Кроме этого, предлагаются программы автоматической интерпретации спектров. Эти программы составляют список частот полос поглощения, который пользователь может отредактировать (например, чтобы исключить частоты поглощения растворителей). На основе этих данных затем проводится собственно интерпретация спектров. В результате выдается распечатка, в которой указана вероятность присутствия определенной функциональной группы.
5.12. Резюме и перспективы развития ИК-спектроскопии
Высокая информативность инфракрасных спектров и их разнообразие уже давно сделали ИК-спектроскопию одним из важнейших методов анализа. При этом образцы могут исследоваться в их естественном окружении при всех возможных физических условиях. Несмотря на появление множества новых измерительноаналитических приборов, ИК-спектрометры, как и прежде, остаются основным элементом оснащения химико-аналитической лаборатории. Современные ИК-спектрометры стали компактнее, надежнее и одновременно эффективнее. Интенсивно ведется работа по созданию ИК-спектрометра карманного формата. Разработки в этом направлении могут обогатить сенсорную технику анализа in situ, преобладающую пока только в электрохимии.
Наблюдаемые полосы поглощения в инфракрасной области спектра содержат преимущественно информацию о внутренних движениях молекул, то есть колебаниях и вращениях. Почти каждое химическое соединение имеет свой собственный спектр, который невозможно перепутать ни с каким другим, так что вещества можно идентифицировать по «отпечаткам пальцев». Одновременно химически и структурно близкие соединения имеют много похожих и общих признаков в ИК-спектре, поэтому незнакомые соединения можно определять по аналогичным спектрам известных веществ. Наряду с качественным анализом, ИК- спектроскопия при соответствующей калибровке вполне подходит и для проведения количественных измерений.
Благодаря использованию техники на основе преобразования Фурье удалось значительно расширить информационные возможности спектров. В результате достижения на порядок лучших пределов обнаружения и высокой скорости регистрации в сочетании с использованием ПК были открыты новые области применения ИК-спектроскопии, которые до сих пор были абсолютно недоступны традиционным дисперсным системам.
Цены на Фурье-спектрометры укладываются сегодня в категорию цен, принятых еще несколько лет назад для продвинутых моделей дифракционных спектральных приборов. В результате, благодаря решающему преимуществу мультиплексности и постоянно растущему удобству обслуживания, Фурье-спектрометры сумели полностью вытеснить с рынка столь популярные в былые времена дифракционные приборы.
Применяемый в этих приборах двухплечевой интерферометр на основе разности оптического пути двух широкополосных, направленных перпендикулярно друг к другу инфракрасных лучей генерирует И К-сигнал с модулированной интенсивностью — интерферограмму. Эта регистрируемая детектором интерферограмма является функцией подвижного зеркала и, следовательно, пропорциональна времени. С помощью аналого-цифрового преобразователя такой сигнал преобразуется в цифровую форму, после чего вновь переводится компьютером в зависимую от частоты функцию интенсивности излучения.
Основные достоинства методики на основе преобразования Фурье состоят в том, что, во-первых, все длины волн регистрируются детектором одновременно (преимущество мультиплексности) и, во-вторых, световой поток не ограничен узкой щелью (преимущество в светосиле). Благодаря использованию необходимого для Фурье-преобразований компьютера, который переводит спектр в цифровую форму, открывается масса новых возможностей применения современных систем электронной обработки данных. В результате накопления и сохранения спектров удается даже в самых неблагоприятных условиях получить отличные спектры большой информативности.
Развитие И К Фурье-спектроскопии открыло перед химиками-исследователями абсолютно новые области применения. На основе сравнения эталонных спектров из цифровой библиотеки со спектром неизвестного образца можно определить его состав или подобрать самые близкие к нему аналоги. При недеструктивной идентификации веществ путем сравнения их спектров инфракрасная спектроскопия как универсальный метод не имеет себе равных, поскольку может быть использована независимо от агрегатного состояния и растворимости исследуемого соединения. Объем предлагаемых на коммерческой основе библиотек спектров постоянно растет.
В смесях отдельные компоненты последовательно удаляются из записанного суммарного спектра в результате математического вычитания. При достаточной прозрачности матрицы удается определять даже следовые количества компонентов на уровне ppm. С помощью инфракрасного Фурье-микроскопа можно зарегистрировать спектры частиц диаметром менее 10 мкм, даже если их абсолютное количество не превышает уровня нанограммов. При этом, как правило, используется только малая часть мощности излучения, обычно проходящего через стандартное пространство размещения образца.
Столь же энергетически ограниченными являются и разные способы измерений в отраженном свете, такие как методы диффузного и зеркального отражения и полного внутреннего отражений. В сфере аналитических исследований производственных процессов и технологий эти методы переживают сегодня многообещающий взлет, так как являются универсальным средством качественного и количественного анализа любых видов основных и побочных компонентов в жидких и порошкообразных материалах.
ГЛАВА 6. СПЕКТРОСКОПИЯ В БЛИЖНЕЙ ИК-ОБЛАСТИ
Спектральный диапазон, расположенный между участками ультрафиолетового/видимого и инфракрасного излучения, называют ближней инфракрасной областью. Под ИК-спектроскопией понимают обычно область спектра от 2500 до 25000 нм (от 4000 до 400 см-1), которую точнее можно обозначить как среднюю инфракрасную область. Длины волн ближней ИК-области начинаются примерно от 1000 нм, то есть в тепловом конце видимого спектра, и заканчиваются около 2500 нм. Спектроскопия ближнего ИК-диапазона переживает сейчас настоящий бум, демонстрируя рост до 15% в год. В 1988 г. в Германии была создана даже специальная рабочая группа по вопросам спектроскопии в ближней инфракрасной области. Причиной столь бурного развития стал тот факт, что этот метод позволяет проводить локальный анализ непосредственно на месте, что, по новому действующему законодательству, является обязательным условием при контроле качества в химической и фармацевтической промышленности.
Основными преимуществами спектроскопии в ближней ИК-области являются простая и быстрая пробоподготовка, одновременное определение сразу нескольких компонентов и возможность с помощью световодов преодолевать большие расстояния от мест измерения до спектрального прибора. В ближней ИК-области вполне можно обойтись без прессования порошкообразных проб с КВг, необходимого при измерениях в среднем ИК-диапазоне, которое совершенно неприемлемо при проведении анализов in situ. Прежде всего, спектроскопия ближнего ИК-диапазона находит применение в области контроля параметров процессов и анализов в пищевой промышленности, которые проводятся в течение нескольких секунд и без разрушения проб продуктов [6.1].
6.1. Различия в спектроскопии ближней и средней ИК-области
В спектре ближней ИК-области электронные возбуждения удается наблюдать лишь в некоторых особых случаях. Так как возбуждение основных молекулярных колебаний возможно только выше 2700 нм, то в ближнем ИК-диапазоне проявляются вторичные колебания. Для большинства органических функциональных групп полосы основных колебаний наблюдаются в средней ИК-области, а в ближней мы имеем дело преимущественно с обертонами и составными частотами колебаний СН-, ОН- и NH-групп. Таким образом, теоретические основы метода вполне соответствуют общим принципам ИК-спектроскопии. Что же касается используемой приборной техники и процессов приготовления образцов, то в этом отношении существует большее сходство как раз со спектроскопией УФ и видимой областей.
Часто составные частоты и обертона появляются еще и в средней И К-области, но там их можно лишь с трудом отличить от слабых полос основных колебаний. А в ближней области наблюдаются исключительно составные полосы и обертона. Здесь проявляются частоты более высокого порядка валентных колебаний СН-, ОН- и NH-групп, соответствующие основные спектральные полосы которых лежат в диапазоне от 2800 до 3500 см-1. В связи с этим растворителями, достаточно прозрачным в ближней ИК-области, могут быть в основном соединения, не содержащие водорода, например ССl4.
Обертон колебания возникает при переходе молекулы из основного колебательного состояния на второй или вышележащий колебательный уровень. Следовательно, колебательное квантовое число ν будет иметь значение 2 или больше. Вероятность таких переходов зависит от их мультиплетности. Бинарная комбинация или первый обертон с Δν = 2 менее вероятны, чем основное колебание, но в большей степени вероятны, чем соответствующие третичные переходы с Δν = 3. В соответствии с этим коэффициенты экстинкции и, следовательно, интенсивности поглощения в спектроскопии ближней ИК-области на порядки меньше, чем в средней. Кроме того, спектр в ближней области всегда характеризуется убывающей интенсивностью спектральных полос с ростом волнового числа, так как здесь наблюдаются колебательные переходы более высокой мультиплетности, а вероятности этих переходов уменьшаются.
На практике это компенсируется за счет изменения толщины слоя кюветы в соответствии с диапазоном измерения, то есть с возрастанием волнового числа используются кюветы большей толщины [6.2]. Ближняя ИК-область, в свою очередь, подразделяется на длинноволновый и коротковолновый участки. Коротковолновая часть называется фотографической ИК-зоной.
В качестве примера в табл. 6.1 представлены обертона валентного колебания связи СН хлороформа.
Колебательный переход |
Положение полосы поглощения |
Коэффициент экстинкции, см-2·моль-1 |
|
|---|---|---|---|
нм |
см-1 |
||
Основное колебание |
3 290 |
3 040 |
25 000 |
1) обертон |
1 693 |
5 907 |
1 620 |
2) обертон |
1 154 |
8 666 |
48 |
3) обертон |
882 |
11 338 |
1,7 |
4) обертон |
724 |
13 831 |
0,15 |
Итак, вероятность перехода для первого обертона в 10-100 раз меньше, чем у основного колебания, что соответствует меньшей интенсивности полос спектра поглощения. Из таблицы видно, что рассчитать примерное положение полос обертонов можно путем простого сложения соответствующих волновых чисел. Правда, эта частота будет в незначительной степени уменьшаться из-за влияния ангармоничности. Для расчета положения полос обертонов справедливо следующее уравнение:
|
где
— частота основного колебания,
- частота обертона, χ -
коэффициент ангармоничности.
Величина коэффициента ангармоничности для валентных колебаний СН находится в диапазоне от 0,01 до 0,05.
6.2. Спектрометр для ближней ИК-области
Известное сходство в техническом исполнении спектральных приборов для УФ/видимой и ближней ИК-областей позволяет использовать комбинированный вариант спектрометра для УФ/видимого и ближнего ИК-диапазонов. Источником излучения служит обычно галогенная лампа с вольфрамовой нитью. В роли монохроматора, в зависимости от назначения, используют светофильтры или дифракционные решетки. В отношении спектрометров с диодной матрицей необходимо иметь в виду, что обычные кремниевые диоды могут использоваться только до длины волны 1100 нм. Специальные диоды на основе арсенидов индия-галлия пригодны для длин волн до 1650 нм. Для регистрации излучения в ближнем ИК- диапазоне применяют детектор из сульфида свинца, покрывающий всю ближнюю ИК-область спектра.
Фурье-спектрометры можно легко адаптировать для работы в ближней ИК-области с помощью соответствующих дополнений. При переоснащении в качестве источника излучения требуется галогенная лампа с вольфрамовой нитью, светоделитель из кварца и подходящий детектор. Разрешающая способность интерферометра в этом случае особой роли не играет, поскольку полосы поглощения твердых и жидких проб в ближней ИК-области спектра значительно шире, чем в средней.
Для измерения диффузного отражения укоренилось понятие «отражательная спектроскопия ближней ИК-области». При измерении отраженного света используется интегрирующая сфера (сфера Ульбрихта), позолоченная изнутри и служащая также в качестве образца сравнения (рис. 6.1). Принцип интегрирующей сферы известен уже более 100 лет, но особенно широкое распространение он получил только лет 30 назад с началом разработки стойких покрытий. Сферы Ульбрихта используются для измерения характеристик диффузного отражения и пропускания. Они могут быть покрыты также сульфатом бария, который обладает однородным отражением в диапазоне от УФ до ближней ИК. Один или несколько детекторов располагаются внутри сферы для регистрации рассеяния.
6.3. Практическое применение спектроскопии в ближней ИК-области
В ближней ИК-области спектра нет достаточно благоприятных условий для определения строения вещества на основе характеристических полос. Число возможных полос здесь очень велико, причем они сильно перекрывают друг друга. Кроме того, и коэффициенты экстинкции, как правило, сильно изменяются, иногда на несколько порядков. По этой причине оказались безуспешными попытки составить корреляционные таблицы для интерпретации спектров применительно к ближней ИК-области, как это принято для среднего диапазона. Но бывают ситуации, когда незначительные структурные различия в соединениях удается определять в ближней ИК-области лучше, чем в средней. К ним можно отнести, например, идентификацию первичных и вторичных спиртовых групп [6.3].
Первоначально спектроскопия в ближней ИК-области наиболее широко применялась в пищевой промышленности, так как многие вещества, входящие в состав зернового сырья, поглощают именно в этой области. К ним относятся протеины, жиры и масла, сахар, крахмал и вода. Поскольку возбуждаются колебания молекулярных фрагментов —ОН, —NH, —СН и —СО, которые обычно присутствуют в ингредиентах продуктов питания, то именно они особенно хорошо регистрируются в спектрах ближней ИК-области. После размалывания образца какого- либо продукта эти вещества определяются без всякого применения химических реактивов. Одновременное определение нескольких компонентов осуществляется с использованием градуировки по контрольным смесям известного состава. Наряду с количественным анализом, регистрация спектра в ближней ИК-области используется в качестве быстрого метода проверки на идентичность при входном контроле продукции [6.4].
Благодаря многообразным преимуществам описанного метода, его значение в химической промышленности постоянно растет [6.5]. Спектроскопия ближней ИК-области как экспрессный способ анализа используется также и при контроле качества мясной продукции. Если при ведомственных проверках чаще прибегают к затратным по времени «мокрым» химическим способам анализа, то спектроскопия ближней ИК-области используется в качестве удобного скрининг-метода [6.6]. Впрочем, в силу действующего законодательства она не может заменить собой утвержденные способы исследования и оценки продуктов питания [6.7].
Многокомпонентные анализы основываются на выделении спектральных полос отдельных веществ с помощью компьютерной обработки. Соответствующая программа устанавливает для каждого отдельного компонента самую оптимальную для него длину волны. По измеренной оптической плотности образцов вычисляются коэффициенты пропорциональности, обычно методом линейной регрессии. После выполненной градуировки можно проводить количественный анализ даже очень сложных смесей, независимо от числа их компонентов. Чрезвычайно простая пробоподготовка и короткое время вычисления позволяют в течение нескольких минут получить результаты количественного анализа, в то время как традиционный анализ занял бы от нескольких часов до нескольких дней. Однако для определения следовых количеств вещества такой способ не годится.
Благодаря малым интенсивностям полос поглощения в ближней ИК-области спектра можно работать с гораздо большей, чем в средней ИК, толщиной слоя. Это обстоятельство серьезно упрощает процесс анализа. Типичная толщина слоя составляет 1-2 мм для неразбавленных веществ и до 10 см для растворов.
Существенным преимуществом спектроскопии в ближней И К-области является возможность использовать стекло или кварц в качестве материалов для окон, которые в этой области должны быть прозрачны. Они гораздо устойчивее по отношению к воде и другим агрессивным химическим веществам, чем необходимые для средней ИК-области материалы, например КВг. Специальное кварцевое стекло для спектроскопии ближней ИК-области пропускает не менее 80% излучения в интервале длин волн от 200 до примерно 3500 нм и не имеет полос, связанных с поглощением ОН-групп. Для измерений при длинах волн более 4000 нм применяют окна из прозрачных для ИК-излучения кристаллов — окиси алюминия и фтористого кальция.
При использовании кварца значительно упрощается работа со световодами, в то время как в средней ИК-области внедрение световодов, с учетом используемых при этом материалов, еще очень ограничено. Поскольку кварц и стекло минимально ослабляют излучение в ближней ИК-области, можно протягивать световоды на расстояния до 200 метров. Специальные зонды обеспечивают при этом измерения вдалеке от кюветного отделения спектрометра, что позволяет осуществлять контроль процессов без отбора проб. Таким способом можно следить за ходом реакций в химическом реакторе без задержек по времени [6.8].
Для количественного анализа в ближней ИК-области можно с успехом использовать метод диффузного отражения, поскольку у длинноволнового излучения потери света в световодах минимальны. Измерения в порошкообразных образцах проводят с помощью специального зонда. Свет от спектрометра по световым волокнам подается в пробу, а отраженный свет возвращается к детектору. Такой метод применяют, например, для обеспечения качества мучных продуктов [6.9]. При размоле муки определенные порции пшеницы с разным содержанием белка смешиваются для получения желаемого состава. При 2180 нм находится полоса поглощения N-H-связи протеина. Содержание белка можно определить по отношению интенсивности отражения на этой длине волны к интенсивности исходного излучения. Выбор аналитической длины волны осуществляется с помощью узкополосных интерференционных светофильтров, смонтированных на вращающемся диске. Относительное измерение интенсивности поглощения исключает влияние колебаний интенсивности источника инфракрасного света на измерение. Определяемое содержание белка передается на автоматический регулятор, который и управляет процессом смешивания муки.
6.3.1. Определение влагосодержания
Самая распространенная и самая давняя сфера применения спектроскопии ближней ИК-области — это измерение содержания влаги в продуктах. Определение влажности, например пищевых продуктов, относится к тем регулярным анализам, проведение которых обусловлено технологическими, микробиологическими, экономическими и даже юридическими причинами [6.10]. Наряду с классическими термическими и химическими методами, основанными на сушке образцов в сушильном шкафу, ИК-излучением или микроволновым способом, атакже на титровании по методу Карла Фишера [6.11], спектроскопия ближней ИК-области представляет собой быстрый и недеструктивный путь определения влагосодержания, пригодный для использования как в жидких, так и в твердых веществах [6.12]. Преимущество такого метода заключается в возможности измерений в режиме реального времени (Online) и непосредственно в потоке продуктов (Inline). Для этой цели устанавливают специальные, функционирующие по принципу он-лайн измерительные головки с защитой от пыли и брызг воды [6.13].
Кроме основного обертона гидроксильной группы при 2700 нм, в ближней ИК-области спектра наблюдаются и разного рода составные колебания. Целый ряд комбинированных полос воды простирается вплоть до видимой спектральной области. Поскольку переходы с более высокой мультиплетностью обладают меньшей вероятностью возбуждения, то красное излучение поглощается сильнее, чем голубое или синее. Поэтому вода имеет в толстых слоях сине-зеленый цвет.
При возникновении водородных связей полосы спектра поглощения становятся очень широкими. В зависимости от матрицы возможны сдвиги в положении спектральных полос и изменения их интенсивности. Вода очень сильно поглощает при 1935 нм, в то время как при 1680 нм поглощение совсем невелико (рис. 6.2). Если провести измерение относительного поглощения в этих точках, то можно сделать прямой вывод о состоянии влажности продукта.
Определение содержания влаги можно осуществлять в жидких и твердых веществах. В жидкости проводится измерение в проходящем свете, в твердых веществах — в диффузном отражении. На рис. 6.3 представлены спектры безводного и насыщенного водой 1,2-дихлорэтана в ближней ИК-области. В зависимости от ожидаемого диапазона концентрации, для измерения можно использовать разные полосы спектра поглощения воды. Так, полосы поглощения при 1400 нм подходят для определения процентного содержания влаги, полосы при 1935 нм - для измерения в диапазоне промилле, а полосы при 2700 нм — для анализа в области ppm.
6.3.2. Использование спектроскопии ближней ИК-области при вторичной переработке пластмасс
Поданным фирмы Duales System Deutschland GmbH, в 1993 г. было израсходовано почти 900 000 тонн упаковочного материала из пластмассы. Возможность вторичного использования этих материалов представляется наилучшим способом удержания столь устрашающей горы мусора в приемлемых границах. Из несортовой пластмассы можно, конечно, с помощью дорогостоящей гидрогенизации вновь получать олигомерное сырье. Однако более благоприятную альтернативу такой утилизации представляет вторичная переработка материалов. Обязательным условием регенерации высококачественных пластмасс является их четкое разделение по сортам. В современных условиях разделение осуществляется вручную, частью иногда полуавтоматически. Требуемой чистоты сорта при таком способе обеспечить не удается.
С помощью спектроскопии в ближней ИК-области можно идентифицировать разные виды пластмасс. В непрерывном режиме свет, отраженный от пластиковых изделий, анализируется спектрометром на диодной матрице с расшифровкой результата в течение нескольких миллисекунд. Так как инфракрасное излучение проникает в материал пробы на определенную глубину, то посторонние вещества вроде наклеек или простой грязи не мешают процессу измерения. Благодаря этому даже комбинированные материалы (например, картонные упаковки для напитков) удается четко отличать от прочих пластиков. Подобный анализ проводится бесконтактно, на расстоянии до 1 метра, принимая во внимание разные способы транспортировки и различные размеры и формы пластиковых деталей.
Разработка полностью автоматической сортировальной установки была реализована под эгидой Европейского союза и предлагается под названием «Post Consumer Plastic Recycling — Online-Pick up, Online-Analysis, Online-Sorting».
6.4. Резюме и перспективы развития спектроскопии в ближней ИК-области
Первоначально отношение к спектроскопии ближней ИК-области было несколько настороженным. При наличии множества полос поглощения и их перекрывании интерпретация спектров оказалась не столь простой, как в среднем ИК-диапазоне. Однако, учитывая явные достоинства метода (доступность материалов для окон, возможность использования световодов и удобную для измерения толщину слоя), предпочтение все чаще отдавалось ближней И К, которая со временем практически вытеснила спектроскопию среднего ИК-диапазона в сфере анализа производственных процессов. В отличие от общей лабораторной аналитики, при анализах в процессе производства речь идет о большом количестве веществ, в отношении которых обычно можно обойтись без интерпретации их спектров. В настоящее время существует два типа измерительных приборов. Спектрометры, служащие для выяснения молекулярного строения вещества (приборы средней ИК-области), и контрольные устройства, то есть мониторы-анализаторы, проверяющие пробы, как правило, в режиме реального времени на наличие определенных компонентов или контролирующие значения тех или иных суммарных параметров (приборы ближней ИК-области).
Аналитический контроль продуктов должен осуществляться максимально быстро, поскольку опасность отклонений от стандарта требует оперативного вмешательства в технологический процесс. В этом плане спектроскопия ближней ИК- области позволяет в значительной степени отказаться от пробоподготовки как таковой, что ускоряет и удешевляет собственно процесс анализа. При определениях в режиме реального времени или в потоке проба направляется по обводной линии в кювету спектрометра либо сопряженный со световодом измерительный зонд вводится прямо в реактор.
При этом не рассматриваются отдельные полосы поглощения, а оценивается весь спектр по нескольким хемометрическим параметрам. Благодаря лучшему отношению сигнал/шум такой подход только укрепляет позиции спектроскопии ближней ИК-области по сравнению со средним диапазоном. Весьма удобные в обращении программы позволяют упростить градуировки при проведении анализа, в том числе и для очень сложных реакционных смесей. Кроме того, хемометрическое программное обеспечение в сочетании с возможностью компьютеризованного управления приборами и устройствами подачи проб позволяют автоматизировать процесс анализа. Это касается как органических, так и неорганических систем. Растворы солей в воде можно контролировать с использованием методики многокомпонентного количественного анализа.
Необходимо, однако, учитывать тот факт, что перед использованием спектроскопии в ближней ИК-области для аналитического контроля производственных процессов требуется порой весьма длительная калибровка и четкое подтверждение ее достоверности. Лучшим вариантом в этом случае будет создание библиотеки спектров подлежащих контролю продуктов. Чтобы обеспечить методу достаточную надежность, для каждого отдельного вещества следует записать серию спектров с разными концентрациями и стандартами в широком диапазоне параметров.
Тенденция широкого внедрения спектроскопии в ближнем ИК-диапазоне обычно не касается центральных аналитических лабораторий, так как подобные анализаторы чаще всего используют непосредственно на месте. При этом пользователи порой отнюдь не являются специалистами, а остаются всего лишь потребителями. Благодаря простоте и удобству обслуживания оборудования в сочетании с компьютерной поддержкой это направление развивается и укрепляется. И здесь, конечно, существует различие между пользователями, обладающими специальными знаниями в области аналитической химии, и пользователями, имеющими опыт работы с автоматическими системами, но без серьезной базовой подготовки по нужным аспектам конкретной отрасли.
ГЛАВА 7. СПЕКТРОСКОПИЯ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ
Анализ по спектрам комбинационного рассеяния можно считать дополнением к ИК-спектроскопии, ибо этот метод тоже обеспечивает непосредственное определение частот вращения и колебания молекул. Известный эффект Рамана своим способом поглощения квантов энергии и возбуждения вращений и колебаний значительно отличается от всех прочих молекулярных спектров. Здесь речь идет не об эмиссионной либо абсорбционной спектроскопии, а о спектроскопии рассеянного излучения. Неупругое рассеяние света было открыто в 1928 г. индийским физиком В. Раманом, который в 1930 г. был удостоен Нобелевской премии по физике за свои работы в области рассеяния света и открытие, названное его именем.
Спектры комбинационного рассеяния получают при облучении образца светом определенной длины волны. При взаимодействии света с пробой начинается процесс неупругого рассеяния, именуемый эффектом Рамана, или комбинационным рассеянием. Возникающее при этом рассеянное излучение регистрируется в виде так называемого спектра комбинационного рассеяния, или спектра Рамана. Наблюдаемые линии такого спектра могут быть однозначно отнесены к колебаниям молекул исследуемого вещества и в зависимости от значения частоты, интенсивности и формы линий позволяют сделать вывод о структуре и идентичности пробы.
Вследствие разных условий возбуждения в спектре комбинационного рассеяния можно исследовать колебания, неактивные в ИК-спектре, и наоборот. Другие колебания могут быть активны либо неактивны как в ИК-спектре, так и в спектре комбинационного рассеяния. Путем одновременного использования обоих методов удается простым способом определять структурные признаки соединений. При этом, как и в ИК-спектроскопии, могут исследоваться твердые, жидкие и газообразные пробы. Еще одно преимущество состоит в том, что спектры комбинационного рассеяния наблюдаются в видимой спектральной области, что позволяет применять кюветы из стекла или кварца. Кроме того, можно обойтись без пробоподготовки либо свести эту процедуру к минимуму, причем метод комбинационного рассеяния особенно удобен при проведении анализов водных растворов.
Хотя спектр комбинационного рассеяния считается своего рода дополнением к ИК-спектру, спектроскопия комбинационного рассеяния получила меньшее распространение, чем методика на основе И К-излучения. Основную причину этого следует искать в проблемах, связанных с сигналами фона при анализах по спектрам комбинационного рассеяния. Чувствительность таких анализов не очень велика, и некоторые вещества, прежде всего стекло и рад полимеров, дают чрезвычайно слабые спектры комбинационного рассеяния. Поэтому любое резонансное взаимодействие, например флуоресценция, способно полностью перекрыть спектр комбинационного рассеяния. Единственное практическое решение проблемы флуоресценции часто состоит в использовании возбуждающего света, длина волны которого находится вне пределов возбуждения флуоресценции.
До недавнего времени применение спектроскопии комбинационного рассеяния из-за склонности к флуоресцентным помехам, вызываемым либо самим образцом, либо незначительными примесями, ограничивалось специальными химикоаналитическими целями. Причина появления указанного нежелательного побочного эффекта была связана с использованием видимого и УФ-света. С внедрением лазеров, дающих в диапазоне спектра от видимой до ближней И К-областей интенсивный свет высокой монохроматичности, спектроскопия комбинационного рассеяния получила сильный импульс к своему дальнейшему развитию [1.7]. Несколько лет назад был предложен достаточно мощный лазер ближней ИК-области для использования в Фурье-спектрометрах, сделанных с расчетом на обнаружение излучения комбинационного рассеяния. Это способствовало разработке и популяризации Фурье-спектроскопии комбинационного рассеяния [7.2].
Такой недостаток методики комбинационного рассеяния, как дополнительная мешающая флуоресценция, удалось устранить именно благодаря переориентации техники на ближнюю ИК-область, причем лазер оказался просто идеальным источником излучения. Лазер, работающий в ближней ИК, практически исключает появление флуоресценции и одновременно гарантирует щадящую обработку пробы без опасности ее разложения под действием фотолиза или тепловой нагрузки.
Параллельно с этим были значительно усовершенствованы как собственно спектрометрическая техника, так и детекторные системы. Сбор, обработка и оценка полученных данных осуществляются с помощью высокопроизводительных компьютеров. На фоне столь перспективных преобразований роль спектроскопии комбинационного рассеяния как методики, дополняющей ИК-спектроскопию, резко выросла и позволила ей вновь занять место среди стандартных лабораторных технологий. Повышенная частотная прецизионность Фурье-приборов комбинационного рассеяния обеспечивает получение спектров образца с требуемой воспроизводимостью без частотной калибровки, что открывает путь к надежной расшифровке спектров. Поскольку, как показывает практика, изготовители Фурье-приборов комбинационного рассеяния в большинстве случаев занимаются также производством Фурье-ИК-спектрометров, для решения описанных выше проблем существует соответствующее стандартное программное обеспечение. Спектр комбинационного рассеяния сегодня регистрируется столь же просто, как и ИК-спектр.
7.1. Теоретические основы спектроскопии комбинационного рассеяния
Спектры комбинационного рассеяния наблюдаются в том случае, когда монохроматическое излучение падает на молекулы перпендикулярно направлению наблюдения и происходит спектральное разложение рассеянного света. При воздействии видимого или УФ-света электронные орбитали молекул смещаются из своего равновесного положения. Это значит, что электроны колеблются с частотой, равной частоте возбуждающего света. В результате этого они сами становятся источниками излучения, так называемого рэлеевского рассеяния, которое обладает той же частотой, что и возбуждающий свет. Вся поглощенная из первичного излучения энергия вновь отдается во вторичном излучении, поэтому никакого изменения количества энергии молекулы при рэлеевском рассеянии не происходит. Электроны при этом не возбуждаются, а остаются в своем первоначальном конфигурационном пространстве. Предпосылкой этого служит то обстоятельство, что длина волны возбуждающего излучения достаточно сильно удалена от полосы спектра поглощения, обусловленной электронным переходом между двумя энергетическими состояниями молекулы.
Таким образом, основная доля рассеянного света имеет ту же частоту, что и возбуждающий свет. Чем легче смещаются электроны в молекуле, то есть чем выше их готовность к поляризации, тем сильнее деформируются электронные орбитали. Поскольку в случае таких деформаций речь идет преимущественно об электронах, ответственных за установление химической связи и, следовательно, определяющих межатомные расстояния и углы между связями, то с изменением их геометрической структуры может произойти также изменение этих расстояний и углов. Подобное варьирование положения связанных друг с другом атомов или сегментов молекулы приводит к атомным и, соответственно, молекулярным колебаниям. В то время как при ИК-спектроскопии эти колебания возбуждаются, так сказать, напрямую, при спектроскопии комбинационного рассеяния возбуждение осуществляется своеобразным «обходным путем» — путем деформирования электронных орбиталей.
Необходимые для возбуждения кванты энергии отнимаются при этом у падающего излучения. Тогда наряду с рэлеевским рассеянием появляется несколько линий, сдвинутых относительно линии возбуждения на совершенно определенные величины частот. Удаленность этих линий комбинационного рассеяния от линии падающего излучения не зависит от ее частоты. Разности между возбуждающей частотой и частотами этих линий спектра комбинационного рассеяния есть так называемые частоты Рамана, идентичные колебательно-вращательным частотам молекул, которые могут определяться на основе ИК-спектроскопии. В спектре сдвиг частоты комбинационного рассеяния от линии Рэлея указывается в виде волнового числа в см-1, как и в ИК-спектроскопии. Рисунок 7.1 показывает в качестве примера спектр комбинационного рассеяния тетрахлорметана.
Большая часть рассеянного света имеет частоту падающего излучения и возникает в результате поглощения и вторичной эмиссии. Спектр комбинационного рассеяния состоит из гораздо более слабых линий, относящихся к более высокой и более низкой энергии. Здесь следует различать стоксовы линии, появляющиеся при более низкой частоте, и антистоксовы линии, соответствующие более высоким частотам.
Стоксовы линии наблюдаются, когда при неупругом столкновении между фотоном и молекулой последняя поглощает энергию в размере одного колебательного или вращательного кванта ΔE. Фотон теряет при этом соответствующее количество энергии; согласно отношению ΔΕ = hν, частота сдвигается на величину ν.
Напротив, антистоксовы линии возникают, когда молекула находится как раз в возбужденном колебательном или вращательном состоянии, причем фотон поглощает энергию этого колебательного или вращательного кванта, так что частота линии спектра комбинационного рассеяния будет на v больше частоты линии спектра возбуждающего излучения. Молекула при этом вновь попадает в более низкое состояние возбуждения или в основное состояние. С помощью когерентной антистоксовой спектроскопии комбинационного рассеяния определяются, например, очень высокие температуры при процессах горения, а именно с большим временным и пространственным разрешением (рис. 7.2).
Поскольку возможны как комбинированные переходы, так и чисто колебательные и вращательные переходы, спектр комбинационного рассеяния распадается на линию возбуждения, так называемую линию Рэлея, и линии колебательного спектра, причем все они обладают тонкой вращательной структурой. Линии вращательного спектра, как и в ИК-спектроскопии, можно наблюдать только на газообразных пробах, а в случае жидких и твердых веществ вращательные переходы проявляют себя исключительно в уширении линий колебательного спектра.
Так как большинство молекул при комнатной температуре находится в основном колебательном состоянии, антистоксовы линии, соответствующие переходам с вышележащих на нижележащие энергетические уровни, как правило, имеют (если это касается колебательных переходов) лишь очень малую вероятность. Следовательно, типичный спектр комбинационного рассеяния обычно содержит - наряду с линией Рэлея - высокоинтенсивные стоксовы и малоинтенсивные антистоксовы линии.
7.2. Правила отбора
Как и в ИК-спектроскопии, для комбинационного рассеяния также существуют определенные правила отбора. ИК-свет поглощается, если при этом изменяется дипольный момент молекулы. При комбинационном рассеянии происходит аналогичное взаимодействие между светом и поляризованным состоянием молекулы. При взаимодействии молекул со светом электроны приводятся в колебательное состояние в меру их способности к сдвигу, задаваемой имеющимся поляризованным состоянием. В результате изменения такой поляризуемости во времени, чем обусловлено и изменение электрического дипольного момента, молекулы могут войти во взаимодействие с излучением. Поэтому на частоту рассеянного излучения способны воздействовать только такие колебания и вращения, при которых поляризуемость варьируется относительно вектора поля излучения.
Итак, комбинационно-активными являются вращения и колебания молекул, при которых с вращательным или колебательным движением изменяется поляризация молекул. ИК-активны вращения и колебания молекул, при которых с вращательным или колебательным движением изменяется электрический дипольный момент.
Из таких правил отбора вытекает следующее: в молекуле с центром симметрии все колебания, симметричные этому центру, ИК-неактивны, то есть запрещены, но они комбинационно-активны; напротив, колебания, не симметричные по отношению к центру симметрии, комбинационно-неактивны, но зато, как правило, ИК-активны (см. табл. 7.1). Это чрезвычайно важный вывод, указывающий на то, что оба этих спектра дополняют друг друга.
Таблица 7.1. ИК- и комбинационная активность разных типов колебаний молекулы СО2
Тип колебаний |
Описание |
Активность |
|
|---|---|---|---|
инфракрасная |
комбинационная |
||
|
Симметричные валентные колебания |
неактивны |
активны |
|
Асимметричные валентные колебания |
активны |
неактивны |
|
Деформационные колебания |
активны |
неактивны |
При симметричном валентном колебании молекула растягивается и сжимается, причем изменяется концентрация электронов в элементе объема и, следовательно, готовность этой молекулы к поляризации. Поэтому такое колебание комбинационно-активно. А вот дипольный момент при этом колебании не изменяется, то есть оно ИК-неактивно. Понятно, что в случае антисимметричного валентного колебания наблюдаются противоположные отношения.
В области эмпирических исследований комбинационное рассеяние предлагает в принципе те же возможности определения химического строения. К недостаткам анализа по спектрам комбинационного рассеяния можно отнести очень низкую интенсивность спектральных линий, на которую приходится всего около 1 % общего рассеянного излучения. Интенсивность линий комбинационного рассеяния определяется готовностью молекулы к изменению поляризации во время колебания.
7.3. Спектрометр комбинационного рассеяния
Прибор для проведения анализов по спектрам комбинационного рассеяния включает в себя источник возбуждающего света высокой интенсивности, камеру образца с держателем, монохроматор для спектрального разложения рассеянного света и детектор (рис. 7.3). Для возбуждения требуется монохроматический свет с длиной волны, достаточно далеко отстоящей от участка спектра поглощения исследуемой пробы. Ранее в качестве источника излучения использовались ртутные лампы, из спектра которых выделялась обычно линия, имеющая длину волны 435,8 нм.
Сегодня в качестве источника возбуждающего света используются в большинстве случаев длинноволновые лазеры. Лазер на иттрий-алюминиевом гранате, легированном неодимом, излучает в ближней ИК при длине волны 1064 нм, что исключает проблему, связанную с флуоресценцией исследуемого образца. При этом высокую входную энергию лазера нередко понижают посредством нейтрального фильтра — во избежание нагревания или термического разложения проб. Тогда лазер может работать с большой мощностью и относительно низкими шумами. Помимо прочего, высокая направленность лазерного луча позволяет проводить измерения на поглощающих твердых, жидких или газообразных пробах совсем малого объема.
Существует две принципиальные возможности регистрации спектра комбинационного рассеяния. В классическом варианте предпочитается дифракционная решетка в качестве диспергирующего элемента. Для подавления рассеянного света применяют двойные монохроматоры с голографическими решетками. С помощью двойных, тройных или даже четверных монохроматоров достигается максимально полное подавление рассеянного света. Двойной монохроматор состоит из двух отдельных монохроматоров, связанных оптически и механически таким образом, что они одновременно настраиваются на одинаковую длину волны. Это осуществляется и в так называемой аддитивной и в субтрактивной конфигурациях.
Когда сопряжены два монохроматора в аддитивной схеме, спектр выходного излучения первого монохроматора попадает на вход второго монохроматора и там дистергируется во второй раз. В этом случае двойной монохроматор может генерировать двойную дисперсию одиночного монохроматора. В субтрактивной схеме выход одного монохроматора сопряжен со вторым блоком таким образом, что двойной дисперсии света не происходит. С этой целью второй монохроматор устанавливается как бы «вниз головой», чтобы дифракционные решетки обеих систем вращались относительно друг друга. В нормальной ситуации свет на выходе монохроматора не показывает однородного распределения. Это всегда небольшой участок спектра. При наличии двойного монохроматора в субтрактивной схеме оба блока обеспечивают дисперсию в противоположных направлениях. В результате этого свет над выходной щелью становится однородным. Дисперсия не возрастает и определяется только первым монохроматором, но рассеянный свет заметно уменьшается.
Для регистрации излучения, в том числе и слабого комбинационного рассеяния, детектор должен обладать высокой чувствительностью и одновременно низким фоном. С этой задачей благодаря его замечательной чувствительности отлично справляется фотоумножитель, подлежащий охлаждению в целях снижения шумов темнового тока. И все же процесс записи спектра с высоким уровнем информативности длится порой несколько часов.
При необходимости ускоренной регистрации комбинационных спектров для задач детектирования находят применение также диодные матрицы и приборы с зарядовой связью (ПЗС) [7.3]. В этих условиях могут исследоваться и кинетические процессы. Как при спектроскопии в ближней ИК-области, здесь тоже необходимо учитывать ограниченный диапазон длин волн диодов. Поскольку для записи полного спектра комбинационного рассеяния требуется сдвиг порядка 4000 см-1 от источника возбуждающего света, то при использовании лазера на иттрий-алюминиевом гранате, легированном неодимом, кремниевые диоды заменяются диодами на основе индия/галлия/арсенидов. При этом может измеряться комбинационный сдвиг до 3335 см-1 (рис. 7.4). Другая возможность расширения диапазона измерения состоит в применении лазера с меньшей длиной волны.
В качестве еще одного возможного способа детектирования комбинационного рассеяния предлагается интерферометр Майкельсона. Фурье-ИК-спектрометр можно получить довольно простым и дешевым способом, переоснастив приставку Рамана в прибор комбинационного рассеяния с Фурье-преобразованием [7.4]. Благодаря этому достигается преимущество мультиплексности спектроскопии по принципу Фурье-преобразования. Здесь используются как отдельные спектральные приборы, так и комбинированные варианты — Фурье-ИК-спектрометры комбинационного рассеяния. В качестве источника возбуждающего света для комбинационного рассеяния хорошо зарекомендовал себя все тот же лазер на иттрий-алюминиевом гранате, легированном неодимом. Правда, применяя подобное оборудование, не стоит забывать о том, что ИК-детекторы гораздо менее чувствительны, чем используемые в видимой области фотоумножители. Это значит, что спектры комбинационного рассеяния с Фурье-преобразованием не достигают качества традиционных спектров комбинационного рассеяния [7.5].
Поскольку интенсивность линий спектра комбинационного рассеяния, кроме прочего, зависит от энергии, то есть от длины волны источника лазерного излучения, то это означает потерю интенсивности подлежащего обнаружению рассеянного света при использовании длинноволнового света лазера. Данный нежелательный эффект удается компенсировать за счет преимуществ техники Фурье-преобразования, ибо световой поток в Фурье-спектрометре, как минимум, на два порядка сильнее.
Комбинационное рассеяние наблюдается обычно под углом 90° или 180°. Оно собирается над большим телесным углом в линзе или в эллипсоидном зеркале с позолоченным покрытием. Рассеянный свет направляется через систему фильтров, чтобы исключить сильную линию Рэлея, интенсивность которой превышает интенсивность комбинационного рассеяния в 104 раз и более. Чтобы можно было регистрировать как стоксовы, так и антистоксовы линии, расположенные непосредственно рядом с рэлеевской линией (±100 см-1), к используемой системе фильтров предъявляются повышенные требования.
С одной стороны, такие фильтры обязаны обеспечивать очень узкополосное выделение рэлеевской линии; с другой стороны, они должны быть максимально прозрачны в остальном диапазоне длин волн. С учетом малой ширины спектральных полос и большой крутизны кромок для этой цели все чаще используются голографические режекторные фильтры вместо диэлектрических интерференционных фильтров, причем это происходит как в традиционной, так и в Фурье-комбинационной технике. Подобные фильтры предлагаются в большом интервале длин волн с оптимальным блокированием за счет угловой корректировки. Пропускание в области стоксовых и антистоксовых линий остается одинаково высоким.
7.4. Практическое применение спектроскопии комбинационного рассеяния
Спектроскопия комбинационного рассеяния еще 20 лет назад использовалась в химической и петрохимической отраслях в качестве специальной методики при изучении характеристик химических соединений. С тех пор эта техника обогатилась множеством дополнительных приемов и считается в настоящее время стандартным способом, применяемым в химико-аналитических лабораториях и на промышленных предприятиях для контроля производственных процессов. Отнимающий много времени этап пробоподготовки, необходимый для некоторых иных спектроскопических методов, в области спектроскопии комбинационного рассеяния практически ничтожен. Здесь измерения можно проводить прямо в стеклянных сосудах либо в водном растворе.
Широкое применение получил данный метод при качественном и количественном анализах полимеров и эмульсий, смесей растворителей и водных технологических растворов. Важным достоинством спектроскопии комбинационного рассеяния является возможность анализа сложных многокомпонентных смесей, а также веществ, близких по строению и составу. В сфере аналитики объектов окружающей среды спектроскопия комбинационного рассеяния незаменима при исследованиях грунтовых и поверхностных вод. Без всякой специальной подготовки проб анализируются, например, металл ©комплексы, фенолы, карбонаты и органические кислоты. В области биомедицины изучается строение белков, полипептидов и других соединений из нашего физиологического окружения. На основе спектроскопии поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния (surface enhanced Raman spectroscopy, SERS) успешно изучаются характеристики иммуноглобулина, олигосахаридов, холестерина, липидов и других биологически активных молекул [7.6].
Так как комбинационное рассеяние прозрачных пластмасс относительно невелико, этот метод вполне годится для анализа упакованных продуктов. Состав таблеток в блистерной упаковке или пищевых продуктов в пластиковой пленке удается определять, не вскрывая упаковку. Слабый спектр упаковочного материала легко убрать вычитанием.
На основе методики комбинационного рассеяния можно исследовать такие материалы, как природные и искусственные алмазы, кристаллический графит и некристаллический углерод. Кроме прочего, рассматриваемый метод является единственным недеструкционным способом анализа различных модификаций углеродов. Он пригоден и для исследований керамических материалов. Могут анализироваться, в частности, тонкие слои, спектроскопическая характеристика которых иным способом (без контакта и без разрушения образца) невозможна.
7.5. Резюме и перспективы развития спектроскопии комбинационного рассеяния
Для измерения общего комбинационного рассеяния требуются источники излучения очень высокой интенсивности, для чего прежде предлагались только ртутные лампы. Однако они имели тот недостаток, что излучали в том интервале длин волн, где для большого числа веществ возбуждается флуоресценция. В силу этих и иных причин спектроскопия комбинационного рассеяния была востребована достаточно мало. В результате применения лазера как источника очень интенсивного и высокомонохроматического излучения роль данной методики резко возросла. Путем сдвига длины волны возбуждения в ближнюю ИК-область спектра удалось устранить проблему флуоресценции проб. Параллельно с этим продолжала успешно развиваться и совершенствоваться приборная техника с высокоэффективными монохроматорами и детекторами.
Сегодня, благодаря внедрению микроэлектроники, предлагаются компьютеризованные спектрометры комбинационного рассеяния с цифровой регистрацией и обработкой данных, агрессивно вытесняющие в настоящее время ИК-спектрометры. Но два этих колебательно-спектроскопических метода — ИК-спекгроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния — не могут взаимно замещаться, а должны лишь дополнять друг друга. Расхождения в правилах отбора чрезвычайно благоприятны для всех исследований взаимодействия колебаний в одной молекуле. ИК-неактивные колебания часто бывают комбинационно-активны, и наоборот. Поэтому для изучения строения молекулы необходима расшифровка обоих спектров.
По распределению колебательного поглощения в ИК- и, соответственно, комбинационном спектрах можно сделать заключение о симметрии молекул. Кроме того, нередко проявляются разные интенсивности поглощения отдельных функциональных групп. В то время как в ИК-спектре полярные группы дают интенсивные полосы, в спектре комбинационного рассеяния, напротив, интенсивные полосы показывают неполярные группы.
Спектроскопия комбинационного рассеяния все больше приближается к уровню стандартных методов, успешно применяемых при решении насущных проблем в химии, биологии и медицине.
По степени информативности спектроскопия комбинационного рассеяния нисколько не уступает колебательной спектроскопии, не говоря уже о том преимуществе, что, с учетом используемого диапазона от видимой спектральной области до ближней ИК, в первом случае можно прибегать к помощи световодов. Соответствующие зонды позволяют при этом проводить измерения вне спектрометра, успешно реализуя аналитические исследования в производственной сфере.
Наряду с лазером на иттрий-алюминиевом гранате, легированном неодимом, находят применения и лазеры, излучающие в видимой области спектра, — аргоновые или на ионах криптона. Они отличаются тем замечательным качеством, что не вызывают разрушения исследуемого образца под действием тепловых процессов. Следует, впрочем, напомнить, что при наличии флуоресцирующих веществ источник возбуждающего света должен обязательно оставаться в ближней ИК-области спектра.
Традиционные спектрометры комбинационного рассеяния с двойными или тройными дифракционными решетками и фотоумножителем в качестве детектора обладают наилучшей спектральной чувствительностью. При использовании диодных матриц эффективность подавления рассеянного света этих монохроматоров несколько снижается в связи с соответствующим раскрытием щелей. Эшелле, давно и успешно практикуемые в атомно-эмиссионной спектроскопии, обеспечивают отличное подавление рассеянного света также и в спектрометрах комбинационного рассеяния. Недостатком здесь является, пожалуй, лишь очень малая светосила. Инновационные способы многоканального обнаружения предлагаются на основе ПЗС-чипов (приборов с зарядовой связью). Охлаждаемые ПЗС-детекторы демонстрируют высокое разрешение и хорошую чувствительность.
Наряду с традиционной спектроскопией комбинационного рассеяния существуют и более современные методики, реализация которых требует пока довольно сложного аппаратурного оформления и значительных финансовых затрат. В случае этих так называемых нелинейных методов речь идет о спектроскопических эффектах, открытых исключительно благодаря внедрению лазера в качестве источника возбуждающего света. Пример: когерентное антистоксово комбинационное рассеяние и обратное комбинационное рассеяние. Фотоакустический детектор тоже находит применение в технике комбинационного рассеяния.
ГЛАВА 8. МИКРОВОЛНОВАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
В частотном диапазоне от 8 до 40 ГГц электромагнитного излучения молекулы возбуждаются до состояния вращения. Поскольку только эти дискретные переходы между энергетическими уровнями вращающихся молекул могут рассматриваться изолированно, спектроскопию такого рода называют еще вращательной. Итак, микроволновая область спектра с длинами волн в диапазоне от сантиметров до субмиллиметров примыкает к дальней ИК-области. При этом методика эксперимента принципиально отличаются от таковой для всех прочих спектральных областей, поскольку в основе ее лежит высокочастотная техника. Вообще, развитие микроволновой спектроскопии стало возможно только благодаря радиолокационным приборам и технике связи, обеспечившим условия для генерации и приема сантиметровых и миллиметровых волн. Лишь коротковолновую часть спектра можно исследовать с помощью оптических спектрометров.
Служащий для генерации излучения отражательный клистрон дает строго монохроматический свет, варьируемый в пределах определенного диапазона частот. Поэтому в СВЧ-спектроскопии не нужна диспергирующая система (дифракционная решетка). Крайняя монохроматичность выходного излучения и точность измерения частоты сообщают этой технике чрезвычайно высокую прецизионность.
Но измеряться могут только газы сильного разрежения, поскольку в СВЧ-диапазоне столкновительное уширение линий спектра поглощения из-за малой разности энергетических уровней становится особенно мешающим фактором. При многоатомных молекулах низкой симметрии расшифровка вращательных спектров довольно сложна. Для исследования бывает достаточно количества вещества на уровне долей миллиграмма. У небольших молекул на основе вращательного спектра могут определяться межатомные расстояния и углы между связями. Из расщепления линий вращательного спектра в электрическом поле (расщепление Штарка) выводятся значения дипольных моментов.
С учетом того, что исследовать можно только газы или испаряющиеся вещества в сильно разбавленном виде, данный метод не нашел широкого применения в лабораторной аналитике. Помимо прочего, существует еще ограничение в отношении слишком крупных молекул. Понятно поэтому, что в настоящее время пока нет коммерческих предложений СВЧ-спектрометров. Последние микроволновые спектрометры исчезли с рынка еще в 70-е годы. Если исходить из собственного опыта, рассматриваемая техника находит применение главным образом в области исследования строения и свойств молекул размером от малых до средних. При этом СВЧ-спектроскопия остается самым точным методом определения длины связей.
8.1. Теория вращательных спектров
Молекула может разными способами поглощать энергию движения. Число независимых координат, необходимых для однозначного определения молекулы, составляет 3N, причем А показывает число атомов в молекуле. Значит, данная молекула имеет и ЗАстепеней свободы, из которых три приходятся на перенос в три пространственные координаты. Остальные ЗА — 3 степеней свободы распределяются на вращение и колебание. Если перенос как не квантованное тепловое движение есть предмет изучения термодинамики и кинетической газовой теории, то вращение и колебание приводят к изменениям дискретного запаса энергии в молекуле.
По классическому условию излучения, вращающаяся молекула может только поглощать энергию из электромагнитного поля излучения (процесс абсорбции) либо только отдавать ему свою энергию (процесс эмиссии), если в основном состоянии она имеет перманентный (стационарный) электрический дипольный момент, который при переходе изменяется во времени. Поэтому такие симметричные молекулы, как Н2, N2, СН4, ССl4 и т.д., у которых центр тяжести отрицательного заряда совпадает с положительным, не имеют дипольного момента, следовательно, не дают и вращательного спектра. Исключение здесь составляет лишь не обладающая диполем парамагнитная молекула О2, магнитный момент которой может вступать во взаимодействие с магнитным вектором поля излучения.
Число вращательных степеней свободы F молекулы зависит от ее геометрической структуры. Для линейных молекул в результате вращения вокруг обеих осей, расположенных перпендикулярно направлению связи, будет F = 2. Вращение вокруг оси связи — по причине малого в этом направлении инерционного момента — не возбуждается. Нелинейные молекулы имеют три вращательных степени свободы вокруг трех основных инерциальных осей (F = 3).
Геометрическая структура определяет также внешний вид вращательного спектра. Линейные молекулы и симметричные центробежные молекулы (молекулы с осью симметрии третьего порядка или выше, например у СН3С1) имеют вращательный спектр из линий с почти постоянными частотными интервалами. А вот спектры асимметричных центробежных молекул столь простых закономерностей не обнаруживают.
Рисунок 8.1 демонстрирует гантельную модель вращающейся, двухатомной, гетероядерной молекулы. Жесткий ротатор состоит из двух масс (атомов) + m1 и m2, находящихся одна от другой на фиксированном расстоянии r. Согласно законам классической механики, для вращательной энергии справедливо:
|
где I — момент инерции, ω — угловая скорость.
Момент инерции I указан у двухатомных молекул через атомные массы m1 и m2 и межъядерное расстояние r.
|
Согласно квантово-механическому расчету применительно к линейному жесткому ротатору, энергетические состояния должны быть квантованы, то есть вращательная энергия может принимать только совершенно определенные значения.
По уравнению Шредингера, для вращательной энергии возможны следующие «разрешенные» энергетические уровни:
|
Здесь J есть вращательное квантовое число, которое может принимать значения 0, 1, 2, 3… Поглощение излучения происходит в результате того, что молекула переводится с одного вращательного уровня на другой вращательный уровень, с более высокой энергией.
Касательно возбуждения вращательного уровня действует правило отбора из квантовой механики:
|
так что через поглощение излучения возможны только переходы между непосредственно соседствующими вращательными состояниями. Но так как разности энергий по сравнению с тепловым движением kТ довольно малы, молекулы при комнатной температуре заселяют не только основное состояние, но и энергетически более высокие (возбужденные) состояния. Это означает, что при комнатной температуре, из-за малой разности энергий, вращения молекул, в отличие от их колебаний, уже термически возбуждены. Таким образом, поглощение осуществляется не только начиная с J = 0, но и с вращательных уровней большей населенности. Для энергии возбуждения такого перехода имеет силу:
|
Приняв ΔΕ = hν, получаем отсюда частоты поглощения:
|
Итак, вращательный спектр в представлении волновых чисел состоит из эквидистантных линий, частоты поглощения которых различаются на постоянную величину h/4π2I. Повторяемость переходов и, следовательно, интенсивность отдельных линий вращательных спектров есть, наряду с величиной дипольного момента, функция температуры, при которой проводится исследование. По причине термического возбуждения вращательного уровня максимум интенсивности наступает не в безвращательном основном состоянии, а в зависимости от температуры наблюдения — при более высоких вращательных состояниях. Рисунок 8.2 показывает вращательный спектр газа НСl при комнатной температуре.
Так как вращательные уровни термически возбуждены, это означает, что разности заселенностей в пределах схемы вращательных энергетических уровней молекулы очень малы. Для заселенности энергетического уровня ЕJ по сравнению с основным состоянием Е0 действительно распределение Больцмана:
|
В случае, например, НСl при комнатной температуре такое распределение приводит к максимально заселенному энергетическому уровню с J = 2. Но разности заселенностей есть мера интенсивности поглощения. Микроволновая спектроскопия дает, следовательно, лишь слабые сигналы, а наблюдаемые коэффициенты поглощения соответственно малы. При более крупных молекулах могут возбуждаться уже и колебательные состояния, вследствие чего наблюдаются вращательные спектры из возбужденных колебательных состояний. С распределением заселенности по разным колебательным уровням отдельные вращательные спектры в силу высокого разрешения располагаются рядом друг с другом. При этом весь спектр становится богаче линиями, но в результате распределения заселенности на многие колебательные состояния вновь будет показывать меньшую интенсивность. Это еще одна причина ограничения применения микроволновой спектроскопии исследованием только не слишком больших молекул.
Рисунок 8.3 отображает заселенность вращательных уровней при комнатной температуре согласно статистике Больцмана.
Точное измерение вращательного спектра показывает, что его линии не совсем эквидистантны, но по мере увеличения J все более сближаются. Это объясняется тем, что при высоком возбуждении вращательного уровня центробежная сила уже заметно увеличивает межатомное расстояние r. В результате изменяется момент инерции, а с ним и Евращ. Рассматривать молекулу как жесткий ротатор допустимо только для низких значений _J. Но центробежное искажение может быть учтено посредством дополнительных членов более высокой степени J.
Для многоатомных молекул малой симметрии энергии при вращении вокруг трех пространственных осей, как правило, уже не эквидистантны. Здесь образуется гораздо более сложный и насыщенный линиями спектр без какой-либо видимой закономерности. С возрастанием симметрии молекулы линий в спектре становится меньше, что делает его более наглядным и ясным.
8.2. СВЧ-спектрометр
Изучение вращательных спектров проводится на газах высокого разрежения при давлении от 0,1 до 10 Па. Межмолекулярные взаимодействия при этом уменьшаются настолько, что уже не оказывают сколько-нибудь значимого влияния на линейчатую структуру спектра. Поскольку интенсивность линий с понижением температуры возрастает, то работу лучше вести при комнатной температуре либо соответствующим образом охлаждать пробу. И наоборот, поглощающую ячейку нагревают с целью получения спектров соединений, имеющих очень низкое давление пара. Существует соответствующее оборудование для регистрации вращательных спектров при температуре до 1000°С. С его помощью могут быть спектроскопированы практически все органические соединения, способные испаряться без разложения.
В оптической области поглощают только совсем небольшие молекулы, состоящие из небольшого числа легких атомов, например НСl и НF Более крупные молекулы в силу их большего момента инерции поглощают в спектральной области микроволн. Для генерации излучения служит СВЧ-излучатель, чаще всего отражательный клистрон, дающий строго монохроматическое излучение. В связи с этим отпадает необходимость в монохроматоре. С помощью релаксационного генератора можно в определенном диапазоне варьировать частоту передатчика. В качестве современных источников излучения предлагаются полупроводниковые генераторы.
Излученная передатчиком волна бежит в металлическом полупроводнике прямоугольного сечения («волноводе») длиной до 10 метров, который одновременно выполняет функцию поглощающей ячейки. Там находится подлежащий исследованию сильно разреженный газ. Вакуумплотные полупроводники соединены с насосом и загрузочной системой.
Роль приемников излучения играют кристаллические детекторы из кремния либо германия с электронными системами усиления. Измерение частоты осуществляется принятым в радиотехнике способом — путем сравнения со стандартными частотами кварцевых генераторов. Поскольку излучение в полупроводниках в значительно большей степени ослабляется из-за потерь в стенках, чем в результате молекулярного поглощения, то принимаемые детектором сигналы весьма слабы. Для усиления этих маломощных сигналов разработаны самые разные способы, среди них — метод двойного резонанса.
Техника на основе преобразования Фурье тоже находит применение в микроволновой спектроскопии (СВЧ-Фурье-спектроскрпия). При этом короткий монохроматический микроволновой импульс подается в поглощающую ячейку. Вращения, возбужденные при данной частоте, в результате термической релаксации очень быстро затухают после отключения импульса. Сигнал затухания записывается во времени и с помощью Фурье-преобразования преобразуется в спектр. Тогда получают участок спектра, центрированный относительно частоты возбужденного микроволнового импульса.
8.3. Практическое применение микроволновой спектроскопии
Поглощение происходит в результате вращения всей молекулы вокруг разных инерциальных осей. Поэтому каждая отдельная линия вращательного спектра является характеристической для исследуемого соединения, так что для идентификации последнего достаточно точного указания частоты такой линии. Но, с другой стороны, это не позволяет устанавливать определенные группировки атомов или структурные элементы, как это возможно посредством УФ- или ИК-спектроскопии.
Качественный анализ основан на сравнении вращательного спектра неизвестного вещества со спектрами хорошо изученных веществ. При идентичности двух спектров, например двух линий поглощения, относящиеся к ним соединения тоже идентичны. Поскольку при низком давлении газа молекулы не оказывают друг на друга взаимного влияния, можно анализировать газовые смеси, состоящие из множества компонентов. Но обязательным условием здесь является, конечно, знание спектров чистых веществ.
Вследствие большой разрешающей способности СВЧ-спектрометра удается разделять и чрезвычайно точно измерять даже линии, достаточно плотно прижатые друг к другу. Во вращательном спектре хлористого метилена наблюдаются, например, две разные линии поглощения, исходящие от молекулярных изотопов 35С1 и 37С1. Это позволяет проводить определение изотопного состава молекул одного сорта.
8.3.1. Определение межатомных расстояний и валентных углов
Волновые числа линий спектра поглощения зависят от момента инерпии I молекулы, а он, в свою очередь, от массы и геометрического расположения атомов. Вращательные спектры позволяют благодаря этому с высшей степенью достоверности определять, основываясь на моментах вращения, межатомные расстояния и валентные углы в молекуле. Надежность определения I ограничена не способом измерения, а точностью знания постоянной Планка h!
А вот число исследуемых таким образом соединений имеет свои ограничения. При линейных многоатомных молекулах отнесение — с учетом множества межатомных расстояний — уже не будет однозначным. Тогда исследуют сначала молекулы, ядра которых были замещены изотопными ядрами. Дело в том, что при этом изменяется момент инерции, в то время как равновесные расстояния остаются постоянными.
Наряду с требованием перманентного дипольного момента, следует учитывать еще и то обстоятельство, что в случае более крупных молекул моменты инерции при возможности свободного вращения отдельных сегментов вокруг одиночных связей зависят от имеющей место конформации. При многоатомных молекулах любое вращение можно разложить на вращения вокруг трех расположенных перпендикулярно друг к другу основных осей с тремя моментами инерции. Любое из этих вращений имеет тогда собственную схему энергетических уровней с относящимся сюда основным моментом инерции. Из каждой диаграммы энергетических уровней можно, пользуясь изотопным методом, вывести межъядерные расстояния.
Впрочем, такая методика не носит универсального характера. При слишком большом числе атомов в молекуле и, значит, чрезмерном количестве разных межатомных расстояний последние вряд ли удастся определить по трем основным инерциальным осям. Еще одно ограничение состоит в том, что данная спектроскопия рассчитана на газовую фазу, что отнюдь не всегда возможно. Известно, что молекулы сильной полярности обладают интенсивным вращательным спектром. Но и некоторые высокосимметричные молекулы без перманентного дипольного момента способны в результате центробежного искажения при вращении получать дипольный момент, с которым наблюдается слабый вращательный спектр.
8.3.2. Определение дипольных моментов
Если исследуемое вещество поместить в сильное электрическое поле, а изолированный электрод ввести в поглощающую камеру и зарядить относительно ее стенок, то вращающиеся диполи устанавливаются только в абсолютно определенных направлениях к внешнему электрическому полю. Это пространственное квантование известно как «эффект Штарка», приводящий к расщеплению отдельных линий вращательного спектра на (2J + 1) штарковских составляющих. Размер такого расщепления измеряется как разность между частотами с полем и без поля. Она зависит от силы приложенного поля Е и величины перманентного дипольного момента μ молекулы. Таким образом, зная Е, можно на основе имеющегося сдвига вычислить дипольный момент с точностью до ±1%.
8.3.3. Ядерно-квадруполъное сопряжение
Определенные молекулы имеют сверхтонкую структуру линий вращательного спектра, объясняющуюся квадрупольным сопряжением ядер. Эти спектры определяются моментом количества движения ядра атома; происходит сопряжение момента количества движения ядра с моментом количества движения молекулы. На основе такой сверхтонкой структуры делается вывод о внутримолекулярном распределении электронов, то есть принимается во внимание степень гибридизации, характер ионной и двойной связей.
Ядра атомов, подобно электронам, имеют определенные спиновые квантовые числа, связанные со спинами ядер. Ядерно-спиновое квантовое число i описывает пространственную симметрию положительного заряда ядра, который для i = 0 или i = 1/2 может быть представлен как сферически симметричный, для i > 1/2 — как более или менее сжатый эллипсоид вращения. Такое асимметричное распределение положительного заряда ядра обеспечивает квадрупольный момент eQ с характеристической для соответствующего вида ядер величиной. Как и молекулярные диполи, ядерные квадруполи могут устанавливаться только в совершенно определенных направлениях к внешнему неоднородному электрическому полю. Это пространственное квантование ядерного спина относительно оси вращения молекулы приводит к расщеплению вращательных энергий и обусловливает сверхтонкую структуру.
Величина расщепления зависит от взаимодействия между eQ и градиентом поля q, описывающим асимметрию распределения электрического заряда. Внешнее электрическое поле создается электронами атома.
Для атомов с заполненными электронными оболочками и только s-электронами в валентной оболочке будет q = 0, так как они создают сферически симметричное распределение заряда. В таких случаях ориентация квадруполя отпадает, и сверхтонкая структура не образуется. Неоднородное поле возникает преимущественно в результате не полностью заселенной p-орбитали и в гораздо меньшей степени — вследствие незаполненных d- и f-уровней.
Произведение eQq, показывающее взаимодействие между квадрупольным моментом и градиентом поля, называют константой ядерно-квадрупольного сопряжения, определяемой по сверхтонкой структуре линий вращательного спектра. Величина этой константы показывает распределение электронов атома в состоянии связи. Если, например, атом Сl имеет ионную связь, он обладает заполненной конфигурацией инертного газа. Значит, q = 0, следовательно, и eQq = 0.
Напротив, атомарный хлор имеет очень большую константу ядерно-квадрупольного сопряжения, поскольку место 3р-орбитали не заселено. В зависимости от электроотрицательности «партнера» по связи, хлор более гетерополярен либо более гомеополярен, что и отражается в изменении указанной выше константы.
Наряду с этими полярностями связи, на константу ядерно-квадрупольного сопряжения могут воздействовать и изменения степени гибридизации. Исхода из константы, могут быть также сделаны заключения касательно двойного характера формально одиночных связей. Однако определение ее ограничено такими ядрами, которые имеют квадрупольный момент, а в своей валентной оболочке — не только s-электроны. Среди органических соединений это преимущественно азот, галогены (кроме фтора), бор и изотоп 17О.
8.4. Резюме и перспективы развития микроволновой спектроскопии
Микроволновая спектроскопия использует свойство молекул с перманентным диполем путем возбуждения вращательного уровня поглощать специфичную длину волны. Вращательная абсорбция есть свойство всей молекулы. Поэтому определенные атомные группировки не могут быть эмпирически идентифицированы на основе вращательного спектра, как это имеет место при ИК-спектроскопии и методах комбинационного рассеяния. Но линии вращательного спектра можно определить чрезвычайно точно: благодаря малой полуширине их перекрытия у разных веществ практически исключаются. Поэтому часто бывает достаточно определения одной-единственной линии для характеристики и идентификации соединения. Также и маложивущие молекулы можно количественно идентифицировать в смесях, что позволяет, например, следить за ходом реакций.
Преимущества СВЧ-спектроскопии заключаются в высокой селективности и коротком времени измерения, чем обеспечивается непрерывный режим работы. Этот метод удобен для проведения анализа высокополярных, агрессивных и химически активных веществ. Кроме того, вращательный спектр находит применение в изотопном анализе, ибо разные изотопы в молекуле обусловливают момент инерции, изменение которого отчетливо проявляется в спектре. Моменты инерции столь чувствительны к изменениям массы, а разрешение спектров столь велико, что спектры изотопов могут быть такими же разными, как и спектры разных молекул.
На основе в высшей степени монохроматического выходного излучения и замечательной точности измерения частоты СВЧ-спектроскопия представляет собой прецизионный метод, которому уступают все прочие спектроскопические техники. Длины связи могут определяться с точностью до 1/100 ангстрем, а углы между связями — до 1/10 градуса. Однако они не полностью совпадают с равновесными расстояниями, соответствующими самой нижней точке эквипотенциальной кривой. Ведь в случае моментов инерции, полученных из вращательных спектров, речь идет о средних значениях, поскольку атомы в результате нулевого колебания находятся в постоянном движении. По причине так называемой ангармоничности атомных колебаний среднее межатомное расстояние несколько больше равновесного интервала, что, однако, может быть учтено с помощью подходящей коррекции.
Для коммерческого применения предлагаются лишь немногие исполнения микроволновых спектрометров. В 1990 г. фирмой Сименс в сотрудничестве с Центром ядерных исследований в Карлсруэ был разработан предназначенный для анализа газов в режиме реального времени СВЧ-спектрометр под названием «Мипан» (Mipan). Но активное использование микроволновой техники ограничено преимущественно специальными рабочими группами научно-исследовательских институтов. Тем не менее разного рода дополнительные варианты — вроде проведения анализов технологических газов в производстве полупроводников — позволяют надеяться на расширение областей применения микроволновой спектроскопии, например на уровне датчиков при газовом контроле. Помимо прочего, измерительная микроволновая техника представляется идеальным дополнением к хроматографии процесса, где селективность метода приобретается в связи с периодическим режимом работы и длительным периодом измерения.
ГЛАВА 9. АТОМНО-АБСОРБЦИОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
Атомно-абсорбционный спектральный анализ, наряду с атомно-эмиссионной спектрометрией, относится к наиболее важным и эффективным методам исследования неорганических соединений, особенно при определении следовых количеств веществ. Хотя принципы атомной спектрометрии известны еще с середины XIX столетия, техническая оптимизация и разработка упрощенных приемов метода долго не находили своего развития. С начала коммерческого внедрения в 50-е годы атомно-абсорбционная спектрометрия стала широко использоваться в многочисленных химических лабораториях как метод элементного определения на уровне следов. Она в полной мере отвечала требованиям к надежности и быстроте анализа с высокой чувствительностью обнаружения. Благодаря простоте проведения и хорошей селективности атомно-абсорбционная спектроскопия стала прекрасной альтернативой классическим методам исследования состава металлов, сплавов, различных концентратов и т.д. Накопленный опыт работы с такой техникой и многочисленная литература по ее использованию стали прочной базой для дальнейшего развития и совершенствования атомно-абсорбционной спектроскопии как одного из самых надежных методов в сфере следовой и ультраследовой аналитики.
Точное определение элементов в следовом диапазоне приобретает особое значение в ситуациях со сложными матрицами. Это касается самых разных областей применения — от создания новых материалов до решения насущных проблем в сфере биологии и медицины. Если для проверки чистоты вещества интерес представляет тот факт, что при содержании примесных атомов 10-*2 г/г еще можно обнаружить измеряемые зависимости свойств веществ, то в случае биологических матриц в микроследовом анализе целью является, например, определение содержания элементов в отдельных клетках.
Успешно применяются атомно-абсорбционные методики в клинических и биологических анализах, а также для определения магния, железа, цинка, меди и некоторых других элементов в почвах, удобрениях и прочих агрохимических материалах. Помимо чисто аналитического применения, атомно-абсорбционная спектроскопия используется также для определения коэффициентов диффузии, давления насыщенных паров и т.д.
Атомно-абсорбционный спектрометр в своем простейшем исполнении состоит из источника излучения, устройства атомизации пробы (атомизатора), оптической системы, фотодетектора и электронного блока с индикацией сигнала. Как и в случае молекулярной спектроскопии, при атомной абсорбции наблюдают электронные переходы в спектральной области видимого и УФ-света. Но, в отличие от молекул, у атомов электронные переходы есть единственная возможность взаимодействия со светом, так что атомные спектры состоят только из отдельных линий. При использовании элементно-специфичных источников излучения (ламп с полым катодом) со спектрами поглощения, содержащими минимальное количество линий, достигается спектральное разрешение и, следовательно, селективность метода.
Для отделения непоглощаемого света здесь достаточно обычного монохроматора простой конструкции. Классическим средством атомизации является пламя, в котором распыляется раствор пробы. Другие приемы достижения атомизации возможны в печи с графитовой трубкой и в кварцевой кювете для метода на основе гидридов и холодного пара. Спектрометры предлагаются в виде одно- и двухлучевых приборов. Основные принципы конструктивного исполнения атомно-абсорбционных спектрометров не претерпевают серьезных изменений, разве что повышается уровень их технических возможностей[5].
С появлением графитовой трубчатой печи в конце 60-х годов удалось на два-три порядка понизить пределы обнаружения, достигаемые на основе пламенной техники. Так впервые стала доступна область миллиардных долей для стандартных лабораторных измерений ряда металлов. Применение электротермических атомизаторов значительно расширило возможности атомно-абсорбционной спектроскопии и привело к улучшению химико-аналитических характеристик метода. Атомно-абсорбционная спектроскопия по способу графитовой трубчатой печи обладает несомненно более высокой обнаружительной способностью, но и связана с определенными проблемами, которые, впрочем, на данном этапе успешно решаются. Заметный прогресс в этой области был отмечен после создания специальных покрытий для графитовых трубок на основе пиролитического углерода. Дальнейшее совершенствование с применением все более стойких материалов позволяет надеяться на создание в будущем максимально благоприятных условий атомизации.
Между тем оказалось, что резкое повышение чувствительности вызывает сложности особого рода, связанные, например, с неселективным фоном и химическими помехами. Это заставило задуматься о разработке эффективных способов коррекции фона (атомно-абсорбционная спектрометрия Зеемана и принцип Смита — Хифти) и приступить к улучшению рабочих приемов, например при контроле температуры, а также к созданию альтернативных способов подвода газа в графитовые трубки и использованию так называемой матричной модификации.
Приобретающий все большую популярность аналитический контроль производственных процессов и объектов окружающей среды выдвигает постоянно растущие требования к воспроизводимости и точности анализов. Привлечение компьютерной техники и современной электроники позволило произвести необходимые технические усовершенствования и существенно упростить рабочие схемы. С поддержкой ЭВМ протекает автоматическая загрузка проб, осуществляется выполнение индивидуальных программ проведения анализа, обработка и вывод полученных данных.
В области исследования объектов окружающей среды на предмет выявления токсичных металлов вроде ртути, мышьяка, сурьмы и селена предлагаются в качестве специальной принадлежности системы на основе холодного пара и гидридных соединений. В результате перевода в газообразную фазу элементы отделяются от матрицы и могут с высокой чувствительностью измеряться почти без разрушения образца. Более того, такого рода модификации позволяют прямое определение, практически без загрязнений, по крайней мере, в случае летучих металлов, таких как: Cd, Pb, Hg и As. Подобные системы тоже могут быть автоматизированы с целью ускорения процесса прохождения проб.
При совмещении хроматографических методов с атомно-абсорбционной спектрометрией получают детектор, приспособленный именно к элементной аналитике. Такое сочетание уже достаточно давно используется в газовой хроматографии и все чаще берется на вооружение также в жидкостной хроматографии. Это дает возможность определять состояние связи отдельных элементов. Данная специфичность приобретает особое значение в сферах экологии и биологии.
Атомно-абсорбционная спектрометрия всегда конкурирует с другими методами анализа столь же высокой обнаружительной способности, среди которых: инверсионная импульсная и адсорбционная вольтамперометрия, атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой, рентгеновская флуоресценция с полным внешним отражением и плазменная масс-спектрометрия. В последние годы атомно-абсорбционная спектроскопия делает замечательные успехи в области олиго- и мультиэлементного определения, в деле использования проточной инжекции и при прямых аналитических исследованиях твердых веществ.
В своем классическом варианте атомно-абсорбционная спектроскопия представляет собой моноэлементный метод. Определение нескольких (до 10) элементов может проводиться с помощью удобных в обращении приборов, действующих по принципу автоматического переключения ламп. При этом отдельные элементы измеряются последовательно, для чего требуется, соответственно, больший объем проб. Одновременное определение сразу множества элементов достигается за счет того, что свет из нескольких ламп с полым катодом с помощью световодов и линзовой системы в фокусированном виде одновременно направляется через пламя и затем через полихроматор. Достоинством такой конструкции является возможность одновременного детектирования всех аналитических сигналов, для чего полихроматор оснащен соответствующими выходными щелями, а также фотоумножителями, рассчитанными на определенную длину волны.
Потребность в быстрых, простых и дешевых методах анализах может быть удовлетворена с помощью прямых, в достаточной мере автоматизированных, инструментальных способов, не требующих трудоемкой пробоподготовки, при которых подлежащая аналитическому исследованию проба без всякой «мокрой химии» возбуждается для подачи аналитических сигналов. Комбинированные «мокрые» химические способы с обязательным приведением пробы в растворимую форму, разделением и концентрированием являются не только дорогостоящими, но отнимают много времени и к тому же не всегда надежны из-за систематических погрешностей. Сегодня, благодаря сочетанию с методом проточной инжекции, возможна подготовка проб в режиме реального времени, протекающая с высокой помехоустойчивостью в закрытой системе, что существенно снижает опасность загрязнения.
Совмещение проточной инжекции и атомно-абсорбционных методов открывает много новых областей применения. Эта методика считается одной из важнейших инновационных разработок, серьезно обогативших атомную спектрометрию. Проточная инжекция удобна для процессов приготовления и загрузки проб. Простота обслуживания, высокая пропускная способность при минимальном объеме реагентов и самих проб — вот лишь некоторые преимущества этого метода. Возможность определения образцов с высоким содержанием солей, автоматические процессы разбавления проб, подачи буферных растворов и реагентов обеспечивают получение надежных результатов анализов. С помощью проточной инжекции возможна даже автоматизация атомно-абсорбционной спектроскопии на основе холодного пара и гидридных соединений.
Приобретает все большее значение анализ твердых веществ. Эти вещества прямо в виде порошка либо в форме суспензий или взвесей водятся в графитовую трубку. Для металлических материалов имеется специальная камера с устройством ионно-лучевого распыления. Подлежащий анализу материал в результате ионной бомбардировки испаряется в камере. Распыленный материал анализируется в паровом отсеке вполне традиционными методами. Таким способом можно, в частности, быстро и точно определять состав сталей и сплавов.
9.1. Историческая справка
Задолго до того, как открыли строение атомов, уже было известно, что испускаемое возбужденными атомами излучение есть специфичное свойство этих атомов. Феномен поглощения света занимал ученых еще в начале XVIII века, причем главный интерес вызывали сначала кристаллы и жидкости. Окрашивание пламени солями щелочных металлов использовал в 1758 г. Маргграф для различения солей натрия (желтое пламя) и калия (красное пламя), даже не подозревая о причине (атомная эмиссия!) данного явления. Позднее проводились систематические наблюдения за солнечным светом, приведшие Уоллстоуна в 1802 г. к открытию черных линий в солнечном спектре, которые в последующие годы подробно изучил Фраунгофер. Уже в 1820 г. британский физик Брюстер высказал мнение, что так называемые линии Фраунгофера вызываются процессами поглощения в солнечной атмосфере, описав тем самым собственно атомную эмиссию.
Фундаментальные зависимости между атомной абсорбцией и атомной эмиссией определили физик Кирхгофф и химик Бунзен в 1860 г. Это был результат их систематических исследований обращения линий в спектрах щелочей и щелочных земель. Оба однозначно указывали на то, что типичная желтая линия, испускаемая солями натрия в пламени горелки Бунзена, идентична черной D-линии солнечного спектра. Кирхгофф сформулировал затем общий закон, согласно которому любая материя поглощает свет именно на той длине волны, на которой она его и излучает.
Большинство сведений о строении атомов получено на основе экспериментов с атомной спектроскопией. Хотя принцип атомной абсорбции уже давно известен и подробно описан, он почти целое столетие оставался невостребованным химической аналитикой. И только в 1955 г. атомно-абсорбционная спектрометрия была заново открыта Уолшем с коллегами [9.11 и предложена в качестве универсального метода анализа [9.2]. Эта группа ученых из Австралийского центра научных и промышленных исследований (Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization, CSIRO) всесторонне разработала теоретические основы атомно-абсорбционной спектроскопии и принципы ее практического применения, включая описание требуемого аппаратурного оформления метода и приемов работы с пламенем смеси воздуха/ацетилена.
Профессор Б. В. Львов из Ленинграда первый начал заниматься беспламенной атомно-абсорбционной спектроскопией. Уже в 1958 г. он опубликовал свою работу касательно экспериментов с нагретыми печами. Но, несмотря на полученные новые знания, эта методика получила свое практическое воплощение лишь спустя 10 лет.
9.2. Общая характеристика метода
В основе данного метода лежит общеизвестное наблюдение, что пламя в присутствии паров металла так или иначе окрашивается (например, от NaCl оно становится желтым). Если этот свет разложить с помощью монохроматора, то соответствующий элемент в пламени обнаружит себя появлением характеристических светлых линий в спектре (качественный эмиссионный спектральный анализ, или пламенная фотометрия).
Совокупность длин волн, исходящих от источника излучения, есть эмиссионный спектр источника, причем целесообразно различают равномерный, непрерывный спектр излучения пламени «холостого» горения (пламенный фон) и линейчатый спектр излучения атомов металла в пламени. Причину появления спектральной линии составляет то свойство атомов, что их внешние (валентные) электроны забирают (поглощают) определенное количество энергии из пламени и могут переходить при этом в разные, энергетически более высокие состояния.
Атомы способны поглощать и вновь отдавать только совершенно определенные количества энергия. Если у молекул возможны изменения электронных, колебательных и вращательных состояний, то у атомов имеет место исключительно взаимодействие с электронами. В результате поглощения энергии атом может перейти в электронно-возбужденное состояние. При возврате на уровни с меньшей энергией атом затем вновь отдает поглощенную энергию обычно в виде излучения. При термическом возбуждении атом испускает эту поглощенную энергию в форме своего эмиссионного спектра.
Если возбуждение происходит под действием световой энергии, атомы поглощают только точно определенные количества энергии, то есть принимают свет определенной частоты, и тогда наблюдается абсорбционный спектр. Поскольку здесь возможны исключительно электронные переходы между дискретными орбиталями, то и атомные спектры состоят из дискретных линий.
Итак, атомные спектры есть линейчатые спектры.
Наблюдение атомной абсорбции возможно при условии, что в поглощающей ячейке присутствуют атомы: значит, исследуемая проба, например соль металла, должна быть переведена в атомарное состояние. Это достигается путем подвода тепловой энергии. При температуре примерно выше 2000°С почти все известные химические соединения находятся в атомарной форме, то есть, за некоторым исключением, уже нет никаких молекул и ионов. NaCl, который при комнатной температуре имеет ионное строение как в жидкой, так и в газообразной форме, при указанных высоких температурах состоит из атомов натрия и хлора.
Для наблюдения атомной абсорбции исследуемая проба должна находиться в поглощающей ячейке в атомарной форме.
При дальнейшем повышении температуры атомы поглощают тепловую энергию и переходят при этом в возбужденные состояния, пока наконец не будут ионизированы с образованием плазмы. Возбужденные атомы термически вобрали в себя энергию и уже не могут поглощать соответствующий свет; оптической атомной абсорбции более не наблюдается. Таким образом, в отношении температуры приходится идти на определенный компромисс, учитывая следующее: температура должна выбираться с расчетом на достижение быстрой и полной атомизации, но, с другой стороны, она не может быть слишком высокой во избежание возбужденных состояний или ионизации, ибо такие атомы уже более не способны к поглощению света[6].
Высокие температуры для атомизации материи могут быть достигнуты, кроме прочего, с помощью подходящего пламени. В пламени атомы в подавляющем большинстве присутствуют обычно как нейтральные частицы в их основном состоянии E1 (низший энергетический уровень). Когда в это пламя направляют свет подходящей частоты, поглощение даже минимального количества энергии приводит к первому возбужденному состоянию — уровню E2 именуемому также резонансным уровнем. Статистическая вероятность заселенности этого уровня (E2) при возбуждении атомов у разных элементов является почти всегда наибольшей. ΔΕ = Е2 — Е1 есть поглощенная резонансная энергия. Более значительные поглощения энергии приводят к уровням Е3, Е4, Е5 и т.д. Спустя короткое время пребывания в метастабильных состояниях возбуждения (около 10-8 с) возбужденный атом возвращается на более низкий или, соответственно, основной уровень, отдавая при этом высвобождающуюся энергию в виде специфичного для конкретного элемента излучения, то есть со специфичной для данного элемента длиной волны.
Итак, пламя образует собственную поглощающую ячейку с находящимися там атомами. Высокая температура пламени служит для атомизации материи.
Термическое возбуждение атомов осуществляется, согласно распределению Больцмана, тем легче, чем меньше разность энергий между основным и возбужденным состояниями. Следовательно, для заданной температуры с увеличением длины волны поглощения соответствующего элемента возрастает и число термически возбужденных атомов. Это касается, в частности, щелочных и щелочноземельных металлов, разности энергий которых между отдельными электронными орбиталями незначительны и соответствуют длинам волн в видимой области спектра. Уже при относительно низких температурах они термически возбуждаются и начинают испускать свет (окрашивание пламени, нередко используемое в пиротехнике). Но соотношение возбужденных атомов и атомов в основном состоянии весьма невелико, и при проведении аналитических исследований им можно пренебречь.
| Атомная абсорбция | Атомная эмиссия |
|---|---|
Термическое возбуждение материи до атомизации в основном состоянии и измерение поглощения света посредством подходящего источника излучения |
Более высокое термическое возбуждение материи до возбужденных состояний атомов и измерение излучения света возбужденных атомов |
Из всего вышесказанного ясно, что тепловая энергия (пламя) способна возбуждать свободные, находящиеся в основном состоянии атомы, то есть вызывать, например, переход от E1 к Е2 в результате поглощения энергии атомами. Последующее излучение энергии (от Е2 к E1) приводит к испусканию световой энергии очень специфичных длин волн. Вытекающее отсюда взаимодействие между поглощением и излучением можно опять-таки использовать в целях количественного и качественного анализов, посылая в светопроницаемом, невозбужденном пару атома излучение с длиной волны, специфичной для интересующего элемента. Возникающее затем ослабление излучения на используемом фоновом излучателе при прохождении через этот атомарный пар вследствие поглощения энергии является тогда качественным свидетельством наличия соответствующего элемента в данной «поглощающей ячейке». Степень ослабления излучения фонового излучателя относительно неослабленного излучения при прохождении через еще пустую поглощающую ячейку дает количественный результат применительно к интересующему элементу (дифференциальное измерение). Соответственно, совокупность длин волн, поглощенных светопроницаемым телом из фонового излучателя, есть абсорбционный спектр этого тела.
Каждый элемент в невозбужденном основном состоянии поглощает только ту длину волны, которую он сам излучает в возбужденном состоянии. Поэтому речь идет о двух методах — атомной абсорбции и атомной эмиссии (см. табл. 9.1). В идеальном варианте при атомной абсорбции температура поглощающей ячейки должна быть как раз такой, чтобы проба была атомизирована, и присутствовали только атомы в основном состоянии. При атомной эмиссии, напротив, температура должна быть гораздо выше, чтобы получить как можно больше возбужденных атомов и, значит, достаточно интенсивный спектр излучения определяемых элементов.
9.3. Линейчатый спектр
Если бы атом имел только одно возбужденное состояние, то получилась бы лишь одна-единственная линия спектра поглощения. Фактически же наблюдается множество спектральных линий, расстояния между которыми по мере укорочения длин волн становятся все меньше и интенсивность которых понижается, пока наконец не достигается некая предельная точка, начиная с которой уже не видно ни одной линии, — наступает непрерывное поглощение: это граница спектральной серии, или сплошная среда ионизации (рис. 9.1).
Число всех электронных переходов и, следовательно, число спектральных линий для того или иного элемента определяется расположением внешних электронов в атоме. Атомы с малым числом внешних электронов, как, например, у щелочных металлов, обладают спектрами с минимальным количеством линий; атомы со сложной структурой внешней оболочки, особенно элементы побочных групп, дают спектры со множеством линий. Спектры атомов и ионов с одинаковым числом электронов, то есть, например, Na, Mg+1 и Аl+2, имеют при этом аналогичное строение, но положение соответствующих друг другу линий не является идентичным (закон смещения Косселя).
С целью возбуждения резонансных линий к щелочным металлам надо подводить особенно низкую, а к металлоидам — очень высокую энергию. При этом резонансная линия закономерно сдвигается из видимой области спектра в тяжелодоступную при экспериментах область вакуумного ультрафиолета. В принципе любой элемент можно определять на основе атомной абсорбции, ибо атомы всех элементов возбуждаемы и тем самым способны к поглощению. Ограничения здесь могут возникнуть лишь в силу аппаратурных причин. Основную область применения атомно-абсорбционной спектрометрии составляют поэтому определения металлов и полуметаллов. Это ограничение метода атомной абсорбции связано, следовательно, исключительно со спектральной областью, а не с исполнением подходящего для тех или иных элементов линейчатого излучателя, как можно было бы предположить.
Итак, определяемые с помощью атомной абсорбции элементы устанавливаются через спектральную область, в которой они поглощают свет. Линии спектра поглощения металлов находятся в области от видимой до ультрафиолетовой, в то время как металлоиды поглощают в основном в труднодоступном вакуумном ультрафиолете.
Атомно-абсорбционная спектрометрия используется, таким образом, в целях обнаружения и количественного определения элементов преимущественно металлического ряда. Для качественного анализа элемента достаточно обнаружения одной-единственной линии, и совсем не требуется регистрировать весь линейчатый спектр. Каждая отдельная линия в принципе элементно-специфична, то есть способна характеризовать какой-то конкретный элемент, хотя здесь не исключены совпадения с линиями других элементов. При количественном определении измеряется поглощение у одной линии. И здесь тоже действует закон Ламберта — Бера, то есть понижение интенсивности источника излучения непосредственно связано с числом поглощающих атомов N.
|
В области справедливости закона Ламберта — Бера требуется определить лишь некую нулевую точку путем измерения так называемого «холостого» раствора. Для получения высоких величин поглощения линия эмиссионного спектра должна быть очень узкой по сравнению с линией абсорбционного спектра. В этом случае k соответствует максимальному коэффициенту поглощения в центре линий.
9.3.1. Правила отбора
Атомный спектр по большому счету определяется всей системой валентных электронов, представленной набором квантовых чисел, среди которых: главное квантовое число п, орбитальное, или побочное, квантовое число L, спиновое квантовое число S, или просто спин, и внутреннее квантовое число J. При этом внутреннее квантовое число формируется из внутриатомной связи спинового и орбитального моментов. Благодаря этой связи (известной как схема слабой связи Рассела — Саундерса) спиновой и орбитальный моменты при сложении векторов (J = L + S) могут находиться относительно друг друга либо параллельно, либо антипараллельно. Это приводит к дальнейшему расщеплению энергетических уровней.
У всех атомов с нечетным числом электронов магнитные моменты внутриатомной связи не могут компенсироваться полностью, остается еще, как минимум, один спиновой момент. Так, у атома натрия спиновой и орбитальный моменты внутренних электронных оболочек компенсируются до нуля. Внешний электрон может ориентировать свой спиновой момент относительно орбитального момента двояким образом — параллельно или антипараллельно. Тогда происходит расщепление на два энергетических уровня, именуемых дублетом.
В основном состоянии внешний электрон находится на s-орбитали, орбитальный момент которой равен нулю и поэтому не расщеплен. В первом возбужденном состоянии неспаренный электрон находится на p-орбитали при орбитальном квантовом числе, равном 1. В результате связи со спиновым квантовым числом S = 1/2 внутреннее квантовое число может суммироваться с _J = 1/2 или J = 3/2. Переходы из основного состояния в это состояние возбуждения приводят поэтому к двум тесно прижатым друг к другу линиям, которые в случае «D-линии натрия» располагаются при 589,0 и 589,6 нм, как видно на рис. 9.2.
В отношении переходов электронов при поглощении света действуют следующие правила отбора:
ΔL = ±1
ΔJ =±1
ΔJ = 0 (за исключением J = 0 → J = 0).
9.3.2. Отбор линий
Все линии, выходящие из основного терма атома, называются резонансными и в соответствии с вероятностью их переходов различаются интенсивностью поглощения. Для атомов простейшего строения, какие бывают у щелочных и щелочноземельных металлов, самая интенсивная и легче всего возбуждаемая линия соответствует переходу из основного состояния в первое возбужденное состояние. При этом переходе требуется совсем небольшая энергия и, следовательно, минимальная частота возбуждающего света. Для целого ряда иных элементов часто более интенсивны другие линии, соответствующие переходам из основного состояния в более высокие состояния возбуждения.
Для достижения требуемой способности к обнаружению в большинстве случаев используют атомную линию максимальной интенсивности. Но, во избежание помех, нередко считают за благо воспользоваться другой линией. Положения отдельных атомных линий и принципы отбора наиболее подходящих из них для количественной оценки уже многократно и подробно описаны. Изготовители спектрального оборудования прилагают к каждому атомно-абсорбционному спектрометру специальный сопроводительный документ с указанием длин волн атомных линий для всех определяемых элементов и подробную инструкцию по пользованию прибором. В случае компьютеризованных устройств необходимые параметры включены в программное обеспечение ПК. Тогда достаточно выбрать через меню подлежащий исследованию элемент, а все прочие настройки компьютер возьмет на себя.
9.3.3. Чувствительность и пределы обнаружения
Аналитическая эффективность элементного определения выражается обычно двумя разными измеряемыми показателями. Как характеристическая концентрация, так и предел обнаружения несут в себе весьма важную информацию[7].
Характеристическая концентрация есть мера чувствительности, определяемая как масса анализируемого элемента, выдающая сигнал абсорбции Е = 0,0044, что соответствует поглощению 1%[8]. Предел обнаружения есть такая концентрация элемента в растворе, которая дает абсорбцию, соответствующую тройному стандартному отклонению «холостой» пробы. Этот показатель отражает отношение сигнал/ шум измерительного прибора и обусловливается многими факторами, среди которых: особенности конструктивного исполнения прибора, в частности его оптической системы, а также характеристическая концентрация и стабильность сигнала. Сопровождаемый сильным шумом сигнал серьезно затрудняет процесс различения аналитического сигнала на фоне случайных колебаний в основной линии.
Точные измерения принципиально невозможно провести вблизи пределов обнаружения. На границе обнаружения точность измерения, то есть стандартное отклонение, занимает место в районе 33%. Поэтому на практике рутинные лабораторные анализы проводятся в области концентраций, находящейся минимум в 6—10 раз выше установленного предела обнаружения.
Пределы обнаружения можно понизить за счет улучшения отношения сигнал/шум. Отбор атомной линии определяет чувствительность. Обычно для этой цели используют самую интенсивную резонансную линию, поскольку линии меньшей интенсивности показывают худшие пределы обнаружения. Увеличение светопропускания достигается применением более сильных ламп и расширением щели. Но ширина щели влияет на спектральное разрешение резонансной линии, и при повышенных концентрациях усиливается искривление градуировочного графика, если ширина щели выбирается слишком большой.
При этом следует обязательно учитывать такой фактор, как старение лампы. Когда срок службы лампы заканчивается, изменяются ее спектральные характеристики. Это приводит к ухудшению отношения сигнал/шум и повышению пределов обнаружения.
9.4. Атомно-абсорбционный спектрометр
Общая конструкция атомно-абсорбционного спектрометра проста и лишь немного отличается от исполнения спектрометра для УФ/видимой областей. Если в последнем случае в качестве поглощающей среды служит кварцевая кювета, то при атомной абсорбции используется поглощающая высокотемпературная ячейка, где исследуемая проба подвергается атомизации. При стандартных определениях следовых количеств веществ для этой цели успешно применяют подходящее пламя (рис. 9.3). Далее, требуется источник излучения для получения спектра интересующего элемента: известные лампы с полым катодом испускают линейчатый спектр подлежащего исследованию элемента. Наконец, монохроматор обеспечивает спектральное разложение света, а детектор осуществляет измерение интенсивности излучения.
Требования к спектральному разрешению абсорбционного спектрометра не столь строги, как в отношении эмиссионного спектрометра. Поэтому, как правило, используются монохроматоры с разрешением около 0,1 нм, которые, будучи смонтированы на устойчивом основании, гарантируют длительную работу без нежелательных дрейфов.
9.4.1. Принцип модуляции и спектральные помехи
Как уже говорилось выше, из пробы, размещенной в горячей поглощающей ячейке, возникают не только атомы в основном состоянии, способные затем поглощать свет. Кроме этого, какая-то часть атомов пробы термически возбуждается и может, в свою очередь, испускать излучение. Таким образом, детектор принимает не только излучение из источника света, ослабление которого атомами пробы измеряется по принципу атомно-абсорбционной спектроскопии, но и излучение возбужденных атомов в пробе. Если при этом речь идет не об атомах интересующего элемента, а о примесных атомах сопутствующих элементов, также содержащихся в пробе, то по причине так называемых спектральных помех это может привести к значительным искажениям результатов измерения. Если свет не отфильтрованной монохроматором линии спектра излучения тоже попадает на детектор, то последний фиксирует меньшее понижение интенсивности света, чем это соответствует искомой атомной абсорбции.
Во избежание помех такого рода, хорошо известных по эмиссионному спектральному анализу, в атомно-абсорбционной спектроскопии применяют принцип переменного света, или принцип модуляции. К такому способу прибегал еще Уолш в 1953 г., пытаясь устранить вызванные световым излучением помехи. С этой целью исходящее от источника света излучение модулируется с определенной частотой, например 50 Гц, причем:
Этим создается возможность различения модулированного, элементно-специфичного излучения из источника света и непрерывного, немодулированного излучения мешающих элементов из пламени. После прохождения через пламя излучение состоит из модулированной части — ослабленного атомной абсорбцией излучения источника света и немодулированной части — излучения, испускаемого пламенем (рис. 9.4).
Для разделения двух видов излучения используют подключенный к приемнику селективный усилитель, настроенный на ту же частоту модуляции, что и источник первичного света. При подобной схеме детектор «видит» только характеристическое для конкретного элемента понижение мощности излучения источника света.
9.4.2. Ширина спектральных линий
Так как у атомно-абсорбционного спектрометра источник света отображается на детекторе или, соответственно, на находящейся перед ним выходной щели монохроматора, к нему должны предъявляться совершенно определенные требования. Оптимальный коэффициент полезного действия получают при использовании светосильного источника излучения с достижением, при очень высоких концентрациях атомов, полного погасания (поглощения), ибо тогда даже незначительные изменения в концентрации атомов дают четкие, измеряемые различия в поглощении.
Успешнее всего с это задачей справляется источник света, излучающий только спектр интересующего элемента, а именно в форме узких линий, ширина которых меньше ширины линий поглощения, которые сами обладают конечной шириной. Полуширина, то есть ширина при половинной высоте линии, находится в области порядка величины от 0,0005 до 0,005 нм, обусловленной неупорядоченным тепловым движением атомов и разнообразными их столкновениями. Дополнительно образуется так называемая сверхтонкая структура линий, вызванная изотопным смешением и спином ядра. Но такой эффект может наблюдаться только при очень тяжелых либо очень легких атомах, обычно же данная тонкая структура тонет в нормальных эффектах уширения.
Итак, полуширина атомных линий находится в диапазоне от 0,0005 до 0,005 нм. Идущий от источника возбуждающий свет должен попадать точно на этот узкий интервал частот.
Поскольку атомы могут поглощать лишь в таком очень узком интервале частот, к источнику излучения приходится предъявлять совершенно особые требования. Непрерывные источники света здесь даже не рассматриваются[9], так как при выделении столь узкого интервала через соответствующую оптическую диафрагму неизбежно происходило бы резкое понижение интенсивности излучения. Поэтому лучше использовать линейчатые излучатели, выдающие именно спектр определяемого элемента. Лампы с полым катодом и безэлектродные излучатели, возбуждаемые высокой частотой, в полной мере отвечают этим требованиям, если только не эксплуатируются со слишком высокой силой тока и, соответственно, с максимальной мощностью. Но при подобных линейчатых излучателях приходится с помощью монохроматора отделять только резонансную линию от других спектральных линий того же элемента. На детектор попадает тогда лишь резонансная линия с вызванным пробой индицируемым ослаблением. В этом случае абсорбция прямо пропорциональна общему числу имеющихся свободных атомов.
Итак, применение элементно-специфичных источников излучения с малой шириной спектральных линий и одновременное использование принципа модуляции исключают при атомно-абсорбционной спектроскопии возможные спектральные помехи, сообщая этому способу высокую характеристичность и требуемую избирательность.
9.5. Лампы с полым катодом
В современной практике для целей возбуждения находят применение главным образом лампы с полым катодом, ибо они с точки зрения мощности и удобства обращения в наибольшей степени соответствуют условиям повседневной работы. Такая лампа состоит из стеклянного баллона цилиндрической формы, заполненного под давлением в несколько миллибар инертным газом (неоном или аргоном), с впаянными катодом и анодом. Сам катод изготовлен в виде полого цилиндра или стаканчика, либо заполненного интересующим материалом, либо просто выполненного из такового. Анод в большинстве случаев представляет собой кусок толстой проволоки, чаше всего из вольфрама или никеля (рис. 9.5).
Если между катодом и анодом подается напряжение от 100 до 400 В, то происходит разряд: газ-наполнитель ионизируется, ионы газа вследствие градиента потенциала падают на металлическую поверхность катода и там разряжаются. Одновременно с этим атомы металла выбиваются из поверхности катода и возбуждаются. Эти возбужденные атомы металла при возвращении в основное состояние выдают затем спектр излучения материала катода. Поскольку данный процесс в лампе протекает при сильно пониженном давлении, то уширение линий в результате низкого давления становится едва заметным. Линии спектра излучения, таким образом, обладают меньшей шириной, чем линии спектра поглощения, наблюдаемые при атмосферном давлении.
Так как наибольшая часть излучения выходит из внутренней части полого цилиндра, то это испускание достаточно хорошо фокусируется и направляется. В результате повышения регулируемого тока лампы излучается больше света и создается лучшее отношение сигнал/шум. Недостатком же является связанное с этим уширение резонансной линии, вызываемое эффектом самопоглощения. Такое самопоглощение лампы объясняется тем, что образующееся перед эмиссионным катодом атомное облако само поглощает испускаемое излучение и, следовательно, посылает меньше света на собственно поглощающую ячейку. Это приводит к снижению чувствительности поглощения и сокращению срока службы лампы. Поэтому ни в коем случае не следует превышать указанную на каждой лампе величину тока. Этот отрицательный для данной ситуации эффект приобретает вполне положительный характер при измерении фона (принцип Смита — Хифти), о чем ниже будет говориться подробнее.
Для повышения яркости лампы может быть встроен дополнительный катод, служащий источником электронов. Испускаемые электроны возбуждают при этом другие атомы, остающиеся в основном состоянии. С таким дополнительным газовым разрядом у подобных «суперламп» повышается световая мощность. Благодаря этому стихает обусловленный основными линиями шум и уменьшается самопоглощение [9.31.
9.5.1. Многоэлементные лампы с полым катодом
Все чаще воспринимается как недостаток тот факт, что при атомно-абсорбционной спектроскопии в принципе для любого определяемого элемента приходится использовать отдельный источник света, в связи с чем уже давно предпринимались попытки создания так называемых многоэлементных ламп с полым катодом. С этой целью разные порошкообразные металлы смешиваются в определенной пропорции, прессуются и спекаются до получения полого катода. Таким способом можно получить практически любые сочетания разных металлов. Правда, придется смириться с тем обстоятельством, что интенсивность спектра для каждого отдельного элемента будет несколько слабее, чем в случае сравнимых одноэлементных ламп.
В то время как комбинированные лампы, рассчитанные на 2 или 3 элемента, не создают особых проблем в процессе эксплуатации, у ламп для четырех или более компонентов вещества интенсивность излучения для отдельных резонансных линий частью гораздо ниже, чем у одноэлементных ламп. Результатом этого может стать неблагоприятное отношение сигнал/шум, поскольку данный факт влияет как на точность, так и на предел обнаружения прибора. Следует помнить, что при использовании многоэлементных полых катодов ни в коем случае не должно исчезнуть неоценимое преимущество атомно-абсорбционной спектроскопии, а именно специфичность этого метода, что вполне может произойти в силу спектральных помех при наличии неподходящих сочетаний металлов.
9.5.2. Безэлектродные разрядные лампы
При использовании лампы такого типа радиочастотами возбуждается излучение соответствующего элемента из чистого металла, галогенидов либо металла с добавлением йода. Безэлектродные разрядные лампы состоят из запаянной с обоих концов кварцевой трубки длиной несколько сантиметров и диаметром от 5 до 10 мм. Они заполнены несколькими миллиграммами интересующего элемента в среде аргона под давлением в несколько миллибар. Эта трубка помещается в катушку высокочастотного генератора 27 МГц и возбуждается с мощностью до 200 Вт. Главным достоинством безэлектродных разрядных ламп, по сравнению с традиционными лампами с полым катодом, является на порядки более интенсивное излучение.
9.6. Процесс атомизации
Атомизация, то есть перевод пробы в атомарное состояние, представляет собой достаточно сложный процесс, в конечном итоге определяющий успех атомно-абсорбционного анализа. Впрочем, приборная техника и уровень знаний в области процессов атомизации в последние годы поднялись на такую высоту, что аналитик способен сегодня решить практически любую задачу. На роль устройства атомизации могут быть выбраны:
9.6.1. Атомизация в пламени
Самым давним и по сей день наиболее распространенным средством атомизации является пламя подходящей температуры. Пламенную атомно-абсорбционную спектроскопию обоснованно относят к числу весьма эффективных и быстрых методов. Задача пламени здесь заключается в том, чтобы из имеющихся в пробе ионов или молекул получить атомы металла в основном состоянии. Устойчивое горение пламени возможно лишь при условии, что скорость течения газовой смеси будет равна скорости его горения. По этой причине в случае быстро сгорающих смесей газов приходится работать с высокими скоростями течения, и здесь речь может идти в основном о двух разных видах пламени, различающихся своей температурой. Это:
| Горючий газ | Окислитель | Температура пламени, °C | Скорость горения, см·с-1 | Характер пламени | Применение в аналитике |
|---|---|---|---|---|---|
Метан |
Воздух |
1 800 |
55 |
Ламинарный |
Определение щелочных металлов |
Ацетилен |
Воздух |
2 300 |
260 |
Ламинарный |
Поглощающая ячейка для атомноабсорбционной спектроскопии |
Водород |
Кислород |
2 600 |
3 700 |
Турбулентный |
Ранее - для определения тяжелых металлов |
Ацетилен |
Закись азота (веселящий газ) |
2 800 |
120 |
Ламинарный |
Поглощающая ячейка для атомноабсорбционной спектроскопии |
Для ряда особых ситуаций может быть рекомендовано пламя смеси воздуха с водородом или диффузионное пламя смеси аргона с водородом. На практике встречается два типа горелок — ламинарная и турбулентная. В ламинарной горелке атомизм - руется только часть распыленной в пламени пробы, в то время как турбулентная горелка функционирует по принципу полного расхода (total consumption). В табл. 9.2 приведена характеристика разных видов пламен. В области аналитических исследований особой популярностью пользуется ламинарная горелка с учетом ее благоприятных свойств с точки зрения шумов и фоновых эффектов.
9.6.1.1. Пламя смеси воздуха и ацетилена
Речь пойдет о самом известном и самом распространенном в атомно-абсорбционной спектрометрии пламени на основе воздуха/ацетилена с температурой около 2300°С. Оно создает для множества элементов наиболее благоприятную среду и вполне достаточную для атомизации температуру, причем только в исключительных случаях (например, при щелочных металлах) отмечается заметная ионизация. Это пламя абсолютно прозрачно в широкой области спектра и только ниже 230 нм обнаруживает сколько-нибудь значимое самопоглощение. Кроме того, эмиссия пламени воздух/ацетилен очень невелика, так что для многих элементов могут быть созданы просто идеальные условия. В стандартном варианте пламя действует по принципу стехиометрии либо слабого окисления (при избытке воздуха), но оно может варьироваться в широком диапазоне, что еще больше расширяет область его применения. В пламени с сильным окислением можно определять некоторые благородные металлы (Au, Ir, Pd, Pt, Rh) с максимальной чувствительностью и практически без разрушения образца. Для щелочноземельных металлов, напротив, лучше подойдет пламя с легким восстановительным действием (при избытке ацетилена).
Так как, согласно закону Ламберта — Бера, абсорбция пропорциональна длине пути прохождения через поглощающую ячейку, горелки выполняются в форме удлиненной щели. Обычные щелевые горелки имеют длину щели 10 см и ширину 0,5 мм. Для прохождения света полого катода по всей длине щели горелка должна быть установлена точно в оптическом ходе лучей.
9.6.1.2. Пламя смеси веселящего газа и ацетилена
Температуры пламени смеси воздуха с ацетиленом бывает недостаточно, чтобы диссоциировать многочисленные, преимущественно оксидные связи или воспрепятствовать их образованию в пламени. Для этой цели лучше воспользоваться пламенем на основе веселящего газа (закиси азота) и ацетилена, дающим температуру около 2800°С. Это более горячее пламя обеспечивает, благодаря его низкой скорости горения, благоприятное химическое, термическое и оптическое окружение практически для всех металлов, определение которых с использованием пламени воздух/ацетилен вызывает некоторые трудности. Рассматриваемое пламя обладает восстановительным действием и поэтому успешно используется для определения элементов, имеющих сильное сродство к кислороду (алюминий, бор, кремний и редкоземельные металлы).
Пламя смеси веселящего газа/ацетилена, используемое обычно с некоторым избытком горючего газа, показывает над голубовато-белой зоной первичной реакции высотой от 2 до 4 мм характерную красную восстановительную зону высотой от 5 до 50 мм. Над ней высится тогда зона вторичной реакции бледного синевато-фиолетового цвета, в которой осуществляется окисление горючего газа. С аналитической точки зрения интерес представляет лишь красная восстановительная зона. Здесь происходит термическая диссоциация вещества пробы в атомы, и здесь может протекать также, пока не очень сильное, окисление атомов металла.
Пламя смеси веселящего газа и ацетилена зажигается не напрямую, а косвенно — через пламя смеси воздуха/ацетилена. При этом компьютеризованная система газоснабжения автоматически меняет подачу газа для разных видов пламени. Горение пламени осуществляется согласно стехиометрическому уравнению:
|
Следует, тем не менее, указать на два недостатка этого вида пламени, которые надо обязательно принимать в расчет. Приходит время, когда многочисленные элементы в горячем пламени более или менее сильно ионизируются, обнаруживая понижение чувствительности; кроме того, такое пламя обладает довольно значительным самопоглощением.
9.6.1.3. Распылители и смесительные камеры
Пламенная атомно-абсорбционная спектроскопия ограничивается анализом растворенных проб. Предлагаемые в жидком состоянии пробы подаются в пламя в виде аэрозоля, при этом добротность измерения в значительной мере зависит от надежности функционирования систем горения и распыления. Еще в прошлом веке Г.Л. Гой использовал при изучении причин окрашивания пламени концентрический пневматический распылитель с непрерывной загрузкой материала |9.4|. Позднее этот тип распылителя нашел применение в первых фотометрах для фотометрии пламени. В большей части пламенных атомно-абсорбционных спектрометров еще и сегодня используются системы ламинарного горения с концентрическим пневматическим распылителем. Такая система должна быть химически неактивна, чтобы можно было работать и с коррозионными растворами. Все компоненты, соприкасающиеся с раствором пробы, изготовляются поэтому из коррозионностойкого материала, например из платино-иридиевого сплава.
Задачей распылителя является перевод раствора пробы в состояние тонкого аэрозоля. Достаточно эффективная атомизация в пламени достижима для капель диаметром всего лишь несколько микрометров. Отдельные процессы, протекающие при атомизации, представлены на рис. 9.6. Для более крупных капель требуется больше времени на процессы испарения растворителя и расщепления солей металлов, так что в этом случае полной атомизации не происходит, к тому же имеют место некоторые светопотери. Таким образом, чувствительность системы определяется способностью максимально эффективно переводить пробу в желаемый гранулометрический состав с осаждением более крупных капель.
Выход готового аэрозоля может составлять от 5 до 10%.
В качестве распыляющей среды используют окислительный газ, то есть воздух или закись азота, подаваемые в распылитель под давлением 2-3 бара[10]. Проходя через круглое выходное отверстие, газ ускоряется вокруг центрального капилляра до достижения ультразвукового диапазона. При таком ускорении газа через узкое выходное отверстие на вершине капилляра создается частичный вакуум. В этой разреженной зоне жидкая проба всасывается и уносится потоком газа. При встрече потока жидкости с очень быстрым потоком газа жидкость под действием высоких срезающих сил разрывается на мелкие капли.
Как видно из рис. 9.7, аэрозольная смесь отбрасывается на бусину[11], где, с одной стороны, продолжается образование аэрозоля, а с другой стороны, собираются и затем стекают более крупные капли [9.5]. Далее аэрозоль попадает в смесительную камеру. Здесь вновь теряется часть капель в результате их столкновения друг с другом или ударения о внутренние стенки. После осаждения оставшихся крупных капель хорошо смешанный с горючими газами тончайший аэрозоль попадает в пламя (рис. 9.8), где он сначала высушивается. Остаются химические соединения, из которых при дальнейшем подводе тепла возникают атомы в основном состоянии.
Основные преимущества атомизации в пламени заключаются в быстроте данного метода, простом обслуживании оборудования и практически полном отсутствии помех, что способствует дальнейшему распространению атомно-абсорбционной спектроскопии в разных областях применения. Воспроизводимость в пламенной технике, как правило, лучше 1%. К недостаткам же можно отнести относительно высокий расход измеряемого раствора. Пробы обрабатываются со скоростью от 2 до 10 мл в минуту. Между тем с помощью высокоэффективного атомно-абсорбционного спектрометра с коротким временем срабатывания при продолжительности всасывания около 2 секунд удается добиться достаточно хороших результатов.
Спектры, получаемые в пламени, более просты, чем дуговые и искровые, так как температура пламени ниже, чем в электрических источниках возбуждения.
Это облегчает анализ, но, вместе с тем, сужает возможности метода в отношении числа определяемых элементов.
9.6.1.4. Градуировка и коррекция графика
Количественные определения проводят методом градуировочного графика с применением соответствующих приемов градуировки. Для этого потребуется «холостой» (чистый) раствор и минимум один или лучше несколько стандартов. Обычный холостой раствор содержит матрицы проб (если таковые известны) и химикаты, необходимые для соответствующей коррекции фона. На основе холостой величины создается базовая линия, причем устройство должно быть установлено на абсорбцию, равную 0. Все приборы располагают для этой цели кнопкой «автоматического нуля» (Auto-Zero). Автоматическое переключение на нуль играет столь же важную роль в правильности анализа, как и тщательный отбор стандартных растворов. Поэтому при холостом значении надо использовать ту же самую частоту считывания и такое же время интегрирования, как при стандартах и пробах. Необходимо располагать исходными данными в виде надежной аналитической информации, прежде чем таковые будут обработаны в применимые результаты. Поэтому чрезвычайно важно с максимальной тщательностью подойти к установлению времени и периодичности наблюдения, равно как и к отбору требуемых постоянных времени [9.6].
Итак, сначала подаются всасыванием стандартные растворы, по полученным данным абсорбции строится градуировочный график и при необходимости корректируется. Затем осуществляется всасывание раствора пробы, причем полученные ранее данные служат в качестве коэффициентов пересчета абсорбции в концентрацию. Здесь решающее значение имеет тот факт, что для проб используются те же параметры, что и для стандартов или, соответственно, холостых растворов. В современном оборудовании все задачи подобного рода решаются компьютером с управлением через меню, а градуировочный график индицируется на графическом дисплее. Обычно раствор пробы подается до тех пор, пока не достигается устойчивое, не зависимое от времени ослабление излучения (рис. 9.9). Сигналы интегрируются через определенные, регулируемые интервалы времени с расчетом затем среднего значения. Этот процесс можно повторять до тех пор, пока значения не стабилизируются. Расход проб исчисляется обычно несколькими миллилитрами измеряемого раствора, прогоняемого через распылитель.
Коррекция градуировочного графика является важнейшей задачей в атомноабсорбционной спектроскопии, выполнение которой берет на себя компьютер. Если работа ведется в области справедливости закона Ламберта-Бера, то градуировочные графики должны представлять собой прямые линии. Кривые же нередко бывают неравномерно изогнуты (рис. 9.10). Основной причиной подобного искривления могут быть эффекты рассеянного света[12]. Эмиссионная линия излучающей лампы с полым катодом шире абсорбционной линии[13], так что фронты поглощаться не могут, но рассеиваются в монохроматоре. Монохроматор должен обладать достаточно хорошим разрешением, чтобы указанное искривление было как можно меньше. Ширины щели 0,1—0,2 нм[14] обычно бывает достаточно для решения стандартных аналитических задач. Во многих случаях рекомендуется даже выбирать щель большей ширины, чтобы получить желаемое повышение энергии. Это возможно, если лампа с полым катодом имеет в соответствующем диапазоне измерения простой спектр. Помимо прочего, существуют еще явления ионизации и диффузии, наблюдаемые преимущественно в графитовых трубчатых печах.
9.6.2. Атомизация в графитовой трубчатой печи
Пламенная методика имеет, конечно, свои пределы: распылять можно только растворенные или жидкие пробы не слишком высокой вязкости; для получения аналитического сигнала требуется определенный минимальный объем вещества; пламя в дальнем ультрафиолете обнаруживает все возрастающее самопоглощение, которое на уровне ниже 200 нм значительно ограничивает применение этого способа. Но наибольшие ограничения пламенного способа сегодня связаны все же с недостаточной чувствительностью. Хотя пламя оптимально функционирует в диапазоне миллионных долей (мг/л) и, следовательно, может использоваться для определения основных и сопутствующих компонентов, достигаемые при этом пределы обнаружения уже никак не отвечают современным требованиям, предъявляемым к исследованиям объектов окружающей среды или процессам контроля качества. Поэтому уже давно ведется поиск таких способов атомизации, которые позволили бы исключить присущие пламенной технике недостатки. Самым успешным и ныне широко применяемым в области следовой аналитики способом считается атомизация в нагреваемой графитовой трубке, упорно внедряемой также в сферу измерений на уровне ультраследов[15].
Еще в 1959 г. Борис Львов из Санкт-Петербурга предложил графитовую трубчатую печь для реализации способа атомно-абсорбционной спектрометрии [9.7]. Он описал фундаментальные физические принципы, положенные в основу генерации и уноса атомов из нагретой графитовой трубки [9.8]. Выполненная Львовым экспериментальная конструкция указала пути для лучшего понимания этой методики, но была столь сложна, что вряд ли могла использоваться в повседневной аналитической работе. Впрочем, условия атомизации при этом признавались идеальными. Определяемая проба испарялась в электрической дуге[Испарение с торца электрода, нагреваемого дуговым разрядом. — Прим. ред.], и облако газа направлялось в отдельную графитовую трубку. Температура обдуваемой аргоном графитовой трубки постоянно удерживалась на уровне 3000°С.
Лишь в 1970 г. технически намного более простая печь была предложена как коммерческое устройство для проведения классической атомно-абсорбционной спектроскопии. [9.9]. Но прошло еше почти 10 лет, прежде чем на основе столь своеобразной поглощающей ячейки был разработан надежный метод для ультраследового диапазона без необходимости химического обогащения или отделения матриц [9.10]. В такой печи проба испаряется и одновременно атомизируется в импульсном режиме. При этом следует особо отметить гораздо более эффективный по сравнению с пламенной методикой ввод проб — на уровне 50—90%.
Графитовая трубка длиной около 30 мм и с внутренним диаметром порядка 6 мм находится в ходе лучей атомно-абсорбционного спектрометра. Упруго удерживаемая графитовыми контактами, трубка размешена в охлаждаемом корпусе с протекающим инертным газом (аргоном или азотом) — во избежание возгорания графита. В нее помешается несколько микролитров пробы, и путем подачи переменных напряжений на концы трубки при относительно высокой силе тока до 400 А на основе ее внутреннего сопротивления достигается нагрев до температур порядка 3000°С (рис. 9.11).
Твердые образцы можно вводить в трубку как в виде порошка, так и в виде суспензии. Вообще с аналитикой твердых проб связан целый ряд преимуществ, значение которых продолжает расти [9.11]. В частности, здесь можно обходиться без отнимающих много времени и весьма трудоемких операций — приведения вещества в растворимую форму, а также без разделения и обогащения. Благодаря этому удается избежать опасности занесения загрязнений и исключить потери вещества в ходе подготовки проб. Этим выполняется главное требование следовой аналитики относительно максимально возможного сокращения числа промежуточных шагов. Навески проб находятся в диапазоне от 0,1 до 5 мг [9.12].
Загрузив в графитовую трубку жидкий, разбавленный или даже твердый образец, пытаются сначала путем ступенчатого или плавного повышения температуры по возможности удалить некоторые сопутствующие вещества, чтобы свести к минимуму нежелательные реакции между определяемым элементом и примесями, исключив тем самым мешающее поглощение. С электронным регулированием температуры проба вначале высушивается при 80—150°С, после чего осуществляется пиролиз при температурах от 150 до 1000oС. И только теперь, в результате дальнейшего быстрого повышения температуры, интересующий элемент наконец термически диссоциируется в атомы (рис. 9.12). При этом температура на этапе пиролиза может быть такой высокой, насколько это возможно, но не должна пока вызывать испарения с потерей определяемого элемента.
На этапе атомизации температура должна быть лишь на уровне, необходимом для перевода материи в атомарное основное состояние [9.13]. Температуры, требуемые для процесса атомизации и нагрева трубки, необходимо поддерживать постоянными не менее 10 секунд[16], затем графитовая трубка за короткое время вновь доводится до комнатной температуры.
Первое серьезное отличие от атомизации в пламени, которое во время подачи пробы имеет постоянную и никогда не изменяющуюся температуру, состоит в том, что некоторые компоненты пробы (например, растворитель) перед атомизацией интересующего элемента отделяются и уже не мешают, как это бывает в пламени. Но термические и химические условия должны быть оптимизированы с целью достижения как можно более полного перевода определяемого элемента в свободные атомы.
Еще одним достоинством рассматриваемого способа является атмосфера инертного газа, при которой в графитовой трубчатой печи протекает атомизация, причем эта атмосфера поддерживается также сильными восстановительными свойствами накаливаемого углерода. Если в случае пламени всегда существует опасность, что образовавшиеся в результате термической диссоциации атомы соединятся с обладающими высокой реакционной способностью компонентами пламени (атомами кислорода, гидроксильными радикалами) и поэтому не смогут быть определены, то инертная, восстановительная атмосфера в графитовой трубке только способствует процессу атомизации.
Но главное преимущество данного способа заключается в 100—1000-кратном повышении чувствительности по сравнению с пламенной атомно-абсорбционной спектроскопией: его абсолютная обнаружительная способность находится в пикограммовом диапазоне, и для анализа достаточно пробы в количестве от 10 до 50 мкл [9.141. Повышенная способность к обнаружению объясняется тем, что во время измерения в определяемом объеме отсутствует растворитель и не происходит разбавления примесными газами, например горючими газами пламени.
Справедливости ради следует заметить, что атомно-абсорбционная спектроскопии в печи с графитовой трубкой является все же достаточно медленным способом по сравнению с пламенной методикой. На проведение анализа в печи требуется обычно 2—3 минуты, а перед загрузкой следующего образца печь, путем охлаждения водой, должна быть вновь доведена до комнатной температуры. В пламени же атомно-абсорбционная спектроскопия осуществляется всего за 10 секунд или даже быстрее. Правда, техника графитовой трубчатой печи имеет то преимущество, что для нее в основном не обязательны полностью минерализованные пробы, так что их подготовка намного проще, чем при других способах, что опять-таки дает определенную экономию времени.
Столь же часто, как и неселективные потери света, при атомно-абсорбционной спектроскопии в графитовой трубчатой печи возникают химические помехи, которые нередко служат причиной сильного подавления сигнала. Подобные погрешности не устранить никакой коррекцией фона, это возможно лишь в самой печи. Идеальные условия для исключения таких помех могут быть созданы, если во время атомизации графитовая трубка и существующая в ней атмосфера инертного газа находятся почти в термическом равновесии. Только при таких условиях появление свободных атомов будет оптимальным, удастся избежать рекомбинации атомов в молекулы и, следовательно, потерь свободных атомов.
Было сделано множество ошибок и потрачена масса сил, времени и денег, пока эта техника получила всеобщее признание. Первоначальный энтузиазм по поводу возможностей атомно-абсорбционной спектроскопии по способу графитовой трубчатой печи сменялся горьким разочарованием. Почти каждая публикация на эту тему в 70-е годы начиналась с утверждения, что «графитовая трубка как источник атомизации, конечно, обладает отличной чувствительностью при определении мельчайших следов элементов, однако правильность такого определения весьма сомнительна, учитывая присущие этому способу многочисленные погрешности».
Для проведения безупречных, воспроизводимых анализов необходимо привести графитовую трубчатую печь практически в идеальное химическое равновесие [9.15], а для достижения этой цели, в свою очередь, придется выполнить ряд условий, среди которых:
Однако неселективньтх потерь света с помощью только этих мер не избежать — нужна специальная коррекция фона. Порой весьма неблагоприятное соотношение определяемого элемента и примесных веществ, нередко составляющее 1:107, требует быстрой и эффективной коррекции фона [9.16].
Полная программа действий предварительно выбирается с помощью управляющего устройства и далее выполняется автоматически с высокой точностью. Автоматизация процесса загрузки проб позволила в конечном итоге получить аналитический метод, максимально надежный именно для следовых исследований [9.17]. Основной же недостаток его состоит в том, что за один прием обычно удается определить всего один элемент.
9.6.2.1. Сверхвысокая скорость нагрева
Поскольку инертный газ в графитовой трубке нагревается от стенок, то во время атоматизации он всегда холоднее стенки. Это обстоятельство чревато тем, что измеряемые атомы не находятся во временном и пространственном равновесии. Это приводит к быстрой рекомбинации атомов в более холодной газовой атмосфере и потерям в пробах из-за чрезмерного расширения газов при стремительном повышении температуры.
Поэтому продолжительность периода атомизации имеет большое значение, ибо только при том условии, что он короче времени жизни атомов в графитовой трубке, может быть достигнута максимальная плотность атомного облака. Так как время жизни атомов в трубке составляет всего несколько десятых секунды, то понятно, что период атомизации не может превышать, допустим, 0,1 секунды. Следовательно, здесь не обойтись без «сверхбыстрого» нагрева с регулируемой температурой, обеспечивающей нагревание графитовой трубки до 2000°С в секунду, и только в этом случае процесс атоматизации протекает достаточно быстро, и во время измерения достигается максимальная плотность атомов [9.18].
В такой ситуации от спектрометра требуется ускоренная обработка данных, чтобы можно было отслеживать мгновенные изменения концентрации свободных атомов в графитовой трубке. Связанные с этим операции по обработке сигнала базовой линии, оценке удельной абсорбции и фонового поглощения, выполняемые за несколько сотен миллисекунд, часто приводят к ошибочным результатам. Современные приборы выполняют полный цикл измерения с частотой от 50 до 100 с-1.
9.6.2.2. Платформа Львова
От качества используемого графита во многом зависит правильность и воспроизводимость выполняемых анализов. Электрографит, выбранный поначалу для этой цели, был слишком пористым, и пробы могли проникать в него с образованием соответствующих карбидов. Эту проблему удалось решить за счет применения графитовых трубок с пиролитическим покрытием, которые постепенно вытеснили все прочие исполнения [9.19]. Основным материалом здесь является высокоплотный графит, которому с помощью прессформ можно придавать разные и порой довольно вычурные формы. Для защиты от действия химикатов и в целях повышения плотности во избежание атомной диффузии на основной материал наносится слой осажденного пиролитическиим способом углерода высокой чистоты. В связи с тем, что трубка, предназначенная для ультраследового анализа, не может содержать значимых для определяемого элемента примесей, здесь требуется графит с чистотой на уровне триллионных долей.
Дальнейшему усовершенствованию метода способствовало внедрение так называемой платформы Львова [9.20]. Здесь речь идет о размещенной внутри графитовой трубки небольшой пластине из монолитного куска пироуглерода, на которой размещается образец (рис. 9.13). При относительно слабом контакте платформы со стенкой трубки первая нагревается не методом электрического сопротивления, а излучением, исходящим от стенок трубки и из инертного газа. Для твердых веществ в качестве держателя пробы вместо платформы используется покрытый пиролитическим углеродом графитовый тигель [9.21].
Целью описанного приема является пространственное разделение пробы и нагретой стенки трубки, что позволяет как можно дольше задержать испарение вещества, пока газовая фаза в графитовой трубке не достигнет своей конечной температуры. Благодаря такой атомизации с выдержкой времени обеспечивается то обстоятельство, что данный процесс протекает в более горячей атмосфере, когда расширение газа уже в значительной степени завершено. Это позволяет заметно снизить вызываемые матрицей помехи химического характера.
Через держатели на концах графитовых трубок тепло растекается по кювете. При этом температура на концах трубки может быть ниже, чем в центре, на несколько сотен градусов Цельсия. По этой причине трудно испаряющиеся вещества атомизируются хуже, иногда отмечается конденсация на более холодных концах. Такую проблему можно обойти, если нагревать трубку не вдоль, а поперек, вследствие чего в поглощающей ячейке по всей длине оптического пути достигается постоянная температура [9.22].
9.6.2.3. Перепад температур и прекращение притока инертного газа
Еще одним важным фактором является скачок температур между предварительной тепловой обработкой и собственно атомизацией. Желательно, чтобы такой перепад был ниже 1000°С, тогда можно быстрее добиться термического равновесия и умеренного расширения газа[17]. При температурах выше 600°С графит теряет свою стойкость к действию кислорода. Во избежание обгорания всех горячих частей графита прибегают к обдуву инертным газом, чаше всего аргоном. Одновременно атмосфера инертного газа препятствует окислению атомов пробы кислородом воздуха. И наконец, с потоком инертного газа из активной зоны печи уносятся образующиеся на этапах сушки и пиролиза пары и продукты распада.
Этот приток инертного газа на короткое время прекращается во время собственно атомизации. Используя такой прием (его иногда называют «газ-стоп») в процессе атомизации, удается избежать охлаждения инертного газа и исключить потери в результате уноса атомов из трубки. Благодаря этому увеличивается продолжительность пребывания атомов в ходе лучей.
9.6.2.4. Интегрирование площади сигнала
Поскольку речь идет об ограниченном количестве проб, то здесь наблюдаются зависимые от времени сигналы спектра поглощения. В разных материалах проб присутствуют, естественно, и разные соединения. Свойственная им летучесть, как и летучесть матрицы, оказывают влияние на скорость атомизации элемента и, тем самым, также на последовательность прохождения сигнала спектра поглощения во времени. Введенной в графитовую трубку массе определяемого элемента соответствует абсолютное число поглощающих атомов. При прямом определении измерение уровня сигнала может дать правильный результат только при наличии сигналов одинаковой формы. Измерения станут гораздо более независимыми от выбора конечной температуры, если вместо уровня или, соответственно, величины сигнала[18] привлекать для целей обработки площади сигналов [9.23]. Путем интегрирования площадей сигналов можно при изотермических условиях атомизации выделить отличное от других поведение при атомизации на основе разных физических свойств соединений.
Во многих случаях интегрирование сигнала обеспечивает также улучшение отношения сигнал/шум и, следовательно, понижение предела обнаружения [9.24]. Однако этот прием предполагает чрезвычайно высокие требования к точности определения базовой линии. Измерение соответствующего опорного сигнала осуществляется незадолго до ввода подлежащего измерению вещества и по завершении предварительной тепловой обработки, то есть — по времени — непосредственно перед атомизацией, когда еше не происходит поглощения.
9.6.2.5. Графическое сопровождение процесса атомизации
Современные атомно-абсорбционные спектрометры позволяют отслеживать ход процесса атомизации во времени прямо на экране дисплея. Графический способ отображения последовательности быстро проходящих сигналов способствует оптимизации метода измерения в графитовой трубке. Выводимая на экран и отличающаяся высокой разрешающей способностью графическая индикация аналитического сигнала, причем одновременно элемента и фона, предлагает аналитическую информацию в максимально возможном объеме (рис. 9.14).
Благодаря индикации на экране дисплея достигается оптимальная настройка процессов предварительной обработки, коррекции фона, установка самой благоприятной температуры и наилучшего времени атомизации. Поэтому оценка результатов анализа на основе отображенной на экране информации приобретает все большее значение, в том числе и в методике с графитовой трубкой.
9.6.2.6. Модификация матрицы
С другой стороны, возможно дополнительное влияние на эффективность процесса атомизации путем принятия соответствующих мер по модификации матриц, предложенных в 1975 г. Р.Д. Эдингером [9.25]. В зависимости от выбора добавляемого модификатора, присутствующие в исследуемом веществе примеси становятся более летучими, либо само вещество термически более стабильным, то есть менее летучим. Таким образом, матричную модификацию всегда следует рассматривать в связи с конкретной пробой и имеющимися термическими условиями. Химические добавки должны при этом поддерживать процессы пиролиза и атомизации.
Если, например, требуется определить в матрице NaCl легколетучие элементы (свинец или кадмий), то труднолетучий NaCl одновременно улетучивается обычно только при атомизации, что приводит к высоким неселективным потерям света. Если к пробе добавить NH4NO3, то образуется два легколетучих соединения, NaNO3 и NH4Cl. Они улетучиваются из графитовой трубки при температуре от 300 до 400°С, так что указанные светопотери значительно меньше влияют на собственно определение элемента.
Смесь из нитрата палладия и нитрата магния отлично стабилизирует почти все достаточно легколетучие элементы. Благодаря этому удается избежать потерь во время предварительной термической обработки и удалить многочисленные сопутствующие вещества, чем обеспечивается значительное снижение помех. Это существенно облегчает использование графитовой трубчатой печи в повседневной работе аналитической лаборатории и повышает точность проведения анализов.
9.6.3. Методика на основе гидридных соединений и холодных паров ртути
В основу так называемого гидридного метода положен давно известный факт, что некоторые элементы четвертой, пятой и шестой главной группы образуют летучие гидриды. Большое преимущество гидридной атомно-абсорбционной спектроскопии заключается в том, что определяемый элемент перед переводом его в атомизатор отделяется в форме газообразного гидрида почти от всех имеющихся примесей. Поэтому при правильном проведении метода практически не встречается, например, спектральных помех в результате рассеяния света либо молекулярной абсорбции [9.26]. Помехи в газовой фазе тоже маловероятны, учитывая незначительное число элементов, улетучивающихся таким образом.
Итак, гидридообразующие элементы, как то:
можно выделять из матрицы и проводить затем определение с высокой чувствительностью и почти без помех [9.27]. Подобное измерение удается осуществлять достаточно точно и в большинстве случаев не прибегая к коррекции фона, причем требования к спектрометрам — по сравнению с техникой графитовой трубчатой печи — здесь не столь строги [9.28].
В реакционном сосуде в результате реакции с восстановителем, бортетрагидридом натрия, образуются газообразные гидриды, которые потоком аргона вместе с также образующимся газообразным водородом направляются в нагретую только до 800-1000°С кварцевую трубку. Там при относительно низкой температуре осуществляется разложение на элементы, то есть собственно атомизация. Ячейка находится в камере образца, так что могут измеряться возникающие в процессе разложения атомы (рис. 9.15). По сравнению с пламенной техникой, пределы обнаружения при таком методе на несколько порядков лучше. При работе с пламенем, в результате перевода исследуемого вещества в газообразную фазу, происходит разбавление в 105—106 раз, в то время как коэффициент разбавления при гидридной методике не превышает 500. Чувствительность при этом, только благодаря переходу с распыления раствора на отделение в форме гидридов, возрастает в 103 раз.
Абсолютный предел обнаружения при гидридном методе тоже лучше, чем при использовании графитовой трубчатой печи, но расход пробы больше и составляет обычно 0,5 мл[19] с относительным стандартным отклонением порядка 1—2%. В любом случае, здесь требуется более трудоемкая пробоподготовка, чем при методе с графитовой трубкой. Проба должна быть полностью растворена, а подлежащий измерению элемент доведен до определенной степени окисления.
С таким же оборудованием можно определять и ртуть методом холодного пара [9.29]. Ртуть уже при комнатной температуре пребывает в атомарной форме, ее остается лишь перенести потоком газа в поглощающую кювету. Учитывая высокую токсичность ртути, определять ее приходится не только в питьевой воде, но и практически во всех сферах жизни, на любых уровнях — вплоть до субмиллиардных долей. Максимальная концентрация ртути в питьевой воде составляет порядка 0,002 мг/л. В пламени ртуть показывает довольно плохую чувствительность. При использовании техники графитовой трубчатой печи возникает та проблема, что вследствие низкой температуры испарения Hg отделение матрицы оказывается делом весьма тяжелым, а иногда и просто невозможным.
И как раз в таких ситуациях имеет смысл выбрать способ холодного пара для определения ртути. Ртуть под действием подходящего восстановителя восстанавливается в металл и с потоком газа в виде пара переводится из раствора в кювету, поскольку ртуть - это единственный металл, показывающий значительное давление пара уже при комнатной температуре. Благодаря этому достигаются стандартные пределы обнаружения порядка 0,1 мкг/л (100 миллиардных долей). В качестве восстановителей могут служить хлорид олова либо боргидрид натрия. Если в последнем случае возможно разложение всех органических и неорганических соединений ртути, то при использовании хлористого олова для органических соединений требуется специальная подготовка пробы на основе гидролиза или минерализации. Но зато боргидрид натрия обеспечивает несколько лучшие пределы обнаружения [9.30].
9.6.4. Критерии выбора подходящего способа атомно -абсорбционной спектроскопии
При выборе из трех предлагаемых способов атомно-абсорбционной спектроскопии пользователю предстоит решить, какой из них более всего подходит для поставленной конкретной задачи. Здесь следует принимать в расчет не только чувствительность способа, но и время, необходимое для его реализации, а также расход проб подлежащего исследованию вещества. В табл. 9.3 приведены некоторые данные, призванные облегчить выбор наиболее подходящего способа. При решении специальных задач приходится принимать во внимание и другие критерии, например степень автоматизации оборудования или возможность осуществления контроля процессов.
И пламенный способ, и техника с графитовой трубкой в принципе вполне пригодны для целей автоматизации. В случае атомно-абсорбционной спектроскопии с графитовой трубчатой печью автоматическая загрузка пробы представляется абсолютно необходимой уже хотя бы с учетом опасности загрязнения вещества при ручном способе работы. Механизм подачи пробы может как угодно часто пипетировать в графитовую трубку свободно выбираемые объемы проб и стандартного раствора. Пользователю достаточно лишь установить подходящую программу для спектрометра, печи и автоматического накопителя. Далее система сама вычисляет градуировочные графические характеристики и проводит замеры проб.
В рамках пламенной техники были также разработаны специальные автоматы, обеспечивающие последовательное засасывание разных проб и автоматическое проведение их анализа. Особый случай представляет собой инжекционный способ, при котором можно распылить в пламени всего несколько микролитров раствора пробы — либо вручную, либо с помощью автомата (рис. 9.16). Такой способ подачи годится и для осуществления постоянного наблюдения за потоком поступающих проб, из которого в непрерывном режиме берутся небольшие объемы. Этим обеспечивается надежный контроль химико-технологических процессов, а при соответствующем дополнительном оснащении атомно-абсорбционного спектрометра — также и управление ими.
С пламенем |
|
С графитовой трубчатой печью |
|
С гидридами и холодными парами |
|
9.7. Помехи
Поскольку атомно-абсорбционная спектроскопия есть относительный метод, то есть количественные измерения выполняются лишь на основе сравнения со стандартными веществами, то любое отличающееся от стандарта поведение пробы может стать источником помех. Совокупность подобных потенциальных погрешностей, которые, не будучи распознаны, приводят к ошибочным измерениям, именуется помехами. При этом, в зависимости от конкретной причины, можно говорить о химических, физических, фоновых или спектральных помехах.
9.7.1. Химические помехи
Строго говоря, химической помехой является любое образование соединения, препятствующее количественной атомизации элемента. В процессе сушки капель аэрозоля путем испарения растворителя решается вопрос, какова будет химическая связь интересующего элемента. Как и в случае макроскопических процессов, образование соединения здесь тоже определяется (ионным) произведением растворимости и законом действия масс.
Так, например, при определении кальция из раствора, содержащего ионы Na, Са, Сl и SO4, в пламени образуется сначала CaSO4, который при дальнейшем воздействии температуры пламени преобразуется в СаО. Но если для калибровки применяют растворы СаСl2, то при этом не образуется СаО, который едва ли может атомизироваться в пламени воздуха/ацетилена. Это означает, что при такой же концентрации ионов кальция в растворе образуется гораздо меньше атомов Са, если здесь присутствуют ионы сульфатов. Избежать химических помех часто удается благодаря применению более горячего и обладающего сильным восстановительным действием пламени смеси закиси азота и ацетилена.
Универсальным способом избежания такого рода помех считается добавка (в избытке!) другого катиона, который образует с мешающим анионом соединение с еще меньшим произведением растворимости, чем у определяемого элемента.
В данном случае можно использовать, например, барий: добавив в избытке ВаСl2 к указанному выше раствору, получают весь сульфат как выпавший в осадок BaSO4 и кальций в виде СаСl2.
В присутствии фосфатов при высушивании капли раствора образуется фосфат кальция, превращающийся при дальнейшем нагревании в тугоплавкий пирофосфат кальция, который лишь с большим трудом может быть диссоциирован в атомы. В этом случае в качестве комплексообразователя может быть добавлен раствор ЭДТУ (этилендиаминтетрауксусная кислота), который в результате комплексации кальция препятствует образованию фосфата кальция. При последующей атомизации никаких трудностей уже не возникает, поскольку комплекс Са — ЭДТУ термически не особенно устойчив, так что возможно освобождение кальция.
Еще один вариант устранения химических помех состоит в использовании более горячего пламени. Пламя закиси азота с ацетиленом способно вызвать термическую диссоциацию даже относительно стойких соединений и, кроме того, обладает четко выраженными восстановительными свойствами.
9.7.2. Физические помехи
Понятие «физические помехи» включает в себя все помехи, обусловливающие общую численность образовавшихся атомов на основе разных физических свойств раствора пробы. Собственно причиной в данном случае почти всегда является пневматический распылитель. Присущая распылителю скорость всасывания и эффективность образования аэрозоля зависят от физических характеристик раствора пробы, а именно:
Если пробы и стандартный раствор обладают разными физическими свойствами, то в единицу времени образуется разное количество аэрозоля, что в конечном итоге непосредственно определяет число готовых к поглощению атомов. Подобная помеха принципиально исключена, когда раствор пробы и стандартный раствор обладают одинаковыми физическими свойствами. Добиться этого можно путем сильного разбавления пробы. Но подобное достижимо, только если концентрация интересующего элемента достаточно высока. Если компоненты пробы, воздействующие на ее физические характеристики, известны, можно и стандартный раствор приготовить с использованием соответствующих компонентов.
Если же не удается уравнять относительно друг друга физические свойства проб и стандартного раствора, то устранять источник помех придется с помощью метода добавок. При этом к раствору пробы добавляют стандартный раствор во все возрастающей концентрации и для определения содержания измеряемого элемента экстраполируют градуировочный график относительно нуля. Добавляемый раствор должен иметь максимально высокую концентрацию, чтобы привносить его в минимальном объеме во избежание изменения физических свойств пробы из-за сильного разбавления. Например, смешивание 1 мл добавляемого раствора при содержании элемента 1 г/л с 1 литром раствора пробы дает общую концентрацию 1 мг/л (1 миллионная доля).
Разумеется, описанный метод добавок является более трудоемким, чем прямое измерение пробы путем сравнения со стандартным раствором, но это абсолютно надежный способ устранения физических помех и часто используется в целях контроля правильности проведенного измерения.
Впрочем, существует еще один, более элегантный способ устранения физических помех как альтернатива классическому пневматическому распылению: использование гидравлического распылителя высокого давления[20]. При этом за основу берется простой принцип, заключающийся в том, что растворы образуют аэрозоль, проходя под высоким давлением через тонкую форсунку (наподобие впрыска дизельного двигателя). С помощью насоса для создания постоянного объемного расхода жидкости под высоким давлением подлежащее исследованию вещество через специальный вентиль для подачи проб подается к распылительному соплу. Благодаря постоянной подаче напорного насоса поток проходящих через пламя проб остается неизменным. К достоинствам этого способа можно отнести также устойчивость базовой линии, поскольку раствор непрерывно подводится к пламени, что исключает «скачки» линии при смене пробы. Кроме того, здесь возможна независимая оптимизация характера пламени и процесса распыления, ибо никакого распылительного газа не требуется.
9.7.3. Ионизационные помехи
Многие металлы, особенно в горячем пламени, более или менее сильно ионизируются. Это касается, в частности, щелочных и щелочноземельных металлов, у которых электронные переходы наблюдаются уже в видимой области спектра (окрашивание пламени). Тогда при относительно малых разностях энергий уже происходит заметное термическое возбуждение атомов. Так как ионизированные атомы имеют измененную электронную оболочку и, следовательно, абсолютно особый спектр, то они не поддаются определению посредством атомно-абсорбционной спектроскопии по обычно применяемым резонансным линиям. Следовательно, ионизация проявляется, как и все прочие помехи, в воздействии на общую численность атомов в основном состоянии, предлагаемых для поглощения на единицу объема.
Для устранения ионизационных помех существует два принципиально возможных варианта. Во-первых, можно использовать для определения элемента пламя более низкой температуры. Это допустимо, например, в случае щелочных металлов, которые частью достаточно ионизированы в пламени смеси воздуха/ ацетилена (Na около 20%, Cs около 85%). А в несколько более холодном пламени воздуха/водорода они, напротив, практически уже не ионизированы.
Второй способ устранения ионизационных помех состоит в создании большого избытка электронов в пламени. На практике это достигается просто за счет того, что к раствору пробы и к стандартному раствору добавляется в избытке другой, особенно легко ионизируемый элемент (чаще всего калий либо цезий), который активно ионизируется в пламени. Высокая концентрация образующихся при этом электронов на основе закона действия масс практически полностью подавляет ионизацию определяемого элемента.
9.7.4. Спектральные помехи
Выше уже достаточно подробно говорилось о спектральных помехах. Спектральные помехи в атомно-абсорбционной спектроскопии практически невозможны из-за системы переменного света, при которой эмиссионный свет модулирован от лампы с полым катодом, а усилитель настроен на эту частоту модуляции. Но если используются многоэлементные лампы с набором неподходящих элементов, то есть когда в пределах рассматриваемой спектральной ширины полосы, наряду с резонансной линией интересующего элемента, на детектор попадает еще одна резонансная линия другого элемента, то селективность и элементная специфичность атомно-абсорбционной спектроскопии здесь уже не работают[21].
9.7.5. Метод добавок
Во избежание помех представляется целесообразным использовать для аналитического определения уже упоминаемый выше метод добавок. Он, конечно, несколько сложнее простого анализа, при котором осуществляется градуировка прибора с использованием стандартов, после чего переходят к последовательной обработке проб. При этом стандарты содержат концентрации элементов того же порядка величины, что и ожидаемые концентрации в пробах. Для приготовления стандартов высокой чистоты здесь используется дистиллированная вода, в то время как пробы, наряду с исследуемым веществом, обычно представлены в сложной матрице.
В случае незнакомой матрицы с неизвестными физическими свойствами прибегают к способу, при котором определению подлежит увеличение абсорбции в результате добавок к пробе определенного количества исследуемого элемента. При этом в качестве добавки следует использовать по возможности сильно концентрированные растворы — во избежание влияния на физические и химические свойства пробы, возможного при сильном разбавлении.
Если концентрация анализируемого вещества настолько велика, что его можно разбавить для целей определения, то рекомендуется разбавлять все растворы одинаковым объемом, равно как и исходную пробу — равным количеством воды. С этой целью берутся три (или более) аликвоты пробы с добавками стандартного раствора одинакового объема, первый из которых вообще не содержит интересующего элемента, второй по своей концентрации примерно соответствует ожидаемому содержанию этого элемента, а третий содержит его в двойном объеме. Если теперь нанести измеренные значения абсорбции относительно значений добавленной концентрации, то получим градуировочный график для интересующего элемента при данных физических условиях. Содержание в неизвестной пробе получают путем экстраполяции градуировочного графика относительно нуля, как это показано на рис. 9.17.
9.8. Фоновая абсорбция
Фоновая абсорбция, в отличие от описанных выше помех, связана не с изменением числа атомов в основном состоянии, а с дополнительным ослаблением излучения /0 в результате так называемых неселективных светопотерь. Поэтому измеренное уменьшение интенсивности света оказывается выше ослабления излучения, вызванного чисто атомной абсорбцией. В итоге индицируется слишком высокая концентрация определяемого элемента.
При измерениях реальных проб подлежащий определению элемент нередко находится рядом с избыточным объемом матрицы. Если, например, требуется определить в морской воде наличие свинца в единицах миллионных долей, то придется столкнуться с тем, что каждая его частица окружена 10 миллионами частиц соли. При измерении меньших концентраций интересующего элемента в присутствии избыточного объема сопутствующих веществ может так случиться, что в широком масштабе атомизируется именно интересующий элемент, а не основной компонент, который может пребывать еще в форме недиссоциированных молекул либо даже твердых частиц. Оба варианта чреваты потерей интенсивности излучения. Молекулы демонстрируют широкополосное поглощение света — значит, узкие линии спектра испускания лампы с полым катодом отчетливо ослабевают, в связи с чем лампа теряет свою селективность. На достаточно крупных частицах или агломератах свет рассеивается, то есть отклоняется из хода лучей в направлении детектора (рис. 9.18).
Эти световые потери подлежат регистрации с помощью измерительной техники с соответствующей обязательной компенсацией. Для устранения подобного неселективного поглощения света разработаны специальные методы компенсации фона. Выполняемое для этой цели измерение проходит в два этапа.
На первых порах атомно-абсорбционные спектрометры не предусматривали фоновой коррекции, поскольку уменьшение интенсивности излучения в результате рассеяния частицами оценивалось как незначительное. И только со временем была осознана необходимость коррекции неселективных потерь излучения, причем фоновые сигналы при методе графитовой трубчатой печи проявлялись гораздо отчетливее, чем при пламенной технике [9.31]. Многие проблемы с использованием пламенной атомно-абсорбционной спектроскопии вообще не требуют коррекции фона, чего не скажешь о большинстве областей применения с графитовой трубкой, где такая коррекция абсолютно необходима [9.32]. Было замечено, что фоновая абсорбция много сильнее в ультрафиолетовой, чем в видимой области спектра, что объясняется рэлеевским рассеянием, которое резко сокращается с увеличением длины волны.
Идеальным способом компенсации фона представляется ситуация, когда спектральный фон в поглощающей ячейке (в пламени или графитовой трубке) компенсируется в одном и том же месте, в одно и то же время и точно с такой же длиной волны. Но столь идеального состояния до сих пор достигнуть не удалось.
Коррекция фона с применением дейтериевой лампы есть самый старый способ, который все еще находит применение в большинстве спектрометров. Поскольку фоновое и полное поглощение по определению не могут измеряться одновременно, то требуется достижение высоких частот модуляции для коррекции неселективного поглощения быстрых сигналов графитовой трубки. Типичными для этой цели считаются частоты от 150 до 200 с-1. Эффективность корректирующих систем с помощью модулирующих частот < 100 с-1 имеет свои ограничения, так как быстро нарастающие сигналы не поддаются точному распознаванию [9.33].
Дейтериевые компенсаторы уже не отвечали высоким требованиям к коррекции фона при методе графитовой трубчатой печи, так что пришлось заняться разработкой новых систем. Так, можно, пользуясь только лампой с полым катодом, проводить измерения как атомных, так и фоновых абсорбций. Необходимое для этого кратковременное изменение эмиссионной характеристики лампы достигается, во-первых, на основе эффекта Зеемана и, во-вторых, по принципу Смита — Хифти [9.34]. Благодаря этому удается регистрировать фон очень быстро и гораздо ближе к профилю поглощения, чем это возможно с помощью излучателя с непрерывным спектром.
Быстрая коррекция фона принципиально необходима в технике с графитовой трубкой, но важна также, хотя и не до такой степени, в пламенной атомноабсорбционной спектроскопии. При малых длинах волн шумы пламени вызывают наибольшее ограничение предела обнаружения и точности при малых концентрациях [9.35]. Если путем коррекции фона удается устранить эти шумы, то значительно улучшается определение элементов, линии которых приходятся на коротковолновую УФ-область спектра. К таковым относятся: мышьяк, селен, цинк и свинец.
9.8.1. Компенсация с излучателями непрерывного света
Использование излучателей с непрерывным спектром для измерения фона было предложено еще в 1965 г. [9.36] и основано на следующем.
Поскольку большинство линий атомно-абсорбционного спектра наблюдается в УФ-области, то в качестве источника излучения с непрерывным распределением энергии используется дейтериевая лампа. При этом для целей коррекции фона имеют значение различия между абсорбционными характеристиками атомов, с одной стороны, и молекул или, соответственно, крупных частиц, с другой стороны.
Для коррекции фона широкополосный свет дейтериевой лампы и лампы с полым катодом в быстром чередовании направляется через поглощающую ячейку. При этом свет обеих ламп одинаковым образом ослабляется фоновой абсорбцией, а интенсивности их излучения выравниваются электронным способом.
Нов результате атомной абсорбции понижается исключительно интенсивность узкой линии эмиссионного спектра лампы с полым катодом, а от интенсивности широкополосной дейтериевой лампы, ограниченной только оптической щелью спектрометра, на абсорбцию приходится лишь на десятичные порядки меньшая узкая область соответственно линии атомной абсорбции. Таким образом, потеря интенсивности излучателя с непрерывным распределением энергии для атомной абсорбции пренебрежимо мала. Это означает, что светом лампы с полым катодом измеряется сумма атомной абсорбции и фона, в то время как свет дейтериевой лампы измеряет только фон. Разность этих двух интенсивностей дает тогда искомую атомную абсорбцию.
Монохроматор выделяет из линейчатого спектра лампы с полым катодом резонансную линию с полушириной порядка 0,002 нм. Из сплошного спектра дейтериевой лампы выделяется участок, соответствующий установленной спектральной ширине шели (рис. 9.19). Интенсивности обоих источников излучения в пределах рассматриваемой области спектра уравниваются.
В случае нормального линейчатого поглощения интересующим элементом интенсивность лампы с полым катодом в соответствии с концентрацией этого элемента ослабевает, в то время как интенсивность дейтериевой лампы в первом приближении не понижается. Но неселективное широкополосное фоновое поглощение в равной мере уменьшает интенсивность обоих источников излучения. Дополнительно возникающее теперь линейчатое поглощение вновь ослабляет интенсивность лампы с полым катодом соответственно концентрации интересующего элемента, в то время как интенсивность излучателя с непрерывным спектром в первом приближении далее не уменьшается (рис. 9.20).
В принципе дейтериевая лампа обеспечивает отличную коррекцию фона. При наличии усовершенствованной оптики отличного качества сегодня возможна коррекция до двух единиц абсорбции, хотя полученный эффект, повторяем, сильно колеблется в зависимости от используемой оптической системы. В заключение все же следует указать на некоторые недостатки способа компенсации фона с применением излучателя непрерывного света.
-
Возможны проблемы с настройкой. Геометрия светового луча дейтериевой лампы отличается от таковой у лампы с полым катодом, причем излучения обеих ламп могут проходить разными путями. Точная оптическая юстировка конгруэнтного прохождения лучей обеих ламп весьма затруднительна. Это ставит определенный предел корректируемой абсорбции.
-
Потеря света. Использование дейтериевой лампы требует наличия светоделителя, что влечет за собой 50%-ное уменьшение интенсивности излучения. При этом шумы базовой линии практически удваивается и, соответственно, ухудшается предел обнаружения.
-
Интервал длин волн, применимый для измерения фона, ограничен у дейтериевой лампы уровнем 190—350 нм. Выше 350 нм приходится устанавливать дополнительную галогенную лампу.
-
Фон должен быть непрерывным по всей ширине оптической щели, он не может быть структурирован. Это выполняется для большей части молекулярного поглощения. Разные молекулярные спектры, например для NO2, PO или SO2, имеют вращательные тонкие структуры. Это не сплошные спектры, поэтому они не могут быть правильно скорректированы с помощью источников излучения с непрерывным распределением энергии.
В неоднородности распределения интенсивности заключается существенное ограничение способа компенсации на основе излучателей с непрерывным спектром. При этом вообще не регистрируется поглощение с сильно структурированным фоном. Здесь более подходят методы, при которых измеряемый луч для регистрации самого фона тоже обладает линейчатым характером, и тогда фон может измеряться максимально близко к атомной линии.
9.8.2. Коррекция фона по Зееману
В 70-е годы был предложен новый интересный метод фоновой коррекции, основанный на эффекте Зеемана с расщеплением спектральных линий во внешнем магнитном поле [9.37]. Если говорить точнее, здесь не происходит расщепления спектральных линий как такового, но оказывается такое воздействие на атомы в магнитном поле, что они испускают уже расщепленные линии. Это явление было открыто в 1896 г. голландским физиком П. Зееманом, за что он, вместе с Г.А. Лоренцем, получил в 1902 г. Нобелевскую премию. В 1969 г. способ измерения фона на основе эффекта Зеемана был запатентован фирмой Цейс, но спектрометров в соответствующем исполнении на рынке не появилось. И только в 1975 г. фирмой Хитачи был впервые предложен коммерческий зеемановский атомно-абсорбционный спектрометр [9.38].
9.8.2.1. Эффект Зеемана
Как правило, электронные состояния с идентичными главными и побочными квантовыми числами энергетически абсолютно равнозначны: они «вырождены» и различаются только своей ориентацией в пространстве. Но под действием внешнего магнитного поля это «вырождение» прекращается. В силу разной ориентации отдельных орбиталей относительно оси магнитного поля имеет место разность энергий. Таким образом, если поместить источник спектральных линий в сильное магнитное поле, каждая из них расщепляется на несколько составляющих (рис. 9.21).
В наипростейшем случае это будет расщепление на три составляющие, одна из которых находится на той же длине волны, что и начальная резонансная линия, но является менее интенсивной. Эта центральная линия, в силу «исторических» причин, обозначается как д-составляюшая. Две других линии, σ-составляющие, сдвинуты в сторону большей и, соответственно, меньшей длины волны.
Степень такого смешения пропорциональна напряженности магнитного поля. С этими двумя побочными линиями (зеемановскими составляющими), которые уже не подлежат специфичной абсорбции, можно теперь проводить измерение фона. В этом заключается основная идея зеемановской атомно-абсорбционной спектрометрии [9.39].
Благодаря применению только одной лампы фоновая компенсация возможна точно в том же самом месте и (почти) точно на той же длине волны, но не в то же самое время. Поскольку всегда приходится измерять поочередно просто фон и фон с атомной абсорбцией, то частоту переключения необходимо удерживать на уровне, максимально допустимом используемым оборудованием, чтобы можно было хотя бы примерно в одно и то же время регистрировать стремительные изменения в поглощающей ячейке.
Чтобы σ-составляющие сдвинуть настолько, чтобы они оказались за пределами абсорбционного профиля поглощающих атомов, нужны очень высокие напряженности магнитного поля. Это требует принятия специальных мер предосторожности. Например, с таким оборудованием нельзя работать людям с вшитым кардиостимулятором, а всем прочим на время работы надо снимать наручные часы, есть и другие требования. Правда, область расщепления здесь очень мала (10-3 нм!), так что неправильное измерение по причине находящейся в зоне расщепления молекулярной линии мало вероятно, но все же полностью исключить его нельзя.
Расщепление на три составляющие достигается только при «нормальном» эффекте Зеемана. Он имеет место для всех элементов второй главной или побочной групп периодической системы, как то: В, Be, Mg, Cd, Pb или Zn. Гораздо чаще приходится наблюдать аномальный эффект Зеемана, порой с гораздо более сложным расщеплением на несколько π- и σ-составляюших (рис. 9.22).
Однако π-составляющие всегда располагаются значительно ближе к исходной линии, чем σ-составляющие, в результате чего специфичное атомное поглощение всегда сильнее сказывается на π-составляющих, чем на σ-составляющих. Значит, и аномальный эффект Зеемана тоже полезен для атомно-абсорбционной спектроскопии. Правда, в некоторых случаях он демонстрирует существенно меньшую чувствительность, чем при нормальной атомно-абсорбционной спектроскопии. Отмечается, что подобное ухудшение несколько меньше при модулированном магнитном поле.
9.8.2.2. Разные системы атомно-абсорбционной спектрометрии с использованием эффекта Зеемана
Эффект Зеемана наступает только при условии, что магнитное поле прикладывается там, где имеются атомы. Следовательно, магнит должен быть установлен либо на источнике излучения, либо на атомизаторе. Когда магнитное поле воздействует на источник излучения и происходит расщепление линий спектра излучения, говорят о прямом эффекте Зеемана. Если же магнитное поле воздействует на атомы в атомизаторе и расщепляется профиль поглощения, можно говорить об обратном эффекте Зеемана.
Вторым отличительным признаком является направление, в котором действует магнитное поле. В зависимости от расположения магнитов, можно наблюдать разные формы проявления эффекта Зеемана. Если магнитное поле ориентировано поперек оптической оси, то речь идет об атомно-абсорбционной спектрометрии при поперечном эффекте Зеемана (transversal); если же магнитное поле располагается в направлении излучения, то мы имеем дело с атомно-абсорбционной спектрометрией при продольном эффекте Зеемана (longitudinal).
И наконец, независимо от положения магнитов, магнитное поле может модулироваться постоянным (DC — Direct Current) либо переменным (АС — Alternating Current) током. У этих разных систем принципиально различается и действие эффекта Зеемана [9.40].
Итак, с точки зрения измерительной техники можно разными способами использовать эффект Зеемана:
Теоретически здесь возможно восемь разных комбинаций, но на практике удается реализовать только четыре, поскольку атомно-абсорбционная спектрометрия при прямом эффекте Зеемана не может сочетаться с техникой на основе переменного тока ввиду отсутствия лампы, обеспечивающей устойчивое горение в переменном магнитном поле. Кроме того, версия при продольном эффекте Зеемана ввиду отсутствия π-составляющих возможна только с магнитами переменного тока. Из-за серьезных технических трудностей на рынок до сих пор не поступило ни одного продольного зеемановского атомно-абсорбционного спектрометра. Между тем такой спектральный прибор был бы весьма полезен с учетом того преимущества, что он позволяет обходиться без поляризатора для разделения зеемановских составляющих, так как средняя составляющая здесь отсутствует. При измерении полного поглощения для этого должно отключаться (модулироваться) магнитное поле.
С учетом всего вышесказанного в настоящее время на рынке представлены три разные коммерческие версии [9.40]:
-
прямо-поперечный зеемановский атомно-абсорбционный спектрометр с постоянным полем[22],
-
обратно-поперечный зеемановский атомно-абсорбционный спектрометр с постоянным полем,
-
обратно-поперечный зеемановский атомно-абсорбционный спектрометр с переменным полем.
АТОМНО-АБСОРБЦИОННАЯ СПЕКТРОМЕТРИЯ С ПРЯМЫМ ПОПЕРЕЧНЫМ ЭФФЕКТОМ ЗЕЕМАНА В ПОСТОЯННОМ ПОЛЕ[3]
В случае атомно-абсорбционной спектрометрии при прямом поперечном эффекте Зеемана с постоянным полем лампа с полым катодом находится в магнитах, линии спектра излучения расщепляются (рис. 9.23). Поскольку здесь магнит находится на лампе, такая методика годится для любого атомизатора, то есть как для графитовой трубки, так и для пламенной либо гидридной систем. Правда, тогда приходится использовать особые лампы с полым катодом, поскольку обычные лампы недостаточно долго горят в магнитном поле, а стабильность и интенсивность излучения подвержены сильным колебаниям, обусловленным магнитным полем. Поэтому для применения прямого эффекта Зеемана потребуется в качестве специального источника излучения лампа на парах металлов (электродная низкочастотная лампа) в виде линейчатого излучателя [9.24].
При атомно-абсорбционной спектрометрии с прямым эффектом Зеемана измерение ведется по принципу двух длин волн. С помощью ^-составляющей измеряется атомное поглощение плюс фон, а с помощью сдвинутых σ-составляющих — только фон. Измерение фона происходит, следовательно, «рядом с линией спектра поглощения». Свет разных зеемановских составляющих может разделяться в пространстве: π-составляющая поляризуется в плоскости, параллельной магнитному полю, а σ-составляющие поляризованы в поперечной плоскости. Для расщепления π- и σ-составляющих необходим вращающийся поляризационный светофильтр между источником света и камерой образца, благодаря чему попеременно пропускается параллельно и ортогонально поляризованный свет.
Когда параллельная составляющая света проводится через оптическую систему, она поглощается центральной, несдвинутой π-составляющей аналитической линии (то есть исследуемый элемент и фон поглощают свет). В следующем четвертьповороте поляризатора пропускается только ортогонально поляризованный свет σ-составляющих. Этот свет поглощается не аналитической линией, а только фоном. Разность между σ-сигналом и π-сигналом дает скорректированный сигнал. При этом поляризатор в силу технических и физических причин (апертура, степень поляризации, коэффициент пропускания) — вызывает ухудшение характеристик зеемановской атомно-абсорбционной спектрометрии.
Помимо прочего, при прямом методе зеемановской атомно-абсорбционной спектрометрии, где осуществляется измерение двух разных линий с разными плоскостями поляризации, имеет место разница между интенсивностями π- и σ-составляющих, вызываемая разным самопоглощением в лампе с полым катодом. По физическим причинам при возрастающем самопоглощении π-составляющая показывает связанное с этим большее ослабление, чем σ-составляющая.
АТОМНО-АБСОРБЦИОННАЯ СПЕКТРОМЕТРИЯ С ОБРАТНЫМ ПОПЕРЕЧНЫМ ЭФФЕКТОМ ЗЕЕМАНА В ПОСТОЯННОМ ПОЛЕ
В случае атомно-абсорбционной спектрометрии при обратном поперечном эффекте Зеемана с постоянным полем расщепляется не линия спектра излучения, а профиль линий поглощения атомов. Магнитное поле здесь приложено к атомизатору (рис. 9.24). Так как при этом могут использоваться обычные лампы с полым катодом, эта техника предпочитается большинством приборостроителей. В результате приложения магнитного поля к атомизатору происходит расщепление профиля поглощения. Вокруг печи с графитовой трубкой находится сильный объемный магнит. При потребности в магнитном поле большой напряженности и необходимости хорошей термоизоляции между атомизатором и магнитом размеры атомизирующей ячейки сильно ограничены. Для пламенной методики дополнительно предлагаются специальные постоянные магниты.
При обратном эффекте Зеемана с атомизатором в магнитном поле в принципе действуют те же условия, что и при прямом эффекте, хотя и существует одно существенное отличие. В то время как при прямом эффекте Зеемана линии спектра излучения расщеплены на несколько составляющих, при обратном эффекте источник света посылает свою нормальную резонансную линию. Готовность атомов пробы к поглощению обусловливается магнитным полем. Профиль поглощения расщеплен на параллельно поляризованную π-составляющую и ортогонально поляризованные σ-составляющие. Вообще, атомное поглощение может осуществляться на всех расщепленных линиях атомов, но измерение возможно только там, где имеется первичное излучение источника, то есть на резонансной линии. Линия спектра излучения лампы не расщеплена, поэтому в поглощающей ячейке на атомное поглощение способна только π-составляющая.
Вращающийся поляризатор в ходе лучей служит для различения разных плоскостей поляризации. В той фазе, где поляризованный свет пропускается параллельно магнитному полю, π-составляющая ослабляется как в результате специфичного атомного поглощения, так и под действием фона. В следующей фазе, где пропускается только ортогонально поляризованный свет, измерить атомное поглощение π-составляющей не удается, а можно измерить только неспецифичное поглощение на резонансной линии. В результате образования разности вновь формируется скорректированный сигнал.
Это означает, что фоновое поглощение всегда измеряется и корректируется точно на резонансной линии определяемого элемента. Таким образом, речь идет об идеальном двухлучевом принципе, когда оба луча не только имеют одинаковую длину волны, но даже обладают идентичным профилем и, конечно, оба проходят через пробу с абсолютно одинаковым управлением пучком. Следовательно, фон регистрируется прямо на линии, а не рядом с ней. Благодаря этому данная система обеспечивает безупречное измерение даже тогда, когда проба имеет фон тонкой структуры [9.34].
АТОМНО-АБСОРБЦИОННАЯ СПЕКТРОМЕТРИЯ С ОБРАТНЫМ ПОПЕРЕЧНЫМ ЭФФЕКТОМ ЗЕЕМАНА В ПЕРЕМЕННОМ ПОЛЕ
Из всех технических исполнений принцип атомно-абсорбционной спектрометрии при обратном поперечном эффекте Зеемана с переменным полем считается наиболее благоприятным и используется в большинстве зеемановских атомноабсорбционных спектрометров, правда, только в сочетании с графитовой трубкой. При коррекции Зеемана с модулированным магнитным полем измеряется полное поглощение с отключенным магнитным полем и фон с включенным магнитным полем (рис. 9.25). Размещение магнитов переменного тока на графитовой трубке вызывает пульсацию магнитного поля, то есть его попеременное включение и выключение через очень короткие интервалы времени.
Поляризационное устройство может быть установлено неподвижно и не должно вращаться, как в случае техники с постоянным полем. При этом поляризатор размещен с таким расчетом, чтобы находиться перпендикулярно плоскости поляризации π-составляющей. Строго говоря, речь здесь идет не о поляризаторе в полном смысле этого слова, поскольку поляризация облака атомарного пара осуществляется не в печи с графитовой трубкой, а вокруг анализатора, задачей которого является лишь пропускание ортогонально поляризованного света.
При отключенном магнитном поле не происходит ни расщепления профиля поглощения, ни поляризации. Линия спектра излучения ослабляется на сумму атомного и фонового поглощений. При включенном магнитном поле осуществляется расщепление профиля поглощения на зеемановские составляющие. Так как линия спектра излучения источника света через поляризатор в области пробы состоит исключительно из вертикально ориентированного излучения, то ослабления от горизонтально поляризованной π-составляющей элементно-специфичного профиля поглощения не происходит. Однако неселективное поглощение фоном остается вне влияния эффекта Зеемана, и может определенным образом ослабить линию спектра излучения. Значит, при включенном магнитном поле линия спектра излучения ослабляется только фоном. Образование разности измеряемых величин с включенным и выключенным магнитными полями дает результат измерения при скорректированном фоне.
Использование импульсного магнитного поля положительно сказывается и на всех элементах с аномальным эффектом Зеемана при наличии двух или более π-составляющих. Магнитные поля очень большой напряженности, действующие на выделение σ-составляющих из профиля поглощения, расщепляют и разные π-составляюшие. Последние, по мере усиления напряженности поля, постепенно удаляются из профиля поглощения, что приводит в конце концов к понижению чувствительности методики с постоянным полем.
При импульсном магнитном поле такой проблемы не возникает. С отключенным магнитным полем линии не расщеплены, а при его включении π-составляющие совершенно не нужны для целей измерения. Задача магнитного поля состоит здесь только в том, чтобы достаточно далеко вытеснить σ-составляющие из профиля поглощения, так чтобы они более не могли перекрываться резонансными линиями [9.45].
9.8.2.3. Пределы зеемановской коррекции фона
Работоспособный зеемановский спектрометр по качеству компенсации в любом случае превосходит излучатель с непрерывным распределением энергии [9.46]. Атомно-абсорбционная спектрометрия с использованием эффекта Зеемана вполне годится и для проведения следовых анализов на твердых веществах или жидкостях без специальной химической подготовки проб, причем с точки зрения быстроты и правильности этот способ зарекомендовал себя лучше, чем традиционная атомноабсорбционная спектроскопия с переводом проб в растворимую форму [9.47].
Предел обнаружения есть функция чувствительности и шумов. При обычной атомно-абсорбционной спектроскопии при включении излучателя для коррекции фона уровень шумов в результате суммирования шумов из двух источников резко повышается. Это приводит к ухудшению пределов обнаружения, чего не бывает в случае атомно-абсорбционной спектроскопии при эффекте Зеемана с использованием только одного источника света. Среди преимуществ методики на основе эффекта Зеемана по сравнению с коррекцией фона излучателем с непрерывным светом можно назвать следующие.
-
Поскольку из поглощений электронов π- и σ-связей электронным способом формируется соответствующее отношение, то вызванные лампой или оптической системой изменения интенсивностей никак не сказываются на основной линии. Таким образом, системы зеемановской атомно-абсорбционной спектрометрии есть идеальные двухлучевые методы без дополнительной оптики.
-
Зеемановская система фоновой коррекции часто остается вне влияния структурированного фона, поскольку такая коррекция осуществляется почти точно (при постоянном поле) или абсолютно точно (при переменном поле) на той длине волны, на которой и определяется элемент.
-
Спектральные помехи могут корректироваться, когда две мешающие линии удалены друг от друга на расстояние более чем 0,02 нм. (При прямом перекрытии это, конечно, не работает.)
-
При зеемановской атомно-абсорбционной спектрометрии совсем не обязательна взаимная настройка двух разных источника излучения. Никаких проблем с юстировкой различных геометрий или отличающихся дрейфовых характеристик здесь не бывает.
И все же метод атомно-абсорбционной спектрометрии с использованием эффекта Зеемана не свободен от системно-обусловленных недостатков. Безупречная компенсация фона при эффекте Зеемана возможна лишь при условии полного расщепления σ- и π-составляющих. Однако такое расщепление достижимо лишь с нормальным эффектом Зеемана. Из-за частью весьма сложной структуры расщепления при аномальным эффекте Зеемана получить полное расщепление не удается порой даже в магнитном поле очень большой напряженности. С расщеплением на несколько π-составляющих отмечается практическое уширение профилей излучения и, соответственно, поглощения. Это действует примерно также, как если бы значительная доля посторонней засветки попала в монохроматор.
Результатом этого становится потеря чувствительности, составляющая для большинства элементов от 10 до 20%. Системы с переменным полем в этом смысле более благоприятны, чем системы с постоянным полем [9.48]. Работающие на переменном токе приборы при необходимости оснащаются электромагнитом, чем достигается возможность оптимизации магнитного поля для каждого анализа, например поле может варьироваться в диапазоне от 0,3 до 1,2 тесла. При этом магнитное поле можно установить таким образом, что, с одной стороны, σ-coставляющие достаточно далеко уводятся из профиля поглощения, но, с другой стороны, π-составляющие не претерпевают чрезмерного растягивания. При постоянном же токе приборы функционируют с фиксированным постоянным магнитом, то есть здесь не существует простой возможности для изменения магнитного поля. Значит, приборостроителю приходится искать некое компромиссное решение, приемлемое для всех элементов.
Перекрытие π- и σ-составляющих объясняет и более сильное искривление градуировочн ых графиков. При высоких поглощениях они оказываются даже двусмысленными, когда две очень разные концентрации могут привести к одной и той же величине абсорбции. В силу показанного на рис. 9.26 эффекта переката (Roll-over-Effekt) σ-составляющие из-за неполного отделения тоже демонстрируют малоспецифичное поглощение. При высоких концентрациях, то есть высоких абсорбциях, π-составляющая достигает области насыщения, в то время как значительно меньшая абсорбция σ-составляющих продолжает расти. Разность абсорбций π- и σ-составляющих как показатель атомного поглощения при увеличивающейся концентрации вновь идет на убыль — с перекатом градуировочного графика [9.49].
В результате повышения напряженности магнитного поля при использовании сильных электромагнитов точка переката может быть сдвинута в сторону более значительных концентраций. Но в градуировочном графике при эффекте Зеемана перед этой точкой находится, как и в случае нормального градуировочного графика, сильно искривленная зона, которая при использовании современных спектрометров до определенного предела еще поддается количественному определению с помощью соответствующей коррекции графика. Более благоприятным представляется все же разбавление пробы, чтобы получить возможность работать в линейной области.
В графитовой трубчатой печи при контроле процесса атомизации со слежением во времени эффект переката отчетливо проявляется на экране дисплея образованием двойного пика. Сначала в результате формирования атомарного облака возникает максимальный зеемановский сигнал, который затем, по мере повышения концентрации атомов, вновь спадает из-за эффекта переката, а при рассеянии атомарного облака опять нарастает, пока не спадет окончательно.
9.8.3. Система Смита-Хифти
Эта совершенно новая концепция коррекции фона была впервые описана в 1982 г. [9.50]. Основной принцип здесь поразительно прост: уже более 20 лет было известно, что, когда высокий ламповый ток течет через лампу с полым катодом, линия спектра излучения уширяется, а сигнал поглощения, формируемый, например, элементами в растворе пробы, сильно понижается (рис. 9.27). Такое явление обозначают как самообращение, поскольку невозбужденные атомы в лампе поглощают посланное излучение на атомных линиях. Самообращение всегда рассматривалось как феномен, которого следует избегать.
Смит и Хифти реализовали идею использования эффекта уширения линий в целях коррекции фона. Лампа сначала работает на низком ламповом токе, причем ее свет поглощается как определяемым элементом, так и фоном. Затем следует очень короткий импульс высокого тока, вызывающий уширение линий. Однако центр линии спектра излучения сильно ослаблен из-за самообращения. Следовательно, значительно уменьшено и атомное поглощение при прохождении через пробу, а фон поглощает ту же долю света, что и прежде (рис. 9.28). Фоновая коррекция осуществляется опять-таки через разность двух полученных сигналов. Такая методика известна также как компенсация фона сильноточными импульсами тока (high speed self reversal background correction).
Преимущества описанной системы заключаются, как и в случае коррекции при эффекте Зеемана, в использовании одного-единственного источника света как для поглощения, так и для измерения фона. Благодаря этому удается корректировать очень высокие фоновые сигналы. Поскольку имеет место всего один источник излучения, то выполнять настройку светового луча очень легко, причем всегда обеспечивается требуемая конгруэнтность. И здесь не возникает потерь света из-за действия поляризаторов, не нужна даже установка сильных магнитов.
По сравнению с дейтериевой коррекцией фона, система Смита — Хифти имеет тот же недостаток, что и зеемановская система, а именно пониженную чувствительность. Самообращение в лампе с полым катодом редко является полным, так что в фазе многоамперного тока тоже можно наблюдать атомное поглощение. В системе Смита — Хифти чувствительность снижена до уровня 10—75%. С учетом этого некоторые пользователи прибегают к дополнительному оснащению атомно-абсорбционного спектрометра этой серии дейтериевой системой, особенно для анализов, в которых вообще-то возможна коррекция фона с помощью непрерывного излучателя, но крайне необходима и важна максимальная чувствительность.
На ранней стадии разработки системы Смита - Хифти изучался вопрос о ее влиянии на срок службы лампы. При нормальной эксплуатации лампа иногда выходит из строя, поскольку в ней заканчивается газ-наполнитель. Этот газ постепенно поглощается электродами и другими компонентами, пока через лампу не перестает течь ток. Момент исчезновения газа-наполнителя наступает пропорционально произведению среднего тока лампы, умноженного на время: ток большой силы за короткое время оказывает такое же действие, как слабый ток за продолжительное время. По этой причине в выдаваемых на лампы гарантийных обязательствах производители в большинстве случаев приводят данные в миллиампер-часах. Средний ток в системе Смита — Хифти примерно равен стандартному току, поэтому соответствующим образом сконструированные лампы с полым катодом служат столько же, сколько и при нормальной эксплуатации.
В заключение отметим, что рассмотренная система предлагает замечательно простой способ коррекции фона, обладающий явными преимуществами и совсем ничтожными недостатками[23] по сравнению с компенсацией дейтериевой лампой, а по некоторым пунктам превосходящий даже метод, основанный на эффекте Зеемана.
9.9. Аппаратурное оформление процесса
Атомно-абсорбционные спектрометры первого поколения были сконструированы таким образом, что результаты измерения выводились на самописец либо аналоговую индикацию. При этом концентрации раствора определялись, как правило, на основе обычного градуировочного графика. Устройства цифровой индикации, позволяющие простую коррекцию характеристических кривых, равно как и прямую индикацию величин концентрации, стали следующим шагом в развитии технического оснащения. С вводом микропроцессоров удалось значительно расширить и усовершенствовать обработку сигналов и полученных данных. Все возрастающие требования к воспроизводимости и правильности анализов, стремление к повышению пропускной способности при исследовании проб способствовали дальнейшему техническому прогрессу в этой сфере — от создания механизмов автоматической подачи образцов до разработки компьютеризованных приборов с возможностью сохранения программ и всей необходимой информации. При этом высокоэффективные атомно-абсорбционные спектрометры не обязательно попадали в группу товаров высокой ценовой категории. Аналитическая эффективность, многофункциональность и надежность относятся сегодня к качественным признакам спектральных приборов, предлагаемых по вполне доступным ценам [9.51].
Эффективность атомно-абсорбционных спектрометров определяется прежде всего пределом обнаружения отдельных элементов. Свойства оптической системы, механическая устойчивость, механизм атомизации, способы обработки сигналов и коррекции фона оказывают свое влияние на воспроизводимость и долговременную стабильность приборов. По сравнению с атомной эмиссией, требования к спектральному разрешению атомно-абсорбционных спектрометров не столь высоки, поскольку селективность по элементам достигается здесь посредством лампы с полым катодом. Поэтому применение находит даже монохроматор с относительно большой шириной шели порядка 0,1 нм. Но следует помнить, что в случае атомно-абсорбционной спектроскопии приходится регистрировать мельчайшие изменения излучения лампы наряду, нередко с довольно значительным, паразитным излучением. Поэтому вся оптика должна быть максимально светосильной, а монохроматор — с малым рассеянием.
Главной задачей дальнейшего развития является снижение уровня шумов с целью улучшения исходного сигнала. Основные виды шумов таковы:
Измеренные детектором сигналы далеко не всегда устойчивы. Дробовой шум
есть основной шум от компонентов, проявляющийся даже при отсутствии
пламени или пробы. Отношение сигнал/шум пропорционально
где I есть
интенсивность света. Следовательно, оптическая система должна отдавать
столько интенсивности, насколько это возможно, а это требуется наличия
простой оптики. Монохроматор должен обладать хорошим разрешением, чтобы
удерживать минимальной кривизну градуировочного графика, в противном
случае не избежать ухудшения воспроизводимости при повышенных
концентрациях.
Еше одним источником шумов является пламя, которое, с одной стороны, поглощает излучение лампы с полым катодом и, с другой стороны, само дает излучение. Этот эффект следует по возможности снижать путем тщательного конструирования горелки и правильного выбора условий горения пламени. Концентрационные шумы вызываются колебаниями в процессе распыления и представляют собой достаточно сложную проблему, особенно при высоких концентрациях проб. Подобной явление тоже можно минимизировать при грамотной разработке используемого распылителя и смесительной камеры.
Потребность в простой, светосильной оптической системе легче всего удовлетворить с помощью простейшего варианта однолучевого спектрометра. Оптическое однолучевое устройство в атомно-абсорбционной спектроскопии функционирует с малым числом оптических компонентов (рис. 9.29). Поэтому потерь света здесь гораздо меньше, чем при традиционном двухлучевом исполнении. Это дает особенно высокое светопропускание, обеспечивающее превосходное отношение сигнал/шум и наилучшие пределы обнаружения. Комбинированные исполнения оптической системы гарантируют нечувствительность к термическому дрейфу, так что от термостатизации здесь можно отказаться.
У двухлучевого прибора излучение источника света делится вращающимся секторным зеркалом на измерительный луч через атомизатор и луч сравнения вокруг атомизатора, после чего эти лучи вновь объединяются прерывателем (рис. 9.30). Электроника этой системы рассчитана таким образом, что образуется отношение обоих лучей. Оба они выходят из одного и того же источника света, проходят через один и тот же монохроматор, улавливаются одним и тем же детектором и усиливаются одной и той же электроникой, чем достигается полная компенсация изменений в излучении лампы, в чувствительности детектора или усилении. В первую очередь, именно поэтому стабильность данной системы превосходит стабильность однолучевой системы.
Двухлучевые приборы необходимы для регистрации спектров, в которых с длиной волны изменяется как интенсивность излучения, так и чувствительность монохроматора (response). Но полный атомный спектр достаточно редко регистрируется в рутинной лабораторной аналитике - чаще наблюдается лишь одна атомная линия при одной длине волны. Второй аргумент в пользу двухлучевого принципа заключается в долговременной стабильности, за счет чего якобы компенсируется даже горячее горение лампы после включения. Но ведь такое горение до начала излучения лампы длится всего несколько минут. Кроме того, все приборы оснащены переключателем ламп, действующим таким образом, что требуемые лампы включаются и горят, нагреваясь, еще до начала собственно элементного анализа.
Современные атомно-абсорбционные спектрометры с однолучевой оптической системой по такому показателю, как дрейфоустойчивость, приближаются к двухлучевым системам, но имеют техническое преимущество более высокого светопропускания и позволяют довольствоваться простым и компактным конструктивным исполнением. Интенсивность света 10 незадолго до измерения пробы всегда определяется на основе схемы автоматического нуля (Auto-Zero). В пламенной технике это происходит в результате всасывания «холостого» раствора, в печи с графитовой трубкой — путем измерения незадолго до и сразу после собственно атомизации, причем обе величины интерполируются.
В качестве еще одной альтернативы предлагается так называемая система «singlepath, double-beam», то есть речь идет об однолучевом спектрометре с максимальным светопропусканием и двухлучевой стабильностью базовой линии - в результате ее автоматической коррекции при наличии автоматизированной горелки или печи с графитовой трубкой. Горелка, приводимая в действие шаговым двигателем, направляет свое пламя в ход лучей исключительно для проведения измерений, в остальное же время находится за пределами хода лучей (рис. 9.31). Таким образом, до начала измерения, то есть еще пока горелка пребывает вне хода лучей, осуществляется автоматическая коррекция базовой линии, с которой соотносится следующее далее измерение. Этим сглаживаются колебания энергии, например дрейф лампы во время ее нагревания, таким же образом, как это бывает в оптическом двухлучевом приборе, хотя и при значительно более высоком светопропускании.
Частота, с которой считывается сигнал абсорбции, играет огромную роль при распознавании быстро меняющихся сигналов, особенно в случае печи с графитовой трубкой. Это чрезвычайно важно и для систем с компенсацией фона, где быстрые сигналы приходится еще и сравнивать друг с другом. Прогресс в области микроэлектроники способствовал успехам в деле внутрисистемного сбора и обработки данных. В настоящее время уже реализованы приборы с частотами переключений до 200 с-1. Это позволяет надежно компенсировать фоновые характеристики до 2 единиц абсорбции, что соответствует ослаблению начального света до 1% [9.52].
Один-единственный сигнал не в состоянии содержать объем информации, достаточный для целесообразного использования в дальнейших расчетах. В связи с этим предлагается регистрировать несколько сигналов, интегрировать их и выводить среднее значение. Такой метод однозначно показан для динамических систем, каковой, в сущности, и является атомизация. Из серии считанных данных автоматически вычисляется среднее значение и его стандартное отклонение. Наблюдаемые «выбросы» при этом легко распознаются. В случае пламенной техники представляется более благоприятным выполнять несколько коротких интегрирований с образованием средних значений, чем прибегать к долгому считыванию каждого отдельного показания.
Все пламенные атомно-абсорбционные спектрометры используют системы ламинарного горения с концентрическим, пневматическим распылителем. Они оснащены встроенным механизмом поджига и контроля пламени. Подключенная дренажная система заботится об эффективном и непрерывном сливе избыточного раствора. Газ подается с микропроцессорным управлением, причем предусмотрено отключение его подачи в случае каких-либо сбоев и неисправностей. Одним нажатием кнопки можно автоматически переключиться с пламени смеси воздуха и ацетилена на пламя смеси закиси азота и ацетилена.
Предлагаемые базовые устройства коммерческого назначения относятся к более низкой категории цен, чем однолучевые приборы с пламенной атомизацией и дейтериевой лампой для фоновой коррекции. Они используются для измерений повышенных концентраций с пламенем, если только требуется определить всего один элемент либо ограниченное их число. Но эти устройства сконструированы таким образом, что их можно без особого труда дополнительно оснастить графитовой кюветой или системой, функционирующей по принципу холодного пара и/или на основе гидридных соединений.
Приборы среднего и чуть выше среднего класса рассчитаны на чрезвычайно сложные материалы с высоким специфичным фоном, сильными помехами и/или очень низким содержанием элементов, лежащим часто где-то у предела обнаружения. В такой ситуации обычно уже не хватает имеющихся возможностей компенсации и/ или отношения сигнал/шум при коррекции фона с помощью излучателей со сплошным спектром. Для прецизионных измерений предлагаются тогда фоновые компенсаторы, функционирующие на основе эффекта Зеемана либо по принципу Смита — Хифти. Они однозначно превосходят дейтериевые компенсаторы и даже при исследовании твердых образцов дают до определенной степени верные результаты. Благодаря этому можно проводить анализы даже в самых тяжелых матрицах на основе лишь минимальной пробоподготовки. Такое оборудование предлагается уже с комплектным оснащением, то есть полностью компьютеризованным, с монитором для отображения функций прибора, с оптимизированными применительно к конкретным элементам программами и с одновременным представлением фонового сигнала.
Широкий и разнообразный выбор необходимых принадлежностей позволяет создать специальные измерительные площадки, в полной мере отвечающие требованиям многостороннего элементного анализа. Предлагаемые приспособления для работы сразу нескольких ламп с полым катодом или безэлектродных разрядных ламп (ламповые револьверные головки) создают условия для последовательных анализов множества элементов в одном аналитическом растворе, а с компьютерным программированием — еще и в полностью автоматическом режиме. Для пламенных измерений имеются многочисленные варианты с большим разбросом цен, охватывающие широкую гамму от регулируемых вручную до надежных компьютеризованных систем для проведения особо точных измерений.
Предлагается множество самых разных исполнений графитовых трубчатых печей. Они оснащены контрольными устройствами для области низких температур (при термическом разложении) и для области высоких температур (при атомизации), а также разнообразными возможностями программирования «время — температура — защитный газ». Там, где в дополнение к защитному газу предусмотрена еще подача программированных объемов альтернативных газов (водорода, воздуха, кислорода и т.д.), предлагаются дальнейшие варианты более чувствительного определения элементов. Для всех приборов с пламенной либо электротермической атомизацией имеются сегодня автоматически действующие жидкостно-дозировочные системы. Более совершенные системы могут программироваться для использования непосредственно в атомизаторе.
И наконец, следует упомянуть о том, что у всех приборов нового поколения предусмотрено присоединение через подходящие интерфейсы одной или нескольких систем атомно-абсорбционной спектроскопии к лабораторным либо даже более крупным вычислительным машинам, что создает дополнительные возможности обработки данных и управления, вплоть до комплектной автоматизации всей лаборатории. Обширное предложение базовых атомно-абсорбционных приборов и разнообразных принадлежностей дает сегодня в руки исследователя, при грамотном выборе и квалифицированном применении, отличный инструментарий для реализации надежной элементной аналитики, обеспечивающий благодаря новым разработкам правильное — до известных пределов — определение. Технический прогресс в сфере атомно-абсорбционной спектроскопии позволяет надеяться на продолжение работ по многим научно-исследовательским программам и несомненный успех в самом скором будущем.
9.9.1. Одновременное определение нескольких элементов
До сих пор для многоэлементного определения, то есть определения содержания нескольких металлов в одной пробе, приходилось каждый элемент подготавливать отдельно и затем последовательно измерять методом атомно-абсорбционной спектроскопии. Но потребность в определении хотя бы двух элементов возникает довольно часто, например, в медицине, а также при осветлении шламов, исследовании почв, биологических образцов и др. Чем больше число определяемых элементов, тем больше времени требуется на проведение исследования.
В стандартной лабораторной практике все попытки одновременного определения путем атомно-абсорбционной спектроскопии, в том числе с применением многоэлементных ламп или зеркал, не дали желаемого результата. Даже опыты с непрерывными излучателями и эшелле высокого разрешения заканчивались неудачей. И только применение световодной техники сделало возможным проведение действительно одновременного многоэлементного определения. При этом свет от нескольких ламп с полым катодом посредством световодов и линз фокусируется в узкий пучок диаметром около 3 мм (рис. 9.32). В таком виде он проходит через ячейку атомизации (пламя либо графитовая трубка) и через щель попадает на полихроматор, где веерообразно расходятся отдельные атомные линии [9.53].
Полихроматор имеет несколько выходных щелей, за каждой из которых находятся отдельные фотоумножители или полупроводниковый детектор, настроен-
ные на линию соответствующего элемента. Простой переход на другие линии элементов здесь возможен без проблем. Подобная техника позволяет проводить одновременное определение нескольких элементов также и при атомно-абсорбционной спектрометрии по методу графитовой трубчатой печи [9.54]. Так как температуры пиролиза и атомизации для разных элементов могут быть различны, при многоэлементном определении в качестве компромиссного варианта приходится выбирать максимально возможную температуру пиролиза и самую низкую из требуемых температуру атомизации, чтобы не ограничивать предел обнаружения и точность метода[24]. Здесь атомно-абсорбционная спектрометрия вступает в еще большую конкуренцию с реальными многоэлементными методами атомно-эмиссионной спектроскопии.
Весомый вклад в дело приспособления метода атомно-абсорбционной спектрометрии для целей многоэлементного анализа может внести использование перестраиваемых диодных лазеров вместо ламп с полым катодом. Строго монохроматический свет может перестраиваться в широком интервале длин волн и направляться через поглощающую ячейку [9.55]. На детекторе регистрируется интерферограмма, по которой с помощью преобразования Фурье вычисляются отдельные поглощения. Дополнительно диодный лазер можно использовать для измерения фона, причем его эмиссионную линию сдвигают из профиля поглощения определяемого элемента.
Так как длины волн диодных лазеров поддаются очень точной настройке, не обязательно всегда работать в центре профиля поглощения, как это делается в случае лампы с полым катодом. Когда измеряется фронт профиля поглощения, интенсивность поглощения уменьшается, что позволяет простым способом получить расширение динамического диапазона. К сожалению, пока нет соответствующих диодных лазеров для УФ-области спектра, которая преимущественно и нужна. Тем не менее такая техника значительно упрощает конструктивное исполнение атомно-абсорбционных спектрометров и расширяет их область применения.
9.10. Проточно-инжекционный анализ в атомно-абсорбционной спектрометрии
Целью автоматизации является, кроме прочего, компенсация промахов и нечеткой работы аналитика уже на стадии отбора проб, их подготовки и дозирования. Это особенно важно в ультраследовой аналитике, где даже малейшее загрязнение может погубить любое исследование. В атомно-абсорбционной спектрометрии операция пробоподготовки связана с большими затратами времени и средств. В качестве альтернативы предлагается так называемый проточно-инжекционный метод, который находит применение как для автоматизации всего аналитического процесса, так и для обогащения проб. В случае же высоких концентраций эту технику можно использовать для автоматического разбавления проб с целью достижения области справедливости закона Ламберта — Бера.
Метод проточно-инжекционного анализа известен уже более 20 лет, но лишь в последние годы стал успешно применяться в многочисленных модификациях в самых разных сферах [9.56]. Принцип данной методики несомненно можно считать одним из самых интересных среди последних разработок на уровне коммерческих систем. Вот ее основные преимущества: автоматический режим работы, простое обслуживание, экспрессность анализа, низкий расход реагентов и проб, а также подача точно выверенного объема исследуемого вещества. Можно с уверенностью предположить, что проточно-инжекционный анализ будет и в последующие годы оказывать существенное влияние на всех направлениях, в том числе и в области атомно-абсорбционной спектрометрии. Сочетание проточной инжекции с атомно-спектрометрическими приемами открывает множество новых областей применения — и не только в атомно-абсорбционной спектроскопии, но также в атомно-эмиссионной и плазменной масс-спектрометрии.
Проточно-инжекционный анализ в качестве самостоятельного аналитического метода был разработан в 1975 г. [9.57], и в упрощенном виде его можно описать следующим образом. Если заданный, точно установленный объем жидкой пробы впрыскивается в непрерывно движущийся поток несущей жидкости, этот носитель увлекает пробу за собой. Показанный на рис. 9.33 инжекционный вентиль выполняет две функции. В позиции LOAD (загрузка) мерная петля заполняется точно выверенным объемом жидкой пробы. В позиции INJЕСТ (впрыск) проба вводится в не прерывно движущийся несущий поток. Параметры при этом можно выбирать с таким расчетом, чтобы исключить сколько-нибудь значимое перемешивание. Далее проба проходит через смесительную камеру, где, в результате добавления раствора реактива, во время транспортировки протекает соответствующая химическая реакция, после чего проба попадает в подходящую систему детектирования. Для смешивания растворов с малым гидравлическим сопротивлением достаточно простых, недорогих, рукавных насосов перистальтического действия с низким рабочим давлением.
9.10.1. Проточно-инжекционная атомно-абсорбционная спектрометрия на основе определения гидридов и ртути
Эти системы уже на протяжении многих лет остаются надежной принадлежностью атомно-абсорбционной спектрометрии при проведении высокочувствительного, селективного определения ртути и элементов As, Se, Sb, Те, Bi и Sn, образующих газообразные гидриды. Основным достоинством ртутно-гидридной методики является обусловленное ее основополагающим принципом полное отделение определяемых металлов от мешающих матриц. Поэтому при использовании данного метода почти не приходится иметь дело с матричными помехами и фоновым поглощением. На первых порах самым серьезным недостатком рассматриваемого способа считался тот факт, что он не поддается автоматизации либо таковая связана с непомерными затратами. В сочетании с ртутно-гидридным принципом анализа проточная инжекция дает особые преимущества в отношении полностью автоматического определения этих элементов [9.58].
Итак, в общей сложности четыре потока жидкости:
подлежат транспортировке с помощью насосов перистальтического действия. Нужен многолинейный распределитель с дозировочным контуром для дозировки пробы. Трехканальный насос подает сначала по одному каналу соляную кислоту в качестве несущего потока, по другому каналу - боргидрид натрия (NaBH4) в качестве восстановителя. Оба этих потока жидкости встречаются за многолинейным распределителем в одной смесительной камере. Пробы, стоящие наготове в загрузочном автомате, вторым насосом прогоняются по дозировочному контуру, после заполнения которого переключается вентиль с электронным управлением, и несущий поток НСl перемещает определенный объем пробы из дозировочного контура в смесительную камеру.
Когда проба попадает в смесительную камеру, происходит интенсивное перемешивание ее с восстановителем и последующая спонтанная реакция. При этом подлежащий определению элемент переводится в форму газообразного гидрида либо восстанавливается в металлическую ртуть. Освободившийся водород и дополнительный поток аргона гонят гидрид металла или, соответственно, металлическую ртуть в нагретую кварцевую кювету, находящуюся в измеряемом луче атомно-абсорбционного спектрометра. В поглощающей ячейке гидриды разлагаются на элементы и атомизируются (рис. 9.34).
Прежде чем смесь газа и жидкости попадет в кювету, она направляется через сепаратор, где от газа отделяется остальная жидкость. Этот остаток жидкости отсасывается третьим каналом трехканального насоса и отводится в сборник отходов. В сочетании с механизмом подачи проб весь анализ выполняется с компьютерным управлением. Автоматизация и в 5 раз более короткое по сравнению с обычным периодическим режимом работы время определения обеспечивают высокую пропускную способность при исследовании проб. На полный анализ одной пробы уходит около 30 секунд, причем объем пробы можно снизить примерно до 0,5 мл [9.59]. Для достижения сопоставимых релевантных пределов обнаружения при периодическом режиме требуются пробы в объеме не менее 50 мл, так что раствора реактивов при использовании описанного метода расходуется значительно меньше.
Для определения ртути в ультраследовом диапазоне данная система может быть совмещена с техникой обогащения. Для этого используют амальгамное образование со сплавом золота и платины, вновь распадающееся при высокой температуре. Выделившиеся из пробы пары ртути в определенное время направляются через золото-платиновую сетку и в режиме реального времени насыщаются там амальгамным образованием. В результате быстрого нагрева сетки ИК-излучением до 600°С накопленный объем ртути спонтанно освобождается и отправляется в поглощающую ячейку.
9.10.2. Проточно-инжекционная пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия
Сочетание проточно-инжекционного и пламенного методов атомно-абсорбционной спектроскопии значительно расширяет ее область применения [9.60]. Кроме прочего, это могут быть анализы проб с высоким солесодержанием, автоматизированное разбавление проб и автоматическая подача буферных растворов и реагентов. Для этого потребуется два одноканальных насоса перистальтического действия. Один насос непрерывно подает несущий поток (деионизированная вода, разбавленная кислота или т.п.), другой служит для заполнения дозировочного контура соответствующей пробой. После этого переключается вентиль, и объем пробы из дозировочного контура уносится потоком в распылитель горелки (рис. 9.35). Эта операция также выполняется полностью автоматически [9.61].
Описанный способ особенно удобен при анализе проб с очень высокой долей матрицы. В связи с тем, что система «горелка — распылитель» после каждого измерения подлежит обязательной промывке несущим раствором, то никакой опасности засорения горелки или распылителя не возникает. Отложений матрицы в горелке тоже не остается. Прямой анализ в течение длительного времени возможен даже в отношении насыщенных солевых растворов. Благодаря непрерывной промывке аэрозолем исключаются химические реакции между матрицей и воздухом.
При данной методике улучшается также стабильность горения пламени, поскольку через него непрерывно проходит раствор (несущий поток или проба). Таким образом, в отличие от традиционного способа, отпадает необходимость в постоянном переключении с подсоса растворителя на подсос воздуха, и наоборот. Кроме того, расход проб при проточно-инжекционном методе в сочетании с пламенем безусловно меньше, чем при обычной пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии. Как правило, бывает достаточно всего 0,5 мл раствора пробы; это преимущество имеет особое значение при работе с пробами, представленными в минимальном объеме [9.62].
С помощью проточной инжекции процесс разбавления проб можно проводить в режиме реального времени. При этом проба в смесительном рукаве или в тройнике смешивается с разбавляющим раствором и затем посылается в распылитель. Здесь достигается, без больших потерь времени, разбавление почти в 200 раз. Если измеряемая величина окажется за пределами области градуировки, то анализ может быть автоматически повторен с более сильным разбавлением.
Возможно также и прямое добавление матричных модификаторов в режиме реального времени, когда проба смешивается с несущим потоком модифицирующего раствора, как при разбавлении. В качестве наглядного примера здесь можно упомянуть добавление раствора хлористого цезия как ионизационного буфера при определении натрия или калия или добавление раствора лантана с целью подавления фосфатных помех при определении кальция. Наряду с преимуществом автоматической подачи модификатора, при таком способе полностью сохраняется исходная проба, которую можно использовать в дальнейшей работе при определении других элементов.
9.10.2. Проточная инжекция в сочетании с распылительной системой высокого давления
При традиционном пневматическом распылителе в пламя поступает всего 5—10% аэрозоля. Остаток анализируемого вещества в виде крупных капель отводится из смесительной камеры. Из-за столь низкого выхода аэрозоля расход веществ оказывается довольно высоким, чем существенно ограничивается возможный предел обнаружения. В случае растворов с высоким солесодержанием возникает еще одна опасность, связанная с закупориванием капилляров распылителя, так что растворы повышенной вязкости вообще не поддаются распылению.
С помощью ультразвуковых распылителей достигается значительно лучшая эффективность образования аэрозоля — на уровне 30%. Но подобные исполнения применяются главным образом при атомной эмиссии (оптическая эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой и плазменная масс-спектроскопия). В отношении растворов с высоким солесодержанием и вязких жидкостей установлены такие же ограничения, что и в случае простых, пневматических распылителей.
Чаще всего используемые при проточно-инжекционной технике трубчатые насосы перистальтического типа функционируют с совсем низким рабочим давлением. Эти недорогие насосы рассчитаны на подачу и смешивание растворов малого гидравлического сопротивления. При более высоком сопротивлении, связанном с вязкими растворами либо присутствующими в проточной системе хроматографическими колонками с мелкозернистым наполнителем, скорость течения заметно падает.
Выход аэрозоля удается значительно повысить как раз за счет распыления именно под высоким давлением. Распыление высокого давления, отлично зарекомендовавшее себя техникой впрыска у дизельных двигателей, успешно используется сегодня и для ввода проб при атомной спектрометрии. Благодаря этому эффективность подачи в пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии достигает 50—60%. Столь высокого выхода аэрозоля не дает никакая другая система распыления. Более мощный массовый поток и более высокая доля аэрозоля, полностью испаряемая в пламени, повышают чувствительность определения в зависимости от определяемого элемента от 3 до 10 раз [9.63].
Влияние матрицы в случае растворов с высоким солесодержанием несравненно ниже, чем при пневматическом распылении, ибо более мелкие капли обеспечивают лучшее испарение в пламени. Совместное действие таких факторов, как повышение чувствительности и снижение матричных помех, помогает улучшению способности к обнаружению. Благодаря этому удается в значительной степени преодолеть ограничения прежних способов распыления, в том числе и сочетающихся с системами низкого давления.
Распылительную систему высокого давления легко собрать из известных модулей высокоэффективной жидкостной хроматографии. При все большем распространении метода высокоэффективной жидкостной хроматографии и постоянном росте числа производителей необходимого для реализации данного метода оборудования цены на насосы высокой мощности в последние годы упали настолько, что соответствующие насосные системы сейчас можно использовать для решения самых сложных задач разделения и течения. Кроме прочего, на основе системы высокоэффективной жидкостной хроматографии предлагаются, наряду с известными во всем мире «стандартными принадлежностями» от самых разных изготовителей, модули для любых схем потоков высокого давления, включая их автоматизированные версии [9.64].
Давление для гидравлического распыления высокого давления создается специальным насосом Н PLC, разработанным когда-то именно для высокоэффективной жидкостной хроматографии (рис. 9.36). Здесь предлагаются исполнения с регулируемой скоростью потока и рабочими давлениями до 400 бар. Такой насос непрерывно всасывает на стороне низкого давления жидкость (воду или органический растворитель) и через поршень сообщает ей — с учетом гидравлического сопротивления на вторичной стороне — соответствующее рабочее давление. Для создания гидравлического давления перед смесительной камерой атомно-абсорбционного спектрометра предусмотрена сопловая пластинка из платины/иридия с круглым выходным отверстием диаметром всего 20 мкм (на выбор также: 10, 15, 30 мкм). В случае распыления маловязких растворов (например, воды) при скорости течения 2 мл/мин и с отверстием сопла 20 мкм устанавливается давление много выше 100 бар. Поскольку раствор продавливается через сопло с диаметром всего 20 мкм, крупных капель не образуется. С соплом 10 мкм получаются еще более мелкие капли, средний же диаметр капель составляет 5 мкм.
Подлежащие исследованию пробы вводятся с помощью стандартного вентиля в высоконапорный поток жидкости, который уносит их к сопловой пластинке, где и происходит впрыск в пламя горелки. Все соединения высокого давления представляют собой капилляры, выполненные из высококачественной стали. Так утопленная в несущем потоке каплеобразная проба достигает сопла практически в разбавленном виде. Путем соответствующего выбора дозировочного контура (от 0,02 до 0,5 мл) можно варьировать объем пробы в достаточно широком диапазоне, настраивая его на концентрацию определяемого элемента.
9.10.3.1. Сочетание с ионной хроматографией
Как известно, классическая атомно-абсорбционная спектрометрия с пневматическим распылением обеспечивает измерение только общего содержания одного сорта ионов тяжелых металлов, то есть она не способна различить Fe2+ и Fe3+, а может указать лишь их общее содержание. В сочетании с ионной хроматографией, разделяющей ионы в специальных ионообменных колонках, можно получить информацию касательно их специфичности. При использовании распылительной системы высокого давления осуществить требуемое дооснащение довольно легко, поскольку здесь уже имеются необходимый высоконапорный насос и специальный вентиль для подачи пробы.
Если между механизмом загрузки проб и распылительным соплом высокого давления установить колонку для аналитического разделения тяжелых металлов, то разные катионы, разделенные в том числе и по их заряду, будут попадать в пламя в разное время (рис. 9.37). В сочетании с катионообменной колонкой можно тогда получить реализуемое в реальном времени сопряжение методов ионной хроматографии и пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии. Принципом ионной хроматографии является разделение разных ионов металлов, а при традиционной технике атомно-абсорбционной спектроскопии на основе лампы с полым катодом в ходе лучей удается определять только разные степени валентности элемента. Для многоэлементных анализов требуется одновременный ввод ламп с полым катодом, для чего используются световоды.
9.10.3.2. Концентрирование элементов и отделение матрицы
В ультраследовой аналитике, прежде чем приступить к собственно анализу, нередко прибегают к разделительным процессам, чтобы, во-первых, концентрировать исследуемое вещество до регистрируемой концентрации и, во-вторых, отделить мешающую матрицу. В принципе здесь стремятся к улучшению соотношения объемов определяемого элемента и матрицы. Но если отдельные операции выполнять вручную, это займет слишком много времени и никак не ответит требованиям стандартной аналитики. Благодаря проточно-инжекционному способу данный процесс можно автоматизировать с помощью простых схем специальных насосов и вентилей. Тогда удастся посредством пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии для решения специальных задач повысить способность к обнаружению при атомно-абсорбционной спектрометрии по методу графитовой трубчатой печи [9.65].
Механизмы концентрирования следовых металлов в колонках с применением проточной инжекции можно условно разделить на две группы, в основе которых лежат:
Итак, во-первых, могут использоваться ионообменники, во-вторых, экстракция сорбента в заполненных органическими группами силикагелевых колонках создает возможность обогащения металлов в форме их хелатных соединений.
Ионообменники и раньше находили применение в пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии. Для концентрирования следовых элементов могут использоваться все известные аниониты и катиониты. Они позволяют одновременно концентрировать сразу несколько элементов, просты в обращении и легко «вписываются» в проточно-инжекционную систему. Главным недостатком здесь считается, как правило, низкая селективность. Если проба наряду с определяемым элементом содержит еще и другие поглощающие ионы металла, приходится выбирать колонки очень большой емкости, что неизбежно потребует увеличения объема жидкости для элюирования, а это, в свою очередь, приведет к снижению эффекта концентрирования ионообменной колонки. Тем не менее в случае проб, не содержащих вовсе либо содержащих лишь небольшой объем адсорбирующих компонентов матрицы, концентрирование катионитами с помощью проточно-инжекционной пламенной атомно-абсорбционной спектроскопии может стать чрезвычайно простым и эффективным средством повышения чувствительности этого метода.
Широко распространенным способом концентрирования следовых металлов является комплексация и последующая экстракция в органическую фазу. Образование через экстракцию сорбента уже предлагалось ранее: здесь происходит объединение элементов экстракции растворителя с концентрированием в колонках; в растворе пробы подлежащий определению элемент комплексуется посредством хелатирующего вещества. Для многих тяжелых металлов в качестве хелатобразователя используется ДДТ К (диэтилдитиокарбаминат). Поскольку щелочные и щелочноземельные металлы не образуют ДДТ К, этот способ — наряду с концентрированием тяжелых металлов — имеет то преимущество, что одновременно происходит отделение матрицы. Так, при обогащении элементов из морской воды или соляных источников одновременно отделяется NaCl.
Хелаты посредством проточно-инжекционной системы перемещаются к колонке, содержащей силикагель, химически модифицированный органическими группами. Эти модифицированные силикагели относятся к сфере жидкостной хроматографии, а на гидрофильной поверхности силикагеля химически связаны длинноцепные щелочные группы (например, щелочная группа с 18 атомами С), так что силикагелевая поверхность обладает теперь гидрофобными свойствами. Гидрофобный материал колонки играет роль органического экстрагирующего агента, им адсорбируются хелаты металлов. Посредством смешанных с водой органических растворителей (этанола или метанола) хелаты на следующем этапе могут быть элюированы и переданы для измерения в атомно-абсорбционный спектрометр.
С учетом того, что для элюирования металла приходится разрушать не связь металла с хелатом, а лишь относительно слабую связь всего комплекса с материалом носителя, могут использоваться очень сильные комплексообразователи, способные комплексовать металлы даже в очень кислой среде. Это позволяет применять данный метод также и для кислых растворов, например после приведения в растворимую форму посредством кислотной обработки. Поскольку для многих элементов могут быть синтезированы рассчитанные конкретно на них хелатообразователи, то такое комплексование отличается высокой селективностью.
Для реализации автоматического насыщения следовых веществ требуется два насоса (рис. 9.38). Один из них располагает двумя каналами и транспортирует раствор пробы и комплексообразующий раствор к обогатительной колонке, где происходит колоночное концентрирование образующихся хелатов металла. После завершения управляемого во времени процесса концентрирования переключается многолинейный клапан, и тогда второй насос гонит элюент через колонку. Элюированные хелаты металла перемещаются к распылителю атомно-абсорбционного спектрометра [9.66].
Другой вариант концентрирования следов металлов предлагает целлюлоза. Она легко модифицируется с помощью разных хелатообразователей, приобретая при этом адсорбционные и хелатообразующие свойства. В отличие, например, от активированных углей, также обладающих хорошей сорбционной способностью, можно изготовить очень чистую целлюлозу, что, как известно, является обязательным условием следовой аналитики.
9.10.4. Перспективы применения проточной инжекции в атомно-абсорбционной спектрометрии
Наряду с уже описанными способами, в последующие годы ожидается появление и ряда других возможностей применения проточной инжекции в атомно-абсорбционной спектрометрии. Это несомненно будет способствовать дальнейшей автоматизации работы аналитической лаборатории, причем проточная инжекция как функционирующий в реальном времени способ подготовки проб приобретет универсальное значение. В результате разработки новых методов элементно-селективного обогащения и отделения матрицы значительно повышается надежность анализов. Особый интерес представляет при этом достигаемая специфичность, например при определении Cr (III), Сr (VI) или As (III), As (V).
Продолжает совершенствоваться также подготовка образцов в режиме реального времени в сочетании с микроволновым оборудованием. При этом подходящая кислота в качестве несущего потока транспортируется перистальтическим насосом, а проба подается через дозировочный контур. Поток жидкости проходит через пробоприготовительную камеру, находящуюся в фокусе СВЧ-излучения. Здесь проба интенсивно нагревается высокочастотным электромагнитным полем и в течение короткого времени приводится в растворимую форму. После этого поток жидкости вновь охлаждается в проточном охладителе до комнатной температуры.
Проточная инжекция призвана изменить принцип аналитики на уровне атомной спектрометрии в сторону упрощения. Она располагает потенциалом, необходимым для автоматизации и облегчения работы с атомно-спектрометрическими детекторами применительно ко многим видам проб.
9.11. Оснащение лаборатории атомно-абсорбционной спектрометрии
Размер и оснащение места измерения методом атомно-абсорбционной спектроскопии зависят преимущественно от поставленной аналитической задачи, личных предпочтений сотрудников и, конечно, от финансовых средств, коими располагает лаборатория. Уже в самом начале планирования нового рабочего места необходимо внимательно ознакомится с отличительными особенностями и преимуществами всех возможных атомизаторов, ибо требуемая площадь и затраты на монтаж не в последнюю очередь определяются именно выбранным механизмом атомизации. При расчете занимаемого пространства несомненное значение играют также используемые принадлежности, как то: автоматические механизмы подачи проб, системы обработки данных, самописцы, принтеры и т.д. Наконец, необходимо учитывать требуемые для подготовки пробы устройства, инструменты и прочее оборудование.
9.11.1. Вытяжная система при работе с пламенной атомно-абсорбционной спектрометрией
Обязательная вытяжка, предусмотренная прямо над пламенем, предписана в законодательном порядке [9.67] и должна отвечать, в частности, следующим требованиям.
-
Исключение опасности для обслуживающего персонала со стороны вредных для здоровья продуктов сгорания и окислов азота (пламя на основе веселящего газа).
-
Надежная зашита всего оборудования и лаборатории в целом от действия вызывающих коррозию паров.
-
Обеспечение достаточной стабильности пламени и принятие мер по устранению возможных сквозняков.
При конструировании вытяжной системы следует иметь в виду, что пламя не должно оказаться в зоне действия нежелательных воздушных потоков (рис. 9.39). Мощность всасывания вытяжной установки может составлять порядка 5 м3/мин при пламени смеси воздуха и ацетилена и от 8 до 10 м3/мин при пламени смеси закиси азота и ацетилена. Все имеющиеся швы и соединения в вытяжной установке выполняются методом свинчивания, клепки либо сварки; пайка в силу высоких температур здесь не годится.
9.11.2. Рабочее пространство
Рабочее место для измерения методом атомно-абсорбционной спектроскопии лучше всего устроить в отдельном помещении, за пределами лаборатории с «мокрыми» химическими способами, в чистом, свободном от пыли окружающем пространстве. При следовых определениях чистый воздух помещения является обязательным условием, призванным исключить вероятность занесения в пробу загрязнений и т.п. Помимо прочего, это позволяет находиться вдали от агрессивных паров, что помогает избежать коррозионных повреждений.
В качестве горючего газа используется чаще всего ацетилен, причем это может быть обычный сварочный ацетилен из газового баллона. Стандартного 20-литрового баллона хватает почти на 20 часов работы. Поскольку стабильность газового потока определяет качество пламени и, следовательно, точность измерения, здесь настоятельно рекомендуется установить двухступенчатый редукционный клапан.
Основным окислителем у пламени атомно-абсорбционной спектрометрии является сжатый воздух. Вводимый в горелку сжатый воздух должен быть свободен от масел, пыли и воды. Поэтому следует позаботиться о тщательной очистке и сушке воздуха на участке между местом его забора и атомно-абсорбционным спектрометром.
Применение веселящего газа в качестве окислителя обойдется гораздо дороже, чем работа со сжатым воздухом. Закись азота поставляется в газовых баллонах под давлением около 5000 кПа (50 бар). Расход N2O горелкой достигает 10-20 л/мин. Поскольку Ν,Ο находится в жидком виде, уровень заполнения не считывается по индикатору давления. И только когда баллон практически пуст, давление в нем резко падает. На заправку 40-литрового баллона требуется от 10 до 12 часов. Использование веселящего газа требует наличия специальных принадлежностей и принятия особых мер безопасности.
9.11.3. Дренаж горелки
Смесительная камера горелки нуждается в специальном сливе для отвода капель аэрозоля, приставших к стенкам и отбойным поверхностям. Так как здесь одновременно содержится взрывчатая газовая смесь, необходимо строго следить за тем, чтобы газ не улетучивался через спускное отверстие. Поэтому на спуске из смесительной камеры должна быть предусмотрена дренажная система с погружением. С этой целью надо надежно зафиксировать в указанном месте дренажный рукав и ввести в него кольцевой сифон диаметром 15—20 см. Сам дренажный рукав должен входить в подходящий приемный бачок. Сифон заполняется водой, и выходное отверстие рукава в приемном бачке погружается в воду на глубину примерно 15 см (рис. 9.40).
9.12. Резюме и перспективы развития атомно-абсорбционной спектроскопии
В элементной аналитике атомно-абсорбционная спектрометрия благодаря простоте и высокой селективности метода завоевала прочное место на уровне стандартного оснащения химико-аналитической лаборатории, предлагая достаточно простое решение многих аналитических задач. Эта методика особенно широко распространилась в последние годы, а разработка необходимого для нее оборудования обеспечила возможность проведения многих, ранее трудно выполнимых анализов прежде всего благодаря надежно работающему механизму смены проб и программному обеспечению по управлению процессом. Накопление опыта работы с этой техникой позволяет надеяться на дальнейшее успешное применение атомно-абсорбционной спектрометрии, в частности, в сфере определения следов и ультраследов элементов. Каких-то значимых инноваций здесь пока не ожидается.
В качестве классического атомизатора при атомно-абсорбционной спектрометрии выступает пламя. Пламенная атомно-абсорбционная спектроскопия является сегодня одним из самых совершенных методов анализа. Требования к спектрометрам с точки зрения коррекции фона и скорости обработки данных здесь ниже, чем при работе по методу графитовой трубчатой печи. Фоновое поглощение остается довольно низким вследствие разбавления пробы пламенными газами. Пламенную технику характеризует быстрая и хорошая воспроизводимость, однако пределы обнаружения у нее несколько ограничены.
В осуществлении загрузки и подачи проб был достигнут значительный прогресс. Более эффективному выходу аэрозоля и желаемому уменьшению размера капель в немалой степени способствовал принцип распыления аналитического раствора под высоким давлением, за счет чего удалось заметно улучшить способность к обнаружению. Метод пламенной атомно-абсорбционной спектроскопии используют теперь даже в режиме реального времени при элементно-специфичном обнаружении после разделения по принципу жидкостной хроматографии, причем требуемое для разделения давление одновременно служит целям распыления раствора при атомно-абсорбционном анализе.
Способ графитовой трубчатой печи как вариант атомно-абсорбционной спектрометрии получила широкое признание в области следовых и ультраследовых определений более чем 50 элементов. Со времени внедрения этого способа в 1970 г. была получена разнообразная дополнительная информация, позволившая успешно работать над совершенствованием относящегося сюда оборудования. Печь с графитовой трубкой стала проявлять более высокую чувствительность обнаружения, но и более явную подверженность воздействию помех, чем пламенная техника. К спектрометрам в данном случае приходится предъявлять самые высокие требования, особенно в отношении компенсации фона.
Для достижения возможности слежения за быстрыми изменениями концентрации атомов в графитовой трубке крайне необходима ускоренная обработка данных. Отличающийся высоким разрешением способ измерения фона с использованием эффекта Зеемана непосредственно на атомной линии дал здесь превосходные результаты.
Дополнительное применение компьютерной техники с одновременной обладающей высоким разрешением графической записью с отображением на экране дисплея специфичных и неспецифичных сигналов оказывает неоценимую помощь в деле развития и совершенствования метода, особенно при исследовании сложных проб. Интегрирование площадей сигналов вместо оценки их уровня дает несравнимо более воспроизводимые результаты.
Путем принятия мер разного характера удалось добиться протекания атомизации в необходимом термическом равновесии. Системные погрешности при (фракционированном) испарении могут быть сглажены за счет использования изотермической печи, которая в виде версии с поперечным нагревом предлагается сегодня в ряде коммерческого оборудования. Это позволило превратить атомно-абсорбционную спектроскопию по способу графитовой трубчатой печи в аналитический прием, почти не обремененный помехами. Новые способы отбора проб и компьютеризованные механизмы их подачи закладывают фундамент надежного определения элементов в ультраследовом диапазоне. Техника по принципу графитовой трубки в современном исполнении достаточно совершенна и относится к важнейшим методам анализа мельчайших следов элементов. Она находит применение не только в биологии и медицине, но и во многих других областях — в микроэлектронике, определении качества воды, исследовании свойств химикатов и т.д.
Анализ твердых веществ по методу графитовой трубчатой печи продолжает набирать популярность и уже стал инструментом рутинной лабораторной практики. Прямой ввод материала пробы в измерительный процесс без всякой химической подготовки заметно увеличивает пропускную способность метода. По быстроте и правильности анализа атомно-абсорбционная спектроскопия твердых веществ далеко превосходит традиционную технику с приведением проб в растворимую форму. Появились новые интересные области применения, например прямое определение содержащихся в пластиках металлов, добавляемых туда в качестве красочного пигмента (кадмий) или стабилизатора.
Следует особо остановиться на анализах с применением гидридов и холодных паров ртути. Преимущество этого метода состоит в отделении определяемого элемента от мешающей матрицы. Поэтому измерение проводится с высокой точностью без всякой фоновой коррекции. Требования к спектрометрам здесь намного мягче, чем в случае техники с графитовой трубкой.
Полная настройка, управление и контроль за функционированием спектрометра, графитовой трубчатой печи, механизмов автоматической подачи проб, а также проточно-инжекционной системы осуществляются с помощью компьютера. Наряду с системным контролем, современное программное обеспечение позволяет также сохранять сигналы, разные методы калибровки, градуировочные графики, поправочные коэффициенты веса проб, результаты анализов и последующей обработки полученных данных. Следует еще раз подчеркнуть, что все эти прекрасные характеристики: удобство обслуживания, многофункциональность, высокая аналитическая эффективность - предлагаются по вполне приемлемой цене.
В настоящее время посредством кодированных ламп с полым катодом автоматически устанавливаются длина волны и размер щели. С помощью механизма переключения ламп достигается автоматический последовательный многокомпонентный анализ: возможно исследование до 10 элементов. Компьютер берет на себя все необходимые настройки оборудования, в том числе юстировку ламп и оптимизацию горелок. С прогрессом в области разработок перестраиваемых диодных лазеров возросло их применение в качестве линейчатых излучателей, так что теперь они практически вытесняют лампы с полым катодом[25]. До сих пор был доступен интервал длин волн выше 320 нм, что уже позволяло проводить измерения достаточно большого числа элементов. Но лишь с момента, когда стала доступна вся УФ-область спектра, появилась возможность отказаться от классической лампы с полым катодом. В итоге отпадает собственно спектрометрическая часть, и можно проводить одновременные многоэлементные определения с еще лучшей обнаружительной способностью в большом динамическом диапазоне, и все это, повторяем, с весьма умеренными затратами. Диодные лазеры достаточно дешевы даже с учетом относящейся к ним электроники, требуемой для их эксплуатации и перестройки. Так как на основе перестройки диодных лазеров можно осуществлять также фоновую коррекцию на первичном источнике, эта проблема вряд ли была бы решена без привлечения дейтериевой лампы или эффекта Зеемана.
Благодаря проточно-инжекционным методам, которые уже достигли высокого коммерческого уровня развития, эффективность решения стандартных аналитических задач резко пошла вверх. Хроматографические колонки для предварительного обогащения следов элементов, срабатывающие до начала процесса атомно-абсорбционной спектрометрии, позволяют на порядки улучшить способность к обнаружению.
Известный недостаток атомно-абсорбционной спектрометрии, заключающийся в том, что элементы могут определяться только последовательно друг за другом, в настоящее время частично уже преодолен. Путем моторизации и компьютеризации создаются условия для одновременного либо квазиодновременного определения сразу нескольких элементов.
ГЛАВА 10. АТОМНО-ФЛУОРЕСЦЕНТНАЯ СПЕКТРОМЕТРИЯ
Атомно-флуоресцентная спектрометрия — метод, в некотором роде обратный атомно-абсорбционной спектрометрии: проба атомизируется в горячем пламени, и атомы возбуждаются излучением подходящей частоты. Измерению подлежит излучение, являющееся результатом дезактивации возбужденных атомов. Длина волны испускаемого излучения является характеристической для поглощающих атомов, а интенсивность пропорциональна их концентрации и интенсивности источника излучения. Этот принцип был известен давно, но значение его для анализа было понято лишь в 1964 г. Вайнфорднером и Виккерсом.
Флуоресценция при этом наблюдается в направлении, перпендикулярном направлению облучения. От генерированного термическим путем сигнала излучения флуоресцентный сигнал отличается тем, что здесь, как и при атомно-абсорбционной спектроскопии, используется свет переменной интенсивности. Источник света модулируется с определенной частотой, а детектор настраивается на эту частоту модуляции. Принципиально конструкция близка к таковой у атомно-абсорбционного спектрометра.
С теоретической точки зрения атомная флуоресценция есть отличающийся более высокой способностью к обнаружению вариант атомной спектрометрии, ибо при флуоресценции измеряется очень малая абсолютная сила света, в то время как при атомно-абсорбционной спектроскопии регистрируется очень малая разность двух интенсивных световых сигналов. Пределы обнаружения в атомной флуоресценции могут значительно улучшаться с ростом интенсивности излучения источника света. Возбужденные светом атомы способны терять свою энергию в результате тушения, то есть вследствие безызлучательных столкновений. При этом интенсивность флуоресценции в пламени может сильно упасть. Тушение же в значительной мере зависит от химического состава пламени.
При атомной флуоресценции профиль линии и окружающая резонансную линию спектральная зона имеют второстепенное значение, так как выходящий из лампы свет не падает на детектор. Главную роль играет здесь интенсивность света, поскольку чувствительность в широком диапазоне прямо пропорциональна освещенности или плотности облучения. Так как при атомно-флуоресцентной спектрометрии излучение источника света не попадает на детектор, результатом является более высокая линейность градуировочных графиков — свыше четырех и до пяти степеней десяти, в то время как при атомно-абсорбционной спектрометрии — всего около трех десятичных порядков. Правда, на форму градуировочных графиков иногда существенно влияют некоторые явления — самопоглощение и т.п.
Различают несколько видов флуоресценции (рис. 10.1). Резонансную флуоресценцию наблюдают, когда атом возбуждается из основного состояния и вновь возвращается в основное состояние с излучением света той же длины волны, какая использовалась для возбуждения. Самая мощная резонансная флуоресценция возникает, как правило, при переходе из первого возбужденного состояния в основное состояние: она и используется в большинстве случаев для аналитических целей.
При прямолинейной флуоресценции атом переводится в более высокое состояние возбуждения, а оттуда — в низкое возбужденное (но не в основное!) состояние с испусканием квантов флуоресцентного свечения. При ступенчатой линейной флуоресценции атом сначала безызлучательно переходит из более высокого состояния возбуждения в энергетически более низкое возбужденное состояние, а оттуда затем вновь падает в основное состояние с испусканием флуоресцентного излучения. Помимо этого, имеются еще и разные виды флуоресценции, в которых она поддерживается термическим способом. При этом либо атом до поглощения световой энергии уже находится в возбужденном состоянии, либо этот атом после выполнения поглощения световой энергии поднимается посредством термического возбуждения на еще более высокий энергетический уровень.
Атомно-флуоресцентная спектрометрия пока не находит широкого практического применения. Это объясняется прежде всего довольно значительными затратами, необходимыми для генерации интенсивного, узкополосного излучения. Интенсивность атомной флуоресценции и достигаемые при этом чувствительность и предел обнаружения зависят, наряду с числом атомов в основном состоянии, еще и от интенсивности источника возбуждающего света. Первоначально используемые лампы с полым катодом из сферы атомно-абсорбционной спектроскопии не дают света достаточной силы. Для этого необходимы мощные лазеры — эксимерные или азотные. Следует иметь в виду, что из-за сложности физических процессов в атомной флуоресценции работа с такой методикой гораздо сложнее, чем в случае прочих атомно-спектрометрических способов. Тем не менее возбуждаемая лазерным излучением атомная флуоресценция имеет то решающее преимущество, что она из всех атомно-спектроскопических методов обладает самой высокой чувствительностью обнаружения. Но, как и атомно-абсорбционная спектрометрия, она обеспечивает лишь одноэлементное определение, то есть в одном анализе можно определить всего один элемент[26].
Сильный рассеянный свет, возникающий при резонансной флуоресценции, связан с интенсивным возбуждающим излучением лазера. Чтобы в полной мере использовать высокую чувствительность атомно-флуоресцентной спектрометрии для следовых анализов в микропробах, предпринимались попытки соединить эту технику с электротермической атомизацией. При этом достигаются абсолютные пределы обнаружения ниже одного фемтограмма или, соответственно, в растворах — относительные пределы обнаружения ниже 1 триллионной доли. И все же практическое применение данного метода еще далеко отстает от широко распространенной атомно-абсорбционной спектрометрии с графитовой трубкой.
ГЛАВА 11. АТОМНАЯ СПЕКТРОМЕТРИЯ С ПЛАЗМАМИ
Наряду с химическими пламенами в качестве источника возбуждения для качественных и количественных спектральных анализов находят применение и плазмы — как источник для эмиссионной и масс-спектрометрии. Атомно-эмиссионная спектрометрия использует освобождающуюся энергию при возврате с электронных переходов, возбуждаемых при очень высоких температурах. Плазма считается также подходящим ионным источником для масс-спектрометрии.
Так как в обоих случаях возбуждение обычно достигается посредством индуктивно связанной плазмы (inductively coupled plasma), то более точно эти два метода можно обозначить следующим образом:
-
оптическая атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой и
-
плазменная масс-спектрометрия[27].
В профессиональном жаргоне химиков-аналитиков укоренилась аббревиатура ИСП (индуктивно связанная плазма) для простоты обозначения атомно-эмиссионной спектрометрии. Это сокращенное обозначение, конечно, нельзя признать правильным, поскольку оно указывает только на способ возбуждения, оставляя за скобками принцип измерения. Это то же самое, как если бы при работе с пламенем в качестве атомизатора непритязательно назвать атомно-абсорбционную спектрометрию просто воздушно-ацетиленовым пламенем.
ИСП была впервые опробована в химико-аналитических целях в начале 60-х годов двумя учеными независимо друг от друга — Фасселом в С Ш А и Гринфилдом в Великобритании [ 11.1]. В середине 70-х годов уже появились коммерческие приборы, причем первые ИСП-спектрометры использовались в лабораториях сталелитейных предприятий. В 80-е годы отмечается стремительное расширение областей применения спектрометрии с ИСП — примерно так, как это происходило в 70-е годы с атомно-абсорбционным методом.
Порядок цен на спектрометры для реализации данного метода начинается примерно с 80 000 нем. марок, а рост выше этой суммы определяется не столько механизмом возбуждения, сколько особенностями исполнения спектрометра, уровнем автоматизации и качеством системы сбора и обработки данных. Современные атомно-эмиссионные спектрометры обязательно компьютеризированы либо подключены к соответствующей ЭВМ. Стандартные программы поиска резких максимумов и способы регистрации фона у спектрометров последовательного и одновременного действия относятся к уровню техники.
По сравнению с химическими пламенами, плазмы отличаются чрезвычайной многосторонностью; их основные преимущества:
Деятели науки, специалисты по экономике, представители административных организаций, многих сфер хозяйственной деятельности стремятся сегодня найти возможности для регистрации всех существующих в природе элементов практически во всех мыслимых органических и неорганических матрицах и в широком концентрационном диапазоне. При плазменной спектрометрии может одновременно возбуждаться множество элементов. Следовательно, это самый эффективный способ многоэлементного определения, то есть одновременного анализа 20 элементов и более.
Матричные эффекты здесь не столь велики, и из-за высокой температуры ядра плазмы более 5000 по Кельвину достигается лучшая диссоциация термостойких оксидов или карбидов. Никаких мешающих химических реакций здесь не протекает. Поэтому с учетом весьма умеренной склонности к погрешностям нередко принимается решение об отказе от достаточно затратных способов предварительной обработки, несущих с собой дополнительные источники помех. Помимо прочего, плазма в отличие от пламени прозрачна в УФ-области спектра, что позволяет существенно расширить выбираемый интервал частот. По сравнению с атомно-абсорбционной спектроскопией, здесь можно дополнительно использовать еще и область ультрафиолета в вакууме. С помощью вакуумных спектрометров создается возможность привлечения в целях анализа наиболее подходящие спектральные линии — для фосфора, серы, мышьяка, углерода и проч. Как альтернатива разрежению здесь вполне достаточно обдува аргоном или азотом при умеренном расходе этих газов для расширения диапазона длин волн до 150 нм и ниже. Однако при этом необходимо следить за тем, чтобы тщательный обдув обеспечивался по всей траектории светового пучка до самой горелки.
Линейная динамическая область концентраций в атомно-эмиссионной спектрометрии составляет от 105 до 106, так что для анализа основных и следовых элементов требуется в большинстве случаев всего одна пробоподготовка. Чреватое помехами многократное разбавление при этом отпадает. Напомним, что атомно-абсорбционная спектрометрия дает аналитическую линейность лишь между 102 и 103.
Однако и здесь, как и при всех прочих способах работы с растворами, «слабым местом» является малый выход при распылении. Пользуясь специальной техникой, можно с помощью плазменной атомно-эмиссионной спектроскопии напрямую анализировать даже твердые образцы, причем особенно успешно проходят анализы микропроб путем прямого ввода в индуктивно связанную плазму. Для количественного анализа проб металла плазма комбинируется с искровой и дуговой эрозией[Обычно применяется термин «абляция». — Прим. ред.]. Искровая эрозия позволяет, например при труднорастворимых высокотемпературных сплавах, осуществлять определения основных и сопутствующих компонентов с достаточно низкими матричными эффектами.
Таким образом, атомно-эмиссионная спектрометрия для одновременного следового анализа многих элементов служит не только дополнением, но часто и заменой атомно-абсорбционной спектрометрии. В настоящее время не существует универсального метода решения всех без исключения аналитических задач.
Атомно-эмиссионные спектры очень богаты линиями. Это приводит к тому, что для определения одного элемента предлагается огромное число линий, и спектральные помехи при этом становятся одной из главных проблем оптической эмиссионной спектрометрии. Оптическое разрешение прибора играет в атомно-абсорбционной спектрометрии подчиненную роль, поскольку селекция по элементам здесь происходит в результате атомной абсорбции очень узкополосной и элементно-спцифичной линии излучения лампы с полым катодом. При эмиссионном же анализе именно оптическая система вершит дело элементной селективности. Поэтому здесь настоятельно необходимо наличие первоклассной оптики. Оптические системы, используемые для анализа с ИСП, как правило способны к разрешению двух равноинтенсивных спектральных линий на расстоянии < 0,02 нм друг от друга. Этот показатель уже в 5—10 раз ниже того, что характерен для монохроматоров, используемых сегодня в атомно-абсорбционной спектроскопии.
Итак, селективность по элементам при атомно-эмиссионной спектрометрии определяется исключительно высоким разрешением монохроматора.
У спектрометров последовательного действия на определение каждого элемента требуется довольно много времени, да и расход проб соответственно выше. Но зато здесь допустимы гибкие многоэлементные определения при возможности выбора аналитических линий с учетом требуемого предела обнаружения и минимально возможных спектральных помех.
Сочетание плазм как источника возбуждения с масс-спектрометрией представляет собой самый современный метод в аналитике следовых количеств элементов. Еще в 80-е годы Гук и Грей разработали аспекты инструментального и методического оформления интересующего процесса, и теперь можно говорить о соединении идеальной концепции ионизации индуктивно связанной плазмы с очень чувствительным масс-спектрометрическим детектированием. При плазменной масс-спектрометрии ионы вытягиваются из плазмы через небольшую апертуру и направляются в масс-спектрометр.
Такая комбинация отличается чрезвычайно высокой чувствительностью обнаружения и является оптимальным способом многоэлементного определения. В то время как при оптической атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой пределы обнаружения для большого числа элементов находятся на уровне от 1 до 10 миллиардных долей, с плазменной масс-спектрометрией большинство элементов может определяться еще в области концентраций от 0,1 до 1 миллиардной доли. Указанные пределы обнаружения практически не изменяются от элемента к элементу, спектры не отличаются избыточностью, но ионные пучки и здесь тоже могут привести к совпадению спектральных линий.
11.1. Теоретические основы метода
Если к атому подвести достаточно высокую термическую энергию, то электроны при этом, преодолевая притяжение ядра, поднимутся с внутренних низкоэнергетических орбиталей на внешние высокоэнергетические орбитали. Теперь атом находится уже не в основном, а в возбужденном состоянии, но пребывает в нем лишь очень короткое время, и в среднем уже через 10-8 секунд богатые энергией электроны вновь возвращаются в основное состояние или на энергетически более слабую орбиталь.
При возврате на уровни меньшей энергии разность освобождающихся энергий между начальным и конечным состояниями излучается в виде света, наблюдаемого как линия спектра. Вообще, возбужденный атом может принимать очень разные энергетические состояния, но отнюдь не любое их число, так что и возможное количество спектральных линий остается ограниченным. Согласно закону Кирхгоффа касательно поглощения и излучения, любое вещество может естественным образом поглощать свет только той же частоты, какую оно само способно излучать.
Но спектры поглощения и излучения элемента заметно отличаются числом наблюдаемых линий. Так, при используемых в атомной абсорбции температурах преобладающее число атомов находится в основном состоянии, и по этой причине наблюдаются практически только переходы сугубо из основного состояния. Напротив, при температурах возбуждения в атомной эмиссии достигаются самые
Сплошной спектр ионизации
разные состояния возбуждения атома, включая образование ионов. Но возврат электронов с испусканием света не всегда заканчивается в основном состоянии, электронные переходы могут осуществляться во все электронные состояния с меньшей энергией (рис. 11.1). В атомно-эмиссионном спектре при наличии большого числа возможных переходов это приводит к получению спектра с чрезмерно большим количеством линий. У железа, например, известно сегодня около 4700 линий излучения.
Линии излучения могут возникать при возврате электронов как из возбужденных атомных, так и из возбужденных ионных состояний. Итак, различают:
И те и другие находят применение в аналитике. Поскольку ионы имеют иные энергетические уровни электронных орбиталей, чем соответствующие незаряженные атомы, это дополнительно способствует увеличению числа линий. Ионизация может осуществляться через электронное столкновение, но условия ионизации в плазме чрезвычайно сложны в силу того, что в этих процессах занято слишком много участников.
Ионы дополнительно образуют непрерывный спектр, так как при захвате электрона из свободного газообразного состояния таковой может обладать любой кинетической энергией и, соответственно, отдавать ее при рекомбинации. Задача источника возбуждения для атомно-эмиссионной спектрометрии состоит в том, чтобы генерировать как можно больше возбужденных атомов и ионов, излучающих линейчатый спектр. В результате получается интенсивный линейчатый спектр содержащихся в пробе элементов.
Наблюдаемая интенсивность линий I вытекает из термического равновесия при не слишком высокой плотности числа частиц (распределения Больцмана):
|
где N0 — число частиц в основном состоянии, N1 — число частиц в возбужденном состоянии, A — вероятность перехода, g — 2J + 1, Z — сумма состояний.
Фактор g показывает статистический вес верхнего уровня, причем J есть суммарный момент количества движения. Сумма состояний охватывает m возможных форм энергии и определена как:
|
Таким образом, интенсивность I атомной линии находится в прямой зависимости от числа частиц N0 По мере повышения температуры возрастает сначала интенсивность линии, которая к тому же еще зависит от конкретного элемента и типа перехода.
Но с повышающейся температурой ионизация все больше и больше выступает на передний план, то есть ионизационное равновесие смещается в пользу ионизированных частиц. При падающем числе нейтральных частиц N0 должна, следовательно, понизиться и интенсивность рассматриваемой атомной линии. Поэтому ожидаемое с ростом температуры повышение интенсивности можно наблюдать лишь до тех пор, пока относительно мала степень ионизации. При более высоких температурах с убыванием излучающих нейтральных частиц преобладает обусловленное температурой повышение интенсивности. Тогда в силу физических процессов наблюдается с повышением температуры увеличение интенсивности ионных линий и уменьшение интенсивности атомных линий. Определение этих разных интенсивностей атомных и ионных линий элемента представляет собой способ измерения очень высоких температур.
11.1.1. Что такое плазма?
Если исходить из того, что при температуре выше 4000°С ни одно из известных нам веществ уже не существует в виде твердого тела, то возникает закономерный вопрос: нет ли наряду с классическими агрегатными состояниями (твердым, жидким и газообразным), может быть, еще какого-нибудь четвертого, «ультрагазового» состояния? Фактически так оно и есть: это именно то, что в самом широком смысле слова обозначается как плазма. Качественный признак, способствующий образованию плазмы из обычного газа, основан в первую очередь на том, что в газе появляются электрически заряженные частицы, возникающие в результате разрушения молекул газа.
Плазма есть излучающий, квазинейтральный и элетропроводящий газ, состоящий из атомов, молекул и ионов во всех агрегатных состояниях, а также из свободных электронов, так что наряду с нейтральными частицами имеются и свободно движущиеся, электрически заряженные частицы. Уже при очень малой степени ионизации на уровне миллионной части процента можно наблюдать плазменные свойства. Эта область простирается тогда до таких плазм, которые почти полностью состоят из ионов и электронов. При этом степень ионизации в результате неупругих столкновений между электронами и молекулами или, соответственно , атомами составляет обычно всего от 10-5 до 10-8, но высокая температура электронов в плазме приводит к процессам диссоциации, причем степень диссоциации может достигать нескольких десятков процентов [11.2].
В нормальной ситуации в плазме параллельно присутствуют электроны, ионы и нейтральные частицы. Носители положительных и отрицательных зарядов притягиваются под действием электростатических сил и при соударениях нейтрализуются с высвобождением энергии. В ходе таких процессов рекомбинации любая плазма бы очень быстро «умерла», если бы в силу постоянных диссоциаций не появлялись все новые и новые носители зарядов, компенсируя потери вследствие рекомбинации.
Возбуждение подобных плазм происходит по причине передачи электрической энергии. Важным условием удерживания плазмы является наличие достаточного числа электронов, которые, перемещаясь в электрическом поле, сообщают энергию своего движения посредством столкновений с другими частицами в плазме (молекулами, атомами) [11.3]. При этом достигаются высокие температуры, необходимые для атомизации и ионизации. Для ионизации атома требуется выполнение двух условий: наличие определенной энергия ионизации и ее приложение к атому. Такая энергия ионизации измеряется в электронных вольтах (эВ) и составляет для большинства элементов от 4 до 25 эВ.
На роль плазменных газов выбираются относительно легко ионизируемые инертные газы — гелий или аргон. Гелий обладает очень высокой энергией ионизации порядка 24,6 эВ, а у аргона она составляет всего 15,8 эВ. При необходимости достаточно большого расхода газа используют, из соображений экономии, чаще всего аргон; гелий, как правило, по той же причине отвергают. Но энергии ионизации аргона для многих неметаллов не хватает, чтобы возбудить линии спектра излучения выше легко доступного интервала длин волн 190 нм. Гелий с его очень высокой энергией ионизации подошел бы для этой цели несравненно лучше, поскольку все элементы периодической системы возбуждаются для излучения в обычном диапазоне длин волн от 190 до 800 нм.
11.2. Образование плазмы
Существует много разных форм плазмы, различающихся преимущественно степенью ионизации и энергией частиц. Для химико-аналитических целей интерес представляют лишь те плазмы, которые легко доступны, стабильны во времени, обладают разумной размерностью. Речь идет о так называемых равновесных плазмах, у которых в результате высокой степени ионизации и большой плотности частиц происходит быстрый обмен энергией между электронами, ионами и нейтральными частицами.
Плазма может точно определяться концентрацией атомов, ионов и электронов, а также температурой компонентов при заданном давлении. Поэтому, чтобы установить нужные для плазмы условия, приходится часто измерять температуры возбуждения, температуры ионизации и концентрацию, или плотность, электронов. Последняя, например, обычно составляет около 1015 см-3.
Электрические разряды с плазмами при атмосферном давлении введены в обиход еще со времен начала оптических эмиссионно-спектральных анализов. Для элементного анализа используют три разных способа генерации плазмы, посредством которых получаются:
Эти источники излучения были разработаны в 60-х годах и в настоящее время предлагаются рынком в составе комплектных устройств для элементных анализов. Благодаря высоким температурам плазмы при работе с ней возможны лишь совсем незначительные химические помехи и низкие пределы обнаружения.
11.2.1. Индуктивно связанная плазма
Из всех упомянутых выше плазм индуктивно связанная высокочастотная плазма известна лучше всего. Как источник излучения в рамках плазменной эмиссионной спектрометрии она занимает главенствующее положение. Начало в этой области было положено Гринфилдом и Фасселом [11.5]++ в 1962 г. В последующие годы были созданы основы для создания представленной Фасселом в 1969 г. плазменной горелки. В 1975 г. на рынке появился первый коммерческий плазменный спектрометр.
Индуктивно связанная плазма является хорошим компромиссом с точки зрения одновременного возбуждения почти всех важнейших элементов. Мощность в диапазоне 0,5—2,5 кВт, необходимую для образования и удерживания плазмы, дает высокочастотный генератор, в катушке которого установлена плазменная горелка. Внутри трубки подводится распыленная проба с аргоном. После включения поля высокой частоты инициируется ионизация аргона с искрой высокой плотности энергии, искрой Тесла. При этом свободные электроны выстреливаются трансформатором Тесла в газ, в результате чего газ становится электропроводящим.
Теперь плазма представляет собой нагрузку для катушки высокой частоты. Ток высокой частоты создает осевое переменное магнитное поле, которое опять-таки воздействует на свободные электроны. Если напряженность магнитного поля достаточно высока, электроны смещаются в положение, допускающее ионизацию газа. В итоге мы получаем индуктивно возбужденную плазму. Поле высокой частоты индуктивно передает электрическую энергию газу и нагревает его. Пока напряженность поля не падает ниже критического уровня, плазма сохраняется, то есть образовавшиеся в результате ионизации свободные электроны, в свою очередь, вновь ионизируют другие атомы или, соответственно, молекулы газа.
Так как плазма получается из газа, ставшего проводящим, ее следует держать подальше от катушки высокой частоты, чтобы избежать коротких замыканий. Это достигается за счет прозрачной для высокой частоты среды, в которой протекает газ. Такой средой является кварцевая или сапфировая трубка, именуемая горелкой. С целью снижения коррозии и поверхностного сопротивления (скин-эффекта) индукционные катушки покрыты серебром. Все они охлаждаются водой и плотно прилегают к горелке — для обеспечения хорошей связи с плазмой и равномерного магнитного поля (рис. 11.2).
За счет правильного выбора частоты, соответствующей конструкции горелки и требуемой скорости протекания газа плазме придается тороидальная форма. Это позволяет эффективно вводить аэрозоль пробы в плазму, не нарушая ее стабильности. Правда, обесточенная во внутренней части плазма чувствительно реагирует на охлаждение, например из-за мокрых аэрозолей. Образовавшийся в распылителе аэрозоль следует вводить в плазму с очень низкой скоростью инжекции.
Итак, в случае индуктивно связанной плазмы речь идет об ионизированном в электромагнитном поле высокой частоты газе, находящемся в системе кварцевых трубок. В результате частичной ионизации молекул или атомов газа и их нового объединения энергия преобразуется в теплоту. Генератором энергии при этом является присоединенный генератор высокой частоты. В зависимости от приложенной мощности высокой частоты, в выходящей из плазменной горелки газовой смеси, так называемом плазменном факеле, достигаются температуры от 6000 до 10 000 К. При таких температурах впрыснутые в плазму жидкие или растворенные пробы атомизируются и возбуждаются для особо интенсивного излучения света.
Эти высокие температуры и долгое время жизни аэрозоля пробы (несколько миллисекунд) являются решающими факторами передачи энергии от ионизированного газа в аэрозоль и, следовательно, осуществления процессов атомизации, ионизации и возбуждения.
В силу эффективной атомизации, в том числе и в случае элементов, образующих устойчивые оксиды и карбиды, пределы обнаружения занимают в большинстве случаев некое промежуточное положение между таковыми у пламенного и графитового вариантов атомно-абсорбционной спектрометрии. Впрочем, присущие способам эмиссионной спектрометрии спектральные помехи могут стать причиной систематических погрешностей. Они вызываются чаще всего совпадениями аналитических линий с матричными линиями либо фоновыми помехами, связанными с возможными изменениями интенсивности непрерывного спектра фона либо с излучением полосатых спектров.
Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой ознаменовала собой несомненный прогресс, поскольку она не только функционирует безэлектродным способом, но прежде всего обладает, в силу скин-эффекта, тороидальной формой плазмы с так называемым аэрозольным туннелем, а также мощным внешним потоком охлаждающего газа.
Среди недостатков можно назвать, пожалуй, большой расход аргона, в значительной мере определяющий стоимостной фактор при работе атомно-эмиссионного спектрометра. Использование приборов, работающих с воздухом, предлагалось для осуществляемого в режиме реального времени контроля потоков жидкости в крупных технологических установках. Для элементной аналитики в лабораторных условиях функционирующие с применением воздуха спектрометры, по сравнению с приборами на аргоне, подходят меньше, так как обладают значительной более низкой обнаружительной способностью.
11.2.2. Трехэлектродная плазма постоянного тока
Наряду с индуктивно связанной плазмой, в области элементного анализа жидких проб неплохо зарекомендовала себя также трехэлектродная плазма постоянного тока. Но эта токопроводящая плазма находится под сильным влиянием легко ионизируемых элементов, поэтому в присутствии щелочных металлов здесь проявляются значительные матричные эффекты [11.6].
Трехэлектродная плазма постоянного тока генерируется двумя графитовыми анодами и одним вольфрамовым катодом. Электроды, несколько сдвинутые назад, располагаются в керамических гильзах и обдуваются аргоном. С целью зажигания электроды пневматически выдвигаются из гильз, а катод опускается. После короткого замыкания с одним анодом электрическая дуга растягивается, причем происходит позднее зажигание только второго анода. Подача аэрозоля осуществляется через центральную трубку для пробы и полностью отделена от подачи газа и генерации плазмы (рис. 11.3).
Свойства трехэлектродной плазмы постоянного тока частично близки свойствам обесточенных плазм, каковой является индуктивно связанная плазма. Сама плазма является токопроводящей и, следовательно, энергетически очень стабильна. Оптимальная зона возбуждения находится точно под тем местом, где соединяются два столба электрической дуги, и она в этом месте обесточена. Температура плазмы составляет 15 000 К, температура зоны возбуждения 6000 К. Так как возбуждение чисто термически происходит вне токопроводящей плазмы, то получают спектр с меньшим фоном, чем при индуктивно связанной плазме.
Зона возбуждения невелика и составляет около 1 мм2, но обладает очень высокой светосилой; трехэлектродная плазма постоянного тока хорошо сочетается с компактным эшелле-монохроматором высокого разрешения. Обнаружительная способность такой системы весьма близка к таковой при оптической атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Для некоторых элементов вроде бора, фосфора и мышьяка трехэлектродная плазма постоянного тока гарантирует самую высокую чувствительность обнаружения.
В случае трехэлектродной плазмы постоянного тока работа нередко ведется с более высокими концентрациями солей, чем это имеет место при индуктивно связанной плазме. Дело в том, что, хотя первая в спектроскопическом отношении изучена меньше, чем вторая, она уже имеет на своем счету коммерческие предложения на уровне аналитической техники и достаточно часто используется именно в тех областях, где особенно важны указанные выше преимущества (производство высоколегированных сталей, геология, контроль состава нефти и масел, анализ сыворотки, морской воды и проч.).
11.2.3. СВЧ-индуцированная плазма
На фоне очень успешного продвижения индуктивно связанной плазмы несколько отошла в тень плазма, индуцированная микроволнами. В случае СВЧ-плазмы речь идет о безэлектродном разряде, возбуждаемом в большинстве случаев с частотой 2,4 ГГц и мощностью от 40 до 200 Вт [11.7]. Основным достоинством такого возбуждения является малый расход газа — всего 1 л/мин. При столь низком расходе газа будет финансово оправдано даже применение гелия, с которым можно проводить измерения галогенов фтора и хлора, серы и фосфора в нормальной, невакуумной, УФ-области [11.8].
Первоначально СВЧ-индуцированная плазма находила применение только при пониженном давлении. С тех пор как удалось использовать ее при атмосферном давлении и с низкой мощностью, такой тип плазмы стал интересен и для спектрохимических анализов [11.9]. Такая плазма создается в кварцевой трубке диаметром в несколько миллиметров, через которую протекает гелий или аргон и которая находится в цилиндрическом объемном резонаторе. Сверхвысокая частота 2,45 ГГц вводится в этот объемный резонатор (рис. 11.4).
СВЧ-индуцированная плазма особенно удобна для возбуждения сухих аэрозолей, то есть анализируемые вещества должны быть представлены по возможности в газообразной форме. Это относится, естественно, и к другим плазменноэмиссионным методам, например с индуктивно связанной плазмой. Поскольку СВЧ-индуцированная плазма из-за малого потребления мощности и небольших размеров довольно чувствительно реагирует на изменения состава газа, то она рекомендуется в первую очередь для исследований малых объемов проб, какие бывают при испарении из графитовой трубчатой печи, в гидридной технике или при использовании в качестве элюента в газовой хроматографии [11.10].
Сочетание газового хроматографа с СВЧ-индуцированной плазмой дает в итоге многоэлементный детектор. Здесь особенно удобна гелиевая СВЧ-плазма, поскольку с этим инертным газом хорошо определяются даже, что очень важно, неметаллические элементы [11.11]. При этом на каждый выбранный элемент может регистрироваться собственная хроматограмма. Такой способ обнаружения отличается элементной специфичностью и в значительной мере не зависит от типа вещества. Путем корреляции полученных резких максимумов можно рассчитать для каждого периода удерживания элементный состав вещества. В настоящее время существуют коммерческие варианты интегральных систем, включающих в себя газовый хроматограф, СВЧ-индуцированную плазму и подходящий спектрометр.
Следует также подчеркнуть, что в тороидальной СВЧ-индуцированной плазме высокой мощности могут возбуждаться мокрые аэрозоли, так что можно ожидать разработок новых детекторов для жидкостной хроматогрофии [11.12]. И все же в целом пределы обнаружения здесь хуже, чем при индуктивно связанной плазме, да и матричных эффектов в присутствии щелочных металлов несомненно больше.
11.3. Состав атомно-эмиссионого спектрометра с ИСП
Атомно-эмиссионная спектрометрия с возбуждением индуктивно связанной плазмы (ИСП) среди аналитических методов со всеми прочими видами плазмы представляется наиболее удобной для пользователя. ИСП-спектрометры сочетают в себе типовые конструкционные элементы атомно-абсорбционных спектральных приборов (распылитель, распылительную камеру и систему горения) и компоненты оборудования из сферы эмиссионной спектрометрии, а именно дифракционного спектрометра высокого разрешения. Аппаратура ИСП включает в себя преимущественно три отдельных узла:
Необходимо учитывать и некоторые другие важные аспекты при использовании ИСП, как то: фактический уровень мощности высокой частоты на катушке индуктивности и применение «более холодного» газа в качестве охлаждающей оболочки. Среди прочих факторов можно назвать также механическую гибкость всей системы горелок в направления x/y/z, необходимую для подгонки к внешней оптической системе.
Спектрометры одновременного и последовательного действия, используемые в начальный период развития оптической атомно-эмиссионной спектрометрии с ИСП, разрабатывались преимущественно для искровой эмиссионной и атомноабсорбционной спектрометрии. Классическая оптическая эмиссионная спектрометрия с электрической дугой и искрами активно вытеснялась спектрометрией растворов с плазмами.
С учетом стабильной подачи проб и генерации устойчивого сигнала, оптическая атомно-эмиссионная спектрометрия с ИСП может успешно проводиться со спектрометрами как одновременного, так и последовательного действия. При одновременном измерении отмечается короткое время анализа на каждый элемент и высокая точность при использовании стандартных образцов, но зато здесь невозможен свободный выбор элементов и аналитических линий, что требуется, например, в случае изменений объемов загружаемой пробы.
11.3.1. Генератор высокой частоты
Генератор высокой частоты подает на ВЧ-катушку электрическую мощность определенной частоты. Большинство высокочастотных генераторов функционируют с кварцевой стабилизацией частоты 27,12 МГц — это исходная частота ИСП[28]. Отдаваемая мощность может регулироваться и составляет от 0,7 до 2,5 кВт [11.13]. Плазма прибывает примерно пропорционально мощности. Расход аргона при этом достаточно высок — от 10 до 15 л/мин, и ежегодные затраты на него весьма значительны. Несмотря на большое потребление мощности ИСП-спектрометрами, доля расходов на электроэнергию все же не столь существенна. Важнее тот факт, что ИСП-спектрометр отдает много тепла. Поэтому, как и при пламенной атомноабсорбционной спектрометрии, здесь требуется собственная надежная вытяжка.
С возрастанием частоты генератора понижается концентрация электронов, равно как и температура плазмы. Но одновременно в квадратичной форме ослабевает фон, а с ним и непрерывный спектр аргона. Результатом этого является лучшее отношение сигнал/шум и, следовательно, более благоприятный предел обнаружения. Поэтому в ИСП-спектрометрах отмечается тренд перехода к генераторам более высокой частоты - от 40 до 50 МГц. Повышенная частота дает более благоприятный КПД при возбуждении протекающего газа, что позволяет уменьшить поток аргона и снизить шум от непрерывного спектра фона. Слишком высокая частота, выше 60 МГц, приводит тогда к заметному падению температуры плазмы и, значит, к усиленному влиянию матрицы, как при атомно-абсорбционной спектрометрии. Удачным компромиссным решением для достижения хороших пределов обнаружения при ничтожном воздействии матрицы считается частота 40,68 МГц [11.14].
Следует заметить, однако, что при этих повышенных частотах приходится принимать более действенные меры по экранированию и максимально строго соблюдать действующие правила техники безопасности. Четвертьволновая длина 40 МГц составляет примерно 1,88 м и, значит, тем опаснее, чем настойчивее люди стремятся получить правильный размер для «четвертьволновой антенны». При частоте 27,12 МГц ситуация не столь критична, поскольку четвертьволновая длина составляет здесь 2,77 м.
11.3.2. Система плазменных горелок
Наряду с высокими требованиями к генератору высокой частоты в отношении его мощности и стабильности генерируемой плазмы, не меньшее значение имеет и система плазменных горелок. На практике распылительная камера, распылитель и плазменная горелка (факел) образуют единый узел, хотя каждая из этих трех позиций должна выполнять свою, совершено особую задачу.
11.3.2.1. Горелки
Горелки состоят из трех концентрических кварцевых трубок, размещенных в катушке генератора высокой частоты. Во внутренней трубке распыленная проба потоком аргона перемещается в плазму (аэрозоль — газ-носитель). В средней трубке аргон подводится в качестве вспомогательного газа, в наружной трубке подается газ плазмы. Последний выполняет при этом как функцию плазмообразования, так и функцию охлаждения. Необходимое охлаждающее действие между очень горячей плазмой и кварцевой трубкой достигается за счет того, что газ вблизи стенки имеет столь высокую скорость течения, что он не может ионизироваться либо ионизация возможна только при очень большой мощности высокой частоты[29].
Плазма есть относительно плотная среда. В результате выбора определенных условий (частота, конструкция горелок и скорость газа) плазма приобретает тороидальную форму. Осевая зона при этом оказывается прохладнее, чем окружающее кольцевое пространство. Причиной такой тороидальной структуры является так называемый скин-эффект, действующий таким образом, что ток высокой частоты постоянно концентрируется с наружной стороны проводника. Если поток газа диаметром 1—2 мм направить на середину плазмы, то он пробьет в плазме «туннель» с малой расходимостью, не нарушая стабильность плазмы. Благодаря этому создается возможность эффективного ввода аэрозолей в плазму: при отсутствии тороидальной структуры поток пробы большей частью проходил бы снаружи плазмы, не оказывая достаточного возбуждающего действия. Длина подобного туннеля и достигаемое при этом время жизни аэрозоля в плазме определяется мощностью высокой частоты и количеством плазмы.
Итак, тороидальная структура ИСП обеспечивает высокую эффективность ввода аэрозоля в плазму, улучшая тем самым предел обнаружения.
Осевое ядро плазмы имеет обычно температуру порядка 6000—8000 К. Высокие температуры в туннеле и долгое время жизни пробы (в течение нескольких миллисекунд) есть решающие факторы эффективности передачи энергии от ионизированного газа на пробу и, следовательно, достижения атомизации, ионизации и возбуждения. В то время как элементы с малой энергией возбуждения, например щелочные и щелочноземельные металлы, атомизируются и ионизируются уже при 0,3—0,5 кВт, для других элементов, например бора и фосфора, требуется энергия выше 2 кВт.
Плазма, подобно пламени, существует внутри катушки и над ней. Над плазменным туннелем проба перемещается в зону, расположенную выше ВЧ-катушки. Часть плазмы, находящуюся выше катушки, иногда называют «хвостом»[30]. Здесь тороидальная структура плазмы постепенно исчезает, и плазма приобретает форму «пламени»: оно и используется в целях спектроскопических исследований. Для получения достоверных результатов позиционирование осуществляется эмпирическим путем с точно такими же данными мощности и скорости протекания газа, которые предстоит использовать позднее (рис. 11.5).
Для измерений излучения наиболее благоприятной оказалась высота наблюдения на 10—20 мм выше ВЧ-катушки. Полученное излучение наблюдается, как правило, в осевом направлении, то есть свет с помощью кварцевой линзы, размешенной перпендикулярно оси плазмы, фокусируется на входной щели спектрометра высокого разрешения[31].
Но, наряду с высокими температурами и долгим временем жизни, немаловажное значение имеет еще и химическое окружение. Ведь в каждом пламени бывает относительно высокое парциальное давление кислорода или азотных соединений, приводящее к тому, что элементы, имеющие сродство к кислороду, в обычном для атомно-абсорбционной спектроскопии пламени атомизируются не до такой степени, как это можно было бы ожидать при данной температуре. Эти элементы (например, щелочноземельные металлы, лантаноиды, бор, кремний) нередко образуют с пламенными газами окислы или гидроксильные радикалы, которые дальше уже не диссоциируются.
Напротив, плазма состоит сначала только из инертного газа аргона, а кислород в совсем малом объеме появляется лишь в результате диссоциации привнесенной с пробой воды. Таким образом, здесь имеет место довольно низкое парциальное давление кислорода, и образование окислов практически невозможно. Поэтому в ИСП вполне эффективно могут атомизироваться даже элементы с высоким сродством к кислороду.
Горелки изготовляются обычно из кварцевого стекла или из других, прозрачных для высокой частоты материалов, например корунда либо сапфира. В отношении горелок из кварцевого стекла необходимо заметить, что при высоких температурах кремний испаряется, что может стать причиной искажения излучений проб. Окись алюминия более устойчива и обычно предпочитается кварцу. Относительно новым материалом является здесь сапфир, отличающийся более высокой стойкостью к температурным деформациям и смене температур[32].
11.3.2.2. Разные режимы работы
В поле индукции ионизируются преимущественно атомы аргона, находящиеся в центре плазмы, в то время как быстрый поток газа, протекающий вдоль наружной трубки, берет на себя функцию охладителя. При мощностях выше 2 кВт ионизируется и быстро протекающий газ, а температура столь высока, что кварцевая трубка начинает плавиться.
Охлаждающим газом может быть аргон или азот, что задает разные режимы работы с ИСП при использовании следующего оборудования:
В аргоновой горелке аргон используется в качестве как плазменного, так и охлаждающего газа (рис. 11.6). Рюмкообразная внутренняя трубка обеспечивает сначала подпор газа, а потом уже высокое ускорение вдоль внутренней стороны наружной трубки. Такая система с особыми гидродинамическими свойствами способствует тому, что находящиеся в зоне завихрения атомы газа первыми захватываются полем индукции, в то время как более быстрые частицы выполняют вдоль наружной трубки функцию охлаждения. Но с повышением мощности высокой частоты ионизируются и эти быстрые атомы газа. Максимальная мощность для аргоновой горелки составляет поэтому менее 2 кВт.
Также и в аргон-аргоновой горелке газ плазмы играет роль охладителя (рис. 11.7). При этом он поддерживается вторым потоком аргона, который называют также вспомогательным газом. Такая система находит применение главным образом в анализах органических растворов. При исследовании водных растворов наличие вспомогательного газа не требуется. В случае органических растворов необходимо принимать в расчет некоторые особенности. Изменение индуктивности в катушке приводит, при наличии неводного растворителя, к сбою настройки колебательного контура. С понижением мощности высокой частоты рассогласование усиливается, в связи с чем падает температура плазмы. При этом можно наблюдать увеличение интенсивности атомных линий и одновременное уменьшение интенсивности ионных линий одного и того же элемента в водном растворе. В самом неблагоприятном случае это может привести к погасанию плазменного пламени, поэтому для органических растворителей рекомендуется выбирать генераторы особенно высокой мощности.
В аргон-азотной горелке в качестве охлаждающего газа служит азот, а аргон используется исключительно как плазменный газ и газ-носитель (рис. 11.8)[33]. Азот в роли охлаждающего газа действует весьма эффективно. Он не ионизируется индуктивным полем, а оказывает обволакивающее действие относительно аргоновой плазмы. Если аргон в значительной мере ионизируется, азот остается практически незатронутым мощностью высокой частоты. При этом охлаждающий газ полностью выполняет свою функцию и создает возможность любого увеличения энергии в плазме путем повышения мощности высокой частоты. Таким образом, мощность можно спокойно повышать до 10 кВт — без риска разрушения кварцевой
Тип горелки |
|||
|---|---|---|---|
Аргон |
Аргон/аргон |
Аргон/азот |
|
Мощность высокой частоты |
0,5—2,0 кВт |
0,5-2,0 кВт |
0,5-10 кВт |
Аргон как охлаждающий газ |
- |
||
Аргон как вспомогательный газ |
- |
1-3 л/мин |
- |
Азот как охлаждающий газ |
- |
- |
15-20 л/мин |
горелки. При этом обволакивающий эффект со стороны азота действует на удерживание плазмы, повышая ее плотность, температуру и эффективность.
Объем плазменного газа и мощность высокой частоты имеют решающее значение для развития плазмы и ее высоты. Однако и обволакивающий эффект охлаждающего газа (азота) определяет высоту плазмы, не изменяя энергию в самой плазме. Отсюда следует, что уровень измерения оптимально устанавливается на заданный расход газа-носителя, а с ним и на уровень ионизации. В отличие от работы в режиме аргона или аргона-аргона, в случае применения аргона и азота измерение проводится выше уровня ионизации аргона. Это приводит к тому, что богатый линиями спектр аргона не проявляется в виде фона или перекрытия. В табл. 11.1 приведены типовые рабочие параметры для разных плазменных горелок.
Между тем провести сравнение пределов обнаружения при разных рабочих режимах не так просто. При работе с аргоном и азотом требуются в большинстве случаев более высокие мощности генератора для достижения сравнимой ионизации элементов, чем при работе только с аргоном либо с аргоном-аргоном. В отношении возбуждения плазмы обычно действует такой порядок, что собственное излучение рабочего газа и растворителя в качестве фонового излучения не должно накладываться на используемые спектральные линии. С аргоном в качестве рабочего газа возникают только полосы ОН, в то время как при азоте добавляются еще и некоторые полосы молекул N2+ и N2. Полосы ОН при использовании водных систем могут быть подавлены только при условии достаточно хорошей десольватации.
11.3.2.3. Распыление
Чтобы жидкую пробу поместить в плазму, ее надо сначала разбить на очень мелкие капли, то есть перевести в состояние аэрозоля. Крупные капли не должны попадать в плазму, так как это плохо сказывается на ее стабильности и результирующем аналитическом сигнале. Путь от пробы до плазмы можно условно разделить на три фазы: транспортировка жидкости, распыление и транспортировка аэрозоля. Распыление может осуществляться пневматическим способом или ультразвуком, причем для пневматического распыления в качестве перемещающей среды требуется рабочий газ. При перемещении жидкости или используют эффект Вентури рабочего газа (то есть свободное всасывание), или подают пробу к распылителю с помощью насоса перистальтического действия. В то время как при пневматическом распылении газ распылителя применяется также для перемещения аэрозоля к плазме, в случае работы с ультразвуковым распылителем вводится газ-носитель, чтобы продвигать образованный ультразвуковыми волнами аэрозоль.
Распыление и подача раствора пробы есть решающие факторы при определении элементов. Задача распылителя состоит в создании как можно более тонкого аэрозоля. Такой аэрозоль следует получать по возможности с малым расходом газа-носителя, чтобы добиться долгой жизни распыленных долей пробы в плазме. С другой стороны, скорость всасывания пробы не должна быть слишком высокой. Мощность генератора плазмы и конструкция плазменного факела определяются небольшим объемным расходом пробы в минуту: при снятии этого ограничения может оказаться под вопросом стабильность плазмы.
Итак, для достижения благоприятных условий возбуждения расход газа-носителя должен быть ограничен примерно 1 л/мин, а расход пробы — примерно 3 мл/мин.
Помимо прочего, не все подлежащие анализу пробы обладают одинаковыми свойствами. Существуют водные и органические растворы, растворы с высоким солесодержанием или плавиковые кислые растворы, для которых обычно требуются специальные распылительно-факельные системы.
На первых порах использовались распылители, позаимствованные из области атомно-абсорбционной спектроскопии, которые поначалу давали совершенно неудовлетворительные результаты. При работе с индуктивно связанной плазмой они обнаруживали тот недостаток, что проба при относительно высокой доле газа-носителя распылялась с его скоростью 3 мл/мин и более. По причине столь высокой скорости газа в капиллярной трубке плазменной горелки время жизни пробы в плазме сокращалось и, следовательно, снижался тепловой КПД. Побочное действие этих распылителей выражалось в том, что атомная эмиссия для ряда элементов осуществлялась в разных зонах над плазмой, что потребовало обязательной развертки уровня измерения по растру перед входной щелью спектрометра.
И только концентрический стеклянный распылитель Майнгарда оказался весьма удачным для проведения анализов с ИСП. Это был универсальный распылитель, функционирующий по принципу самовсасывания (рис. 11.9).
Подобная концентрическая конструкция обеспечивает скорость всасывания от 1 до 3 мл/мин при расходе газа-носителя 1 л/мин, производя впрыск в небольшую распылительную камеру относительно отбойного шарика. КПД распыления находится здесь на уровне 5%. Во избежание образования мертвого объема тонкий шланг можно вводить во всасывающую трубку, достигающую непосредственно капиллярной трубки распылителя. Мертвый объем снижается на 80%, а период всасывания сокращается, пока проба не попадает в плазму. При этом уменьшается и расход пробы. В принципе этот стеклянный распылитель действует как любой другой пневматический распылитель, с той лишь разницей, что он не подлежит настройке и, кроме того, требует высокого напора газа около 10 бар.
Распылитель с поперечным потоком также работает по пневматическому принципу (рис. 11.10). При этом газ-носитель (аргон) проходит через рубиновую пластинку с узким отверстием диаметром всего 0,2 мм. В правом ее углу через платиновую капиллярную трубку всасывается раствор пробы, который распыляется и попадает в плазму. Оба капилляра установлены с возможностью регулировки и могут быть оптимально настроены на имеющиеся плазменные условия. При объемном расходе газа-носителя 1 л/мин всасывается в зависимости от диаметра капиллярной трубки от 0,5 до 2 мл пробы в минуту. Растворы с солесодержанием до 10% могут распыляться без опасности закупорирования.
С помощью насоса перистальтического действия можно еще соответствующим образом повысить объемный расход пробы[34]. Такой распылитель пригоден для любого ИСП-спектрометра и отличается высокой чувствительностью обнаружения и простым обслуживанием.
Распылители, действующие по принципу Бэбингтона, позволяют, помимо прочего, осуществлять распыление суспензий и растворов с очень высоким солесодержанием. Причем опасность закупорирования здесь очень мала. Хотя такое (V-образное) исполнение, на первый взгляд, напоминает распылитель с поперечным потоком, он функционирует не по пневматическому принципу. Сначала проба подводится к капилляру, после чего она продолжает течь самостоятельно по V-образному контуру (рис. 11.11).
В этом процессе проба со скоростью примерно 5 мл/мин попадает в капилляр газа-носителя. Здесь она захватывается потоком газа и распыляется[35]. Несколько меньший КПД с лихвой компенсируется достигаемой высокой концентрацией раствора[36]. Путем установки платиновой сетки в потоке аэрозоля можно еще поднять эффективность распылителя.
Из всех перечисленных выше типов систем распыления максимальный КПД обеспечивается все же ультразвуковым распылителем. Здесь раствор пробы тоже забирается насосом и по капиллярной трубке направляется прямо к размешенной внутри распылительной камеры пластине, вибрирующей с ультразвуковой частотой (рис. 11.12). При этом в плазму попадает гораздо больше материала пробы, что дает значительное повышение чувствительности обнаружения. Поток газа-носителя со скоростью около 1 л/мин несет теперь мельчайшие капли в плазму и достигает здесь интенсивности, в 10 раз превосходящей интенсивность пневматических распылителей. Ультразвуковые распылители создают чрезвычайно тонкие аэрозоли и обладают столь высоким КПД, что плазма при этом сильно охлаждается водными пробами. Поэтому для достижения пределов обнаружения ниже, чем в случае пневматических распылителей, аэрозоль перед возбуждением в индуктивно связанной плазме должна быть обезвожена. Это осуществляется путем выпаривания капель в нагревательном элементе, к которому примыкает блок конденсации [11.15].
Как и при атомно-абсорбционной спектрометрии, гидравлический распылитель высокого давления в случае оптической атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой является альтернативой классическому пневматическому и ультразвуковому распылению. С помощью обычного насоса из области высокоэффективной жидкостной хроматографии, используемого для создания постоянного высоконапорного потока жидкости, а также относящегося сюда вентиля из той же серии, проба подводится к специальному распылительному соплу, которое заменяет собой распылительную камеру. Никакого газа для распыления здесь не требуется. Под действием высокого давления хорошо распыляются даже насыщенные солевые растворы. Улучшается стабильность базовой линии, поскольку в плазму непрерывно поступает раствор, что исключает какие- либо изменения базовой линии при смене пробы.
На основе методики поточной инжекции могут выполняться разбавления и стандартные добавки разного рода. С помощью ионообменных колонок достигается концентрирование следовых веществ и, соответственно, отделение матрицы.
11.3.2.4. Распылительная камера
Если задачей распылителя является как можно более тонкое распыление аэрозоля, то распылительной камере уготована роль фильтра для образовавшихся аэрозольных капель (рис. 11.13). Она служит, в частности, для осаждения слишком крупных капель жидкости, способных отрицательно сказаться на стабильности плазмы. Более 90% объема подсосанной пробы вновь осаждается в распылительной камере, стекая затем по сливному шлангу. В плазму попадает всего 5—8% распыленного вещества. Такой КПД соответствует производительности других распылительных систем и является типичным для пневматического принципа распыления.
Первая распылительная камера, созданная Скоттом и Фасселом в США, с некоторыми вариациями продолжает использоваться до сих пор. Она может быть выполнена из стекла, тефлона или иных пластиков, например из райтона — пластмассы с хорошей смачивающей способностью. Камера закрывается колпачком с находящимся в нем распылителем, и представляет собой двойной цилиндр с замечательным фильтрующим действием[37].
11.3.2.5. К вопросу о снижении расхода аргона
Недостатком ИСП со времен ее внедрения всегда считался относительно большой расход аргона. Размеры факела ИСП были установлены еще Фасселом и Гринфилдом и принципиально не изменились до сегодняшнего дня. Фассел работал в режиме аргон-аргона, внутренний диаметр наружной кварцевой трубки составлял при этом около 18 мм. У аргон-азотного факела, используемого Гринфилдом, диаметр были примерно 28 мм. Эти размеры обуславливают высокую скорость течения аргона — 15 л/мин. При сокращении потока охлаждающего газа не исключена опасность того, что горелки начнут плавиться. Уменьшая мощность высокой частоты, можно добиться снижения расхода газа, но это отрицательно скажется на аналитической эффективности и общей стабильности метода. Форма ИСП первично определяется геометрией горелки и расходами газа, вторично — формой ВЧ-катушки и высокой частотой.
В целях сокращения расхода охлаждающего газа придется уменьшить размеры горелки. Для меньшей горелки требуется и меньшая мощность высокой частоты. С помощью ряда незначительных модификаций конструкции горелки удается снизить расход охлаждающего газа. Неплохо зарекомендовала себя в этом смысле система кварцевых трубок для плазмы с низким расходом аргона до 6 л/мин, работающая с мощностью до 600 Вт. Дальнейшее понижение мощности и расхода газа однозначно плохо сказывается на эксплуатационной стабильности ИСП в повседневной работе. Наряду с этим, многие производители настойчиво предлагают стандартные ИСП-системы более крупных размеров, обладающие повышенной надежностью, функционирующие с мощностью от 1 до 2,5 кВт и с расходом газа порядка 10—15 л/мин.
11.4. Оборудование для работы с ИСП
ИСП с 1964 г. активно использовалась для возбуждения в области эмиссионной спектрометрии и получила широкое распространение в многочисленных лабораториях с самыми разными аналитическими задачами. С течением времени применяемое для указанной цели оборудование, безусловно, развивалось и совершенствовалось, в противном случае техника ИСП не оставалась бы столь популярной. Сегодняшние требования к современным И СП-спектрометрам состоят прежде всего в возможности эффективной автоматизации, позволяющей сократить численность обслуживающего персонала и обеспечивающей работу приборов на полную мощность даже по ночам.
Критерии выбора ИСП-спектрометров, в общем, давно известны, и рынок предлагает устройства на основе примерно следующей классификации:
-
по принципу измерения: приборы последовательного, одновременного и комбинированного действия;
-
по интервалу длин волн: приборы для УФ/УФ в вакууме-, УФ-, УФ/видимой и вакуумной УФ/УФ/видимой областей спектра;
-
по разрешению: с высоким разрешением (< 0,005 нм) или низким разрешением (> 0,01 нм);
-
по максимальной мощности высокой частоты: <1,5 кВт, <2,5 кВт, >2,5 кВт;
-
по используемому газу плазмы: Аr/Аr, N2/Ar, O2/Аr или другие генераторные газы.
Из основных узлов И СП-системы важнейшим является диспергирующий элемент, поскольку он непосредственно определяет качество и правильность выполняемого аналитического исследования. Если спектрометр обладает плохим разрешением, это не удастся компенсировать ни эффективным возбуждением, ни наличием прекрасного детектора. Так как при плазменном возбуждении речь идет об атомно-эмиссионном методе, то к диспергирующему элементу предъявляются чрезвычайно высокие требования. В отличие от атомно-абсорбционной спектроскопии, при которой узкая и специфичная для конкретного элемента спектральная линия лампы с полым катодом отодвигает разрешающую способность оптической системы на задний план, при ИСП селекция по элементам осуществляется единственно и исключительно через оптику. Поэтому дооснащение имеющихся атомно-абсорбционных спектральных приборов блоком И СП-возбуждения невозможно уже по причине недостаточного разрешения атомно-абсорбционных спектрометров.
В атомно-эмиссионной спектрометрии может успешно использоваться также область спектра УФ в вакууме ниже 190 нм. Для этого стоит лишь позаботиться об обдуве диспергирующего элемента инертным газом. Тогда многие неметаллы, имеющие линии излучения в этой спектральной области, например сера и фосфор, будут, в отличие от атомно-абсорбционной спектрометрии, вполне пригодны для аналитического определения.
Наряду с этими основополагающими параметрами оборудования, особое значение приобретают функции приборов с точки зрения качества анализа, его протекания и связанных с ним затрат. Здесь имеются в виду: воспроизводимость и правильность результатов, скорость хода анализа, уровень сложности обслуживания, вариабельность программ обработки данных, общие эксплуатационные расходы и, наконец, стоимость собственно анализа. Чтобы гарантировать точность результатов также в автоматизированном ночном режиме работы, требуется соответствующее, специально разработанное, программное обеспечение [11.16].
Необходимо четко разделять спектрометры одновременного и последовательного действия, различающиеся своим диспергирующим элементом (см. табл. 11.2). В случае приборов второго поколения речь идет о комбинированных (одновременных + последовательных) устройствах совершенно новой концепции. «Сердцем» таких спектрометров является эшелле, отличающаяся высоким качеством отображения, малым рассеянием, прекрасным спектральным разрешением и большой силой света.
| Диспергирующий элемент | Функция | Применение |
|---|---|---|
Плоская дифракционная решетка |
Монохроматор |
Определение отдельных элементов и последовательное определение многих элементов |
Вогнутая дифракционная решетка |
Полихроматор |
Одновременное определение сразу нескольких элементов |
Эшелле |
Монохроматор и полихроматор |
Одновременное и последовательное определение многих элементов |
11.4.1. Эмиссионные ИСП-спектрометры последовательного действия
Здесь речь пойдет о замкнутой аналитической системе, в которой измерение элементов осуществляется последовательно, то есть поочередно друг за другом. Важнейшим узлом такой системы является сам плазменный возбудитель, соединенный спектральным фотометром с монохроматором высокого разрешения, который в простейшем варианте регулируется вручную.
При определении отдельных элементов или последовательном многоэлементном определении используется в качестве диспергирующего элемента плоская дифракционная решетка. У монохроматора в минимуме отклонения света находится фиксированная выходная щель, через которую посредством поворота решетки проводятся разные дайны волн. Для поворота решетки служит рукоятка вращения (при определении отдельного элемента) или управляемый компьютером шаговый двигатель (при автоматическом последовательном определении многих элементов).
В область применения эмиссионных спектрометров последовательного действия входит определение следового количества элементов в растворе — примерно как при атомно-абсорбционной спектрометрии, но без ламп с полым катодом, веселящего газа и ацетилена, а также без ограничения в отношении поставленных задач. Количественный результат определяется как величина интенсивности или интегрирования.
Так как при последовательных ИСП-спектрометрах может быть установлена любая длина волны, достигается максимальная гибкость в отношении элементов и дайн волн. На практике количественное измерение проводится после предшествующего качественного анализа, особенно если имеют дело с неким новым либо сложным образцом. Критериями выбора оптимальной длины волны являются отношение сигнал/фон и отсутствие перекрытий линий. В этом смысле последовательный ИСП-спектрометр предлагает высшую степень гибкости в сфере как научно-исследовательской деятельности, так и повседневной лабораторной работы.
Благодаря прямому измерению в максимуме (on-peak), приборы последовательного действия могут достигать точности такого же уровня, как и у ИСП-спектрометров одновременного действия, или даже лучше. На основе непрерывной атомной эмиссии создается возможность и для качественного спектрального анализа, осуществляемого с использованием линейного самописца либо с помощью синхронной автоматической подачи дайн волн.
11.4.1.1. Монохроматор спектрометра последовательного действия
Задачей монохроматора в оптической эмиссионной спектрометрии является выделение аналитической линии из имеющегося мешающего излучения. Если этого не происходит, измеряется не только излучение интересующего элемента, но и сумма всех падающих через выходную щель на приемник составляющих излучения. Такой вид ошибочного измерения обозначают как «спектральные помехи». Чтобы избежать подобных погрешностей, требуется монохроматор с максимально высоким разрешением. Поскольку повышенное разрешение возможно только при наличии щели небольшой геометрической ширины, то одновременно это будет означать также уменьшение поступающей на приемник лучистой энергии и повышенную опасность дрейфа.
Важнейшая функция спектрометра заключается в разделении специфичных для конкретных элементов линий излучения. Это достаточно сложная задача, поскольку в результате высоких температур плазменного возбуждения возбуждаются спектры, чрезвычайно богатые линиями. Это обстоятельство, особенно при наличии высоких концентраций, обусловливает влияние многочисленных помех на интересных для анализа линиях других элементов. Так, на самую чувствительную для обнаружения спектральную линию кобальта при 238,892 нм воздействует интенсивная линия железа при 238,863 нм (см. табл. 11.3). С учетом этого составляются многочисленные спектральные таблицы и справочники с указанием возможных мешающих линий и их интенсивностей.
На фоне все возрастающих требований к качеству работы химико-аналитических лабораторий пользователь вправе ожидать от производителей специального оборудования все более совершенных спецификаций. Этому противостоят естественные технические трудности и физические законы. В частности, наличие огромного числа линий в спектрах индуктивно связанной плазмы требует в высшей степени эффективных спектрометров с максимально возможным разрешением.
Для большой области спектра от 170 нм до ближней И К 900 нм[38], где имеют свои линии излучения элементы типа Na, К и Li, применение одной-единственной дифракционной решетки чревато большим ущербом для эффективности установки. Вся спектральная область распределяется поэтому по двум решеткам, каждая из которых оптимизирована относительно своей части зоны.
| Элемент 1 | Длина волны, нм | Элемент 2 | Длина волны, нм | Интервал между линиями, нм |
|---|---|---|---|---|
Cd |
228,802 |
As |
228,812 |
0,010 |
Zn |
205,548 |
Mg |
202,582 |
0,034 |
Pb |
216,999 |
Sb |
217,023 |
0,024 |
Sb |
231,147 |
Ni |
231,097 |
0,050 |
Со |
238,892 |
Fe |
238,836 |
0,029 |
Со |
231,160 |
Sb |
231,147 |
0,013 |
AI |
309,284 |
V |
309,311 |
0,027 |
Be |
313,042 |
Nb |
313,079 |
0,037 |
Be |
313,107 |
Nd |
313,070 |
0,028 |
Для достижения хороших пределов обнаружения должна обеспечиваться, наряду с высоким разрешением, еще и хорошая светосила. Пределы обнаружения могут быть улучшены только при условии малого стандартного отклонения фона. Это отклонение зависит преимущественно от горелки и генератора, вызывающих шумы флуктуаций в плазме, так называемые фликкер-шумы. Правда, у большинства спектрометров светосила в УФ-области невелика, так что выход сигнала лимитируется не только фликкер-шумами, но и дробовым шумом. Под дробовым шумом понимается в данном случае шум от фотоумножителя при обращении фотонов в фотоэлектроны.
Дробовой шум пропорционален
Следовательно, хорошие пределы
обнаружения могут обеспечиваться лишь при оптимальном прохождении
световых лучей, что опять-таки возможно исключительно с большой шириной
щели. Но благоприятное отношение сигнал/шум достижимо лишь с малой
шириной щели! Хорошее разрешение в сочетании с высоким светопропусканием
становится основой для предъявления максимальных требований к
монохроматору.
11.4.1.2. Разрешающая способность
Оптическое разрешение монохроматора есть способность разделять две одинаково интенсивные, близко прилегающие друг к другу спектральные линии. Это определение уточняется с привлечением критерия разрешения Рэлея, согласно которому максимум одного пика должен приходиться на минимум другого пика.
Для пиков с совершенным гауссовым распределением эта величина для ΔΛ в пересчете на полную интенсивность составляла бы порядка 50% (рис. 11.14). Математическое же определение разрешения выражается как отношение λ/Δλ, из чего вытекает некое безразмерное число, не представляющее большого интереса для аналитика[39]. Для него гораздо важнее знать, способен ли прибор в достаточной мере разделить определенную пару (совпадающих) линий и гарантировать тем самым анализ без помех. Для исследователя-практика величины Δλ как показателя разрешения вполне достаточно. При полуширине в несколько пикометров хороший ИСП-спектрометр должен иметь разрешение 15 пм или более.
Теоретическое разрешение дифракционной решетки описывается следующим образом:
|
где k — порядок отражения, n — число штрихов решетки на мм, l — база дифракционной решетки.
Таким образом, разрешение дифракционной решетки при заданном порядке спектра улучшается с возрастанием числа штрихов на миллиметр и увеличением ее базы. Механическая ширина щели и обратная линейная дисперсия дают результирующую спектральную ширину щели.
Дисперсия спектрального прибора, то есть его способность осуществлять разложение света разных длин волн, может выражаться как угловая либо как линейная дисперсия. Угловая дисперсия ΔΦ/Δλ показывает изменение угла ΔΦ для разности длин волн Δλ. Линейная дисперсия Δl/Δλ соответствует интервалу между двумя линиями Δl для разности длин волн Δλ. Обратная линейная дисперсия есть показатель, применяемый в общей практике и являющийся функцией фокусного расстояния f:
|
Большое фокусное расстояние и маленькая шель, следовательно, гораздо предпочтительнее. Фокусные расстояния варьируются у спектрометров в диапазоне от 0,4 до 1 м. При большом фокусном расстоянии приборы приобретают достаточно внушительные размеры. С увеличением фокусного расстояния все более дает себя знать снижение термостойкости, что удается компенсировать лишь с помощью весьма трудоемкой стабилизации температуры.
Поскольку входной и выходной углы дифракционной решетки должны быть меньше 90°, полезная спектральная область решетки уменьшается с увеличением числа штрихов. Современные голографические решетки содержат обычно 2400 штрихов на мм, причем для видимой спектральной области измерение осуществляется в первом порядке, а для УФ-зоны — во втором порядке спектра.
Для атомно-эмиссионных спектрометров обязательно нужны монохроматоры со спектральным разрешением до 0,01 нм, чтобы быстро и надежно распознавать спектральные помехи (рис. 11.15). Только регистрация помех дает пользователю возможность прибегнуть к соответствующим способам устранения помех. Спектральное перекрытие, но не совпадение, проявляется чаше всего как плечо в аналитической линии, когда полупики имеют разную ширину. Разрешение < 0,001 нм в области рутинной аналитики не имеет смысла, так как полуширина линий излучения составляет порядка 0,005 нм. В табл. 11.4 приведены для примера значения полуширины спектральных линий у разных элементов.
| Элемент | Длина волны, нм | Полуширина, нм |
|---|---|---|
Cd |
228,802 |
0,005 |
Fe |
249,653 |
0,006 |
В |
249,678 |
0,005 |
W |
249,748 |
0,005 |
Mg |
285,213 |
0,007 |
AI |
349,401 |
0,008 |
Са |
422,673 |
0,008 |
Na |
588,995 |
0,019 |
У дифракционного спектрального прибора в результате дифракции света на штрихах решетки и интерференций дифрагированного света для разных длин волн возникают разные направления отображенного светового пучка. Но каждая решетка создает определенную долю рассеянного света: чем меньше эта доля, тем эффективнее действие оптической системы. У решеток с нанесенными механическим способом штрихами рассеяние обусловлено преимущественно отклонениями от идеально гладкой формы штрихов (шероховатостями), а также периодическими и непериодическими неравномерностями интервалов между штрихами. У голографических решеток, выполненных фотографическим методом, таких неравномерностей значительно меньше. Поэтому голографические решетки дают меньше рассеянного света и чаще находят применение в атомно-эмиссионных спектрометрах.
Разрешение традиционных монохроматоров можно повысить за счет более значительных фокусных расстояний или, соответственно, более узких щелей. Но и та и другая меры имеют определенные недостатки, а именно:
-
малая ширина щелей становится причиной сокращения светопропускания;
-
удлинение фокусного расстояния отрицательно сказывается на механической и термической стойкости прибора. Так, для однометрового спектрометра с выходной щелью 25 мкм достаточно погрешности настройки дифракционной решетки всего на 0,0007°, чтобы получить снижение интенсивности сигнала сразу на 50%;
-
механический зазор и износ в ходе эксплуатации решетки приводят к тому, что большинство последовательных спектрометров вынуждены вести скрупулезный поиск с целью обнаружения пиков. Этот метод, реализация которого отнимает достаточно много времени, работает лишь в случае хорошо разрешенных пиков высокой интенсивности. Слабые сигналы в следовой области, как правило, не обнаруживаются. Сильные же сигналы в непосредственной близости от измеряемых пиков могут впоследствии привести к неверной настройке и, следовательно, к ошибочным результатам измерения.
11.4.1.3. Монохроматор Черни-Тернера
Оптическая конструкция монохроматора высокого разрешения основана в большинстве случаев на принципе Черни — Тернера (рис. 11.16). Типичным признаком такой компоновки является наличие двух фокусирующих зеркал, позволяющих поворачивать решетку без изменения фокусного расстояния. Фокусное расстояние, число штрихов из расчета на миллиметр решетки, высота и ширина щели определяют в конечном итоге оптическое разрешение монохроматора. Измерение в резком максимуме линий является непреложным условием правильной следовой аналитики. Естественное, физическое ограничение состоит в уширении линий под действием высоких температур факела, и причина этого кроется преимущественно в релятивистском эффекте Допплера и повышении давления. В зависимости от атомного веса и концентрации здесь могут достигаться величины до 0,01 нм. В связи с этим для большинства линий просто нереально получить поистине полноценное разделение.
11.4.1.4. ИСП-аналитика в спектральном пике
Первые монохроматоры конструкции Черни - Тернера предполагали ручную установку спектральных линий. Конечно, подобная система обходится сравнительно недорого, но сам процесс настройки протекает медленно и тяжело. Чтобы в полной мере использовать высокое разрешение такого монохроматора, должны быть обеспечены точность настройки и воспроизводимость длины волны.
Поэтому для данного монохроматора были разработаны системы программного управления, которые, однако, не всегда идеально подходили для той или иной длины волны. С обычным монохроматором возникали трудности механического характера, затрудняющие прецизионную установку острого максимума (пика) спектральной линии.
В случае волнового привода со шпинделем это особенно касается синусоидального движения решетки и индикации длин волн. Даже шаговый двигатель с высоким передаточным отношением не в состоянии преодолеть действующие в механике допуски. Поэтому используется обычно способ сканирующего измерения: линия считывается с одновременным поточечным измерением интенсивностей. В практических условиях данная функция весьма популярна, так как позволяет абсолютную тонкую настройку также и вдоль фронта пика, обеспечивая достаточно хорошую воспроизводимость [11.17].
Фактор неопределенности при управлении процессом настройки подлинной длины волны устраняется благодаря тому, что с помощью решетки производится сначала грубая настройка спектральной линии элемента и затем уже тонкая настройка на основе целого ряда отмеченных точек измерения по всему профилю линии. Пока пик остается в пределах это измеряемого ряда, можно, несмотря на неопределенность первой точки измерения, вычислить истинную интенсивность максимума. С этой целью используют:
Поворотная преломляющая кварцевая пластина предлагает простой оптический способ решения рассматриваемой проблемы (рис. 11.17). В ходе лучей монохроматора перед выходной щелью помещается поворотная, вертикально стоящая, так называемая преломляющая кварцевая пластина, которая, в соответствии с ее толщиной от 2 до 5 мм и установленным углом относительно хода лучей примерно ±20°, позволяет осуществлять очень хорошо контролируемую и чрезвычайно точную установку длин волн до ±0,0002 нм. При этом с помощью решетки производится прежде всего грубая настройка, тонкая же установка достигается путем поворота кварцевой пластины.
Современные компьютеризованные ИСП-спектрометры поддерживают все важнейшие аналитические функции, в том числе поиск пиков, представление спектров и оценку количественных результатов. Монохроматоры с программно-управляемым приводом решетки от шагового двигателя реализуют вариант компенсации критических для измерения интенсивности параметров — размера механической щели и колебаний температуры. Абсолютное отнесение длины волны осуществляется с помощью специального датчика угла поворота, который жестко соединен с приводом решетки и фотоэлектрическим способом измеряет с высоким разрешением все изменения угла. Счетные импульсы при этом регистрируются компьютером.
Компьютер берет на себя и функцию управления монохроматором. Вычислительной машине задается специфичная для интересующего элемента длина волны и указывается оптическое окно, в котором следует вести поиск пиков. Данная система будет смешать оптическое окно до тех пор, пока максимум линии не окажется в центре окна (рис. 11.18). При таком способе достигается точное обнаружение длины волны и надежная ее оценка.
К слову сказать, для этих монохроматоров предлагаются современные оптические системы, пригодные для настройки
Увеличивающийся объем знаний касательно спектральных помех обусловливает в настоящее время явный поворот в сторону приборов последовательного действия[40], что позволяет сохранять гибкость системы в плане селективности по элементно-специфичным линиям.
11.4.2. Многоэлементный эмиссионный ИСП-спектрометр
Μ ногоэлементный ИСП -спектрометр одновременного действия представляет собой измерительно-аналитическую систему, позволяющую за 10—30 секунд выполнять параллельно количественное определение сразу множества элементов из одного раствора. И центральное место в этой системе снова отведено возбуждению излучения ИСП.
Для одновременного многоэлементного определения используются полихроматоры. Их диспергирующим элементом является вогнутая дифракционная решетка, посредством которой входная щель отображается параллельно с разными длинами волн. В настоящее время чаше всего находит применение вогнутая решетка в компоновке Пашена — Рунге. У этих устройств входная щель, решетка и до 60 выходных шелей (каналов) неподвижно смонтированы на так называемом круге Роуланда. При этом используемая решетка одновременно служит целям дисперсии и фокусирования. Выходные (вторичные) щели этой системы постоянно настроены на определенные линии спектра излучения. За каждой вторичной щелью находится фотоумножитель с собственным электропитанием высокого напряжения, усилением, обработкой данных измерения и проч.
Еще одна довольно частая проблема, связанная с использованием ИСП-спектрометра одновременного действия, состоит в том, что оптимальная длина волны для заданного элемента не может быть использована в силу недостатка места на фокальной плоскости. Это означает, что химик-исследователь вынужден жертвовать качеством в пользу скорости. Нередко приходится по той или иной причине отказываться от оптимальных исполнений решеток, и тогда возможные альтернативные длины волн обнаруживают спектральные помехи. Когда в спектре появляются помехи, существует только одна контрмера: межэлементная коррекция. В случае последовательной эмиссионной спектроскопии с ИСП это остается последней надеждой на проведение измерения без помех. Коррекция фона у многих ИСП-спекгрометров последовательного действия невозможна[41], однако некоторые из новейших моделей располагают свободно выбираемой фоновой коррекцией, хотя за счет этого удлиняется время анализа и тем самым сводится на нет главное преимущество данного метода.
По сравнению с монохроматором, управляемым шаговым двигателем, полихроматор предлагает способ одновременного определения 40 элементов и более за 1—3 минуты. Но он имеет при этом два существенных недостатка, которые сильно ограничивают использование этого варианта в лаборатории, призванной решать комплексные задачи.
Во-первых, пользователь, приобретая прибор, должен сразу решить, какие элементы на какой длине волны должны измеряться. Предпринимаемое задним числом изменение потребует больших физических и материальных затрат и может выполняться только специалистами фирмы-изготовителя. Во-вторых, динамическая коррекция фона со свободным выбором длины волны перед аналитической линией и позади нее (как в случае монохроматора с управлением шаговым двигателем) у полихроматора возможна только с серьезными ограничениями.
Область применения данной системы составляют химико-аналитические лаборатории с большим объемом исследуемых проб. Одновременно измеряющие ИСП-спектрометры используются главным образом там, где приходится постоянно иметь дело с большим количеством проб, а поставленные аналитические задачи практически не претерпевают изменений, короче говоря, там, где всегда работают с одними и теми же элементами. Сочетание эмиссионного возбуждения ИСП с многоэлементным спектрометром впервые создает возможность быстрого исследования растворов, как это до сих пор проводилось главным образом в сталелитейной промышленности на твердых образцах.
11.4.2.1. _Полихроматор Пашена-Рунге
Большинство многоэлементных эмиссионных спектрометров располагают оптической системой на основе геометрии круга Роуланда, используемого в так называемой компоновке Пашена — Рунге (рис. 11.19). Голографическая вогнутая дифракционная решетка установлена здесь абсолютно неподвижно. Когда щель первичного излучения, дифракционная решетка и щель вторичного излучения таким образом расположены по кругу, что образуется зеркальное отображение первичной щели относительно оси нормалей, то спектр находится между этой щелью и зеркальным изображением в фокусе. Размер круга Роуланда одновременно определяет фокусное расстояние спектрометра, составляющее, как правило, от 0,75 до 1,5 м и предоставляющее площадь для 60 аналитических каналов. Количественное ограничение задано обратной дисперсией, которая соответствует разности длин волн 1 мм фокальной плоскости на круге Роулэнда. У спектрометров с фокусным расстоянием 1 метр она составляет примерно 0,5 нм/мм. Минимальное расстояние между обеими щелями в фокальной плоскости может быть от 1 до 1,5 нм. Каждый элементный канал включает в себя щель вторичного излучения, зеркало и фотоумножитель.
В отличие от последовательных эмиссионных спектрометров, щель первичного излучения, дифракционная решетка и шель вторичного излучения неподвижно установлены на круге Роулэнда и могут быть изменены (с большими затратами!) только силами самого изготовителя. Это обстоятельство требует от пользователя фундаментального знания поставленной аналитической задачи; необходимо не только иметь точное представление об определяемых элементах, но также располагать сведениями о матрице и сопутствующих веществах, о возможных перекрытиях линий и проч.
11.4.3. Комбинированные ИСП-спектрометры одновременного и последовательного действия
Первоначально рынок предлагал спектрометры на основе ИСП либо только одновременного или только последовательного действия. Сочетание того и другого исполнений с источником плазменного возбуждения вобрало в себя все известные преимущества, вообще предлагаемые методом плазменной спектрометрии. В итоге последовательно-одновременный ИСП-прибор стал действенной альтернативой быстрым устройствам последовательного действия, ибо здесь достигается единство максимальной скорости измерения и аналитической гибкости. Комбинированный ИСП-спектрометр одновременного и последовательного действия содержит как полихроматор Пашена — Рунге, так и монохроматор Черни — Тернера (рис. 11.20).
11.4.4. ИСП-спектрометр с эшелле
Это исполнение спектрометра существенно отличается от всех прежних конструкций. Эшелле-спектрометр можно рассматривать и как монохроматор, и как полихроматор. Чрезвычайно высокое разрешение при поразительной компактности достигается в данном случае благодаря следующим признакам:
В качестве диспергирующего элемента используются фиксированный эшелле с числом штрихов всего 79/мм и 30°-призма. Призма постдисперсии действует одновременно как линза и отображает линии спектра излучения на двухмерной плоскости. Жесткий монтаж такого диспергирующего элемента обеспечивает максимально надежное обнаружение спектральных линий и, следовательно, воспроизводимость настройки на длину волны.
Высокое разрешение эшелле достигается по иному, чем у обычной дифракционной решетки, оптическому принципу. Дисперсионная способность решетки прямо пропорциональна числу ее штрихов (канавок) из расчета на миллиметр при заданном дифракционном порядке и, соответственно, пропорциональна дифракционному порядку при равном числе штрихов. При традиционных дифракционных монохроматорах работа ведется, в силу энергетических причин, практически только в дифракции 1 и 2 порядка. Дело в том, что более высокие дифракционные порядки стандартных решеток дают дисперсии с увеличением кратно порядковому номеру и, следовательно, обеспечивают более высокое разрешение. Но в этой ситуации подобное разрешение практически не реализуемо, так как отдача энергии не допускает наличия соответствующих данным условиям узких щелей. Если угол решетки должен получить отчетливое увеличение в первом порядке дифракционного максимума, то для этого требуется решетка с очень высокой концентрацией штрихов. Поэтому для хорошего разрешения у традиционных дифракционных решеток применяют чаше всего 2400 или даже 3600 образующих штрихи канавок из расчета на миллиметр.
Для улучшения разрешающей способности можно пойти другим путем. При заданной базе, или ширине, дифракционной решетки и известной длине волны разрешение зависит от синуса угла дифракции. Стандартные решетки работают обычно в диапазоне 15°, эшелле — в области 63°. При прочих равных условиях это уже означает для эшелле почти трехкратное повышение разрешающей способности.
Еще один возможный вариант оптимизации разрешения состоит в использовании более высоких порядков дифракционного максимума. Если традиционные дифракционные решетки действуют только в 1 и 2 порядках, то эшелле воспроизводит все дифракционные порядки с почти одинаковой интенсивностью. Падающий на решетку свет разлагается в световые лучи, у которых разные длины волн различных порядков расположены друг над другом. Узкий диапазон углов системы эшелле выражается в «оптимизации угла блеска» для достаточно большой области спектра. Отсюда следует очень узкая полезная спектральная область для каждого порядка. И, чтобы избежать наложений дифракционных порядков, эшелле используются почти исключительно с пред- и постдиспергирующими элементами.
Отдельные порядки расщепляются затем призмой во вторую коордиинату. Эти порядки смешены относительно друг друга, так какдлина волны блеска является функцией порядка. Один из отраженных решеткой световых лучей состоит из длин волн блеска всех порядков и обладает максимальной интенсивностью. После прохождения этого луча света через призму, длины волн блеска располагаются в спектре с веерообразным расхождением друг над другом. Эшелле-спектрометр работает в зоне вокруг длины волны блеска, так что длина волны появляется слева в одном порядке и затем вновь появляется справа в ближайшем более низком порядке. Такой выбор приводит, несмотря на очень высокое разрешение, к хорошим интенсивностям [11.18].
При использовании эшелле предъявляются чрезвычайно высокие требования к форме штрихов и их качеству. Светоотдача ни в коем случае не должна быть ниже 50% от максимально возможной величины. При выходе света менее 50% в дело вступает соседний порядок. Для сравнения: у традиционных решеток, работающих в первом порядке дифракционного максимума, светоотдача резко сокращается при отклонении от угла блеска.
С точки зрения отдачи света эшелле несомненно относится к самым эффективным системам. Ясно поэтому, что с помощью дифракционной решетки такого типа можно получить очень компактные приборы с высшей разрешающей способностью. В качестве еще одного достоинства эшелле можно назвать возможность их применения в очень широкой области спектра. Малое число штрихов/мм и использование высоких дифракционных порядков создают гораздо меньше проблем в связи с большими потерями поляризации, чем это имеет место в случае стандартных дифракционных решеток с высокой плотностью штрихов (аномалия Вуда).
При повышенной светоотдаче эшелле-монохроматоры достигают более чем 10-кратного улучшения разрешающей способности по сравнению с обычными монохроматорами равного фокусного расстояния и с такой же шириной шели. С учетом следующих друг за другом отдельных дифракционных порядков, для покрытия всей области спектра от 180 до 900 нм потребовалась бы, например, длина дуги окружности от 5 до 6 метров. Выбранные порядки и длины волн дополнительно продолжают выделяться посредством призмы. При фокусном расстоянии 75 см разрешение соответствует эффективности традиционного спектрометра с фокусным расстоянием более 3 метров, дифракционная решетка которого имеет обычно 2400 штрихов/мм.
При скрещенной дисперсии с корректируемой призмой, действующей одновременно как линза и как призма, соответствующие порядки разлагаются во вторую плоскость. Падающий на решетку свет разлагается в световые лучи, при которых разные длины волн различных порядков накладываются друг на друга. Они затем расщепляются призмой во вторую координату. Спектрометр выдает при этом двухмерный спектр на диске с диафрагмами (рис. 11.21).
Такая эшелле-система отличается множеством достоинств. Среди них:
-
безупречное разделение спектральных линий благодаря чрезвычайно высокой дисперсии,
-
отсутствие механически перемещающихся деталей монохроматора, что устраняет дорогостоящую механику управления решеткой,
-
скрещенная дисперсия в результате действия корректирующей призмы с однократным прохождением, чем обеспечивается высокая светоотдача и резкие изображения щели,
-
установленная спектральная область для каждого дифракционного порядка благодаря наличию щелевой маски при оптимальном выходе энергии без помощи сложных вычислительных программ,
-
возможность применения одновременной и последовательной регистрации множества элементов в одной оптической системе.
На выходе эшелле-спектрометра получают полный спектр анализируемого вещества, занимающий площадь около 5x5 см2. Дисперсирование эмиссионного спектра на плоскости создает возможность чрезвычайно гибкого определения. С помощью схемы «эшелле — призма» могут проводиться как последовательные, так и одновременные многоэлементные определения с одной и той же оптической системой.
При одновременном измерении щелевая маска с соответствующими выходными щелями для отдельных спектральных линий элементов центрируется на выходной плоскости полихроматора. За каждой выходной щелью находится относящийся к ней фотоумножитель. Подобная щелевая маска при необходимости решения иных аналитических задач может быть соответственно заменена маской иной конфигурации.
При работе в последовательном режиме специальный детекторный рычаг с укрепленным на нем фотоумножителем выдвигается в соответствующую позицию элемента. Такая операция с механической точки зрения не критична, поскольку большой фотокатод лишь ориентировочно приближается к положению щели элемента. Это позволяет быстро и точно производить смену элемента в течение одной секунды. Для регистрации и представления одного или нескольких линейных профилей щелевая маска посредством шагового двигателя перемещается в направлении оси х, выполняя тем самым запись длин волн. Наблюдению поддается интервал между линиями до 0,001 нм. Отклонение от «координат пиков» указывает на помеху от линий.
11.4.4.1. Одновременное измерение всех элементов на всех длинах волн
Оптическая система с эшелле создает идеальные условия для использования двухмерной маски приемника. Такая возможность открывает путь к привлечению в качестве детектора полупроводникового чипа в форме прибора с инжекцией заряда (charge injection device)[42] [43] [11.19], поскольку его полупроводник напоминает[44] детектор видеокамеры. Около 95 000 отдельных детекторов, именуемых пикселями, или элементами изображения, такой чип содержит на площадке, разделенной на 388 линий и 244 ряда. Каждый пиксель имеет ширину 23,3 мкм и высоту 27,2 мкм. Светочувствительность и динамическая область при порядке величины 104,1 соответствуют таковым у обычного фотоумножителя. Но прибор с инжекцией заряда может регулировать время интегрирования, увеличивая при этом область линейности в 103—107 раз.
В отличие от прибора с зарядовой связью (charge coupled device), у прибора с инжекцией заряда по причине регулируемого времени интегрирования отсутствует эффект «расплывания», то есть при насыщенном элементе изображения не происходит переполнения с переходом заряда на следующий ближайший пиксель. Дробовой шум прибору с инжекцией заряда вообще не знаком[45], поскольку он охлаждается жидким азотом до —189°С либо элементом Пельтье, так что темновой ток уже не попадает в измерение [11.20].
Эшелле-оптика диспергирует излучаемый плазмой свет по двухмерному принципу и фокусирует спектр посредством тороидального зеркала на детектор в форме прибора с инжекцией заряда (рис. 11.22). Каждый из его 95 000 пикселей приравнивается к выходной щели с размещенным за ней фотоумножителем. Таким образом, спектральная область от 170 до 850 нм полностью отображается на детекторе и может измеряться одновременно. Ее помещают на хранение в запоминающее устройство и при необходимости вновь используют в последующей работе. Следовательно, тот или иной анализ можно повторить спустя много лет либо еще раз опробовать на новых элементах [11.21].
Полный спектр излучения включает в себя:
11.4.5. Проблемы многоэлементного определения
Разрабатывая приемы аналитического метода в оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП, действовать надо максимально внимательно, учитывая необходимость тщательной оптимизации применительно к конкретному элементу. В атомно-абсорбционной спектроскопии, где в ходе анализа определяется обычно только один элемент, оптимизация достигается без особых сложностей. А вот при многокомпонентном измерении на уровне оптической атомно-эмиссионной спектрометрии с ИСП оптимизация проводится относительно спектральной линии одного элемента, тогда как все прочие элементы измеряются при тех же самых, не оптимизированных для них условиях, и это уже будет своего рода компромиссное решение. Поэтому многоэлементные определения посредством оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП влекут за собой проблему недостаточной обнаружительной способности при большом расходе проб исследуемого вещества [11.22].
Для каждой используемой в аналитических целях длины волны существует присущая только ей зависимость сигнала как от условий возбуждения плазмы, так и от зоны, наблюдаемой в аналитическом канале плазмы. Условия возбуждения, в значительной степени определяемые температурой[46], варьируются, порой весьма значительно, не только от элемента к элементу, но и от линии к линии спектра одного и того же элемента. Целью анализа должно стать определение каждой спектральной линии при оптимальных условиях возбуждения. Ввиду большого числа параметров, так или иначе влияющих на достижимый оптимальный эффект (подводимая мощность, расход газа распылителя, высота наблюдения, а также внешние и средние потоки газа), оптимизация условий возбуждения нередко заканчивается безуспешно.
При этом собственно процесс оптимизации может осуществляться с принятием во внимание разных критериев, среди которых: предел обнаружения и чувствительность, устойчивость сигнала или отсутствие спектральных помех. На практике интенсивность линии часто повышается до максимума с целью достижения наилучшей чувствительности. При этом, однако, следует помнить, что сигнал состоит из интенсивности линии спектра излучения плюс излучения фона, поэтому представляется более целесообразным стремиться, по возможности, к максимально высокому отношению сигнал/фон.
11.4.6. Световоды для ИСП-спектрометров
При использовании световодов открываются совершенно новые перспективы на основе того факта, что для целей измерения могут быть привлечены разные области плазмы. Так как плазменный факел является радиально-симметричным источником света, можно прибегнуть к нескольким световодам, которые будут одновременно принимать излучаемый свет и подводить его к разным входным щелям монохроматора (рис. 11.23).
При этом в случае многоэлементного определения можно устанавливать для каждого элемента оптимальную высоту наблюдения путем соответствующего позиционирования световода. В зависимости от положения световода относительно плазменного факела можно забирать свет из разных температурных зон, благодаря чему и создаются оптимальные условия для наблюдения за отдельными атомными и ионными линиями [11.23]. Число перекрытий линий при такой методике удается требуемым образом сократить, избежав нежелательных компромиссов при отборе спектральных линий [11.24].
11.4.7. Наблюдение плазмы в осевом направлении
Традиционно принято наблюдать плазму в радиальном направлении. Второй вариант предлагает горизонтальная плазма, при которой наблюдение осуществляется в осевом направлении. Уже давно известно, что чувствительность обнаружения заметно улучшается при осевом наблюдении плазмы. В отличие от традиционного радиального варианта, здесь интерес представляет эмиссия в центральном канале плазмы, обеспечивающая в два-три раза более высокую светоотдачу. Тот факт, что наблюдение осуществляется не по краю плазмы, обусловливает меньшее излучение фона и, следовательно, лучшее отношение сигнал/фон при одинаково хорошей стабильности плазмы.
Однако к недостаткам в данном случае следует отнести возможные неспектральные помехи (матричные эффекты) у определенных видов образцов, например при высоком содержании щелочных элементов, или у проб с органическими растворителями. Такие помехи возникают обычно на вершине факела плазмы, где она вновь охлаждается. Здесь образовавшиеся атомы рекомбинируют в молекулы. При радиальном наблюдении зона рекомбинации находится намного выше зоны, используемой для измерений. При осевом наблюдении, напротив, более холодная вершина плазмы действует как поглощающий слой со связанными с ним неспектральными помехами.
Поэтому на вершину факела плазмы посылается дополнительный, перпендикулярно направленный поток аргона, в результате чего при поперечном расположении плазмы эта вершина соответственно срезается.
Длина плазменного факела ограничивается этой мерой до оптически эффективной части, и тогда наблюдаться будет только значимая для аналитических целей область плазмы с самым благоприятным отношением сигнал/шум. В наружной части плазмы никаких мешающих участков более не возникает, и уже нет холодной зоны, в которой рекомбинирующие ионы вызывают интенсивные фоновые излучения [11.25].
11.4.8. Применение внутреннего стандарта
Относительные стандартные отклонения в оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП составляют в случае прибора одновременного действия от 0,5 до 1%, у последовательных спектрометров — около 1—2%. Эти стандартные отклонения могут быть сведены к минимуму благодаря применению соответствующих внутренних стандартов. С этой целью дополнительно устанавливается второй, гибко программируемый, монохроматор, который в качестве внутреннего стандарта измеряет любую линию одновременно со спектральной линией элемента. При этом либо основной компонент пробы, присутствующий в постоянно высокой концентрации, либо вся проба легируется определенным элементом, ранее не содержавшимся в нем. Тогда достигаются чрезвычайно хорошие стандартные отклонения при высоких концентрациях и долговременной стабильности.
Чтобы как можно быстрее вновь отыскать исходную позицию спектрометра, прибегают к помощи дополнительной галогенной лампы низкого давления. Интенсивная линия излучения ртути при длине волны 253,652 нм используется в качестве внутреннего стандарта спектрометра. Такой способ коррекции требует, конечно, хорошего знания спектрального окружения аналитической линии. Но он позволяет пользователю действовать максимально гибко при компенсации разного рода фоновых помех. В случае простого фона длина волны для его измерения может находиться на одной из двух сторон аналитической линии. Если фон показывает зависимое от длины волны изменение интенсивности, то измерять его надо на равном расстоянии слева или справа от аналитической линии. При сложном фоне интервалы длин волн для фонового измерения подлежат гибкой подгонке к данному фону слева и справа от аналитической линии.
11.5. Помехи при оптической эмиссионной ИСП-спектрометрии
Атомно-эмиссионную спектрометрию принято представлять как не обремененный помехами способ определения. Но это отсутствие влияний касается исключительно химических помех, которые лишь изредка возникают при атомном излучении с ИСП, чего не скажешь об атомно-абсорбционной спектроскопии, где, например, чрезвычайно велико влияние фосфора на определение кальция. В случае же ИСП, напротив, содержание фосфора никоим образом не сказывается на определении кальция. Ответственность за химические помехи несут относительно низкие температуры атомизации при атомно-абсорбционной спектрометрии (около 2000—3000°С). Высоких температур плазмы вполне достаточно для достижения диссоциации большинства химических соединений. Поэтому здесь и не наблюдается помех, указывающих на образование соединений элементов.
Ионизационные помехи при работе с ИСП тоже отсутствуют по причине большого избытка электронов в плазме[47].
Помехи при транспортировке проб, вызываемые разными физическими свойствами раствора — плотностью, поверхностным напряжением и вязкостью, могут быть устранены методом добавок — путем уравнивания стандарта с матрицей пробы либо отделения определяемого элемента от матрицы, как это делается при атомно-абсорбционной спектроскопии. Применение внутреннего стандарта, конечно, тоже сглаживает действие физических факторов при перемещении пробы, но мало влияет на мешающие явления ионизации.
К стандартным методам добавок, способным ослабить как физические, так и ионизационные эффекты, прибегают не очень охотно, поскольку они отнимают много времени и вообще довольно трудоемки. Между тем в случае сложных проб они дают наилучшие результаты. Функции современного ИСП-спектрометра с автоматической подачей проб и специальным механизмом разбавления позволяют ему не только проверять через определенные промежутки времени и самостоятельно повторять градуировку, но и выполнять автоматические стандартные добавки, причем расчет концентрации в пробе тоже осуществляется автоматически.
Более удобным считается все же использование насоса перистальтического типа для подачи аналитической среды, поскольку при этом обеспечивается определенный постоянный объемный расход пробы независимо от ее физических свойств. Параметры, критичные для техники с индуктивно связанной плазмой, — скорость подачи насоса, объемный расход аэрозоля и газа-носителя, высота наблюдения — приходится определять и тщательно оптимизировать для каждой аналитической системы. Это обусловлено, в частности, возможностью появления большого числа фоновых помех, которые подлежат скрупулезному анализу при решении любой аналитической проблемы.
11.5.1. Фоновые помехи
Фоновые помехи приводят к неоправданному повышению результата измерения, как это бывает и при атомно-абсорбционной спектроскопии. Они вызываются самыми разными причинами и проявляются в неспецифичном для элемента увеличении интенсивности излучения на измеряемой спектральной линии. Разнообразие причин для подобных помех обусловливает принципиальную необходимость проведения в отношении каждой пробы тщательного исследования на предмет возможных фоновых помех, среди которых различают две категории:
11.5.1.1. Рассеянный свет
Рассеянный свет возникает при наличии неравномерностей на отражающих поверхностях (зеркал, дифракционных решеток) монохроматора. При использовании зеркал с просветленной (антиотражающей) поверхностью и голографических решеток проблем с рассеянным светом в спектрометрах наиболее совершенных конструкций почти не возникает. И все же известен ряд помех, практически неизбежных, например при высоких концентрациях Са, Mg и др., в растворе пробы.
11.5.1.2. Спектральные помехи
Чаще всего помехи оптической эмиссионной спектрометрии возникают вследствие перекрытий линий известных и неизвестных примесных элементов. В то время как влияние химических помех в атомно-эмиссионной спектрометрии весьма незначительно, спектральные помехи в некоторых случаях проявляют себя достаточно сильно. В отличие от атомно-абсорбционной спектрометрии, плазма генерирует многоэлементное излучение, поскольку здесь одновременно возбуждаются все элементы. Эти помехи резко возрастают при высоких матричных нагрузках и в случае недостаточного спектрального разрешения нередко остаются нераспознанными. Большое число линий спектра излучения становится наибольшим препятствием в деле распознавания и устранения спектральных помех, представленных в самых разных формах. Это может быть:
Чаще всего помехи эмиссионной спектрометрии возникают в результате наложения линий известных и неизвестных сопутствующих элементов (рис. 11.24). При высокой нагрузке со стороны матрицы эти помехи заметно возрастают и во многих случаях, особенно при недостаточном спектральном разрешении, так и остаются нераспознанными.
Возможны сдвиги спектрального фона, которые тоже подлежат обязательной корректировке. Элементы с мощным излучением (как Са, Mg и А1), присутствуя в пробе в высокой концентрации, показывают, порой значительные, уширения линий. Таковые приводят затем к перекрытиям, хотя эти линии располагаются достаточно далеко друг от друга, чтобы быть разрешенными монитором. Коррекция фона в таком случае сильно затруднена, и тогда в качестве панацеи обычно предпринимают переход на другую линию.
Итак, спектральные помехи зависят от состава матрицы пробы. Матрица определяет тем самым отбор спектральных линий. В такой ситуации при очень тяжелой матрице приходится порой отказываться от линии с самой высокой чувствительностью обнаружения. Это приводит, кроме прочего, к значительному ухудшению предела обнаружения.
Упомянутые выше элементы (Са, Mg, Al) имеют в дальней УФ-области непрерывный спектр, который уже не поддается разрешению с помощью спектрометров даже самой высокой разрешающей способности. Алюминий показывает, например в интервале от 190 до 212 нм, неструктурированный сплошной спектр, вызываемый рекомбинацией ионов. При необходимости измерения другого элемента в этой области надо обязательно выполнить коррекцию фона.
Аналитические линии часто совпадают с матричными линиями или молекулярными полосами, вызываемыми растворителями ОН, С2, CN и т.д., окружающими газами как N2+, NH и др. либо недиссоциированными радикалами материала пробы, в частности А1О. Прямые совпадения линий или перекрытия возникают, когда разрешающей способности монохроматора уже не хватает для отделения линий друг от друга. Тогда для проведения измерения приходится переходить на другую спектральную линию элемента. С прибором последовательного действия сделать это довольно просто, при одновременном спектрометре — значительно сложнее. В этом случае линии спектра должны устанавливаться сразу с приобретением устройства.
Наряду со спектральными помехами от находящихся в растворе пробы элементов могут появиться также линии спектра излучения и фон в результате эмиссии молекулярных полос и излучения используемого газа плазмы. В интервале длин волн выше 300 нм это может быть обусловлено полосами ОН, N2 и С2 либо линиями Аr и Н. Между 190 и 240 нм не исключено возникновение полос NO.
11.5.2. Распознавание и компенсация фоновых помех
Правильное распознавание фоновых помех есть важнейшее условие их успешного устранения. Именно спектральные помехи настоятельно требуют от пользователя постоянного совершенствования методики и конструктивного исполнения приборов, способных максимально точно интерпретировать результаты измерений. Современный спектрометр поддерживает пользователя при отборе линий и предохраняет от помех, проявляющихся в процессе измерения.
Первыми помощниками в деле распознавания спектральных помех стали таблицы длин волн, иногда оформленные в виде специального атласа спектров. Во многих случаях именно на основе таблиц для оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП удается «вычислить» возможные спектральные помехи. Но помехи такого рода могут быть распознаны только при условии, что измеряемый сигнал регистрируется и оценивается во всей своей совокупности [11.26].
По этой причине перед каждым анализом пробы неизвестного состава необходимо регистрировать спектр в области аналитической линии. Главной предпосылкой для распознавания спектральных помех является возможность отображения на экране области спектра ±0,5 нм от аналитической линии и также представление нескольких спектров один над другим. Все современные спектрометры способны графически представить спектральные помехи, отрабатывая область вокруг выбранной линии спектра излучения.
Пользуясь справочниками ИСП-методов или атласами спектров и взяв за критерий отсутствие помех, можно выбрать аналитические линии, наиболее подходящие для требуемого диапазона концентраций. Затем в зоне этих линий регистрируется спектр одноэлементного и многоэлементного стандартных растворов с последующим отображением на экране дисплея. На основе полученных спектров устанавливается калибровка длин волн и интервалы коррекции фона.
Таким способом удается немедленно распознавать возможные перекрытия линий. В качестве второго шага определяется интенсивность излучения на аналитической линии следующих растворов:
По полученным интенсивностям излучения можно сделать заключение касательно возможных фоновых помех. После определения вида фоновой помехи для аналитической линии в конкретной матрице надо подумать, каким образом можно компенсировать данную помеху. Для этого предлагается целый ряд принципиальных возможностей:
11.5.2.1. Измерение раствора холостой пробы
Оптическая эмиссионная спектрометрия с ИСП, как и любая другая спектрометрия, является сравнительным методом. Это означает, что определение содержания элемента в растворе пробы осуществляется по принципу сравнения с эталонным, или стандартным, раствором. Но правильное измерение предполагает, что элементы в стандартных растворах имеют связи, идентичные таковым у элементов раствора пробы или хотя бы химически близкие к ним. Практически идеальным и чрезвычайно надежным методом распознавания и устранения фоновых помех считается измерение раствора холостой пробы.
Данный метод позволяет осуществлять измерение фоновых помех точно на аналитической линии и создает возможности для их надежного устранения. Это раствор, содержащий полную матрицу, то есть все сопутствующие элементы, в той же концентрации, что и проба, но не подлежащий определению элемент. Поскольку подобным раствором в большинстве случаев не располагают, то в практических условиях эта работа редко выполняется на основе приспособленной к матрице функции градуировки в качестве возможного варианта коррекции. Для этого необходимо измерять фон как можно ближе к аналитической линии.
11.5.2.2. Обзорный анализ
Концепция обзорного анализа базируется на использования двух или трех аналитических длин волн из расчета на каждый определяемый элемент. При полуколичественном анализе все элементы, которые вообще поддаются исследованию с применением ИСП, возбуждаются, максимальные интенсивности регистрируются. Выдаваемые спектрометром сообщения об ошибках используются в качестве вспомогательного средства при интерпретации результатов, что позволяет определять вероятные значения для каждого элемента. После этого осуществляется проверка на пригодность той или иной спектральной линии для целей количественного определения.
Наряду с конкретными определяемыми элементами, обзорный анализ может дать информацию и о других элементах, предназначенных для количественного определения. В большинстве случаев на основе (достаточно грубой) классификации принимается решение о том, требуется ли в данном случае вообще проведение количественного анализа. Такая необходимость возникает, когда данные обзорного анализа указывают на вероятность присутствия какого-либо элемента в опасных концентрациях либо полученная информация вследствие спектральных помех на всех линиях требует дополнительной тщательной проверки. Если какие-то элементы не содержатся в данной пробе, их можно просто вычеркнуть из составленного контрольного списка. Это позволит заметно сократить общую продолжительность анализа.
При отборе спектральных линий следует руководствоваться в первую очередь нормами ДИН 38406 Е 22. Для определения на основе оптической эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой в них приведены на данный момент 33 элемента, предложенные специализированной группой химических исследований воды Общества немецких химиков в сотрудничестве с комитетом по стандартизации ДИН. В том числе там указаны аналитические длины волн и предлагаемые нижние области применения. В сложной матрице почти всегда неизбежен выбор нескольких аналитических линий для одного элемента. Подобные усилия могут быть оправданы лишь при использовании компьютеризованной программы анализа, дающей химику-аналитику точные сведения о том, какие аналитические линии не являются однозначными.
Так как не существует некоей универсальной неискаженной линии спектра излучения, то рекомендуется, особенно в следовой аналитике, проводить элементное определение на нескольких аналитических линиях.
Спектральные помехи в форме перекрытий линий, повышения фона или наличия структурированного фона из-за молекулярных полос — все это относится к свойствам атомно-эмиссионной спектрометрии. Поэтому тщательный отбор аналитической линии и соответствующая коррекция фона наряду с оптимизацией всей системы составляют важную часть предварительной работы, подготавливающей надежное аналитическое исследование.
11.5.2.3. Переход на другие линии спектра
После распознавания присутствия фоновых помех в любом случае следует проверить, нельзя ли провести измерения без помех на какой-то другой линии спектра излучения интересующего элемента. В табл. 11.5 приведены на примере никеля разные линии спектра излучения с убывающей чувствительностью. Любая фоновая помеха — даже при условии принятия мер по коррекции — отрицательно влияет как на точность, так и на правильность определения. Поэтому представляется вполне оправданным и даже благоприятным переход на менее чувствительную линию, если там отсутствуют фоновые помехи. Каждое определение, таким образом, подлежит оптимизации с точки зрения выбора подходящей аналитической линии.
| Длина волны, нм | Тип линии | Убывающая чувствительность |
|---|---|---|
221,647 |
ионная |
|
323,003 |
атомная |
|
231,604 |
ионная |
|
216,556 |
ионная |
|
217,467 |
ионная |
|
230,300 |
ионная |
|
227,021 |
ионная |
|
225,386 |
ионная |
|
234,554 |
атомная |
|
239,452 |
ионная |
|
352,454 |
атомная |
|
341,476 |
атомная |
11.5.2.4. Измерение фона рядом с аналитической линией
Для идентификации и коррекции фона у разных типов спектрометров применимы способы, используемые также для поиска резких максимумов, или пиков. Соответствующая оптическая система, помимо установки максимума линии излучения, предлагает возможность проверки и — при необходимости — измерения спектрального фона рядом с пиком.
Спектрометрами одновременного действия с полихроматором Пашена - Рунге фон регистрируется посредством программно-управляемого сдвига щели. При этом входная щель перемещается с помощью шагового двигателя, также снабженного программным управлением. Полученные при этом профили линий с областью спектра ±0,5 нм всех элементных каналов сохраняются в памяти ЭВМ. Представление на экране дисплея безусловно облегчает распознавание спектральных интерференций. После идентификации фон фиксируется с сохранением в программе коррекции вместе с таблицей элементов. Такой способ позволяет выполнять индивидуальную для каждого элемента коррекцию фона.
Другая возможность измерения фона состоит в использовании вибрирующей преломляющей кварцевой пластины. При этом плоско-параллельная кварцевая пластинка находится за входной шелью и снабжена программным управлением. В результате незначительного поворота такой пластинки свет соответствующим образом отклоняется, так что можно определять фон вблизи каждой спектральной линии.
При спектрометрах последовательного действия попеременно поворачиваются дифракционные решетки посредством программно-управляемого шагового двигателя высокого разрешения, причем длина волны смешается на выходной щели и интегрируется в течение короткого времени (например, 0,1 с). Если приходится определять много элементов и к тому же требуется высокая точность в следовом диапазоне, эти способы покажутся, конечно, медленными по сравнению с быстрыми, но весьма ограниченными (в смысле гибкости программы анализа) одновременными способами.
Использование световодов создает возможность охвата нескольких оптических систем, что позволяет проводить одновременное измерение интенсивностей линий и фона и размешать большее число измерительных каналов. Новое поколение ИСП-спектрометров с эшелле и прибором с инжекцией заряда обеспечивает одновременное определение с большой гибкостью отбора элементов и линий. Благодаря такой приборной технике достигается оптимизированный с точки зрения спектральных помех выбор линий и надежная коррекция фона.
11.6. Стандартные растворы для атомно-эмиссионной спектрометрии
Градуировка ИСП-спектрометра, как правило, довольно проста и не создает проблем. Однако спектральные помехи в присутствии примесных веществ могут появиться и в стандартных растворах. Поэтому следует обращать особое внимание на чистоту стандарта. Поскольку линейчатые спектры всех элементов излучаются одновременно, данный метод не обладает специфичностью. Примеси в стандарте способны вызвать спектральные помехи и, следовательно, стать причиной неправильной градуировки, что, в свою очередь, приводит к неверным результатам измерения. В отличие от этого, при атомно-абсорбционной спектрометрии для получения стандарта за счет избирательности лампы с полым катодом достаточно лишь точно знать концентрацию основного элемента в стандартном растворе [11.27].
Но приборы, работающие с ИСП, в настоящее время усовершенствованы настолько, что правильность анализа порой ограничена градуировочным стандартом. Поэтому на рынке предлагаются сейчас специальные стандарты для плазмы, состоящие из исходных материалов высокой чистоты.
11.7. Гидридная система
Гидридная техника как аналитический метод получила признание сначала в области атомно-абсорбционной спектроскопии. Позднее эти приемы в отношении гидридообразующих элементов стали использоваться также в атомно-эмиссионной спектрометрии. И здесь тоже огромное значение имеют способы отделения матрицы, позволяющие практически исключить возможные помехи на линии в спектре излучения. Благодаря этому способность к обнаружению данных элементов повышается почти в 100 раз. Следует еще добавить, что подобная методика может функционировать и по принципу проточной инжекции.
С таким же оборудованием, как в случае атомно-абсорбционной спектрометрии, создаются газообразные гидриды металлов с раствором NaBH4 и потоком аргона направляются в плазму. Так как при этом в плазму попадает смесь из аргона, водорода и гидридов металла, плазма должна отличаться замечательной стабильностью. Предпочтение отдается поэтому плазме на смеси азота/аргона с увеличенной мощностью высокой частоты.
Было бы затруднительно составить некое оптимальное руководство по работе с разными элементами. При одновременном определении требуется постоянная высота наблюдения, так что приходится искать некое компромиссное решение применительно к разным элементам. В свете этого факта гидридная техника представляет собой скорее одноэлементный метод, более пригодный для атомно-абсорбционной, чем для оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП [11.28].
11.8. Анализ твердых образцов
С помощью специальных методов на основе ИСП вполне успешно можно анализировать и твердые образцы - напрямую, без перевода в растворимую форму, что дает порой весьма значительную экономию и времени, и средств за счет исключения этапа подготовки проб. Однако в данном случае, как это вообще типично для работы с твердыми веществами, сильно мешает такой фактор, как неоднородности проб. Поэтому не стоит отказываться от обладающего отличной обнаружительной способностью метода растворения, позволяющего после перевода вещества в растворимую форму определять присутствующие даже в следовом количестве компоненты твердых образцов.
Несколько миллиграммов пробы помещают в графитовый тигель, который кварцевым стержнем вводится снизу в кварцевую горелку (рис. 11.25). В позиции удерживания в нижней части плазмы проба сначала прокаливается до золы. Только после этого тигель помещается в самый центр плазмы, где проба испаряется. Пар пробы улетучивается через небольшое отверстие в крышке графитового тигеля. Поскольку излучаемый свет существует лишь относительно короткое время, представляется целесообразным проводить измерение с помощью спектрометра одновременного действия. При анализе твердых образцов для достижения высокой температуры плазмы рекомендуется выбирать достаточно большую мощность, например 3,5 кВт[48].
11.8.1. Искровая эмиссионная спектрометрия
Искровая эмиссионная спектрометрия известна с начала XX века и приобрела особое значение при проведении анализов в металлургической отрасли, где этот метод удерживает ведущие позиции до сего времени. Первоначально анализу подвергались и растворы, которые распылялись на электроде соответствующей конфигурации. Однако из-за многочисленных проблем (например, неравномерного высыхания жидкостной пленки и связанного с этим неравномерного искрового разряда) данная методика как-то не прижилась и была полностью вытеснена способами атомно-абсорбционной и оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП. Для прямого анализа металлических проб искровой разрядник с его высокой мощностью предлагается на коммерческом уровне в качестве специальной дополнительной принадлежности к ИСП-спектрометру.
При оптической эмиссионной спектрометрии с искровым возбуждением материал пробы испаряется, и исходящее из искровой плазмы излучение подвергается спектральному разложению с измерением интенсивностей. Традиционная искровая эмиссионная спектрометрия очень проста и удобна для применения на практике. При искрообразовании создается очень высокая энергия возбуждения. Не нужны ни газы плазмы, ни горючие газы, ни иные вспомогательные газообразные вещества. Кроме прочего, искровую плазму можно сконцентрировать на небольшом пространстве, что позволяет особенно эффективно исследовать сверхмалые объемы пробы. Искровая плазма образуется между двумя графитовыми или медными электродами. Благодаря изоформовке пробы, например путем перевода в расплав, удается в значительной мере устранить неоднородности материала [11.29].
При использовании специальных электронных способов оценки результатов можно на основе искрового возбуждения добиться еще большего понижения пределов обнаружения. Здесь находит применение «эффект послесвечения» атомных линий. Интенсивности ионных линий и фона обладают более коротким временем затухания, чем интенсивности атомных линий. Применяя технику «электронных окон», удается полностью исключить или хотя бы значительно снизить влияния фона и мешающих ионных линий [11.30].
Для точности градуировки правильное содержание исследуемого вещества в стандартных пробах играет не менее важную роль, чем корректный учет всех влияний матрицы и фона. Градуировку, насколько это возможно, следует проводить на основе сертифицированного стандартного материала. Предназначенные для анализа пробы должны быть репрезентативны и представлены в безупречном состоянии, то есть они должны быть однородны и свободны от ликваций (полос металлических включений).
Высокоэнергетическое предварительное обыскривание пробы помогает устранить влияние структурных различий, неметаллических включений, например сульфидов, или неоднородностей в микропробах. Путем оценки одиночных разрядов в поджигающем разрядном промежутке диффузные разряды, вызываемые, например, кислородом из окисных включений, могут быть распознаны уже в этой фазе, продолжительность которой можно регулировать в зависимости от числа отдельных безупречных искр. Это имеет значение в случае проб со структурными различиями либо выделениями разного рода. Интегрирование сигналов одиночных разрядов является шагом к дальнейшему совершенствованию метода. При этом измерение заканчивается не по истечении заданного времени, а по достижении заданного числа безупречных разрядов.
Спектрометрическое определение углерода и азота в сталях стало возможно в результате освоения более широких интервалов длин волн в УФ-области спектра — при достаточной точности анализа и с низким пределом определения вплоть до миллионных долей. Во многих случаях оказалось, что использование дугового возбуждения дает очень неплохие пределы обнаружения. При наличии других температур и иных механизмов возбуждения при дуговом и искровом возбуждении наблюдаемые интенсивности отличаются от линий при ИСП.
Продолжительность измерения с использованием эмиссионных спектрометров современных конструкций очень невелика. Так, в случае искровых эмиссионных спектрометров одновременного действия на анализ нелегированных проб потребуется менее 15 секунд. Даже при весьма сложном составе и большом числе подлежащих определению элементов весь процесс займет менее 1 минуты. Сочетание классической искровой спектроскопии с современной электронной техникой детектирования и подходящим механизмом подачи образцов открывает пути к возрождению искровых методов анализа на новом, более высоком уровне.
11.8.2. Тлеющий разряд
Многообещающим источником в аналитической атомной спектрометрии для исследования твердых веществ представляется ионизация посредством тлеющего разряда [11.31]. Спектроскопия на основе тлеющего разряда позволяет проводить быстрое, одновременное, многоэлементное определение элементов, в том числе и неметаллов, если работа ведется в вакуумном ультрафиолете. Тлеющие разряды есть разряды низкого давления между двумя электродами. Анализируемый материал образует катод газоразрядной трубки ограниченных размеров и специальной геометрии. Между анодом и катодом прикладывается потенциал в несколько сотен вольт. Благодаря протеканию тока в газе (аргоне) при низком давлении в результате катодного распыления атомы материала катода попадают в разрядную зону, где они ионизируются и возбуждаются. Излучаются линейчатые спектры, которые наряду со спектральными линиями разрядного газа содержат спектры атомов катодного материала. Подобные разряды уже давно используются в лампах с полым катодом в качестве источника первичного излучения при атомноабсорбционной спектрометрии.
При тлеющем разряде для прямого анализа твердых веществ проба возбуждается посредством атомарного катодного распыления при низком давлении [ 11.32]. Катодное распыление под действием тлеющего разряда аргона осуществляется в аппаратуре, разработанной и запатентованной В. Гриммом [11.33]. На основе разности потенциалов между тлеющим разрядом и катодом, обозначаемой как катодное падение, генерируемые в плазме, в большинстве своем положительно заряженные ионы ускоряются по направлению к катоду. С определенной величины кинетической энергии ионов, именуемой пороговой энергией, начинается упомянутое выше катодное распыление. Процесс распыления есть результат серии импульсов, при которых атомы вследствие импульсной передачи могут покинуть пробу и попасть в разряд. Частицы, выбитые из катодного материала пробы, возбуждаются в плазме при столкновениях с электронами или метастабильными атомами аргона, испуская затем свой линейчатый спектр.
В отличие от электрической дуги или искр, износ имеет место не по причине испарения электрода в результате локального перегрева. Это означает, что деструкция поверхности проходит под строгим контролем. Тлеющий разряд есть однородный и стабильный источник излучения, позволяющий проводить послойное исследование процессов в глубине элементов. Протекающее почти плоско-параллельно убывание пробы вследствие катодного распыления, со скоростью уноса от нескольких нм/с до нескольких сотен нм/с, дает возможность регистрировать концентрационные процессы перпендикулярно поверхности [11.34]. При используемых для аналитических целей параметрах тлеющего разряда вся катодная поверхность оказывается втянутой в разряд. В то время как ход анализа идентичен качественному эмиссионному определению, продолжительность измерения при тлеющем разряде составляет не более пары миллисекунд [11.35]. При этом вполне достижима глубина проникновения от нескольких нанометров до многих сотен микрометров[49].
Тлеющие разряды постоянного тока предполагают наличие электропроводящих проб, хотя с разрядами низкого давления (при давлении газа несколько мбар) при высоких частотах в МГц-диапазоне могут исследоваться и пробы, не обладающие электропроводимостью [ 11.36]. В качестве плазменного газа используется чаше всего аргон, отличающийся хорошими распылительными свойствами. По причине низкого давления газа спектральные линии по сравнению с линиями, испускаемыми дугами и искрами, показывают лишь незначительное уширение. Узкие линии атомов и ионов обеспечивают пределы обнаружения в нижней области миллионных долей, причем динамический диапазон концентраций может простираться на несколько десятичных порядков. Матричные эффекты в случае тлеющих разрядов расцениваются скорее как низкие, зависимость между интенсивностью спектральных линий и концентрацией почти всегда остается линейной [11.37].
11.8.3. Микроплазмы, индуцированные лазерным излучением
Если на пробу направить луч лазера, то в течение 10—9—10—8 секунд материя испаряется и переходит в состояние плазмы, для чего, как правило, достаточно всего одного сеанса облучения. Индуцированная лазерным излучением плазма измеряется затем оптическим эмиссионным спектрометром. Свет лазера на иттрий-алюминиевом гранате, легированном неодимом, с помощью линзы фокусируется на пробе. Излучаемый свет собирается параболическим зеркалом и по волоконному световоду направляется в спектрометр. При использовании электронных детекторных матриц возможно многоэлементное измерение на большом интервале длин волн. С соответственно высокой мощностью облучения лазерными импульсами в наносекундном диапазоне достигается возбуждение практически всех элементов, причем за одно облучение с поверхности испаряется несколько микрограммов вещества. Полный период измерения и анализа длится всего 100 миллисекунд.
Как следствие сложных процессов образования и рекомбинации плазмы наступает — наряду с эмиссией спектральных линий — также непрерывное и тормозное[50] излучение. Чтобы обеспечить отнесение линий спектра излучения отдельных атомов из перекрывающего фона, процессы затухания при рекомбинации плазмы прослеживают с высоким разрешением во времени. Этот запатентованный способ, рассчитанный на сверхбыстрое многоэлементное определение, реализуется с помощью настольного спектрального прибора или автоматизированной установки, действующей в непрерывном режиме [11.38].
11.8.4. Метод графитовой трубчатой печи
Атомно-эмиссионная спектрометрия по методу графитовой трубчатой печи отличается своим потенциально многоэлементным характером. Однако необходимо принимать во внимание, что достигаемые в печи максимальные температуры составляют порядка 3000°С. Это означает, что под действием соответствующей тепловой энергии эффективно возбуждаться могут только атомы с низкой энергией возбуждения.
Опираясь на эту предпосылку, Г. Фальк создал печь для атомной нетермической эмиссионной спектрометрии (fumance atomic nonthermal emission spectrometry-FANES) [11.39], где электротермическая атомизация в графитовой трубчатой печи сочетается с возбуждением атомов посредством тлеющего разряда. Проба, как и при методике атомно-абсорбционной спектрометрии, сначала высушивается в графитовой трубке и подвергается пиролизу. Затем в кювете создается вакуум, после чего синхронно происходят электротермическая атомизация и тлеющий разряд. Графитовая трубка при этом действует как катод относительно вспомогательного анода.
Излучение, испускаемое возбужденными атомами, может разлагаться в полихроматоре, так что данная методика вполне пригодна для проведения многоэлементного анализа в следовом диапазоне. Благодаря использованию гелия в качестве разрядного газа удается определять и многие неметаллы, например Р, S, Cl, N и О. К недостаткам этого метода можно отнести, во-первых, необходимость создания вакуума и, во-вторых, появление дополнительных матричных эффектов на этапе возбуждения.
11.9. Выбор спектрометра для элементного анализа
И атомно-абсорбционная спектроскопия, и эмиссионная спектрометрия с ИСП находят применение при анализе металлов, но имеют определенные методические различия и, следовательно, обладают разными достоинствами. При выборе правильного спектрометра для проведения того или иного анализа решающим фактором является ответ на вопрос: как именно его предстоит использовать? Для спектроскописта одинаково важны многие аспекты, в том числе: ожидаемые области концентрации, число подлежащих определению элементов, вид исследуемой пробы и общие лабораторные затраты [11.40].
Для выполнения всех необходимых условий нужна информация касательно достоинств и недостатков рассматриваемого оборудования. Нередко правильный выбор затрудняется в силу того, что ни атомно-абсорбционный спектрометр, ни оптический эмиссионный ИСП-прибор не способны каждый в отдельности в полной мере выполнить все без исключения требования. Один какой-то метод сам по себе редко оправдывает даже умеренно-оптимистичные ожидания, и остается сделать вывод, что для корректного анализа понадобятся сразу оба указанных аналитических инструмента [11.41].
Атомно-абсорбционная спектрометрия считается относительно недорогим способом анализа. Для определения небольшого числа элементов в рутинной лабораторной практике скорее предпочитают использовать пламенную версию этого метода, чем разрабатывать соответствующую программу анализа для оптической эмиссионной спектрометрии с применением ИСП. Ситуацию усугубляет еще то обстоятельство, что определенные пробы бывает крайне сложно исследовать с помощью одной методики, но очень легко сделать это с применением другой. Не следует забывать также о возможных химических помехах при атомно-абсорбционной спектрометрии и о спектральных помехах при оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП. Легкость реализации метода при благоприятных инвестиционных и эксплуатационных затратах является характерным признаком пламенной атомноабсорбционной спектроскопии. Тот же метод, но на основе графитовой трубчатой печи, демонстрирует значительно более высокую чувствительность обнаружения, позволяющую с помощью подходящей программы «температура — время» осуществлять предварительное разделение матрицы и определяемого элемента [11.42].
Оптическая эмиссионная ИСП-спектрометрия дает особые преимущества при необходимости определении нескольких элементов в кратчайшие сроки [11.43]. Но зато здесь требуются более значительные объемы исследуемого вещества, не достигаются пределы обнаружения, характерные для атомно-абсорбционной спектрометрии с графитовой трубкой, а высокий расход аргона увеличивает общие затраты [11.44]. Работу ИСП-спектрометра трудно представить без компьютерной поддержки. Стремительная компьютеризация стала фактически одной из причин успешного совершенствования техники на основе ИСП. При этом компьютер выполняет, в частности, следующие задачи:
Именно графическое отображение информации представляет особую важность при разработке программ проведения анализов. Соответствующая программа распознает помехи и устанавливает точки измерения спектрального фона. Для критической оценки фоновой коррекции оказывается весьма полезным делом внимательное рассмотрение имеющихся исходных данных.
Если в аналитической лаборатории требуется определить концентрации металлических элементов, необходимо сначала внести ясность в вопрос о том, каковы здесь ожидаемые области концентрации, сколько элементов подлежит определению, какой вид проб будет исследоваться. При использовании спектрометров одновременного действия потребуется минимум времени на определение одного элемента, зато невозможен гибкий выбор аналитических линий, что совершенно необходимо, например, в случае проб с сильно изменяющимся составом. При последовательных спектрометрах определение каждого элемента отнимает достаточно много времени, но зато можно проводить гибкие многоэлементные определения при индивидуальном отборе линий спектра излучения с учетом способности к обнаружению и минимальных спектральных интерференций. Наилучшее решение предлагают сегодня ИСП-приборы с эшелле, которые в сочетании с детекторным прибором с инжекцией заряда обеспечивают высокую гибкость выбора линий и коррекции фона при одновременном измерении, и все это при весьма компактном исполнении спектрометров.
Сначала может показаться, что из всех приборов для оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП более всего подойдет ИСП-спектрометр последовательного действия, но это будет опрометчивый вывод, ибо здесь многое зависит от специализации конкретной химико-аналитической лаборатории.
Вообще-то, сравнение последовательного ИСП-спектрометра и атомно-абсорбционного спектрального прибора сродни сравнению яблок с грушами, и, тем не менее, многие спектроскописты пытаются решить эту задачу. Сначала сравнивались только рабочие температуры в ИСП до 10000°С с предельной температурой 2900°С при атомно-абсорбционной спектрометрии. Теперь уже существуют подходы к сравнению этих методик по числу параметров, которые обязательно должны учитываться и оцениваться, прежде чем аналитик сделает выбор в пользу той или иной системы.
11.9.1. Пределы обнаружения
Существуют самые разные дефиниции для характеристики такого параметра, как предел обнаружения. Международный союз в области чистой и прикладной химии IUPAC (International Union of Pure and Applied Chemistry) определяет предел обнаружения (detection limit) как минимальное, еще поддающееся детектированию, содержание элемента. Это то содержание, которое выдает измеряемый сигнал, отличающийся от фона, то есть этот сигнал будет больше тройного стандартного отклонения фонового рассеяния. Данная информация создает возможность для теоретических сравнений, но не позволяет установить, в какой реальной области концентраций следует проводить стандартные измерения..
Большинство изготовителей ИСП-приборов довольно скромно указывают предел обнаружения у своего оборудования. Они используют для этой цели так называемые величины ВЕС (Backround Equivalent Concentration) и IEC (Interferent Equivalent Concentration).
ВЕС определена как концентрация элемента, подающая тот же сигнал на выбранной длине волны, что и излучение фона. Следовательно, эта величина обусловлена фоновым излучением плазмы, излучением компонентов матрицы, высотой наблюдения плазмы и характеристикой распыления. 1ЕСесть показатель спектральных помех, определяемый как содержание измеряемого элемента, условно фиксируемое при определенной концентрации мешающего элемента без коррекции фона. Величины IEC установлены на основе практических измерений и дают пользователю — через соответствующую характеристику — сведения одновременно о силе и виде помех.
И все же многие имеют весьма превратное представление о том, чего именно можно достичь с помощью оптической эмиссионной ИСП-спектрометрии. Некоторые находятся в плену неоправданных ожиданий касательно того, что для большинства элементов пределы обнаружения при ИСП сравнимы преимущественно с пределами обнаружения в пламенной атомно-абсорбционной спектроскопии. Можно согласиться с тем, что оптическая эмиссионная ИСП-спектрометрия более благоприятна для тяжело поддающихся атомизации элементов и неметаллов, таких как Р, S, В, Al, V, Ва или Ti, а пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия более подходит для летучих элементов и металлов первой главной группы, таких как Pb, Cd, Zn, Na и К. Атомно-абсорбционная спектроскопия по методу графитовой трубчатой печи обеспечивает для большого числа элементов наилучшие пределы обнаружения и является методом, абсолютно предназначенным для ультраследовых анализов. Кроме прочего, анализ с графитовой трубкой обходится лишь несколькими микролитрами пробы на каждое определение и, таким образом, не имеет альтернативы, когда для определения следовых количеств в распоряжении имеется ничтожный объем вещества для пробы.
При оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП матрица определяет отбор линии из спектра. Во избежание спектральных помех часто приходится уходить на, возможно, менее чувствительную линию спектра излучения. Поэтому показатели пределов обнаружения ни в коем случае нельзя обобщать, поскольку приведенные данные в большинстве случаев относятся именно к самой чувствительной линии спектра излучения.
Для элементов, образующих газообразные, ковалентные гидриды, атомноабсорбционная спектрометрия на основе гидридной техники обеспечивает наилучшие пределы обнаружения и, кроме того, реализуется быстро и без особых проблем. И наконец, атомно-абсорбционная спектроскопия по принципу холодного пара по своей чувствительности и надежности при определении ртути оставляет далеко позади себя все прочие методы.
11.9.2. Линейная динамическая рабочая область
В этом плане эмиссионная спектрометрия имеет большие преимущества перед атомно-абсорбционной спектрометрией. Пламенная атомно-абсорбционная спектроскопия имеет линейную область всего около 103, которую с помощью коррекции градуировочного графика с несколькими стандартами можно расширить примерно в 5 раз. В отличие от нее, линейная динамическая рабочая область оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП составляет почти 105. Это объясняется тем, что, благодаря относительно малому расходу пробы удается в значительной степени избежать процессов поглощения невозбужденными атомами в краевых зонах плазмы.
Большая линейная область приобретает особую важность, когда приходится определять множество элементов в одной пробе, так как могут измеряться высокие концентрации и следы в той же самой пробе из одного разбавления. И в довершение, обширная линейная область способствует упрощению процессов пробоподготовки и калибровки.
11.9.3. Скорость измерения
Часто подчеркивается, что ИСП-спектрометры одновременного действия позволяют проводить 3600 определений в час, то есть одно определение в секунду. Конечно, одновременный спектральный прибор обладает чрезвычайно высокой пропускной способностью, но стоит напомнить о том, что для каждой пробы требуется определенное время на впрыскивание, пока ее концентрация в факеле не достигнет равновесия и можно будет начать измерение. После достижения равновесия прибор определяет измеряемую величину, сдвигает длину волны для измерения фона, измеряет фон и вычисляет концентрацию.
Непрерывная подача проб приводит к появлению постоянного во времени аналитического сигнала, так что при последовательной работе можно линии спектра излучения определяемых элементов отрабатывать одна за другой. Чтобы при последовательном многоэлементном измерении удержать на низком уровне расход проб и продолжительность анализа, необходим быстрый и точный подвод аналитических линий и точек фона. Поэтому рекомендуется применять высокопрецизионные приводы дифракционных решеток и соответствующие стандартные программы поиска спектральных линий.
С точки зрения разработки методики и с учетом малого числа проб пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия гораздо проще в реализации. Для большинства анализов требуется всего лишь точно следовать указаниям изготовителя оборудования либо — в случае современных приборов — вызвать соответствующую программу анализа из памяти ПК. При оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП наибольшую трудность представляет контроль за появлением спектральных помех и принятие мер по их ослаблению. Далее, приходится проверять в отношении каждого элемента наличие возможных фоновых эффектов. Кроме того, настоятельно рекомендуется убедиться в правильности высоты наблюдения, оптимизировать подачу энергии к плазме и скорость всасывания раствора пробы, а также изготовить сравнимые многоэлементные стандарты.
Если программа проведения анализа уже составлена и сохранена в запоминающем устройстве, то ситуация выглядит совсем иначе: при запросе этой программы прибор автоматически вводит предварительно установленные параметры.
Скорость измерения при атомно-абсорбционной спектроскопии варьируется у моделей от разных изготовителей. Псевдодвухлучевые атомно-абсорбционные спектрометры выполняют измерения, длящиеся трижды по 4 секунды, затем примерно на 5 секунд горелки или зеркала выводятся из оптического луча, далее вновь идет измерение в течение 4 секунд, после чего горелки возвращаются на следующие 5 секунд. В целом получается примерно 26 секунд на пробу и элемент. Настоящие двуххлучевые спектрометры обычно гарантируют проведение точного анализа за 3 секунды из расчета на пробу и элемент[51].
Скорость анализа имеет смысл принимать во внимание только в том случае, если интерес представляют концентрации совсем небольшого числа элементов. Процесс замены одного элемента другим длится у атомно-абсорбционного спектрометра около 2 минут. Если соответствующим образом изменить время стабилизации пламени, время вызова программы и срабатывание монохроматора, то точка пересечения, в которой обычно ускоряется работа с ИСП, будет находиться в области стандартного измерения примерно шести элементов. Если для определения нескольких (однако немногих) элементов предлагается одна-единственная проба, то в таком случае атомно-абсорбционная спектроскопия окажется в своем действии гораздо быстрее.
11.9.4. Помехи
При оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП химические взаимодействия в принципе особой роли не играют. И все же наряду с минимальными проблемами ионизации не исключена и опасность появления спектральных помех. При пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии химические взаимодействия весьма значительны, спектральных помех практически не существует, а проблемы ионизации легко преодолимы. Атомно-абсорбционная спектроскопия по методу графитовой трубчатой печи не обременена проблемами ионизации, но создает достаточно сложностей химического характера и ряд спектральных помех, которые, впрочем, успешно устраняются посредством зеемановской коррекции фона.
11.9.5. Воспроизводимост ь
При оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП воспроизводимость в стандартном варианте составляет от 0,5 до 2%; воспроизводимость при длительной работе (от 1 до 8 часов) достигает 2—5%. При пламенной атомно-абсорбционной спектроскопии воспроизводимость обычно находится на уровне 0,1—1%, однако при измерении в течение достаточно длительного времени нередко требуется новая градуировка. При атомно-абсорбционной спектроскопии по методу графитовой трубчатой печи, как правило, отмечается воспроизводимость от 1 до 5%, если речь идет о нормальном режиме работы.
11.9.6. Прочие важные аспекты
Согласно принятым в большинстве стран нормам охраны труда и правилам техники безопасности, пламенный атомно-абсорбционный спектрометр нельзя оставлять совсем без надзора: этот прибор может быть задействован только в присутствии квалифицированного персонала. В то же время оптическая эмиссионная спектрометрия с ИСП, как и атомно-абсорбционная спектроскопия с графитовой трубкой, могут автоматически функционировать даже ночью, что позволяет продлить рабочую смену с 8 до 24 часов.
Следующий аспект, который необходимо принимать в расчет, это инвестиционные и эксплуатационные затраты. Стоимость газа, энергии и расходных материалов при оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП будет выше, чем при атомноабсорбционной спектроскопии по методу графитовой трубчатой печи, которая, в свою очередь, окажется дороже пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии. ИСП- спектрометры одновременного действия имеют очень высокую первоначальную стоимость. Последовательные ИСП-приборы не стольдороги, но все же их цена превышает таковую для атомно-абсорбционных спектрометров с графитовой трубкой, которые опять-таки дороже пламенных атомно-абсорбционных спектрометров.
Это всего лишь несколько моментов, которые совершенно необходимо учитывать при выборе между атомно-абсорбционным спектральным прибором и оптическим эмиссионным И СП-спектрометром. Цена или технические особенности не могут стать единственными критериями; крайне важно, чтобы каждый исследователь получил инструмент соответственно своим запросам, а не довольствовался тем немногим, что было под рукой и не способно принести полного удовлетворения по окончании эксперимента.
11.10. Плазменная масс-спектрометрия
Если попросить химика-аналитика сформулировать свои требования к идеальному прибору для проведения следовых анализов, то он назовет возможность правильного и воспроизводимого определения как можно большего числа элементов в самых ничтожных концентрациях за минимально короткое время и с умеренными затратами. Исходя из этой установки, все внимание следовало бы сосредоточить на оптической эмиссионной спектрометрии, функционирующей с ИСП в качестве источника возбуждения. Однако справедливости ради придется отметить, что в отношении многих элементов, значимых в сфере исследования объектов окружающей среды, не удалось существенно улучшить пределы обнаружения. Аналитики предпочитали проводить ультраследовые анализы методом атомно-абсорбционной спектроскопии с использованием графитовой трубчатой печи, а этот метод, как известно, относится к технике одноэлементного определения.
В начале 80-х годов Гук с соавторами дал описание способа применения ИСП в качестве ионного источника для масс-спектрометрии [11.45]. Два безусловных компонента следовой аналитики:
объединяет в себе плазменная масс-спектрометрия, предлагая в итоге высокоэффективный метод анализа, отличающийся быстротой и чувствительностью и рассчитанный на проведение
Возможные пределы обнаружения при плазменной масс-спектрометрии порой на несколько десятичных порядков ниже, чем при оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП [11.46]. Это наблюдается, в частности, при оптимизации обоих методов с расчетом на одноэлементное определение. Достоинства элементной масс- спектрометрии, как то: высокая чувствительность обнаружения, большая пропускная способность при измерении сразу нескольких элементов и пригодность для определения изотопов, с одной стороны, удобный способ подачи проб при ИСП, с другой стороны, — дают в итоге новый эффективный метод элементной аналитики.
Низкие пределы обнаружения до области триллионных долей есть одно из главных преимуществ плазменной масс-спектрометрии, причем практически все элементы или, по крайней мере, их принципиальное большинство, в отличие от других атомно-спектрометрических методов, могут определяться с очень близкой чувствительностью обнаружения [11.47]. В отношении тяжелых металлов, таких как кадмий и ртуть, эта чувствительность столь же хороша (ниже 1 нг/л), как и при атомно-абсорбционной спектроскопии с графитовой трубкой. В случае редкоземельных металлов предел обнаружения даже на два порядка ниже, чем при газовой атомно-абсорбционной спектроскопии [11.48][52]. Обязательным условием подобной ультраследовой аналитики является, безусловно, чистый воздух в лаборатории.
Хотя плазменная масс-спектрометрия не является методом поистине одновременного многоэлементного определения, она позволяет все же определять большое число элементов пробы за очень короткое время. В принципе обнаружить можно любой из элементов периодической системы. Плазменная масс-спектрометрия идеально подходит для проведения ускоренного обзорного анализа.
Итак, с помощью плазменной масс-спектрометрии можно за две минуты проверить, какие элементы периодической системы присутствуют в пробе.
В то время как при оптической эмиссионной спектрометрии для некоторых элементов получают до тысячи линий в спектре, в случае масс-спектроскопии имеют всего одну спектральную линию на массу. У определяемых элементов - от лития до урана — фиксируется 333 естественных изотопа с массой m в диапазоне от 6 до 240 а.е.м. Этими изотопами покрывается вся периодическая система элементов. Разные изотопы любого элемента определяются одновременно даже в сложных пробах. Но, естественно, и здесь есть ограничения при анализе реальных проб.
Масс-спектрометрическое детектирование обеспечивает заметно лучшую чувствительность, чем обнаружение оптическим способом [11.49]. Определение элементов с помощью плазменной масс-спектроскопии основано на измерении массы соответствующего элемента и получении сведений о его фундаментальных характеристиках. Но технологию производства оборудования для плазменной масс- спектроскопии с ее чрезвычайно высокими техническими требованиями на первых порах смогли освоить лишь немногие изготовители: на сегодняшний день во всем мире не наберется и десятка надежных фирм, пред лагающих оборудование для плазменной масс-спектрометрии. В этой технологии предстоит сделать еще много открытий. Данный метод спектроскопического анализа отнюдь не дешев, но структура цен в связи с возросшей конкуренцией на рынке постепенно меняется в сторону понижения. С момента ввода в 1983 г. первого поколения спектрометров такого типа приборостроители добились значительного прогресса с точки зрения надежности, удобства обслуживания и способности этих приборов к обнаружению.
11.10.1. Техника и методика масс-спектрометрии с ИСП
Из анализируемого раствора в распылительной камере образуется тонкодисперсный аэрозоль, который в плазме быстро десольватируется и испаряется. В центре плазмы молекулы полностью диссоциируют, а элементы при атмосферном давлении и температурах от 7000 до 10 000 К ионизируются. Почти у всех элементов степень ионизации составляет более 90%. Из центра плазмы в большинстве своем однократно положительно заряженные ионы через сопрягающую зону попадают в масс-спектрометр. В этой зоне давление, с учетом рабочих условий масс- спектроскопии, посредством вакуумного насоса уже снижено до нескольких торр. При этом большая часть газа аргона отсасывается.
Ионы проходят сначала через две охлаждаемые водой металлические точечные диафрагмы с диаметром отверстий около 1 мм, выполняющие функции отбора и отделения. При этом ионы фокусируются в единый ионный пучок и направляются в «ионную оптическую систему» (рис. 11.26).
В этой зоне захватываются преимущественно фотоны, также генерируемые в плазме. Квадрупольный масс-спектрометр действует как масс-фильтр, отделяя ионы соответственно их отношению масса/заряд. Ионы измеряются, например, с помощью канального электронного умножителя (channel electron multiplier). Спектральный выход состоит из ряда изотопных пиков, соответствующих естественным изотопам ионов анализируемого вещества в растворе.
11.10.2. ИСП в качестве ионного источника
Ионный источник чрезвычайно влияет на качество измерения. Индуктивно связанная аргоновая плазма действует как очень эффективный источник при генерации однозарядных ионов почти для всех элементов. Но оптимальная мощность такой системы возбуждения зависит от ряда параметров, например от стабильности передачи энергии посредством генератора высокой частоты и безотказной работы механизма ввода проб (при постоянном объемном расходе газа в распылителе и плазменном факеле). Как на уровне подачи проб, качества используемых плазм, характеристик масс-спектрометров, так и на уровне сбора и обработки данных отмечается в последние годы заметный технический прогресс. Для ввода проб, наряду с пневматическим распылением, известным из области оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП, успешно используется также электротермическое испарение. При наличии сухих аэрозолей удается избежать некоторых помех с ионными пучками и значительно улучшить предел обнаружения отдельных элементов, например Fe и As. Для прямого анализа твердых образцов предлагается в качестве принадлежности лазерный испаритель. Подобная техника представляет потенциальный интерес как для новых областей применения, так и для анализа керамических образцов либо материалов из сферы микроэлектроники.
11.10.3. Сопряжение масс-спектрометри с ИСП
При экспериментальной реализации плазменной масс-спектрометрии требуется высокопроизводительная насосная система — для поддержания вакуума масс-спектрометра при довольно большой апертуре с целью всасывающей подачи ионов против атмосферного давления ИСП. Задача механизма сопряжения в плазменной масс-спектрометрии состоит в обеспечении возможности вхождения в масс- спектрометр образовавшихся в плазме ионов. При этой главной проблемой становится переход от нормального давления ионного источника к рабочему давлению квадрупольного масс-спектрометра в диапазоне от 10-4 до 10-5 торр[53], для чего приходится прибегать к помощи насосной системы.
Помимо прочего, в зоне сопряжения отфильтровываются посредством специальной «ионной оптики» выокоэнергетические фотоны, поскольку счетчик импульсов срабатывает и на специфичности такого рода.
11.10.4. Масс-спектрометры
Как и при любом другом способе анализа, эффективность системы здесь тоже определяется преимущественно качеством детектора. Квадрупольный масс-спектрометр отбирает ионы в соответствии с их отношением масса/заряд, то есть через такой масс-фильтр проходят только ионы одинаковой массы. Путем изменения характеристик фильтра можно регистрировать более широкие области масс-спектра. В заключение ионы измеряются с помощью канального электронного умножителя[54], причем выбирается один из следующих рабочих режимов:
Высокая чувствительность, с одной стороны, обеспечивает низкие пределы обнаружения, с другой стороны, обусловливает верхнее ограничение используемого диапазона измерения. В деле достижения оптимальной эффективности масс- спектрометра не обойтись без низких давлений, создаваемых высокопроизводительными диффузионными насосами[55]. Эти насосы призваны откачивать, помимо аргона, еще и гелий, когда для решения специальных аналитических задач используется гелиевая плазма.
11.10.5. Преимущества плазменной масс-спектрометрии
По сравнению с классическими спектрами оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП, ИСП-масс-спектры отличаются чрезвычайной простотой и свободны от помех, вызываемых матрицами[56]. Количественное определение легко осуществляется при работе со стандартными образцами или при разбавлении стабильных изотопов, причем последний способ применим почти к 90% элементов периодической системы. Обусловленное низким пределам обнаружения решающее преимущество плазменной масс-спектрометрии заключается в повышении надежности и достоверности результатов анализа.
Линейная рабочая область концентраций простирается обычно на 4—5 декад, что является более благоприятным показателем, чем это имеет место в случае оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП. При современных динодных детекторах вся динамическая рабочая область может быть расширена вплоть до 8 декад. Это свойство плазменной масс-спектрометрии значительно ускоряет процесс прохождения проб при стандартном измерении, поскольку здесь можно отказаться от разбавления, отнимающего много времени и чреватого появлением помех. Кроме того, благодаря столь ярко выраженной линейности сильно упрощается решение проблемы градуировки, особенно при проведении многоэлементного анализа [11.50]. С другой стороны, при соответствующем разбавлении проб иногда удается косвенно снизить возможные матричные эффекты.
Наряду с лучшей обнаружительной способностью, иногда в 100 раз превышающей таковую при оптической эмиссионной ИСП-спектроскопии, следует упомянуть еще одно достоинство плазменной масс-спектрометрии: здесь спектральные помехи для матриц со спектрами излучения с большим число линий оказываются значительно слабее, чем при оптической эмиссионной спектроскопии с ИСП, то есть вы получаете простой линейчатый спектр 250 масс, а не спектр с почти 100 000 линий спектра излучения (рис. 11.27).
Проблемы помех в большей их части счастливым образом разрешены. Для этого предлагается либо изменить параметры плазмы, либо использовать смесь в качестве плазменного газа, либо, в конце концов, найти линию без помех, ведь большинство элементов обладает множеством изотопов[57]. При интерпретации спектров относящееся сюда программное обеспечение учитывает определенные критерии оценок, среди которых: естественное соотношение изотопов в элементах и вызываемые окислами металлов помехи, наличие ионов с двойным зарядом и т.д. У кого хватит денег, тот может вместо квадрупольного масс-спектрометра приобрести обладающий высоким разрешением масс-спектрометр с секторным магнитным полем.
11.10.5.1. Полуколичественный анализ
Полуколичественным способом измерения можно за совсем короткое время осуществить регистрацию элементного спектра неизвестной пробы и определить, какие элементы в значимой концентрации содержатся в данной пробе. Так как чувствительность масс-спектрометра остается равномерной во всей области масс, то элементы могут определяться примерно с одинаковой чувствительностью[58]. Одновременно это означает, что экспрессные полуколичественные анализы могут проводиться без применения градуировочных стандартов[59]. Как правило, полученные при этом результаты отличаются от фактического значения максимум на 30%. Таким образом, в случае незнакомых проб удается получить данные высокой информативности по всему масс-диапазону, потратив на это менее минуты.
11.10.5.2. Определяемые элементы
При измерениях плазменными масс-спектрометрами речь идет, как в случае спектральных приборов для атомно-абсорбционной спектроскопии и оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП, о работе с растворами, так что представляется вполне логичным применение этого оборудования при проведении анализов воды. По крайней мере, можно оставить без изменений испытанные при исследованиях такого рода операции по подготовке проб. Это касается, в частности, применения азотной кислоты в качестве реагента для перевода вещества в растворимую форму. С помощью плазменного масс-спектрометра с лазерной абляцией возможно также изучение проводящих и непроводящих твердых веществ, поэтому данная методика находит применение в том числе и при анализах следовых количеств керамики. Тогда сфокусированный луч лазера направляется на поверхность материала, вследствие чего он испаряется и атомизируется. В присоединенном традиционном плазменном масс-спектрометре атомы затем ионизируются и разделяются с селекцией по массе. Эти приемы позволяют также проведение локальных анализов на основе распределения элементов с поперечной разрешающей способностью около 10 мкм [11.51].
Плазменная масс-спектроскопия позволяет проводить измерение почти всех элементов периодической системы. Возможен даже количественный анализ отрицательно заряженных ионов, образуемых фтором, хлором и бромом. Исключение составляют аргон, азот и кислород как компоненты газа плазмы и, соответственно, аэрозоля. Но даже и эти три элемента могут определяться данным методом с достаточно высокой чувствительностью обнаружения, но подобный анализ представляется нецелесообразным, поскольку указанные элементы присутствуют практически повсюду.
11.10.5.3. Аналитические ограничения
Плазменную масс-спектрометрию вряд ли можно признать аналитическим «супер-методом», и не только по причине связанных с нею внушительных затрат. Спектральные помехи способны основательно потрепать нервы аналитику. Ионы молекул, образовавшиеся из содержащихся в пробе элементов, а также из кислорода или остатков растворителя в потоке плазмы, могут перекрыть в масс-спектре линию определяемого элемента. Сама плазменная среда — аргон — легко образует с изотопом кислорода ион 40Аr/16О с массовым числом 56, перекрывающий главную линию железа с идентичным массовым числом. Сильно мешают и так называемые изобарные интерференции. Так, изотоп титана с массовым числом 48 перекрывается с редким изотопом кальция 48.
В случае более легких элементов тоже возможны определенные ограничения, поскольку аналитические сигналы перекрывается с сигналами других ионов. Объяснить это можно низким разрешением квадрупольных масс-фильтров. К мешающим сигналам относятся сигналы аргонсодержащих ионов — Аr+, АгОН+, АrСl+ и полиатомных ионов — Н2О+, NH+, СО+, а также сигналы других изотопов, сопутствующих элементов, двухзарядных ионов, окислов анализируемого вещества и т.д. Эти помехи не просто ограничивают чувствительность обнаружения при анализе реальных проб, но способны стать причиной систематических погрешностей. При плазменной масс-спектрометрии не исключены также ионизационные помехи, вызываемые смещениями ионизационных равновесий при наличии сопутствующих элементов либо изменением геометрии плазмы. С учетом этого обстоятельства количественные анализы выполняются здесь, как правило, по методу добавок.
Поскольку естественная распространенность изотопов у большинства элементов постоянна и точно известна, то можно вычислить возможные изобарные перекрытия. Неоценимую помощь в распознавании помех оказывают специальные программные средства. При количественном определении можно избежать потенциальных помех от изобарных ионов элементов и молекул, прибегнув к соответствующей вычислительной коррекции, причем естественное изотопное отношение у отдельных элементов сохраняется в программной памяти. Например, большой интерес представляет указание отношения Ва2+/Ва+ или, соответственно, ВаО+/Ва+, ибо в этих примерах можно усмотреть тенденцию формирования специфичностей мешающих ионов.
Более проблематичны спектральные наложения многоатомных ионов, поскольку образование этих специфичностей в значительной мере зависит от аппаратурных условий и, значит, предсказуемо лишь условно. Однако в силу частично малой природной распространенности многих изотопов число многоатомных ионов ограничено преимущественно комбинацией наиболее часто встречающихся изотопов, так что, например, при анализе сталей надо принимать в расчет около 250 перекрытий сигналов многоатомных ионов[60] [11.52].
11.10.6. Новые области применения плазменной масс-спектрометрии
Без всяких сомнений, плазменная масс-спектрометрия щедро обогатила всю сферу следовой аналитики и продолжает способствовать ее дальнейшему развитию и совершенствованию. Области применения этого метода весьма многообразны: геохимия, нефтехимия, биология, ядерная техника, полупроводниковые технологии и, отнюдь не в последнюю очередь, исследование объектов окружающей среды [11.53]. В настоящее время при проведении анализов воды в качестве стандартных способов находит применение оптическая эмиссионная спектрометрия с ИСП наряду с атомно-абсорбционной спектроскопией, но плазменная масс-спектрометрия активно внедряется уже и в эту область [11.54]. Можно ожидать открытия некоторых зависимостей, которые ранее находились как бы по ту сторону собственно аналитической деятельности. Напомним для примера, что сейчас в питьевой воде можно обнаружить даже такие элементы, как Ce, U, La, Y, Li и Be [11.55].
Благодаря особым свойствам масс-спектрометрии стало возможным определение изотопного состава различных веществ. Основные сведения о стабильных изотопах фактически получены с помощью масс-спектрометра. Некоторые изотопы свинца образуются в результате радиоактивного распада разных исходных элементов (ряд распада тория и урана). Этот факт позволяет привлечь плазменную масс-спектрометрию для целей определения места происхождения исследуемых геологических проб. Обогащая биологические пробы стабильными изотопами, можно проследить метаболизм следовых элементов в такого рода системах, не прибегая к помощи радиоизотопов.
Спектральные помехи, встречающиеся, в частности, в области массовых чисел ниже 80 и не разрешамые посредством квадрупольного масс-спектрометра, могут быть значительно уменьшены благодаря использованию масс-спектрометров с высокой разрешающей способностью, например масс-спектрометров по принципу времени пролета. При одновременном дополнительном повышении обнаружительной способности в отношении более легких элементов, помехи которых в основном и определяют ограничение квадрупольных масс-спектрометров, можно ожидать в будущем использования плазменной масс-спектрометрии преимущественно с масс-спектрометрами высокого разрешения.
Большие перспективы открывает метод, сочетающий хроматографическое разделение и масс-спектрометрическое определение веществ. Улучшить способность к обнаружению за счет отделения матрицы можно и при плазменной масс-спектроскопии. Путем прямого сопряжения с хроматографами (газовая, высокоэффективная жидкостная, ионная хроматографии) достигается возможность определения концентраций в диапазоне триллионных долей. Это создает совершенно новую ситуацию на уровне определения специфичных форм элементов. Вопрос специфичности элементов приобретает все большее значение, и этот параметр вполне может обойти по значимости общую концентрацию. Работа в режиме реального времени (например, с использованием проточной инжекции) в принципе допустима также в оптической эмиссионной спектрометрии с ИСП и в плазменной масс-спектрометрии. Возможно автоматическое разбавление проб и добавление внутренних стандартов. В плазменной масс-спектроскопии интерес представляет прежде всего многоэлементное определение гидридообразователей на уровне субмиллиардных долей, равно как обогащение и отделение матрицы.
Поскольку при аэрозольной методике проба должна быть представлена в распыляемой форме, то есть в виде раствора, ее объем не может быть меньше определенной минимальной величины. При инжекционной технике для этого требуется минимум 0,5 мл. Чтобы даже такие микроскопические объемы сделать доступными для плазменной спектрометрии, в случае масс-спектроскопии с ИСП используют предлагаемые в атомно-абсорбционной спектрометрии коммерческие варианты электронагревательных испарителей. Метод плазменной масс-спектрометрии с электротермическим испарением предназначен для одновременного многоэлементного определения микроколичеств веществ, причем пределы обнаружения здесь обычно ниже таковых при атомно-абсорбционной спектроскопии с графитовой трубкой. В этих условиях могут исследоваться даже пробы в виде суспензий и порошков, которые в распылителях легко вызывают многочисленные помехи. Для прямого определения твердых образцов служит испарение под действием лазерного излучения, когда генерируемый лазером пар переводится в плазму.
Наряду с ИСП находят применение и микроволновые плазмы как источник ионизации в плазменной масс-спектрометрии. Для этого прибегают к помощи горелки, полностью выполненной из металла и функционирующей с гелиевым разрядом при нескольких сотнях ватт [ 11.56]. Сейчас активно изучается также способ ионизации посредством тлеющего разряда (масс-спектрометрия с тлеющим разрядом) [11.57].
11.11. Резюме и перспективы развития плазменной атомной спектрометрии
Определение следовых элементов на основе оптического эмиссионно-спектрального анализа с ИСП уже много лет является стандартным методом, завоевавшим прочное место в химико-аналитических лабораторных исследованиях наряду с атомно-абсорбционной спектроскопией. Этот метод широко применяется при изучении объектов окружающей среды, при входном контроле на производстве, при проверке качества готовой продукции в самых разных отраслях промышленности — металлургической, химической, а также при изготовлении стекла и керамики. В нормах ДИН 51 008, ч. 2, приведены понятия, принятые в оптической эмиссионной спектрометрии [11.58]. Данный метод описан уже во многих нормативах и регламентах. Следует упомянуть, в частности, предписания по унифицированному исследованию питьевой воды, сточных вод, шламовых осадков и грязей (ДИН 38 406, ч. 22), регламенты касательно установок для сжигания отходов, нормы проверки смазочных материалов (ДИН 51 391, ч. 3), постановление о способах осветления и административные предписания по очистке сточных вод.
Оптическая эмиссионная спектрометрия с ИСП является многоэлементным методом, отличающимся быстротой при обнаружении большого числа следовых элементов в большом количестве проб. Именно благодаря своей «мультиэлементности» этот метод стал во многих областях применения надежной альтернативой атомно-абсорбционной спектрометрии. При наличии используемых сегодня оптических систем, благодаря возможности отбора наилучших аналитических линий и достижения высокой чувствительности, пределы обнаружения - за всю 30-летнюю историю существования оптической эмиссионной ИСП-спектроскопии — значительно улучшились и находятся сегодня на уровне нг/л. При условии обдува оптики аргоном или азотом и, соответствнно, создания вакуума стали возможны определения в вакуумной УФ-области ниже 190 нм, что позволило измерять, например серу и фосфор, по линиям спектра излучения с минимальными помехами.
Для спектрометров одновременного действия надо было повысить разрешающую способность и предусмотреть устройство для регистрации изменений интенсивности вблизи аналитических линий. При программированном сдвиге щели или наличии вращающейся за входной щелью кварцевой отражающей пластины можно обработать спектральное окружение одновременно для всех аналитических линий и сохранить измеренные интенсивности в памяти ПК.
Все современные ИСП-спектрометры компьютеризированы. Программы, разработанные для поиска максимума, и способы регистрации фона у последовательных и одновременных спектральных приборов относятся к уровню техники. Пики спектров отображаются на экране дисплея, спектральные линии идентифицируются, и определяются данные для коррекции линейных интерференций.
Сегодняшние требования к современному ИСП-спектрометру касаются прежде всего высокой автоматизации, позволяющей довольствоваться минимумом обслуживающего персонала при полной загрузке оборудования даже в ночные часы. Это достигается за счет использования «разумных» ЭВМ в сочетании с механизмами подачи проб и автоматическими системами разбавления. Решения, которые ранее приходилось принимать пользователю, ложатся ныне на плечи электронной вычислительной техники, оснащенной целесообразными программами обеспечения качества. В этой связи можно назвать автоматическую рекалибровку, настройку всех параметров спектрального прибора, а также автоматическое проведение анализов по контролю качества.
Плазменная спектрометрия относится к эффективным методам одновременного определения сразу множества элементов на основе жидких проб либо суспензий твердых веществ в жидкой фазе. Эмиссионная спектрометрия с ИСП в инструментальном плане уже достигла высокого уровня развития, хотя, например, в отношении спектрометров — с учетом использования систем эшелле и, прежде всего, детекторов новых конструкций (см. прибор с инжекцией заряда) — можно ожидать (при более совершенной регистрации спектральной информации) дальнейшего впечатляющего прогресса. Здесь отмечается тренд создания рационально сконструированных, компактных блоков, что может привести к заметному снижению инвестиционных и эксплуатационных затрат. Примечательно также, что определенного признания добились комбинированные спектрометры одновременного плюс последовательного действия. Они позволяют — наряду с быстрым одновременным определением многих, но заведомо фиксированных элементов — также гибкое определение элементов, способных меняться от случая к случаю.
Эмиссионная спектроскопия с ИСП как метод взята сегодня на вооружение практически любой мало-мальски крупной аналитической лабораторией. В плазменной эмиссионной спектрометрии существенная доля инноваций приходится на область подачи проб. Альтернативные варианты обычных распылительных систем (ультразвуковых или др.), позволяющие работать с суспензиями, и искровая эрозия для прямой идентификации металлических образцов — вот лишь некоторые примеры, для реализации которых уже существуют соответствующие принадлежности. Иные плазмы (например, микроволновая) играют роль элементноспецифичного детектора при хроматографии и для выполнения этой функции предлагаются сегодня в коммерческих системах.
Для анализа материалов, имеющих спектры излучения с большим числом линий, или для ситуаций, когда требуется повышенная чувствительность обнаружения (например, при исследовании питьевой воды), масс-спектрометрия с ИСП предлагает значительные преимущества по сравнению с плазменной эмиссионной спектроскопией. Также и сочетание ИСП-спектроскопии - прежде всего масс- спектрометрии с ИСП — с высокоэффективной жидкостной хроматографией рассматривается как весьма перспективная концепция для прямого определения элементов с разными формами связи.
Способы испарения с помощью лазерного излучения очень эффективны при исследовании не обладающих электропроводимостью проб, например керамики. Однако их эффективность в полную меру проявляется лишь в сочетании с лазерным возбуждением либо с плазменной масс-спектрометрией, обладающей большей обнаружительной способностью, чем оптическая эмиссионная спектрометрия с ИСП.
Сточки зрения одновременного определения интерес представляют сегодня также фотодиодные спектрометры. После предварительного разложения и выделения аналитических линий с диодными матрицами небольшого размера (12,5 мм) и малым числом пикселей (от 500 до 1 000) можно определять одновременно 5-10 элементов. Используя сменные маски для предварительного выделения, удается быстро изменять программу анализа. Способность к обнаружению у фотодиодных спектрометров ограничивается в коротковолновом диапазоне длин волн детекторными шумами.
У современных спектрометров последовательного действия дифракционная решетка приводится во вращение посредством программно-управляемого шагового двигателя высокого разрешения, причем длина волны сдвигается на выходной щели и в течение короткого времени интегрируется. Если приходится определять большое число элементов и требуется высокая точность в следовом диапазоне, эти приемы признаются слишком медленными — по сравнению с быстрыми, но очень ограниченными с точки зрения гибкости программы анализа одновременными способами.
У многих приборов управление, сбор и обработку данных можно осуществлять через персональный компьютер и вычислительную машину более высокого уровня. При спектрометрах одновременного действия нередко используют совместимый с данным прибором процессор для выполнения задач управления (при термостатировании, обдуве, диагностике и проч.). Большинство систем располагает программами с управлением через меню, а программное обеспечение содержит программы для регулировки хода анализа, определения точек измерения фона, коррекции фона, градуировки с внешними стандартами, а также для использования метода добавок и внутренних стандартов. Пакет программ для обработки данных может включать в себя статистику, составление протокола анализа и упаковку в архив, действуя в режиме установления связи с внешним компьютером.
Основные требования, предъявляемые на практике к спектральному прибору, - это удобство обслуживания и подходящий набор программ в компьютере. Кроме того, это должна быть многоэлементная система, обеспечивающая быстрый темп получения информации одновременно по множеству элементов. Желательно также, чтобы это был сканирующий спектрометр последовательного действия, позволяющий производить абсолютно свободный отбор линий для всех длин волн, не имеющих жесткой фиксации. Прибор должен обеспечивать высокую светосилу по всей области спектра от 170 до 800 нм с целью достижения максимальной чувствительности и наилучших пределов обнаружения.
ИСП-спектрометр должен обладать высочайшей разрешающей способностью, чтобы свести к минимуму возможные помехи, что позволило бы использовать для анализа самые чувствительные линии из всех возможных. Разрешающая способность спектрометра есть та характеристика, которая решающим образом определяет точность результата измерения. Современная плазменная система должна, помимо прочего, располагать целым рядом тщательно испытанных принадлежностей, например в целях возможной ее автоматизации на основе механизма смены проб.
Поразительно высокую популярность на практике приобрели между тем инструментальные комбинации на основе плазменной и масс-спектрометрии. В то время как первое поколение приборов было рассчитано преимущественно на ручной режим работы, что по понятным причинам формировало достаточно суровые требования к пользователю, новые плазменные масс-спектрометры отличаются высоким уровнем автоматизации. Все важнейшие параметры плазмы и квадруполя оптимально настраиваются с помощью программного управления.
В методике плазменной масс-спектрометрии органично сочетаются высокая степень ионизации ИСП с чувствительностью и селективностью идеального детектора, масс-спектрометра, что дает в итоге единственный в своем роде метод элементного и изотопного анализа. Плазменная масс-спектрометрия по своей обнаружительной способности далеко превосходит оптическую эмиссионную спектрометрию с ИСП. Это быстрый способ определения более чем 75 элементов с пределом обнаружения в ультраследовой области. Первоначально весьма дорогие спектральные приборы этой серии со временем стали вполне доступными по цене. Данная техника получает все большее распространение, выступая в качестве дополнения и к оптической эмиссионной спектрометрии, и к атомно-абсорбционной спектрометрии по методу графитовой трубчатой печи.
Описанный метод позволяет проводить также многоэлементные определения на твердых образцах. Пределы обнаружения для большинства элементов находятся на уровне суб-нг/г-единиц и лишь немного отличаются от элемента к элементу. Матричные помехи здесь невелики, спектры не перенасыщены линиями, однако полиатомные ионы способны вызвать непонятные совпадения линий. Большая часть коммерческих вариантов плазменных масс-спектрометров имеет квадрупольное исполнение. Работы по созданию обладающих высоким разрешением масс-спектрометров по принципу времени пролета находятся пока лишь на начальном этапе[61]. Но уже ясно, что благодаря замечательному разрешению этих приборов удается в значительной мере снять ограничения в отношении более легких элементов, обусловленные спектральными помехами в области массовых чисел ниже 80.
ГЛАВА 12. МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ
Масс-спектральный анализ для определения характеристик веществ давно и успешно применяется в аналитической химии. Еще в 1910 г. Томпсону удалось записать масс-спектр обоих изотопов неона. Ф. Астон из Кембриджа получил в 1922 г. Нобелевскую премию по химии за открытие с помощью масс-спектрографа ряда изотопов нерадиоактивных элементов. Но лишь с 1960 г. началось реальное практическое внедрение масс-спектрометрии, вскоре ставшей стандартным методом современной аналитики. На данный момент масс-спектрометрия получила широкое признание и считается одним из наиболее эффективных способов абсолютного измерения молекулярной массы, который отличается высокой чувствительностью и большой информативностью спектров. Наряду с ядерной магнитно-резонансной спектроскопией (ЯМР) и инфракрасной (ИК)-спектроскопией, масс-спектрометрия стала важнейшим методом инструментальной аналитики, чрезвычайно удобным при структурном анализе соединений. В 90-х годах масс- спектрометрию активно использовали в целях идентификации веществ, как самостоятельно, так и в сочетании с предварительным разделением соединений.
В условиях масс-спектрального анализа органическое соединение в глубоком вакууме испаряется, ионизируется в результате электронной бомбардировки и, если энергия бомбардирующих электронов достаточно велика, чтобы вызвать разрыв химических связей, разбивается на осколки. Продуктами такой фрагментации являются преимущественно положительно заряженные ионы, но возможны также незаряженные радикалы и небольшие нейтральные молекулы. Разные ионы, генерируемые в ионном источнике, разделяются в магнитном поле в зависимости от отношения т/е, где m — масса, е — заряд иона, и подаются на приемник. В итоге получают масс-спектр. По величине m/е определяют массу иона, а по интенсивности соответствующего сигнала судят о концентрации ионов.
Использование масс-спектрометрии весьма многообразно. Она находит применение не только в органической аналитике, но также и в неорганической химии, в биологии, физике и других науках. Так, на основе масс-спектрометрии высокого разрешения можно получить сведения об элементном составе и, соответственно, о структуре нового соединения. С другой стороны, с помощью масс-спектра удается доказать идентичность двух соединений. Кроме того, масс-спектрометрия вполне годится для проведения качественного и количественного анализов смесей, а также следового и изотопного анализов [12.1]. Помимо прочего, она позволяет получить информацию касательно свойств ионов в газообразной фазе, механизмов протекания ионно-молекулярных реакций, а также данные о строении и времени жизни ионов. С созданием высокоэффективных масс-спектрометров в сочетании с усовершенствованной техникой ионизации стало возможным проведение исследований веществ с молярной массой до 105 г моль-1, то есть в том числе полимеров и биополимеров.
Однако из-за фрагментации в большинстве случаев удается интерпретировать только масс-спектры чистых веществ. Поэтому масс-спектрометрию нередко сочетают с хроматографическими способами разделения, например на основе газовой либо высокоэффективной жидкостной хроматографии. С другой стороны, классическая ионизация все чаще пополняется другими — более щадящими — способами ионизации, обеспечивающими значительное подавление возможного процесса фрагментации. При условии умеренной фрагментации достигается значительная коррекция масс-спектров, позволяющая выполнять качественный и количественный анализы сложных газовых смесей с концентрациями вплоть до следового диапазона. К подобным методам причисляют масс-спектрометрию на основе химической ионизации, а также с применением ионно-молекулярных реакций.
12.1. Теоретические основы метода
Физический принцип масс-спектрального анализа основан на законе лоренцевой силы, согласно которому заряженные частицы отклоняются под действием внешнего магнитного поля. Таким образом, первым условием получения масс-спектра является ионизация анализируемых молекул. Ионы совершают в магнитном поле движение по круговым траекториям, радиусы которых пропорциональны корню квадратному от величинч масс ионов.
В масс-спектрометрии принято различать две основные стадии:
Считающаяся классической ионизация электронным ударом до сих пор остается важнейшим способом получения ионов.
Для разделения ионов, отличающихся друг от друга хотя бы на одну единицу массы, достаточно их простого отклонения в сильном магнитном поле. При этом ионы с большей массой отклоняются меньше, чем ионы с меньшей массой (рис. 12.1).
|
где Н — напряженность магнитного поля, r — радиус круговой траектории движения, V — ускоряющее напряжение.
В результате изменения напряженности магнитного поля Н при постоянном радиусе r траектории, по которой движутся ионы, и ускоряющем напряжении V можно направлять на детектор ионы с разной величиной m/е. С другой стороны, возможна регистрация соответствующего масс-спектра и при постоянном магнитном поле Н при изменении напряжения ускорения V. В обоих случаях ионы с некоторой величиной m/е поочередно пропускают через зазор коллектора, и регистрируется их ток как функция изменяемого параметра, который и создает масс- спектр.
12.2. Природа масс-спектра
Масс-спектры регистрируются обычно в направлении от меньших масс к большим. Пик максимальной интенсивности в спектре обозначают как основной. Для достижения ясного и наглядного представления масс-спектра интенсивность основного пика произвольно устанавливается равной 100, а все прочие сигналы соотносятся с ним. Как правило, основной пик только в случае особенно устойчивых соединений идентичен пику молекулярного иона. Для пояснения на рис. 12.2 приведен масс-спектр сложного метилового эфира бензойной кислоты.
Относительная молекулярная масса в химии часто именуется просто молярной массой, иногда встречается также термин «молекулярный вес». Относительная молярная масса химического соединения показывает, как велика масса данного соединения в сравнении с 1/12 массы самого распространенного атома изотопа углерода 12С.
Поскольку химические элементы состоят из смеси изотопов, то наряду с молекулярным пиком и пиками фрагментируемых ионов постоянно обнаруживается один либо несколько изотопных пиков. Соотношения интенсивностей такой группы пиков соответствуют природной распространенности отдельных изотопов в данной комбинации атомов. Определение изотопного состава по масс-спектру вполне пригодно для получения брутто-формулы соединения. Из-за относительно большой доли тяжелых изотопов у таких элементов, как сера, хлор и бром, соединения, содержащие эти элементы, особенно хорошо поддаются идентификации.
До сего времени существует несколько достаточно простых и удобных для общего употребления правил интерпретации спектров. Варианты структур, предлагаемые подключенной к масс-спектрометру ЭВМ на основе анализа спектров, отнюдь не всегда однозначны. Первичные ионы могут иногда на своей траектории движения претерпеть значительные перегруппировки, выделяя имеющуюся у них избыточную энергию. Возникают структуры, слабо связанные с исходной молекулой. По этой причине получаемый масс-спектр способен стать источником опасной дезинформации.
Каждый возникающий при фрагментации ион имеет определенное отношение массы к заряду m/е. Поскольку большинство ионов обладает зарядом 1, то величина m/е обычно приравнивается к относительной массе. С другой стороны, интенсивность сигнала отображает распространенность соответствующего иона. Ионы-фрагменты, отличающиеся особой характеристичностью, принято называть ключевыми осколками. Фрагментация молекулярных ионов происходит преимущественно таким образом, что
12.2.1. Стабильность ионов-фрагментов
Молекулярные ионы есть положительные ион-радикалы. Молекулярный ион АВ+, состоящий из половинок А и В, между которыми существует химическая связь, может распадаться поэтому на ион и радикал:
|
Разрыв связи осуществляется в основном таким образом, что образуется самый стабильный радикал, например в случае алифатических углеводородов — преимущественно на С-атомах с наибольшим разветвлением. Незаряженный радикал, естественно, не регистрируется в масс-спектрометре.
Общие закономерности, знание которых столь полезно при изучении химии основного состояния, могут оказать неоценимую помощь и в понимании масс- спектрометрических процессов фрагментации. Ион-радикал стабилизируется с элиминированием радикала в карбениевый ион с четным числом электронов.
Нередко случается и так, что фрагментация контролируется не наибольшей относительной стабильностью карбениевого иона, а элиминированием стабильной, незаряженной молекулы. Так, алифатические спирты обычно отщепляют скорее воду, чем ОН-радикал, алифатические ацетаты элиминируют скорее уксусную кислоту, чем ацетокси-радикал. Часто наблюдают отщепление HCN из хинолина либо СО из хинонов.
12.2.2. Перегруппировки
Приведенные примеры демонстрируют некие общие направления, хотя не стоит забывать и о большом числе имеющихся здесь исключений. Если в процессе фрагментации не только разрушается одна связь, но и образуется другая, новая, связь, то можно говорить о перегруппировках. При этом образование новой связи может произойти в элиминированной нейтральной частице, как при потере воды из спиртов, или же в несущей заряд половинке фрагмента. Мигрирующим остатком оказывается в большинстве случаев водород, причем могут переноситься один или несколько атомов Н.
Наряду с часто наблюдаемой миграцией водорода имеет место также перемещение органических групп, причем под таким «перемещением» понимаются в узком смысле слова как раз перегруппировки. Мигрирующими группами становятся те, которые показывают наименьшую склонность к фрагментации, например остатки метила или фенила.
12.2.3. Метастабилъные ионы
Масс-спектры, наряду с узкими пиками при целых массовых числах, нередко содержат и широкие пики, появляющиеся также при нецелочисленных значениях. Они обусловлены метастабильными ионами и поэтому в лаборатории часто именуются метастабильными пиками. Когда ион с массой m1 стабилен настолько, что спокойно выдерживает время пролета от своего образования до момента регистрации, то он и регистрируется как m1. Если же m1 не отличается стабильностью и еще до ускорения превращается в m2, то детектором регистрируется только m2. Особая ситуация создается, когда m1 фрагментирует в m2 в период между ускорением и регистрацией. Тогда такая частица не регистрируется ни как m1, ни как m2, а появляется метастабильный пик m*. Подобный распад отмечается звездочкой (*), а m2 называют дочерним ионом.
Метастабильные пики чрезвычайно важны для интерпретации спектра, поскольку они обеспечивают надежное отнесение разности массовых чисел. В практической работе очень полезно знать, что расстояние между m1 и m2 в спектре идентично интервалу между m2 и m*. Метастабильный пик является в большинстве случаев свидетельством одноступенчатого процесса распада, хотя в исключительных ситуациях возможно отщепление также двух и более нейтральных осколков.
Следует упомянуть еще о двухзарядных ионах. Поскольку в этом случае определяется отношение m/2e, то, очевидно, могут появиться полуцелые массы. Двухзарядные положительные ионы возникают обычно у ароматических углеводородов. Однако их интенсивность — по причине низкой вероятности образования — значительно слабее, чем у однозарядных ионов.
12.3. Образование ионов
Физический принцип масс-спектрометрии — разное отклонение заряженных частиц во внешнем магнитном поле — предполагает ионизацию молекул. Такая ионизация может осуществляться под действием потока электронов либо химическим путем. Помимо прочего, анализируемое вещество должно обладать определенной летучестью, чтобы быть ионизованным. Для масс-спектрометрического исследования труднолетучих соединений существуют специально разработанные приемы.
12.3.1. Ионизация электронным ударом
Получение положительных ионов посредством электронного удара (ионизация электронным ударом) есть классический способ получения заряженных частиц в масс-спектрометрии. Энергия электронов в пучке, необходимая для выбивания электрона из молекулы, называется потенциалом ионизации и составляет около 10 эВ. Поэтому ионы не образуются, если энергия электронов оказывается много ниже 10 эВ. Несколько миллиграммов пара пробы в системе высокого вакуума спектрометра переводится в ионизационную камеру. Здесь анализируемое вещество в газообразном состоянии бомбардируется исходящим от нити накала пучком ускоренных электронов, обладающих, как правило, энергией порядка 70 эВ. В результате электронной бомбардировки молекул газа происходит их ионизация посредством выбивания электрона с образованием положительного молекулярного иона.
|
Электроны π-связей и неподеленные пары электронов легче возбуждаются, чем σ-электроны. Так как почти все без исключения органические молекулы имеют четное число электронов, удаление неспаренного электрона дает ион-радикал с неспаренным электроном. Альтернатива данному процессу — захват электрона с образованием отрицательно заряженного ион-радикала — примерно в 102 раз менее вероятна. Массовое число М+ соответствует относительной молярной массе соединения.
Но так как энергия электронов составляет обычно 70 эВ, то вследствие дополнительной энергии в молекулярном ионе происходит разрыв связей с одновременным образованием положительно заряженных ионов-осколков. Такого рода процессы фрагментации сравнимы с химическими реакциями разложения и следуют определенным правилам. При знании соответствующих закономерностей можно на основе появившихся характеристических осколков судить о наличии специальных функциональных групп или, соответственно, структурных единиц.
Ионизация электронным ударом дает масс-спектр с огромным количеством фрагментов. При этом может так случиться, что в спектре не будет ни одного сигнала молекулярного иона, поскольку молекула при ионизации сразу же разваливается на осколки. А это означает отсутствие весьма важной информации о собственно молекулярном ионе и, следовательно, о молярной массе соединения. В связи с этим были разработаны более щадящие способы ионизации.
12.3.2. Химическая ионизация
Высокая степень фрагментациии при электронной бомбардировке при энергии электронов 70 эВ не поддается регулированию и особенно проявляется в случае нестабильных соединений. При анализе смесей веществ это приводит к значительным взаимным наложениям пиков от фрагментов отдельных молекул, что делает практически невозможным количественный анализ сложных многокомпонентных смесей. Поэтому все большее значение приобретают достаточно щадящие методы ионизации. Разработанная в 60-х годах химическая ионизация основана на ионно-молекулярных реакциях. В этом случае анализируемые молекулы ионизируются посредством переноса протонов ионов-реагентов. В качестве газообразного реагента используется чаще всего метан, который сначала ионизируется традиционным электронным ударом. В отличие от электронно-ударных масс-спектров, при этом обычно наблюдаются интенсивные М-Н+-ионы. Фрагментация здесь в значительной степени подавляется благодаря мягкой ионизации. Химическая ионизация стала одним из важнейших щадящих методов, получивших наибольшее признание в химико-аналитической практике.
Доминирующим процессом при этом считается присоединение протона к молекуле газа реагента; в случае метана протекают следующие реакции:
|
Благодаря такой дериватизации в газообразной фазе получают интенсивный сигнал молекулярного иона. В масс-спектрометрии на основе химической ионизации газ реагента вводится в ионный источник при относительно высоких давлениях около 1 мбар. В результате протонирования молекул вещества образуется карбениевый ион с молекулярным весом, увеличенным на единицу. Из-за сильных перекрестных реакций в газовых смесях при используемом давлении достаточно сложно получить количественную информацию. Данная методика с успехом используется в газовой хроматографии в целях точной идентификации. При условии предварительного разделения веществ достигается требуемая однозначность масс-спектров и, следовательно, высокая селективность, в том числе и в отношении комплексных смесей газов.
Путем выбора реакционного газа удается определенным образом регулировать степень фрагментации. При использовании газообразных реагентов разной основности можно из смеси ионизировать только определенные соединения, что значительно упрощает анализ многокомпонентных смесей. Помимо прочего, с такой методикой возможна отрицательная химическая ионизация, которая при ионизации электронным ударом практически не играет роли. При масс-спектрометрии с ионизацией на основе захвата электрона предпочтительно ионизируются молекулы с высокой электроотрицательностью. Эта техника нередко обнаруживает более высокую чувствительность, чем ионизация электронным ударом [12.2].
12.3.3. Масс-спектрометрия на основе ионно-молекулярных реакций
Этот способ может быть рекомендован, в частности, для проведения анализов сложных газовых смесей [12.3]. При этом тоже используется уже описанная выше химическая ионизация. Основное же различие состоит в том, что реакции между ионами реагента и молекулами пробы протекают при низких давлениях < 10-4 мбар. Применяют здесь в основном инертные газы ксенон или криптон, подвергаемые ионизации посредством электронного удара. Через систему линз ионы инертного газа попадают в реакционную камеру, куда по капиллярной трубке подается исследуемый газ. При этом ионы инертного газа вступают в определенную реакцию с анализируемым газом в условиях одиночных столкновений: в самом благоприятном случае происходит простой перенос заряда путем перехода одного электрона.
|
Но, наряду с этим, могут произойти и реакции депротонирования, которые позволяют осуществить однозначную идентификацию. Положительно заряженные ионы инертного газа имеют при этом низком давлении в реакционной камере достаточную внутреннюю энергию для переноса заряда молекулами пробы и малую кинетическую энергии. Решающими факторами для отдельных реакций являются постоянные отношения давления и температуры, а также определенная кинетическая энергия реакционных ионов.
Как ионы продукта, так и возбуждающие ионы экстрагируются из реакционной камеры и детектируются в масс-спектрометре. Благодаря умеренной фрагментации в газовых смесях достигается значительное упрощение масс-спектра, который при классической ионизации отличается значительными перекрытиями на отдельных пиках из-за сильной фрагментации.
В силу разных энергий рекомбинации у разных инертных газов становится возможной — путем выбора соответствующего инертного газа — селективная ионизация для масс-спектрометрии на основе ионно-молекулярных реакций. Так, ионизация СО2 происходит только при использовании криптона, а с ксеноном — нет. Но зато ксенон применим для ионизации углеводородов. В качестве реакционных ионов могут использоваться также различные смеси инертных газов. В принципе годится любой атом или молекула, обладающие известной характеристикой и не перекрываемые анализируемой пробой.
Способ масс-спектрометрии на основе ионно-молекулярных реакций применяют при проведении операций контроля технологических газов в режиме реального времени в рамках анализа выбросов электростанций или автомобильных выхлопов, а также при исследовании смесей газов в химической промышленности и изучении объектов окружающей среды. При анализе продуктов горения требуется, помимо определения СО и СО2, а также NO и NO, в присутствии кислорода и воды, еще и количественное определение различных углеводородов, как то: бензола, толуола, ксилола и других ароматических и алифатических соединений.
12.3.4. Времяпролетная масс-спектрометрия с лазерной десорбцией-ионизацией из матрицы
Пожалуй, самой сложной проблемой при определении молярных масс больших молекул является получение их и перевод их изолированных ионов в газовую фазу. Хилленкамп и Карр впервые решили эту задачу в 1987 г. на примере высокомолекулярного соединения — белка и никотиновой кислоты в качестве матрицы [12.4]. В предложенном методе смесь из матрицы, белка и растворителя облучается УФ-лазером с длиной волны около 300 нм, а ионизированные молекулы измеряются затем времяпролетным масс-спектрометром (TOF, time of flight spectrometer). Данный метод получил длинное название: Matrix Assisted Laser Desorption (and) Ionization Time of Flight spectrometry (MALDI-TOF) [12.5].
Как следует из приведенного названия, здесь используют матрицу и лазер, которые вместе обеспечивают ионизацию анализируемого вещества. На роль матрицы выбирают обычно небольшие органические молекулы, максимум поглощения у которых приходится на область используемой длины волны лазера. Матрица и анализируемый раствор перемешиваются, например, в соотношении 1000:1 и высушиваются. При бомбардировке коротким лазерным импульсом излучение поглощается матрицей. После передачи энергии молекулам пробы последние десорбируются из твердой фазы и ионизируются. Впрочем, механизм этого процесса до конца пока не ясен.
Коммерческие исполнения таких приборов предлагаются сегодня практически всеми изготовителями масс-спектрометров. При минимальном расходе пробы данный метод показывает замечательную точность, отличается простотой и быстротой определения молярной массы [12.6]. Он считается высокоэффективным способом идентификации белков путем измерения молярной массы отдельных специфичных фрагментов. Определять молярную массу удается с точностью до 0,005% [12.7]. Благодаря такой точности и высокому разрешению достигается идентификация модификаций даже небольших молекул [12.8].
12.3.5. Масс-спектральный анализ труднолетучих соединений
Как при электронно-ударной, так и при химической ионизации соединения перед ионизацией подвергаются испарению, то есть речь может идти исключительно о веществах с определенной летучестью. Однако большинство полярных, термически лабильных и высокомолекулярных соединений не поддаются испарению, не сопровождающемуся разложением. Поэтому был разработан целый ряд способов, при которых посредством подходящего первичного возбуждения осуществляется прямая десорбция кондиционных молекулярных ионов из твердой или жидкой фазы, причем нейтрального газообразного промежуточного состояния здесь не требуется.
После внедрения техники холодной полевой десорбции в 1969 г. даже с трудом испаряющиеся, сильно поляризованные соединения стали доступны для масс- спектрометрического анализа. При такой методике проба размешается на специальном устройстве для полевой десорбции — эмиттере. Речь идет о тонкой вольфрамовой нити диаметром 0,1 мм, на которой наращены тончайшие иголки в виде дендридов. Под действием высоких электрических полей порядка 107 до 109 Вм-1 ионы десорбируются и переходят в газовую фазу [12.9].
Позднее был предложен другой способ масс-спектрометрического анализа труднолетучих соединений — FAB (Fast Atom Bombardement) [ 12.10 J. В этом методе проба растворяется в жидкой матрице, например в глицерине, и переносится на металлическую пластинку. Затем вещество смеси бомбардируется быстрыми, высокоэнергетическими атомами аргона или ксенона либо также ионами цезия с кинетической энергией в несколько кэВ, в результате чего молекулы и ионы с поверхности переходят в газовую фазу. Данный метод быстро приобрел популярность, так как весьма удобен для работы с полярными, нелетучими соединениями в среднем диапазоне молярной массы примерно до 10 000 атомных единиц массы.
Бомбардировка быстрыми атомами считается очень «мягким» способом ионизации, при котором удается ионизовать молекулы, склонные к разложению при испарении. Недостатком же этой методики являются сильные фоновые шумы от матрицы. Из-за них менее интенсивные пики аналита иногда невозможно выделить из фона [12.11].
Плазменная десорбционная масс-спектрометрия тоже находит применение для анализа больших молекул. При этом проба, находящаяся на пленке из синтетического полимера с алюминиевым напылением, облучается высокоэнергетическими осколками деления радиоактивного 252Cf. Фрагменты расщепления калифорния налетают на пробу со скоростью, близкой к скорости электронов в твердых телах. В результате ионизированные молекулы пробы с высоким импульсом отрываются от поверхности [12.12].
От бомбардировки быстрыми атомами это способ отличается тем, что здесь возбуждение осуществляется посредством тяжелых и быстрых ионов. Благодаря локально очень короткому времени возбуждения молекулы претерпевают лишь незначительную фрагментацию. Поэтому плазменная десорбционная масс-спектрометрия особенно удобна для больших, неустойчивых соединений, представляя собой целесообразное дополнение к другим масс-спектрометрическим методам. Анализ по массам выполняется с помощью времяпролетного масс-спектрометра.
Лазеры используются в масс-спектрометрии уже свыше 30 лет. Материал пробы облучается импульсным лазером, при этом вещество испаряется и ионизируется в образовавшейся плазме [12.13]. Так как при лазерной десорбции возбуждаются только относительно небольшие молекулы, то матрицу, например никотиновой кислоты, используют для пробы, которой она разбавляется в сто, а то и в тысячу раз. При этом задачей матрицы является, во-первых, интенсивное поглощение самого лазерного излучения и, во-вторых, уменьшение межмолекулярных взаимодействий между анализируемыми молекулами. Этим достигается определение молярных масс высокомолекулярных, сложных, многокомпонентных соединений [ 12.14|. Еще один возможный вариант масс-спектрометрического анализа твердых веществ предлагается на основе тлеющего разряда [12.15].
12.3.6. Масс-спектрометрия отрицательных ионов
Как правило, молекулы посредством бомбардировки электронами достаточной энергии, обычно около 70 эВ, ионизируются, превращаясь в положительные молекулярные ионы и так называемые ионы-осколки. При такой энергии эффективные сечения ионизации обычно проходят через максимум. Образование отрицательных ионов путем захвата электрона осуществляется уже при значительно меньшей энергии. Но, по правилам квантовой механики, нейтральная молекула может захватывать только электроны определенной энергии, поскольку отрицательный ион обладает дискретной энергией. Для наблюдения масс-спектрометров отрицательных ионов требуется пучок электронов определенной энергии. Тогда получим анион в энергетическом состоянии с энергией, лишь слегка превышающей таковую соответствующей нейтральной молекулы.
Захваченный электрон спустя короткое время вновь готов к эмиссии. Анионы многих молекул при этом существуют столь недолго, что не способны пережить время пролета в масс-спектрометре. И только если электрон захватывается на несвязывающую молекулярную орбиталь, возможна фрагментация с образованием стабильных осколков, прежде чем начнется эмиссия электрона. По этой причине для отрицательных ионов характерен совершенно иной тип образования и фрагментации. Путем изменения полярности напряжений в масс-спектрометре отрицательно заряженные ионы могут разделяться и детектироваться таким же способом, как это имеет место в случае положительно заряженных ионов. Особенно подходят для этой цели галогенсодержащие соединения, обладающие высоким сечением захвата для медленных электронов [12.16].
12.4. Масс-спектрометры
Масс-спектрометр состоит из четырех основных узлов. Это:
Самый старый метод масс-спектрометрии — метод парабол Томпсона, использованный им для определения удельного заряда. В этом методе для разделения ионов используются параллельные электрическое и магнитное поля, действующие на ионы одновременно. Образовавшиеся в разрядной камере и затем ускоренные положительные ионы отклоняются обоими полями и становятся видимыми на фотопластинке или люминесцентном экране. Ионы с одинаковым удельным зарядом, но с разной скоростью попадают на пластинке в точки, лежащие на параболе, кривизна которой пропорционална отношению т/е, что позволяет определять массу при известном заряде. С помощью такого прибора Томсону удалось в 1910 г. обнаружить изотопы неона с массовым числом 20 и 22.
В качестве детектора для ионов используются в большинстве случаев вторично-электронные умножители (ВЭУ), а также фотоумножители. Известный недостаток ВЭУ, связанный с понижением чувствительности по мере увеличения массы, в современных приборах компенсируется послеускорением и применением согласующего динода.
Газообразные или легколетучие вещества могут вводиться через систему ввода образца прямо в вакуумную камеру масс-спектрометра. В случае веществ меньшей летучести ампулу с пробой подогревают на входе в спектрометр для создания требуемого давления пара. Для веществ, не обладающих достаточной термостабильностью и имеющих слишком низкое давление пара даже при повышенных температурах, пробу рекомендуется вводить через вакуумный шлюз непосредственно в ионизационную камеру. Вещество при этом нагревается благодаря близости к электронному пучку либо путем добавочного нагрева. Ведущее место среди систем ввода проб занимает газовый хроматограф.
Из представленных на современном рынке коммерческих исполнений масс- спектрометров можно выделить два принципиально различающихся типа приборов. Простые, легкие в обслуживании аналитические устройства (речь идет прежде всего о квадрупольных масс-спектрометрах). И устройства для научных целей и разного рода исследований — более дорогие высокоспециализированные электромагнитные масс-спектрометры, а также тандемные масс-спектрометрические приборы. При работе с большими массами эти приборы легко позволяют обнаружить отклонения их масс от целочисленности.
12.4.1. Квадрупольный масс-спектрометр
В квадрупольном масс-спектрометре разделение масс достигается иначе, чем в магнитном приборе. Ионы образуются в результате электронного удара либо путем химической ионизации и разделяются в системе, состоящей из четырех немагнитных стержней, представляющих собой собственно масс-фильтр (рис. 12.3).
Между этими четырьмя стержнями создается электрическое переменное поле высокой частоты с наложенным постоянным полем. Когда ионы поступают в это поле, они вступают с ним во взаимодействие и совершают колебательное движение, амплитуда которого возрастает по мере уменьшения массы, так что легкие ионы покидают область масс-фильтра и не попадают в зону детектора. Тяжелые же ионы, удерживаемые полем высокой частоты, под действием постоянного выталкивающего поля, направленного перпендикулярно стержням, выталкиваются из области разделения. Только ионы с определенным отношением т/е движутся по устойчивым траекториям и достигают детектора. Таким образом, в результате изменения электрического поля обеспечивается разделение и детектирование ионов разных масс. Принципиальная схема квадрупольного масс-спектрометра представлена на рис. 12.4.
Квадрупольные масс-спектрометры позволяют, по сравнению с магнитными приборами, проводить более быстрые изменения масс-спектров. Возможна регистрация спектров за десятые доли секунды, а также быстрое переключение на определенные массы. Кроме прочего, такие устройства много дешевле секторных магнитных и нередко используются в качестве масс-селективных детекторов в колоночной хроматографии. Магнитные приборы не столь популярны из-за большой длительности сканирования магнитного поля. Им требуются напряжения ускорения в кВ-диапазоне, в то время как квадрупольному масс-спектрометру вполне достаточно напряжения на уровне всего 20 В. Благодаря этому возможны более высокие давления в источнике ионов и, значит, допустимы способы химической ионизации.
Если при используемых ранее разделительных колонках в газовой хроматографии приходилось мириться с установкой дорогостоящих сепараторов между газовым хроматографом и масс-спектрометром в целях частичного удаления газа-носителя, то прямое сопряжение с быстрой капиллярной газовой хроматографией таких проблем не вызывает. Сочетание газовой хроматографии с масс-спектрометрией стало сегодня вполне обычным делом.
Гораздо сложнее ситуация при сопряжении с жидкостной хроматографией. Здесь трудности связаны прежде всего с большим объемным расходом мобильной фазы. Поэтому соединение в режиме он-лайн возможно лишь при условии удаления растворителя перед вводом пробы в масс-спектрометр или при работе с низкой скоростью течения. Для этой цели применяют три разных метода:
При малых потоках отдают предпочтение способу DLI, когда с помощью струйных сепараторов вещество, насколько это возможно, сначала освобождается от разбавителя и ионизуется посредством классической ионизации электронным ударом.
Более всего распространен способ TSP, при котором вещество вместе с элюатом попадает в ионный источник по нагретой капиллярной трубке. Перегретый элюат выходит из капилляра в виде струи пара и капель аэрозоля, которые затем в результате быстрого перехода в вакуумную камеру ускоряются почти до звуковой скорости (рис. 12.5). При этом капли теряют молекулы растворителя. Если растворитель содержит соль, например ацетат аммония, то ионизация достигается даже при отключенном электронном пучке, причем вещество Μ ионизируется превращаясь в М-Н+ или M-NH+4. Этот метод находит применение также в качестве самостоятельного способа ионизации, то есть без сочетания с высокоэффективной жидкостной хроматографией.
При способе Μ В элюат из колонки непрерывно капает на бесконечно движущуюся ленту. Из тонкой пленки жидкости в нагретой испарительной камере сначала испаряется растворитель — до того, как лента, минуя шлюз, попадет в вакуумную камеру, где оставшиеся вещества ионизируются посредством электронного удара либо методом химической ионизации.
Недостатком квадрупольных масс-спектрометров является почти в 10 раз меньшая чувствительность обнаружения по сравнению с секторными магнитными масс-спектрометрами, что означает ограничение в следовой аналитике. Эти приборы достигают разрешения по массам до 4000. Получить данные высокого разрешения для определения элементарного состава с помощью квадрупольных масс-спектрометров невозможно.
12.4.2. Магнитный масс-спектрометр
Применение масс-спектрометра с высокой разрешающей способностью позволяет определять элементный состав веществ. Это достигается на основе точного измерения масс, поскольку атомный вес отдельных нуклидов в совсем незначительной, но все же различимой степени отличается от целочисленных значений (см. табл. 12.1).
Атомный вес |
Молекулярный вес |
||
|---|---|---|---|
Н |
1,0079 |
СО |
28,0004 |
С |
12,0110 |
N2 |
28,0134 |
N |
14,0067 |
H2CN |
28,0335 |
О |
5,9994 |
С24, |
28,0556 |
Огромное преимущество масс-спектрометрии высокого разрешения состоит, таким образом, из дополнительной информации касательно элементарного состава иона, полученной на основе точного определения массы, что, в свою очередь, позволяет сделать заключение о его строении. Магнитные секторные поля по-прежнему относятся к важнейшим масс-анализаторам, способным различать в масс-спектрах тысячи осколков. Используемые в прежние времена приборы преимущественно с однократной фокусировкой были повсеместно заменены устройствами с двойной фокусировкой: такой эффект достигается в результате сочетания магнитных и электрических секторных полей.
Ионизированные электронным ударом молекулы ускоряются сильным электрическим полем с напряжением 8 кВ и на высокой скорости попадают в пространство анализатора масс-спектрометра. Как правило, ионы покидают ионизационную камеру с разными энергиями, что объясняется их различиями в кинетической энергии перед ускорением. Ионы равной энергии могут быть получены с помощью электростатического анализатора.
При этом ионы проходят сначала через электростатическое поле, обеспечивающее фокусировку прежде, чем произойдет их отклонение в магнитном поле. Тогда для заданной величины т/е ионы равной энергии будут фокусироваться с очень высокой точностью. С помощью устройств с секторным полем можно проследить распад метастабильных ионов, то есть их фрагментацию в свободном от поля пространстве анализатора, что успешно используют при определении строения неизвестных соединений.
Поскольку термокатоду ионного источника необходима минимальная температура от 70 до 150°С, то при прямом вводе некоторых веществ весьма желательно понижение давления их пара. Это достигается путем охлаждения зонда либо поглощения вещества активированным углем обладающим спектральной чистотой. При прямом вводе уже возможна регистрация спектра при количестве вещества от I до 20 мкг.
12.4.3. Времяпролетные масс-спектрометры
Масс-спектрометры такого типа, которые в англоязычной литературе называют Time-of-flight-spectrometer (TOF), приобретают все большее значение в химико-аналитической практике. В принципе они способны перекрыть абсолютно неограниченную область массовых чисел. Измеряя время пролета ионов, можно обнаружить все элементы периодической системы, более или менее крупные молекулы и ионные комплексы при разрешении Μ/ΔΜ = 2000. Кроме того, эти спектрометры демонстрируют оптимальное пропускание, и примерно 10% образовавшихся ионов достигают детектора с высоким массовым разрешением и равномерной характеристикой пропускания.
Принцип действия такого масс-спектрометра основан на том, что все образовавшиеся ионы приобретают в электрическом поле одинаковую энергию и затем проходят через не имеющий поля дрейфовый участок — с разной скоростью в соответствии со своей массой (рис. 12.6).
Это обусловливает разное зависящее от массы время пролета в пролетной трубе масс-спектрометра. Пролетев определенный отрезок траектории, ионы ударяются о детектор. Измеренное время пролета до детектора является не зависимым от структуры физическим параметром, служащим для определения массы. Калибровка осуществляется на основе установленных стандартов молекулярной массы. Разрешение по массам, как и точность определения масс, возрастают при вводе в дрейфовый участок рефлектрона. Под рефлектроном понимается ионное зеркало, вызывающее фокусировку энергии и компенсирующее таким образом возможный разброс по энергиям ионов, связанный с процессом ионизации.
12.4.4. Сдвоенный (тандемный) масс-спектрометр
Идея тандемной масс-спектрометрии заключается в том, что селективность, которая наряду с чувствительностью необходима для определения следовых компонентов в комплексных смесях, заметно улучшается за счет объединения в единый блок сразу двух масс-спектрометров. Тогда в большинстве случаев можно отказаться от предварительного разделения веществ с помощью газовой либо высокоэффективной жидкостной хроматографии. В сочетании со специальной системой ввода твердых проб могут исследоваться и нерастворимые образцы, благодаря чему существенно расширяется область применения масс-спектрометрии [12.17].
В технике сдвоенной масс-спектрометрии последовательно соединяются два масс-спектрометра, в первом из которых осуществляется разделение смеси на молекулярные ионы, которые затем попадают во второй спектрометр, где диссоциируют в результате активизации столкновениями с нейтральным газом. Возникшие при столкновении продукты распада разделяются и анализируются во втором спектрометре. Благодаря повышению селективности удается идентифицировать и количественно оценивать вещества даже в случае проб, сильно отягощенных матрицей [12.18].
Смесь компонентов попадает в ионный источник первого масс-спектрометра и ионизируется там методом химической либо электронно-ударной ионизации. При соответствующей настройке первой масс-разделяющей квадрупольной системы из образовавшейся ионной смеси отфильтровываются элементно-специфичные ионы и направляются через систему линз в столкновительную камеру. Здесь ионы, пропущенные первым масс-спектрометром, колебательно возбуждаются и диссоциируют в результате активизации столкновений с нейтральным газом — как правило, аргоном. Эти продукты инициированного столкновением распада разделяются и анализируются во втором спектрометре (рис. 12.7).
Полученный CID-спектр (collision induced dissociation) является столь же характеристическим для строения попавших в столкновительную камеру ионов, как и нормальный масс-спектр для нейтрального соединения. При подобной работе в тандеме возможны разные подходы к регистрации масс-спектров, в том числе с управлением из одного пункта сбора и обработки данных. В так называемой тройной (triple-stage) квадрупольной масс-спектрометрии используют три последовательно соединенных квадрупольных прибора, в первом из которых из смеси ионов, поступающей из ионного источника, отфильтровывается одна масса, во втором инициируется столкновение, а в третьем регистрируется так называемый дочерний спектр (daughter scan).
Первый квадруполь сканирует исходный, «материнский», спектр (parent scan) в определенной области массовых чисел, причем ионы разных масс последовательно попадают в столкновительную камеру и подвергаются там фрагментации. Третий квадруполь устанавливается на некую постоянную массу, специфичную для определенного класса веществ. Следовательно, упомянутый исходный спектр дает информацию о наличии искомого вещества в многокомпонентной смеси.
Еще один возможный вариант настройки действует по принципу «neutral loss sean», когда два квадруполя, первый и последний, настроены на постоянную разность масс. При этом через всю систему проходят лишь те ионы, которые в процессе столкновения теряют нейтральные частицы установленной разности масс.
12.5. Резюме и перспективы развития масс-спектрометрии
Масс-спектрометрия служит как для изучения строения незнакомых соединений, так и для идентификации известных веществ в сложных многокомпонентных смесях. Это может осуществляться после хроматографического разделения он-лайн, для чего используются компактные и быстродействующие квадрупольные приборы. При все возрастающей эффективности этих небольших масс-селективных детекторов не только понижается их стоимость, но и уменьшаются габариты, так что хроматограф уже не выглядит на общем фоне масс-спектрометра неким чужеродным телом.
С другой стороны, востребованными остаются магнитные масс-спектрометры, а также устройства, действующие по принципу определения масс частиц по времени пролета. Благодаря высокому разрешению этих приборов удается точно определять элементарный состав соединений, что делает масс-спектрометрию признанным методом абсолютного измерения молекулярных масс.
Приборостроители предлагают сегодня широкий выбор магнитных и квадрупольных спектрометров самого разного назначения. Учитывая бурное развитие все новых способов ионизации, можно предполагать, что метод масс-спектрометрии еще долго не исчерпает себя. Atmospheric Pressure Chemical Ionization (APCI), Electrospray Ionization (ESI) и Matrix Assisted Laser Desorption Ionization (MALDI) — вот последние из наиболее эффективных приемов ионизации. В случае APCI этап ионизации протекает при нормальном давлении, в результате коронного разряда в плазме генерируется газ, а образовавшиеся ионы попадают в высокий вакуум спектрометра. Этот метод представляет особый интерес с учетом возможности его сочетания с высокоэффективной жидкостной хроматографией, причем с помощью масс-спектрометрии может идентифицироваться колоночный элюат. Из-за простоты и удобства обращения не исключено, что APCI в скором времени полностью вытеснит некогда популярный способ на основе термораспыления (thermospray).
При методе электрораспыления (electrospray) путем подачи высокого напряжения в кВ-диапазоне получают аэрозоль, состоящий из высокозаряженных капель и способствующий образованию многозарядных частиц. Этим методом, широко используемым преимущественно для анализа белков, можно определять молекулярные массы до массового числа 100 000. Для анализа проб минимального объема в фемтомоль-диапазоне рекомендуется пользоваться методом MALDI в сочетании с времяпролетной масс-спектрометрией.
Все большую популярность приобретают также сдвоенные спектральные приборы, поскольку они позволяют перенести процесс пробоподготовки непосредственно в само устройство. Подобная тандемная техника дает существенное улучшение селективности и, следовательно, позволяет понизить предел обнаружения следовых компонентов в сложных матрицах. Это означает, что при работе со смесями веществ иногда можно отказаться от предварительного разделения с помощью хроматографических способов (газовой либо высокоэффективной жидкостной хроматографии), что делает реализацию таких методов более дешевой при одновременном повышении пропускной способности системы.
Особенно высокие требования предъявляются к изотопным масс-спектрометрам. Здесь приходится с достаточной воспроизводимостью определять чрезвычайно малые различия в относительной распространенности изотопов. Такие приборы находят применение не только в области ядерных исследований. С помощью анализа частоты нахождения, или концентрации, изотопов можно определять, например, возраст горных пород — по соотношению содержания разных Pb-изотопов, 207РЬ и 206РЬ, из радиоактивного ряда урана. В аналитике пищевых продуктов на основе соотношения различных С-изотопов, |3С и |2С, можно сделать вывод о происхождении продукции, так как при фотосинтезе разных растений эти изотопы ведут себя по-разному.
ГЛАВА 13. СПЕКТРОСКОПИЯ ЯДЕРНОГО МАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА
Хотя явление ядерного магнитного резонанса (ЯМР), или Nuclear Magnetic Resonance (NMR), было открыто независимо друг от друга Ф. Блохом 113.11 из Стэнфордского университета и Э.М. Парселлом из Гарвардского университета только в 1946 г., ученые очень быстро поняли необыкновенную ценность нового метода для аналитической химии, что подтвердилось уже в 1952 г., когда оба физика получили Нобелевскую премию за сделанное открытие. Результаты, которые в те времена связывали с открытым явлением, еще за 10 лет до этого предсказанным К. Гортером, превзошли все ожидания [13.2].
С помощью ЯМР-спектроскопии при определенных условиях можно регистрировать взаимодействие между атомными ядрами через электромагнитное излучение от них, возникающее в сильном однородном магнитном поле. При этом наблюдаются переходы между разными энергетическими состояниями определенных атомных ядер, которые у свободных молекул вырождены, и только во внешнем однородном магнитном поле происходит расщепление пропорционально напряженности поля. Так как приложенное к ядру атома магнитное поле может быть усилено либо ослаблено под влиянием индуцированных магнитных вторичных полей электронов, то протоны последовательно вступают в резонансное взаимодействие с разным электронным окружением, если приложенное поле непрерывно изменять при постоянной радиочастоте.
Спектроскопия ЯМР развивалась как один из самых эффективных и многосторонних методов определения строения химических соединений. Прежде всего, это проявилось в области органической химии, где удалось использовать метод для определения структуры молекул, чего не удавалось достичь ни одним из известных физических способов. На основе двух параметров:
можно с очень высокой точностью определять химическое окружение отдельных атомов в молекуле. В органической химии нашла широкое применение именно спектроскопия протонного магнитного резонанса (ПМР), так как углерод и кислород как важные структурные элементы органических соединений не оказывают мешающего влияния на магнитные свойства ядер водорода. Спектроскопия ЯМР стала сегодня эффективным инструментом структурного анализа в растворах. Для достижения высокого спектрального разрешения используются спектрометры с магнитными полями все большей напряженности. Электромагниты со сверхпроводящими катушками определяют сегодня уровень техники ЯМР.
С точки зрения чувствительности ЯМР-спектроскопия несколько уступает другим спектроскопическим методам, что объясняется очень малой разницей энергий между параллельной (по полю) и антипараллельной (против поля) ориентацией спинов ядер в магнитном поле, что приводит к чрезвычайно низкой разности заселенностей, определяющей чувствительность. Необходимая для повышения чувствительности высокая концентрация вещества и порой недостаточная растворимость проб были на начальном этапе развития ЯМР-спектроскопии факторами, ограничивающими применение данной методики для ряда исследований.
История спектроскопии магнитного резонанса отмечена впечатляющими успехами в области совершенствования измерительной техники, которые в силу значения этого физического метода для химических исследований становились источником получения новой информации. Так, химический сдвиг создал своеобразный плацдарм для использования ЯМР-спектроскопии в химической промышленности. Этому способствовали также новые знания о спин-спиновом взаимодействии и приобретенный опыт динамической магнитно-резонансной спектроскопии. Вообще, ЯМР-спектроскопия получила самое бурное развитие по сравнению с прочими спектральными методами.
Первый высокоэффективный коммерческий Я Μ Р-спектрометр от фирмы Varían появился на рынке в 1960 г. В середине 60-х годов с целью повышения чувствительности были предложены устройства для усреднения спектров. На протяжении одного или нескольких дней спектры суммируются, давая постепенное улучшение отношения сигнал/шум пропорционально корню квадратному из числа измерений. Развитие метода Фурье-преобразования открыло новые, до сих пор невиданные возможности. При этой импульсной методике спектр получается как результат Фурье-преобразования сигнала от ядер. Первоначально используемые измерительные устройства с разверткой магнитного поля в Я Μ Р-спектроскопии сейчас почти полностью заменены Фурье-приборами. Приборная техника благодаря этому стала развиваться курсом, параллельным ИК-спектроскопии.
Одной из последних инноваций стала разработка в начале 80-х годов принципа двухмерного ЯМР для изучения строения химических соединений. На тот же период пришлось существенное усовершенствование технологии криомагнитов, благодаря чему магнитно-резонансные приборы сильного поля являются сегодня стандартным оборудованием химико-аналитических лабораторий. С их помощью успешно исследуются более крупные и более сложные молекулы на предмет их структуры, динамики и реакционной способности. Создание приборов на уровне 750 МГц позволило осуществлять изучение биологических макромолекул, причем на ферментно-субстратных комплексах прослеживать существующие специфичные взаимодействия. В случае исследования биологических образцов данный метод имеет то преимущество, что он не является ни инвазивным, ни деструкционным.
В прежние времена регистрация спектра состояла, как правило, в стандартном эксперименте возбуждения спина и записи сигнала. Сегодня в распоряжении имеется целая серия отдельных экспериментов разного назначения. Спектрометры нового поколения отличаются эффективными импульсными программами, в частности компьютеризованными многоимпульсными методиками. Информативность здесь значительно выше, причем затраты времени на измерение едва ли превышают таковые при традиционных ЯМР-экспериментах. Благодаря большой вариантности многоимпульсной техники с комплексными последовательностями импульсов спектроскопия на магнитных ядрах занимает особое положение среди прочих спектроскопических методов.
С помощью метода вращения образца под магическим углом по отношению к магнитному полю (Magic-angle-spinning) можно исследовать даже твердые тела. ЯМР позволяет проводить изучение биохимических процессов in vivo, равно как физиологических и медицинских процессов разного рода. Посредством ядерно- спиновой томографии был получен совершенно новый способ формирования изображений для медицинской диагностики. В отличие от рентгенографии, здесь отсутствует ионизирующее излучение. Используемые радиочастоты обладают в 105 раз меньшей энергией, чем химические соединения исследуемых молекул, то есть требуемое для этой цели количество энергии приводит к меньшему нагреву ткани.
Так как почти все элементы периодической системы имеют стабильный изотоп с магнитным (дипольным) моментом, здесь открываются широкие возможности, даже если природное содержание этих нуклидов зачастую не так велико. В настоящее время все чаще исследуются также ядра с очень малой естественной распространенностью, среди которых 33S, |7О, l5N и 2Н. С ростом объема коммерческих предложений ЯМР-спектрометров с двумя или более гетероядерными каналами возрастает роль изучения таких ядер. Количественная дейтериевая спектроскопия на магнитных ядрах успешно применяется в пищевой промышленности и при решении разного рода биологических проблем; 31Р-ЯМР-спектроскопию все чаще используют при диагностических исследованиях, например для количественного определения фосфорсодержащих метаболитов в крови человека [13.3].
ЯМР-спектроскопия служит для изучения механизмов реакций и кинетических измерений. Форма линии ЯМР-сигналов у многих молекул зависит от динамических процессов, в которых они принимают участие, что позволяет изучать кинетику быстрых, обратимых реакций, не поддающихся исследованию классическими кинетическими методами.
Однако подобный взлет ЯМР-спектроскопии имеет свою цену: приборы среднего класса стоят порядка 300 000 нем. марок, а цена приборов высокого разрешения достигает, в зависимости от оснащения, нескольких миллионов немецких марок. По сравнению с другими спектроскопическими методами ЯМР-спектроскопия представляется довольно дорогим удовольствием, а интерпретация спектров — гораздо более сложной. Не в последнюю очередь по этим причинам спектроскопия ЯМР не заняла пока достойного места среди стандартных методик химико-аналитической лаборатории. В большинстве случаев эта техника служит лишь целям решения одной аналитической проблемы, а именно идентификации молекулы на основе расшифровки спектра, после чего обычно переходят к более дешевым способам [13.4].
13.1. Теоретические основы ЯМР-спектроскопии
Еще при рассмотрении эффекта Зеемана пояснялось, что энергия электронов, представленная через внутреннее квантовое число J, может принимать во внешнем магнитном поле разные значения. То же касается и ядер атомов, состоящих из протонов и нейтронов, которые, подобно электронам, имеют орбитальный момент количества движения и спиновой момент количества движения, или просто спин. Как и момент вращения электронов, момент количества движения ядра I связан с магнитным моментом μ:
|
где γ — гиромагнитное отношение, I — полный момент количества движения ядра.
Гиромагнитное отношение уесть константа вещества и, следовательно, магнитный момент μ ядра атома изотопноспецифичен. Результирующий спин ядер складывается из спинов протонов и нейтронов, он может принимать целочисленные либо полуцелые значения от 0 до 7. Все ядра с четным числом протонов и четным числом нейтронов, так называемые четно-четные ядра, имеют спин I = О и поэтому не годятся для ядерного магнитного резонанса. К этой группе относится около 60% всех стабильных ядер атомов. Лишь те ядра, у которых либо протоны, либо нейтроны, либо оба этих структурных элемента ядра являются нечетными, обладают магнитными моментами. Ядра атомов с нечетным количеством протонов и нейтронов, так называемые нечетно-нечетные ядра, имеют, как и четночетные ядра, четное массовое число и целочисленные спины. Полуцелые же спины ядер имеют место у четно-нечетных и нечетно-четных ядер, обладающих нечетным массовым числом. Все эти ядра способны к ядерному магнитному резонансному поглощению (см. табл. 13.1).
У свободных молекул эти энергетические состояния вырождены, но в однородном внешнем магнитном поле происходит расщепление пропорционально напряженности магнитного поля. При этом полный момент количества движения совершенно определенным образом ориентируется относительно направления поля.
| Ядро | Природная распространенность, % | Число протонов | Число нейтронов | Спин I | Гиромагнитное отношение, 108с-1Т-1 | Резонансная частота при 9,39 Т | Относительная чувствительность |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
1н |
99,985 |
1 |
0 |
1/2 |
5,585 |
400,000 |
1 |
2Н |
0,015 |
2 |
1 |
1 |
0,857 |
6,402 |
1,45·10-6 |
11В |
80,000 |
5 |
6 |
3/2 |
1,7923 |
128,330 |
0,165 |
12С |
98,890 |
6 |
7 |
0 |
0,000 |
- |
- |
13C |
1,110 |
6 |
7 |
1/2 |
1,404 |
100,577 |
1,76·10^ |
14Ν |
99,630 |
7 |
7 |
1/2 |
0,404 |
28,894 |
1,01·10-5 |
17О |
0,037 |
8 |
9 |
5/2 |
0,757 |
54,227 |
1,08·10-6 |
19F |
100,00 |
9 |
10 |
1/2 |
5,255 |
376,116 |
0,833 |
31Р |
100,00 |
5 |
16 |
1/2 |
2,261 |
161,841 |
6,66·10-2 |
33S |
0,760 |
16 |
17 |
3/2 |
0,429 |
30,678 |
1,72·10-5 |
Ядро с ядерно-спиновым квантовым числом I может принимать в целом 2I + 1 разных ориентаций относительно направления статического магнитного поля индукции В0. Магнитные моменты ядер с I = 1/2 могут в соответствии с этим принимать две ориентации в магнитном поле (они ведут себя как небольшие стержневые магниты) — низкоэнергетическую ориентацию, когда направление поля совпадает с таковым у стержневых магнитов, и высокоэнергетическую ориентацию, когда оба эти направления поля антипараллельны.
Чтобы поместить ядро на более высокий энергетический уровень, надо передать ему необходимое количество энергии ΔΕ, что достигается путем поглощения подходящего кванта энергии hν электромагнитного излучения.
|
Это уравнение показывает, что ΔΕ и, следовательно, резонансная частота ν пропорциональны индукции В0 выбранного стационарного магнитного поля (рис. 13.1).
Поэтому резонансная частота в ЯМР-спектроскопии не является характеристической величиной, как, например, частота поглощения в оптической спектроскопии. В коммерческихЯМР-спектрометрах энергия посылается УКВ-передатчиком, и при магнитном поле, например 1,4 Тесла, подходящая частота для ядер атомов водорода составляет около 60 МГц. Если выполнено условие ΔΕ = hν, то поглощается определенный квант энергии, и в соответствующем приемном устройстве измеряются потери энергии, которые могут регистрироваться самописцем в виде сигнала.
Феномен ядерного магнитного резонанса поддается наблюдению, поскольку определенные ядра атомов ведут себя как крошечные стержневые магниты (рис. 13.2). Каждый элемент, или, точнее, любой из разных изотопов элемента с одним спином ядра, имеет при установленном магнитном поле определенную резонансную частоту. Важнейшими среди этих ядер являются 1Ή, 13С, l9F и 31Р, и все они обладают спином 1/2. Некоторые другие ядра имеют спин 0 и поэтому не подают сигнала ядерного резонанса: к таковым относятся 12С и 16О. Но магнитные моменты ядер примерно в 103 раз меньше спиновых и орбитальных моментов электронов, так что вызванная моментами ядра макроскопическая намагниченность, как правило, классическими методами не обнаруживается.
В магнитном поле при этом частично прекращается термическое разупорядочение магнитных диполей ядра, имеющее место за пределами магнитного поля. Сумма векторов всех ядерных диполей будет составлять тогда уже не ноль, а некую конечную величину, обозначаемую как макроскопическая намагниченность. В термодинамическом равновесии эта намагниченность находится в состоянии низшей энергии параллельно внешнему магнитному полю и ведет себя в магнитном поле подобно гироскопу с моментом количества движения в гравитационном поле Земли. После отклонения оси гироскопа от направления поля притяжения она начинает прецессировать вокруг направления этого поля с гироскопической частотой.
Итак, в однородном магнитном поле оси моментов атомного ядра выполняют прецессионное движение вокруг направления поля (рис. 13.3). В термическом равновесии, согласно распределению Больцмана, больше элементарных магнитов прецессирует «параллельно», то есть с углом ориентации δ < 90°, чем «антипараллельно», то есть с углом ориентации δ > 90. Частоту прецессии называют ларморовой частотой, и она совпадает с соответствующей частотой поглощения.
Таким образом, процесс поглощения при ЯМР-спектроскопии именуют магнитным резонансом, поскольку вращение стержневых магнитов осуществляется при частоте, равной ларморовой частоте.
Обратный процесс отдачи магнитной энергии в форме тепловой энергии именуют релаксацией. При этом спонтанного испускания радиоизлучения не наблюдается, то есть при возврате в энергетически более слабое состояние излучения соответствующей радиочастоты не происходит. Более того, магнитная энергия ядер отдается окружающей среде и в конечном счете преобразуется в тепловую энергию. Процесс релаксации протекает за несколько секунд. Понятие релаксации пришло из английского языка и означает «успокоение или расслабление». Под этим термином понимаются все процессы, благодаря которым из возмущенного состояния осуществляется возврат в прежнее, нормальное, состояние.
В органических молекулах протоны имеют — в зависимости от их положения в молекуле — разные резонансные частоты. Это явление известно под названием «химический сдвиг». Независимо от этого, при высоком разрешении прибора в большинстве случаев имеет место тонкая структура резонансных сигналов, а именно во всех тех ситуациях, когда в окружении ядра находятся другие ядра с конечным моментом количества движения. Итак, ядерный резонансный спектр дает отображение химического, то есть электронного, окружения ядра, и путем измерения резонансной частоты можно определять его положение в молекуле. Спектроскопия по методу ЯМР несколько усложняется, когда в одной и той же молекуле находится множество протонов, имеющих разные резонансные частоты. Расшифровка ЯМР-спектров позволяет анализировать молекулярное строение неизвестных веществ.
13.2. Химический сдвиг
Химический сдвиг вызывается в первую очередь электронами соответствующей связи. Внешнее магнитное поле B0 индуцирует в электронном облаке определенные циркуляции и, следовательно, магнитный момент μ, который, согласно правилу Ленца, имеет направление, противоположное внешнему полю.
|
где σ есть так называемая константа экранирования, σB0 — вторичное поле, индуцированное ядром атома. Это означает, что для достижения условия резонанса требуется внешнее магнитное поле большей напряженности. Химический сдвиг действует в направлении наружу так, как будто на внешнее поле накладывается внутреннее поле, вызванное окружением протона. Преимущественно электроны связи из окружения ядра в ослабляют внешнее поле. Чем больше концентрация электронов вблизи протона, тем сильнее экранирование и, значит, тем больше напряженность полей, при которой наблюдается явление резонанса.
Абсолютное определение химического сдвига представляется достаточно сложным, поэтому прибегают к относительным измерениям с помощью стандартного вещества. За международный стандарт принято положение резонансного сигнала тетраметилсилана (CH3)4Si (ТМС). Вводимый в раствор исследуемого вещества эталон должен обладать низкой реакционной способностью, хорошей растворимостью и давать один четкий сигнал в спектре. Соединение ТМС при наличии 12 химически эквивалентных протонов имеет в ЯМР-спектре только одну четкую линию, положение которой произвольно определяется как нулевая точка шкалы. Тетраметилсилан в качестве стандартного вещества, или эталона, выбирается также с учетом того, что он не вызывает межмолекулярных взаимодействий. Здесь следует упомянуть еще и то обстоятельство, что протоны большинства органических соединений вступают в резонансное взаимодействие при наличии поля меньшей напряженности, чем протоны тетраметилсилана.
Для получения сравнительной характеристики Я Μ Р-спектров в спектрометрах с 60 или 100 МГц требуется шкала, не зависимая от частоты, а значит, и от магнитного поля. С учетом этих факторов для химического сдвига (chemical shift) принимается параметр δ:
|
Химический сдвиг указывается в единицах ppm, или в миллионных долях (м. д.). Ядра с одинаковым магнитным экранированием и, следовательно, с одинаковым положением сигнала считаются химически эквивалентными. Ранее для измерения химических сдвигов применялась шкала τ, где τ = 10 — δ, то есть положение резонансного сигнала от протонов тетраметилсилана принято за 10. В этой шкале увеличение значений химических сдвигов происходит одновременно с усилением поля.
Так как химические сдвиги зависят от постоянных экранирования, а те, в свою очередь, зависят от распределения электронов и их геометрии в молекуле, то по положению сигналов можно судить о структуре исследуемых молекул. Сделать это достаточно просто, воспользовавшись хотя бы составленными на основе опытных данных таблицами сдвигов. В пределах указанного относительно широкого диапазона положение сигналов приведенных групп варьируется в зависимости от вида и строения остаточной части молекулы. Возникающие при этом закономерности проявляются при рассмотрении влияний экранирования.
|
Положение сигналов протонного резонанса в 1H-ЯМР-спектре определяется различными факторами. Во-первых, образующие С-Н-связи σ-электроны обладают магнитным моментом, направленным против прилагаемого магнитного поля В0, что приводит к ослаблению внешнего магнитного поля непосредственно в месте нахождения протона, — это и есть экранирование. Во-вторых, индуцированное вторичное магнитное поле π-электронов алкенов, алкинов и ароматических углеводородов может в результате своего «расплывания» в пространстве ослаблять либо усиливать внешнее магнитное поле в месте нахождения протона (анизотропный эффект). Способ влияния таких вторичных полей на протон, то есть экранирование и деэкранирование, зависит от его пространственного положения. В табл. 13.2 даны примеры химических сдвигов ряда органических групп.
Индуктивные эффекты, межмолекулярные взаимодействия посредством сил Ван-дер-Ваальса, водородные мостики или иные влияющие факторы изменяют концентрацию электронов, а вместе с нею и напряженность индуцированных вторичных полей в определенных точках молекулы, что можно распознать по сдвигам резонансных сигналов в ЯМР-спектре. Следует различать парамагнитные сдвиги резонансных сигналов — в сторону поля меньшей напряженности, значит, меньших значений δ и, соответственно, больших значений σ, и диамагнитные сдвиги — в сторону поля большей напряженности, значит, больших значений τ и, соответственно, меньших значений σ. Парамагнитные сдвиги возникают по причине ослабления экранирования протонов вторичными полями электронов, а диамагнитные сдвиги, напротив, объясняются усиленным экранированием.
Экранирование рассматриваемого ядра складывается из следующих трех компонентов.
-
Диамагнитная часть создается токами электронов вокруг самого ядра. Эта часть увеличивается по мере роста концентрации электронов у ядра и приводит к сдвигу сигнала к меньшим значениям δ.
-
Парамагнитная часть активизируется при снижении подвижности электронов вокруг ядра и приводит к более высоким значениям δ. При возрастании электронной отрицательности соседних групп в результате оттягивания электронов от рассматриваемого ядра понижается его диамагнитное экранирование. Но одновременно увеличивается парамагнитное экранирование на ядре. Под действием этих двух факторов его сигнал сдвигается в спектре в сторону более высоких значений δ.
-
Третья составляющая экранирования носит анизотропный характер и приводит — в зависимости от относительного расположения молекул между экранирующей группой и рассматриваемым ядром — к сдвигу его резонансного сигнала в сторону больших или меньших значений δ. Эта часть экранирования воздействует на рассматриваемое ядро через потоки электронов в более крупных группах, чаще всего с ^-электронами из окружения молекулы.
13.3. Спин-спиновое взаимодействие
При достаточно высокой разрешающей способности спектрометра сигналы ЯМР часто распадаются на несколько раздельных сигналов. Причиной этого является наличие 2I + 1 разных ориентаций, которые могут принимать магнитные моменты ядра относительно направления внешнего магнитного поля. В результате этого на соседнем ядре возникают 2I + 1 направленных дополнительных полей, накладывающихся на внешнее магнитное поле. Магнитное взаимодействие между ядрами осуществляется при этом не через свободное пространство, а косвенно - через электроны химической связи. Речь идет, следовательно, об обусловленном электронной связью спин-спиновом взаимодействии, которое иногда именуют просто спин-спиновой связью и которое приводит к разделению сигналов.
Поскольку наиболее распространенные в природе изотопы органических молекул, 12С и !6О, имеют суммарный момент количества движения I = 0, то при протонном резонансе регистрируют только спин-спиновую связь соседних протонов. Химически эквивалентные протоны не обнаруживают различия в магнитном взаимодействии. По причинам симметрии или из-за быстрой переориентации они показывают одинаковую константу связи с любым другим ядром молекулы.
Если опять-таки представить ядра в виде маленьких стержневых магнитов, становится понятно, что при достаточном сближении они будут взаимно влиять друг на друга (см. рис. 13.4).
В магнитном поле появляется несколько возможных ориентаций относительно направления приложенного поля. Для системы с двойным спином получают в целом четыре ориентации вектора спинов ядер. Но энергетическое содержание положений «b» и «с» у ядер с разной резонансной частотой не одинаково. Принято составлять специальную схему с указанием всех энергетических уровней, соответствующих возможным ориентациям спинов ядер. В результате поглощения энергии могут иметь место разные переходы, причем переход от «а» к «d» запрещен по закону сохранения момента количества движения. Четыре других перехода дают затем соответствующие сигналы в ЯМР-спектре.
Величина разрыва связи измеряется как расстояние между двумя соседними линиями расщепления и указывается в единицах частоты (Гц). Константы связи, в отличие от химического сдвига, не зависят от внешнего магнитного поля. Однако они зависимы от типа связывающих ядер, а также от вида и числа имеющихся между ними связей.
Подобные взаимодействия приводят — в зависимости от числа возможных связей - к более тонкому разделению резонансных сигналов в дублеты, триплеты, синглеты и т.д. При этом могут быть сформулированы следующие правила для спиновой мультиплетности протонного сигнала.
-
Когда протон имеет по соседству несколько типов химически эквивалентных протонов na, nb, nс, …, то мультиплетность его резонанса будет _(na + 1)(nb + 1)(nc + 1)…
-
Для соседней группы п эквивалентных протонов относительные интенсивности (n + 1)-мультиплетных компонентов даны через коэффициенты отдельных термов (х + 1)n.
Эти два весьма важных обобщения составляют основу интерпретации спин- спинового взаимодействия в ЯМР-спектрах. Размер и способ расщепления есть характеристические параметры для определенной группы молекул и в рамках расширенной информации о строении могут дать сведения о количестве связывающих соседних ядер.
Попробуем объяснить это более подробно на примере этанола, СН3СН2ОН (рис. 13.5). Три протона СН3-группы либо два протона СН2-группы в этаноле экБивалентны не только на химическом, но и на магнитном уровне. Но протоны метиловой группы находятся не только во внешнем поле, уже возмущенном электронным окружением, но также в поле, находящемся под дополнительным влиянием метиленовой группы. Спины протонов метила находятся во взаимодействии с протонами метиленовой группы. Протоны метиловой группы дают при этом триплет с 1,22 м. д., поскольку оба соседних протона метиленовой группы химически эквивалентны. Это приводит к мультиплетности (2 + 1), то есть к трем линиям, интенсивности которых дается коэффициентами (х + 1)2 = lx2 + 2х + 1, или 1:2:1.
Протоны метилена, напротив, находятся в зоне влияния протонов метила. При этом протоны метилена, смежные с электроотрицательным атомом кислорода, при наличии поля меньшей напряженности с 3,70 м. д. в форме квадруплета вступают в резонансное взаимодействие с распределением интенсивностей 1:3:3:1. Эти интенсивности формируются из коэффициентов (х + 1)3. При этом не наблюдается связи между протонами метилена и протоном гидроксильной группы. Такой вывод подтверждается появлением резонанса этой группы в форме синглета при 2,58 м. д.. Фактически получается, что химический сдвиг ОН-резонанса не только сильно зависит от водородных мостиков и химического обмена, но и спин-спиновая связь протонов системы СН-ОН возможна исключительно в отсутствие быстрого межмолекулярного обмена гидрокси-протонов.
Если же взять ацетальдегид, СН3СНО, то здесь обнаруживается иное расщепление (рис. 13.6). Спины протонов метила имеют связь со спином протона карбонила. Поскольку спин этого протона ориентирован по внешнему полю (параллельно) либо против внешнего поля (антипараллельно), то протоны метила дополнительно находятся в несколько более сильном или, соответственно, в несколько более слабом эффективном магнитном поле. Отсюда вытекает двойное расщепление энергетических уровней протонов и расщепление линии протона метила в двойную линию в спектре.
Протон карбонильной группы находится в зоне влияния протонов метила. Не считая химического сдвига, при котором резонанс смещается в направлении поля меньшей напряженности, ядра метила вызывают расщепление карбонильной линии в четыре линии, ведь суммарный момент количества движения трех протонов метила может ориентироваться относительно направления поля четырьмя разными способами. Протон карбонила претерпевает в результате этого влияние четырех дополнительных полей помех. Ослабление экранирования у протона альдегида очень велико, поскольку он напрямую связан с тригональным атомом sp2-углерода. Поэтому протоны альдегида в случае поля чрезвычайно низкой напряженности — обычно в диапазоне от 9,3 до 10,0 м. д. — вступают в резонансное взаимодействие.
Этот простой пример показывает, что магнитные взаимодействия с соседними ядрами способны дать ценную информацию касательно строения молекул. Именно анализ тонкой структуры сигналов магнитного резонанса стал одним из важнейших аспектов ЯМР-спектроскопии.
13.4. Регистрация ЯМР-спектров
1Н-ЯMP-спектры органических соединений должны регистрироваться в апротонных (не содержащих собственных протонов) или пердейтерированных растворителях. Для этой цели годится, например, ССl4 либо дейтерированный растворитель — дейтерохлороформ CDCl3. Чтобы при расшифровке спектров иметь некую исходную точку, добавляют еще тетраметил силан (ТМС) в качестве внутреннего эталона. Жидкими или растворенными пробами заполняют стеклянные цилиндрические трубки вроде ампул диаметром от 5 до 10 мм. Объем проб для протонного резонанса составляет 0,5—1,5 мл.
С учетом значительно меньшей чувствительности при 13С-ЯМР-спектроскопии, для проведения соответствующего анализа требуются увеличенные объемы пробы от 1 до 3 мл и ампулы диаметром 8—20 мм, что позволяет максимально уменьшить число требуемых накоплений и сократить до минимума затраты времени на регистрацию спектров. При этом диаметр измерительной ячейки ограничен размером зазора в магните или областью высокой однородности поля. К однородности поля предъявляются очень высокие требования, поскольку ею в основном определяется качество получаемых спектров.
При всех измерениях ЯМР измерительная ячейка с помощью небольшой воздушной турбины быстро вращается вокруг своей продольной оси. Так как величина магнитного поля варьирует в определенных пределах по объему пробы, вращение дает эффективное улучшение однородности поля, ибо отдельные ядра в результате такого макроскопического движения пробы чувствуют усредненное внешнее поля. Для регистрации узких резонансных линий такая техника просто незаменима.
Итак, необходимым условием регистрации хорошо разрешенных ЯМР-спектров является однородность магнитного поля. Накопление данных за большой период времени предполагает наличие чрезвычайно высокой стабильности отношения поля/частоты спектрометра. Так как химический сдвиг зависит от поля, представляется чрезвычайно важным в процессе измерения удерживать указанное отношение на постоянном уровне. Следовательно, здесь необходима система стабилизации резонансных условий. Для этой цели служит так называемый стабилизирующий канал (lock-channel). При непрерывной записи опорного сигнала удается фиксировать и посредством контура регулирования корректировать даже малейшие изменения напряженности магнитного поля.
Более старые свип-спектрометры снабжены системой гомостабилизации (homolock-system), при которой сигнал эталона ТМС играет роль стабилизатора. В современных устройствах вместо него используют 2Н-ЯМР-сигнал дейтерированного растворителя, то есть используется гетеростабилизация (heterolock).
13.4.1. К вопросу о чувствительности
Главным недостатком спектроскопии по методу ЯМР считается низкая чувствительность по сравнению с прочим спектроскопическими способами. Это объясняется чрезвычайно малой разностью энергий между различными магнитными состояниями по отношению к средней энергии теплового движения. В заданном магнитном поле величины населенности возможных энергетических уровней спиновой системы описываются распределением Больцмана. Разность заселенностей, например при резонансной частоте 60 МГц, составляет величину порядка 1/1000 промилле. Заселенность обоих состояний почти одинакова, и даже совсем небольшой избыток заселенности на нижнем уровне имеет значение с точки зрения вероятности возбуждения и, следовательно, чувствительности способа измерения.
С учетом равной вероятности поглощения и вынужденного индуцированного излучения возможность наблюдения сигнала поглощения основана на этой ничтожной разнице населенностей. Это означает, что при измерениях на основе ядерного магнитного резонанса только 1 из 100 000 ядер атомов способствуют появлению наблюдаемого сигнала.
При столь малой разнице заселенностей вполне может случиться так, что в результате поглощения избыток заселенности нижнего энергетического уровня устраняется быстрее, чем возможно его восстановление путем релаксации. Это значит, что коэффициент поглощения не есть величина постоянная, а определяется интенсивностью излученной радиочастоты. В связи с этим эффектом насыщения при ядерном резонансе механизмы релаксации приобретают особое значение.
13.4.2. Расход вещества
Для протонного резонанса достаточно пробы вещества в объеме от 50 до 100 мкг, хотя вполне можно работать и с количествами до 1 мкг. При еще меньших объемах пробы, например 100 нг, общее время измерения с учетом накопления спектров составляет 1-2 дня. Более долгие периоды измерения обычно себя не оправдывают. Для 13С-ЯМР-спектроскопии в соответствии с меньшей чувствительностью требуется проба около 1 мг.
13.4.3. Накопление спектров
Так как спектроскопия ЯΜР в силу меньшей разницы энергий между
основным и возбужденным состояниями не столь чувствительна, как
оптические спектроскопические методы, то при однократной регистрации
спектра сигналы нередко просто исчезают на фоне шумов. По теории, с
числом измерений п шум возрастает на
, то есть при n
регистрациях спектра отношение сигнал/шум улучшается на
.
При накоплении или суммировании спектров спиновые системы многократно возбуждаются последовательно друг за другом, а сигналы суммируются и записываются затем в виде единого спектра. Естественно, для реализации этой методики, кратко именуемой CAT (Computer Averaged Transients), нужен компьютер. Спектр, в котором требуется измерить даже совсем слабые линии, регистрируется обычным образом и сохраняется в памяти ПК. Затем тот же самый спектр записывается вторично, и вторая версия суммируется с первой. Эту процедуру можно повторять бессчетное число раз.
При этом стохастически распределенный шум частично усредняется при одновременном накоплении интенсивностей сигналов. Порой для регистрации более внятных спектров требуется несколько тысяч подобных накоплений. При малых объемах проб и измерении нечувствительных ядер на запись спектров приходится тратить иногда несколько дней. И здесь к приборной технике предъявляются особенно высокие требования с учетом необходимости поддержания постоянных условий регистрации.
Число записанных при этом отдельных спектров зависит от продолжительности регистрации каждого из них. Так, для суммирования 1000 отдельных спектров с помощью свип-спектрометра, при продолжительности регистрации 5 минут на каждый спектр, потребуется целых 3 дня. При использовании более быстрых, импульсных Фурье-спектрометров со временем записи 1 секунда за тот же период можно накопить сотни тысяч спектров при соответствующем улучшении отношения сигнал/шум.
13.4.4. Принципы интегрирования
Интенсивность А сигнала ядерного резонанса зависит от разности населенностей соседних энергетических уровней: A(N0 — N1). Разность же, в свою очередь, определяется отношением населенностей, заданным через распределение Больцмана. В ЯМР-спектроскопии интенсивность сигнала прямо пропорциональна общему числу частиц.
В то время как положение резонансного сигнала в ЯМР-спектре позволяет получить информацию об электронном окружении протонов, площадь такого сигнала дает сведения о числе протонов. На этом основании при записи ЯМР-спектра с помощью электронного интегрирующего устройства регистрируют одновременно ступенчатые характеристики, высота ступеней которых пропорциональна площади относящегося сюда резонансного сигнала (рис. 13.7). При определении высоты ступеней необходимо учитывать спин-спиновую связь, чтобы охватить все относящиеся к сигналу мультиплетные линии. Благодаря этому при известной формуле суммирования удается получить достаточно полную информацию о типе и количестве протонов разных структурных единиц молекулы.
Варьирование любых параметров, способных изменить отношение населенностей, заметно сказывается на интенсивности сигнала. Поэтому значения всех величин, влияющих на интенсивность, — время релаксации, температура, магнитная индукция, частота — на протяжении всего периода регистрации должны оставаться постоянными. Для получения количественной информации о пробе оцениваются, как правило, только отношения интенсивностей сигналов в пределах одного спектра, поскольку разнообразные влияния интенсивностей сигналов из разных спектров обычно не дают возможности для точного сравнения.
13.4.5. Количественный анализ
При исследовании смесей веществ известного состава можно проводить количественные анализы, если для каждого из этих веществ имеется четко изолированный кодовый сигнал. Прямая пропорциональная зависимость между интенсивностями кодовых сигналов и молярными числами позволяет проводить количественные анализы на основе одного-единственного ЯМР-спектра смеси. Экспериментальной калибровки, как в оптической спектроскопии, здесь не требуется.
13.4.6. Магнитное поле
Основную проблему при проведении экспериментов с измерением ЯМР представляет малая полуширина резонансных линий — до менее 0,5 Гц при резонансной частоте 60 ΜГц. И именно порядка отношения этих величин (10-8) должна быть обеспечена стабильность источника магнитного поля и источника радиочастот.
Следует отличать спектры 1-го порядка от спектров более высокого порядка. В первом случае химический сдвиг между отдельными группами достаточно велик относительно констант связи, поэтому интерпретировать такие спектры значительно проще, чем спектры более высокого порядка, у которых имеют место перекрытия. Магнитные поля большой напряженности облегчают интерпретацию сигналов высокого порядка от спиновых систем. Часто вообще только они и допускают отнесение сигналов с похожими сдвигами.
Поскольку химический сдвиг зависит от магнитного поля, а константы связи как параметры, относящиеся к конкретному веществу, остаются постоянными, иногда можно более сложные спектры перевести в более простые спектры 1-го порядка, если проводить измерение в поле повышенной напряженности; тогда легче различать сигналы ядер с близкими сдвигами. В соответствии с большей разностью энергий требуются и более высокие резонансные частоты.
Второе преимущество приборов с полем большой напряженности заключается в повышении чувствительности. С ростом напряженности поля увеличивается и разность энергий между возможными состояниями, что дает на основе распределения Больцмана более значительную разность населенностей.
При классификации спектрометров и, следовательно, ЯΜР-спектров используют не напряженность используемого магнитного поля, а указание соответствующей частоты протонного резонанса. Первые коммерческие приборы, появившиеся на рынке в начале 50-х годов, были снабжены электромагнитами с напряженностью поля около 1,0 Т соответственно протонной частоте 40 МГц (для сравнения: магнитное поле Земли составляет примерно 6x10-5 Т). Далее последовали спектрометры с более сильными магнитами от 1,4 до 2,3 Т, соответствующими 60 и, соответственно, 100 МГц. Но на этом был достигнут предел применению обычных электромагнитов, ибо с традиционными ферромагнитными материалами не удается получить более мощного намагничивания. Затем в 1967 г. был предложен первый ЯМР-спектрометр со сверхпроводящими магнитами, работающий с протонной частотой 200 МГц. Для достижения сверхпроводимости эти магниты из ниобия и титана приходилось охлаждать жидким гелием до 4 К, поэтому их называют еще криомагнитами. Сегодня верхний предел криомагнитов находится на уровне 17 Т — соответственно частоте протонного резонанса 750 МГц[62].
В магнитных полях большой напряженности отмечается такое явление, как ориентация малых молекул, что приводит к некоторому усложнению спектров. В связи с этим приборы на основе сильного поля, даже если оставить в стороне технологические трудности и стоимостные резоны, имеют определенные ограничения.
13.5. ЯМР-спектрометры
Спектрометр на эффекте ЯМР состоит практически из тех же элементов, что и любой другой спектральный прибор, включая в себя источник излучения, монохроматор, поглощающую ячейку и детектор. И все же здесь имеются некоторые важные отличия. Предпосылки для поглощения энергии создаются только при использовании магнитного поля. Поглощающая ячейка находится в сильном магнитном поле, чем обеспечивается расщепление спиновой системы в основное и возбужденное состояния. Происходящий при переориентации спинов отбор энергии из источника излучения измеряется как сигнал поглощения.
Поскольку частота поглощающего излучения находится в МГц-диапазоне, то есть в области ультракоротких волн, то многие понятия спектроскопии на магнитных ядрах относятся скорее к сфере радиотехники, чем к оптической спектроскопии. Так, источником излучения здесь служит УКВ-передатчик, чье генерированное в высокочастотной катушке излучение уже само по себе является монохроматическим; следовательно, никакого дополнительного монохроматора здесь не требуется.
Функцию детектора в ЯΜР-спектроскопии выполняет приемно-регистрирующее устройство, причем катушка такого приемника регистрирует не ослабленный пробой сигнал источника излучения, а сигнал, индуцированный им в материи, — поперечную намагниченность. Поглощение излучения называют магнитным резонансом, так как вращение стержневых магнитов происходит при частоте, равной ларморовой частоте.
Существует два типа приборов для наблюдения ЯМР:
В первом случае измерение проводится во время передачи радиочастоты, когда отдельные резонансные линии измеряются последовательно друг за другом. Во втором случае, напротив, измеряется релаксация после отключения радиочастоты. Тогда возбуждение осуществляется для всех ядер атомов одновременно коротким полихроматическим импульсом. Поэтому точнее было бы говорить об импульсном Фурье-ЯМР-спектрометре. Детектируемый сигнал от прецессирующих спинов после преобразования Фурье превращается в спектр частот.
Но главное различие этих двух типов приборов состоит в гораздо более коротком периоде измерения с помощью импульсного Фурье-спектрометра. И такое преимущество во времени постепенно возрастает. Если на регистрацию ЯМР-спектра с применением свип-спектрометра уходит около 5 минут, то такое же измерение импульсным Фурье-спектрометром будет завершено уже через несколько секунд.
Максимально достижимая чувствительность коммерческих спектрометров за последние 30 лет повысилась не менее чем в 1000 раз. Такое возрастание чувствительности основано прежде всего на заметном повышении напряженности магнитного поля и непрерывном общем совершенствовании техники Фурье-преобразования. Аналогично области ИК-спектроскопии, в которой традиционные спектрометры с дифракционной решеткой были практически полностью заменены Фурье-ИК-приборами, происходят перемены и в сфере ЯΜР-спектроскопии. Свип-спектрометры, пока еще используемые, но исключительно для решения простейших задач, активно и повсеместно вытесняются сегодня импульсными Фурье-ЯМР-спектрометрами с программным управлением.
13.5.1. Свип-спектрометр
Еще Ф. Блох, открывший совместно со своими коллегами В. Хэнсеном и М.Э. Паккардом явление ЯМР, использовал в январе 1946 г. такую аппаратуру для обнаружения протонного резонанса в воде. Первый коммерческий свип-ЯΜР-спектрометр увидел свет в 1960 г. Его важнейшими конструкционными элементами были магнит, передатчик и приемник высокой частоты (рис. 13.8). Передатчик через одну катушку посылает сигнал высокой частоты, в то время как вторая катушка, повернутая на 90°, образует приемник. Поэтому такое устройство называют еще спектрометром со скрещенными катушками.
Резонансные условия технически могут быть достигнуты двумя способами: либо изменением магнитного поля при постоянной частоте передатчика, либо изменением частоты при постоянном магнитном поле. Оба приема довольно легко реализуемы на практике.
Чаше всего работа ведется по принципу изменения поля. Варьирование магнитного поля для регистрации спектра составляет при этом всего стотысячную часть напряженности результирующего поля. Столь ничтожно малые изменения магнитного поля трудно реализовать посредством соответствующего управления электромагнитом. Вместо этого с помощью свип-катушек накладывается и требуемым образом изменяется магнитное поле малой напряженности.
В свип-спектрометре магнитное поле претерпевает под действием скрещенных катушек непрерывное, точка за точкой, изменение при неизменной частоте слабого ВЧ-передатчика. Вектор макроскопической намагниченности Μ, представляющий собой результирующую отдельных стержневых магнитов μ, в случае резонанса отклоняется под общим воздействием ВЧ-передатчика и магнитного поля В0 в направлении оси у. Возникшая при этом y-компонента, поперечная намагниченность, индуцирует в катушке приемника сигнал (рис. 13.9), амплитуда которого соответствует стационарному состоянию между возбуждением ядра и релаксацией, то есть возвратом в основное состояние. Здесь следует работать с малой мощностью высокой частоты, чтобы избежать насыщения.
Примерно до 1970 г. все ЯМР-спектрометры функционировали именно по такому принципу. Но метод свип-ЯМР-спектроскопии годится лишь для чувствительных ядер, таких как 1H, l9F и 31В, с большими магнитными моментами и высокой природной распространенностью. В настоящее время приборы этого типа лишь изредка используются для получения протонного резонанса в качестве стандартного оборудования с полем малой напряженности. Они практически повсеместно заменяются импульсными Фурье-ЯМР-спектрометрами, позволяющими благодаря возможности накопления спектров как в 1H-, так и в 13С-резонансе осуществлять регистрацию интерпретируемых спектров минимальных объемов веществ, например на уровне биологических препаратов.
13.5.2. Импульсный Фурье-ЯМР-спектрометр
По совершенно иному принципу функционирует импульсный Фурье-ЯМР- спектрометр. Метод Фурье-спектроскопии на магнитных ядрах впервые предложил Р. Эрнст, удостоенный за свои работы Нобелевской премии в области химии в 1991 г. Первый коммерческий Фурье-ЯМР-спектрометр появился на рынке еще в 1966 г. При наличии полихроматического импульса высокой мощности и с малой длительностью от 10 до 50 мкс все резонансные частоты исследуемого вида ядер возбуждаются одновременно. По сравнению со свип-исполнением здесь получают ощутимый выигрыш во времени. В оптимальном случае достигается поворот намагниченности на 90°, то есть она полностью переводится в плоскость х-у. Естественно, это позволяет наблюдать значительно более мощный сигнал, что наряду с экономией времени составляет еще одно важное достоинство импульсной Фурье-техники. У свип-спектрометра угол поворота, напротив, гораздо меньше, поскольку мощность высокой частоты приходится здесь снижать во избежание эффектов насыщения.
После отключения импульса намагниченность Μ подвергается еще только воздействию напряженности внешнего магнитного поля B0. Релаксационные переходы приводят к тому, что поперечная намагниченность затухает в течение 0,5—2 секунд, и тогда приемно-регистрирующее устройство не индицирует более никакого сигнала (рис. 13.10). Этот процесс с экспоненциальным затуханием во времени известен как свободное затухание индукции (Free Induction Decay, FID). Поскольку в реальной ситуации проба содержит ядра с разными резонансными частотами, то характеристические кривые затухания отдельных поперечных намагниченностей накладываются друг на друга, то есть ядра, прецессирующие с соответствующими ларморовыми частотами, начинают интерферировать, и тогда на катушке приемника регистрируется интерферограмма, формирующаяся при «спаде» намагниченности. Эта интерферограмма подлежит затем математическому преобразованию (на основе преобразования Фурье) в собственно спектр, для чего требуется достаточно мощный компьютер.
Так как свободное затухание индукции обычно протекает в течение 0,5—2 секунд, то в этот промежуток времени на пробу могут направляться последующие импульсы. В таких условиях удается за более короткое время, чем со свип-спектрометром, получить то количество спектров, какое необходимо для хорошего отношения сигнал/шум. Импульсная Фурье-ЯМР-техника позволяет, таким образом, проводить с умеренными затратами измерение спектров ЯМР на менее чувствительных ядрах, например 13С и 2Н.
В отличие от свип-приборов, здесь используется не ВЧ-передатчик, а генератор импульсов. Высокочастотный генератор действует обычно с постоянной частотой ν. Но, включив его лишь на короткую длительность импульсов t, получают широкую полосу частот в диапазоне ν ± 1/t. Например, импульс длительностью 10 мкс дает полосу частот шириной 105 Гц. Значит, когда частота ν выбрана правильно, в полосе частот содержатся все частоты измеряемого спектра. Поскольку амплитуда убывает с увеличением интервала у, а все ядра должны возбуждаться одинаково, то ширину импульса всегда выбирают с таким расчетом, чтобы результирующий диапазон частот был на 1—2 десятичных порядка больше интересующей полосы спектра.
Спектроскопия по методу импульсного ЯМР с преобразованием Фурье благодаря своему быстродействию позволяет накапливать огромное число спектров за достаточно короткое время. Это достоинство особенно ценно в ситуации, когда для регистрации протонного спектра располагают совсем ничтожным количеством вещества. Кроме того, при этом создаются условия для измерения менее чувствительных ядер. Безусловно, при проведении эксперимента с применением импульсной Фурье-ЯМР-спектроскопии никак не обойтись без компьютера. Наряду с накоплением спектров и Фурье-преобразованием, ЭВМ осуществляет управление почти всеми функциями спектрометра, так что современный спектральный прибор немыслим без сложной системы управления, сбора и обработки данных.
13.5.3. Измерение релаксации
Согласно статистике Больцмана, существует регулируемая разность заселенностей между отдельными энергетическими состояниями, соответствующими параллельному и антипараллельному положению относительно внешнего магнитного поля (по полю и, соответственно, против поля). Поскольку в нижележащем энергетическом состоянии находится больше ядер, то в направлении внешнего магнитного поля формируется «продольная компонента намагниченности». При усреднении составляющих отдельных спиновых векторов перпендикулярно оси z, вдоль которой направлено внешнее магнитное поле, в нормальном состоянии не существует «трансверсальной», то есть поперечной, компоненты намагниченности.
В случае резонанса, когда ларморова частота соответствует частоте поглощения, данная система находится под действием двойного возмущения. Во-первых, индуцируется поперечная намагниченность и, во-вторых, в результате инициирования процессов переориентации создается разность заселенностей между основным и возбужденным состояниями и, следовательно, возникает макроскопическая намагниченность. До антипараллельного положения намагниченности спины ядер поглощают энергию, после чего они ее отдают. В зависимости от ширины высокочастотного импульса намагниченность отклоняется от оси z под тем или иным углом. Так достигаются отклонения прежде всего на углы 90 и 180°.
При релаксации следует различать два разных периода: время продольной, или спин-решеточной, релаксации Т1 и время поперечной, или спин-спиновой, релаксации Т2. Время спин-решеточной релаксации Т1 дает сведения о длительности восстановления распределения Больцмана соответствующих энергетических состояний ядра. При этом процессе спин-решеточной релаксации происходит обмен энергией с окружением ядра. Время спин-спиновой релаксации Т2 характеризует затухание интенсивности индуцированной намагниченности.
После 90-градусного импульса намагниченность прецессирует в плоскости х-у вокруг магнитного поля. Отдельные компоненты намагниченности прецессируют на основе слегка различающихся магнитных полей в местах ядер атомов с несколько различающимися частотами. Вследствие этого компоненты намагниченности «разбегаются», а макроскопическая намагниченность исчезает с характеристическим временем Т2.
Энергия, поглощенная импульсом высокой частоты, с обычно большей постоянной времени T1 передается от спинов ядер в окружающую среду, так что намагниченность претерпевает релаксацию с возвратом опять в термодинамическое равновесное состояние. Ларморова прецессия намагниченности по принципу динамо инициирует в катушке приемника осциллирующий сигнал, который записывается. Это свободное затухание индукции экспоненциально ослабевает во времени.
В стойких растворах время спин-ре щеточной релаксации Т1 определяется в первую очередь процессами релаксации внутри молекулы пробы. В результате перемещений молекулы флуктуируют локальные магнитные поля, которые, исходя от ядра или группы молекул, воздействуют на соседние ядра. Время Т1 складывается из разных частей, обусловленных: 1) диполь-дипольной релаксацией между магнитными моментами соседних ядер в молекуле, 2) спин-вращательной релаксацией, имеющей место, в частности, в очень малых молекулах и свободно вращающихся группах молекул, и 3) релаксацией в результате анизотропии химического сдвига.
В конкретных условиях те или иные части доминируют либо могут отделяться друг от друга с применением специальных способов измерения. Тогда на основе измерений Т1 получают, например, информацию касательно внутреннего вращения молекулярных группировок либо перемещений сегментов в крупных или, соответственно, ассоциированных молекулах. В случае молекул с затрудненным вращением группировок можно получить сведения о молекулярной динамике. На основе температурной зависимости спектров делаются выводы о термодинамической характеристике, например об энтальпии свободной активации [13.5]. Путем использования специальных последовательностей импульсов можно с помощью 13С-ЯМР-спектроскопии последовательно друга за другом определять периоды релаксации для отдельных атомов С внутри одной молекулы, чем значительно облегчается однозначное отнесение сигналов к отдельных группам молекул. Импульсная методика позволила значительно упростить процесс измерения времени релаксации, сделав его достаточно доступным для использования в исследовательской работе.
13.6. Техника двойного резонанса
Этот метод основан на возможности устранения спин-спинового взаимодействия между отдельными ядрами. Сложные мультиплеты, возникающие в результате одновременной связи сразу с несколькими партнерами, можно упростить с помощью техники двойного резонанса. Допустим, в имеющемся магнитном поле два разных ядра А и X входят в резонансное взаимодействие при разных частотах. В стандартном варианте ядра связаны соединяющими их электронами и каждое ядро расщепляет сигнал другого ядра. Но если, в то время как измеряется сигнал одного ядра А, одновременно возбуждается резонанс другого ядра X со вторым полем высокой частоты, то спин-спиновая связь между А и X прерывается и сигнал А наблюдается в форме синглета.
Этот феномен объясняется тем, что спин-спиновое взаимодействие пропорционально скалярному произведению соответствующих составляющих ядра и что, с другой стороны, сильное ВЧ-поле для ядра X заставляет его непрерывно резонировать, то есть прецессировать вокруг оси х. В то же время ядро А продолжает прецессировать вокруг оси z Таким образом, оба момента ядра имеют эффективное расположение перпендикулярно друг другу, и их скалярное произведение, то есть спин-спиновое взаимодействие, исчезает.
Данное явление не ограничено исключительно двухспиновой системой. Если в системе любой сложности ядро X возбуждается полем высокой частоты, то все имеющиеся связи с ядром X прекращаются. Гетероядерные эксперименты с двойным резонансом особенно важны с точки зрения 13С-резонанса, так как при этом спин-спиновое взаимодействие между 1H и 13С находится в области величин химического сдвига ядер 13С. В результате отдельные мультиплеты частично перекрывают друг друга, что сильно затрудняет интерпретацию спектров. Но если наряду с резонансной частотой 13С поглощается вторая, модулированная, частота с высокой интенсивностью в зоне протонного резонанса, то все 13С-1Н-связи пропадают.
Для большинства пользователей эксперимент с двойным резонансом имеет такое же значение, что и разрыв спиновой связи для упрощения спектров, ибо при этом у спектров становится меньше линий. Это, пожалуй, самый известный прием, но возможности его применения этим далеко не исчерпываются. С 1Н-широкополосной связью, как и с прочими экспериментами двойного резонанса, связано повышение интенсивности сигнала на основе ядерного эффекта Оверхаузера, который в немалой степени способствовал тому, что 13С-ЯMP-спектроскопия стала стандартным методом химико-аналитических исследований. Помимо гетероядерной, существует еще и гомоядерная развязка, используемая прежде всего при протонном резонансе.
Во многих случаях спектры, несмотря на развязку, по-прежнему не так-то легко поддаются расшифровке. Но по изменению спектра удается увидеть хотя бы, где следует искать сигналы связывающихся друг с другом протонов. В принципе можно на основе нескольких следующих друг за другом экспериментов с развязкой прийти к отнесению всего спектра. Однако в практических условиях обязательно возникнут трудности, если резонансные частоты связывающих ядер окажутся слишком близко друг к другу. Гораздо нагляднее представить подобные «соседские» отношения через двухмерный ЯΜР.
Современный импульсный Фурье-ЯМР-спектрометр требует поэтому наличия нескольких ВЧ-передатчиков:
-
импульсный передатчик для частоты интересующего ядра, действующий преимущественно с установленной мощностью;
-
второй ВЧ-источник переменной частоты для экспериментов с двойным резонансом либо с развязкой, проводимых как в свип-, так и в импульсном режиме;
-
механизм регулирования стабильности отношения поля/частоты при работе свип-спектрометра.
Концепция исполнения современных ЯМР-спектрометров ориентируется на полную автоматизацию эксперимента. Все операции, проводимые ранее вручную, теперь берет на себя ЭВМ.
13.7. Двухмерная ЯМР-спектроскопия
Главная проблема спектроскопии объясняется известным противоречием: с одной стороны, для однозначной идентификации вещества требуется спектр максимальной сложности; с другой стороны, эта сложность спектра не должна фатально мешать его расшифровке. В настоящее время можно говорить об одно- и двухмерных (2М) вариантах ЯМР-спектроскопии. При одномерном эксперименте получают спектр, показывающий химический сдвиг измеренного ядра и константы связи. На основе разработки многомерной ЯМР-спектроскопии появилась возможность исследования структуры и динамики макромолекул в растворе. Технические предпосылки для этого были созданы благодаря высокоскоростной программной обработке больших объемов данных, равно как и повышенной чувствительности за счет сверхпроводящих магнитов, создающих сильные магнитные поля [13.6].
Это направление оказалось чрезвычайно плодотворным и привело к созданию целого ряда важнейших экспериментальных методик, значительно увеличивающих информативность метода ЯМР. Сейчас 2М-ЯМР-Фурье-спектроскопия широко применяется в физике твердого тела, химии и биологии. Существует большое число конкретных модификаций этого метода, укладывающихся в некоторые общие рамки. Поэтому целесообразно рассмотреть общую схему эксперимента при использовании 2М-Фурье-спектроскопии.
Двухмерные ЯМР-спектры получают на основе сложных последовательностей импульсов, то есть серии последовательно включенных сигналов, разделенных постоянным либо переменным временем ожидания. При таком двухмерном эксперименте получают дополнительную информацию о корреляциях между химическим сдвигом и константами связи или корреляциях между химическим сдвигом 1H- и 13С- либо другими ядрами [13.7].
2М-ЯМР-спктроскопия является подклассом импульсных Фурье-приборов. При двух- или многомерной Я Μ Р-спектроскопии поглощается множество радиочастотных сигналов, так что весь эксперимент естественным образом делится на три периода:
В подготовительный период система спинов приводится в нужное начальное состояние. Осуществляется поперечное намагничивание с разрывом связи либо без него. Время эволюции между возбуждением и регистрацией систематически варьируется в серии отдельных экспериментов путем сложения приращений времени (рис. 13.11). Работа почти всегда ведется с 90-градусным импульсом, и в результате насыщения получают длительные периоды релаксации. Дополнительное накопление данных требует затем интенсивной обработки.
Таким способом можно отобразить химические сдвиги разных ядер молекулы на раздельных частотных осях. При этом в молекуле могут быть выявлены смежные ядра по их обоюдному взаимодействию и достаточно просто расшифрованы сложные, с обилием линий спектры. Резонансные частоты и частоты спин-спиновых взаимодействий, не различимые в одномерном спектре, могут быть представлены на двух раздельных осях частот и тем самым отделены друг от друга.
Интерпретация ЯМР-спектров сложных спиновых систем иногда достижима только с помощью компьютерной программы в рамках результативного итерационного метода. Наличие высокопроизводительных ПК и доступных по цене универсальных рабочих станций послужило мощным толчком к разработке современного программного обеспечения для ЯМР-спектроскопии. Важнейшим вспомогательным средством в плане математических расчетов при анализе многоимпульсных экспериментов, состоящих часто из многих тысяч ВЧ-сигналов, является оператор Гамильтона, или гамильтониан, описывающий полный эффект от действия сложной последовательности импульсов на заданную спиновую систему в форме эффективных магнитных полей и связей [13.8].
При трехмерной (3M) ЯМР-спектроскопии дополнительно вводится еще второе время эволюции, вследствие чего можно выделить химический сдвиг 13С-ядра и спин-спиновые связи между 13С и 2Ή, а также между 13С и 2Н. Эта методика находит применение при исследовании сложных спектров биологических макромолекул. ЗМ-ЯМР-спектроскопия требует долгого периода измерения и достаточно дорогостоящей обработки данных. И наконец, четырехмерную (4М) ЯМР-спектроскопию применяют в дополнение к ядерному эффекту Оверхаузера [13.9].
13.8. Ядерный эффект Оверхаузера
Ядерный эффект Оверхаузера получил такое название в связи с тем, что он представляет собой аналогию открытого Оверхаузером явления, наблюдаемого при взаимодействии электронов и ядер атомов. Речь идет, можно сказать, о вполне благоприятном привходящем обстоятельстве, имеющем место при развязке протонов. Данный эффект основан на магнитном диполь-дипольном взаимодействии между ядром 13С и протоном, которое позволяет возбужденному 13С-ядру отдавать свою энергию и возвращаться в основное состояние. При этом используется то обстоятельство, что системы спинов ядер и спинов электронов не полностью независимы друг от друга. Насыщение соседней системы спинов ядер приводит к изменяющейся заселенности на возможных уровнях и, следовательно, к повышению либо понижению интенсивности резонансного сигнала при поглощении частоты соседнего ядра.
Когда протонный резонанс возбуждается сильным полем высокой частоты, равновесие резко нарушается, стремясь за счет усиленной 13С-релаксации восстановить нормальное распределение Больцмана. Результатом становится то, что основное состояние 13С-ядра оказывается заселенным сильнее, чем это обычно бывает. Таким образом, если в этих условиях наблюдается 13С-резонанс, то может быть возбуждено больше ядер, чем обычно, в результате чего значительно возрастает интенсивность сигнала; ядерный эффект Оверхаузера способен дать 50%-ное увеличение интенсивности сигнала. Он сильно зависит от взаимной удаленности двух ядер и убывает с шестой степенью расстояния между ними. На основе измерения ядерного эффекта Оверхаузера получают, учитывая указанную зависимость от названного расстояния, весьма ценную информацию касательно стереохимии соединения.
13.9. Практическое применение ЯМР-спектроскопии
Из хорошо разрешенного спектра ЯМР можно извлечь в общей сложности пять важных параметров: количество, химический сдвиг δ, константы связи, а также мультиплетность и интенсивность сигналов. В качестве шестого параметра можно добавить еще результат измерения релаксации. При решении химических проблем разного рода на первом месте, как и прежде, остаются структурные исследования. Чувствительность этих спектров в отношении различения структур и малая полуширина сигналов служат основой для обнаружения самых ничтожных различий в строении проб. С развитием импульсной Фурье-ЯМР-спектроскопии стали возможны структурные исследования даже очень сложных молекул, в том числе углеводов, терпенов, стероидов, протеинов и пептидов.
В случае структурных исследований порой совсем не обязательно интерпретировать весь спектр. При распознавании небольшого числа возможных строений достаточно иногда определения одной-единственной характеристической константы связи, идентификации мультиплетности сигналов или типичного химического сдвига сигнала, чтобы установить искомое строение, конфигурацию либо конформацию. При исследовании смеси веществ часто удается с помощью характеристических кодовых сигналов по одному-единственному спектру последовательно друг за другом проводить не только качественные, но и — через отношение интенсивностей кодовых сигналов — даже количественные определения [13.10].
Наряду с выявлением строения отдельных компонентов, особенно на основе протонной и 13С-ЯМР-спектроскопии, была значительно расширена область применения указанных методов для целей выяснения происхождения естественных и искусственных веществ. Обнадеживающие результаты получены, в частности, на уровне структурно-специфичных и количественных определений отдельных компонентов в сложных смесях веществ. Названными примерами далеко не исчерпывается круг задач, решаемых с помощью ЯМР-спектроскопии, и этот круг будет несомненно расширяться.
13.9.1. 13С-ЯМР-спектроскопия
Начальный этап 13С-ЯМР-спектроскопии восходит к 1957 г. В те времена существовали весьма веские обстоятельства, определенным образом затрудняющие быстрое и успешное распространение данной методики. Чувствительность резонансного возбуждения для ядер с одинаковым спиновым квантовым числом пропорциональна μ3. Поскольку магнитный момент 13С составляет лишь четверть магнитного момента 1H, то чувствительность для ядер 13С при равной концентрации в пробе будет примерно в 64 раза ниже чувствительности к ядрам 1H. Если принять во внимание еще и природную распространенность, то у ядер 13С таковая составит только 1,1% против 99,99% у ядер 1Н, так что по сравнению с протонным резонансом чувствительность ЯМР 13С будет ниже в 5700 раз.
Кроме того, 13С-ЯМР-спектр показывает сильное сверхтонкое расщепление резонансных сигналов вследствие спин-спинового взаимодействия с протонами, что также дает определенную потерю чувствительности. Зато по причине меньшей распространенности ядер 13С практически сводится к нулю диполь-дипольное взаимодействие 13С-13С. Поэтому 13С-спектры обычно записываются с 1Н-широкополосной развязкой, и тогда говорят о широкополосных спектрах. При такой технике двойного резонанса резонансная частота для протонов поглощается вплоть до насыщения. В этом случае между ядрами 13С и Ή уже не будет спин-спинового взаимодействия, то есть распределенная интенсивность мультиплета объединяется в синглет. При этом получают спектры нулевого порядка, содержащие исключительно синглеты. Поскольку возбуждению подлежат все протонные резонансы, основная частота развязывающего поля модулируется в области протонного резонанса. В результате получается эффективная полоса частот, обеспечивающая одновременный разрыв связи всех протонов, и тогда говорят о широкополосной развязке.
По причине более высокой плотности электронов вокруг ядра 13С диамагнитные и парамагнитные компоненты экранирования гораздо сильнее воздействуют на резонансный сигнал, чем на сдвиги 1Н. Следовательно, область сдвигов примерно с 250 м. д. значительно шире, чем в резонансе 1H.
В настоящее время 13С-ЯMP-спектроскопия по своему значению вполне сравнима с 1Н-ЯМР-спектроскопией, причем современная приборная техника позволяет регистрировать 1Н-спектр и 13С-спектр с одной и той же аппаратурой без смены ампул для проб.
13.9.2. Дейтериевая ЯМР-спектроскопия
Если даже 13С-ЯΜР-спектроскопия с ее гораздо меньшей чувствительностью была доступна лишь при условии привлечения методик на основе сильного поля и Фурье-преобразования, то в отношении дейтериевой ЯМР-спектроскопии приходится констатировать, что она еще раз в 100 менее чувствительна. Природная распространенность дейтерия чрезвычайно мала и составляет всего 0,016%. Но дейтерий обладает важным свойством — он способен на химическом либо биохимическом уровне замещать нормальный водород в разных точках молекулы, что приводит к образованию С—D-связей. D-ЯΜР-спектроскопия предлагает, таким образом, возможность изучения молекулярной структуры и динамики биополимеров с сегментным разрешением, благодаря чему она становится в один ряд с важнейшими спектроскопическими методами биофизических исследований.
С помощью дейтериевой ЯМР-спектроскопии удается однозначно различать продукты природного и искусственного происхождения с получением соответствующей характеристики источника происхождения. Этот метод основан на количественном определении содержания природного дейтерия в химически различающихся позициях органических соединений. Речь идет, следовательно, о регистрации изотопомеров, то есть соединений с равным элементным составом и одинаковой структурной формулой, но с разным содержанием изотопов. Особое признание данный способ получил, когда удалось на основе разных отношений изотопов обнаружить пути спиртового брожения, что позволяет доказывать фальсификацию вин, предпринимаемую путем добавления сахара перед брожением [13.11].
В основе данного способа определения лежит тот факт, что С—D-связи несколько прочнее и, значит, химически несколько более инертны, чем соответствующие Н—С-связи. В силу этой разницы в реакционной способности при биосинтезе становятся заметны кинетические изотопные эффекты. Можно, следовательно, исходить из того, что для отдельных позиций в молекуле отношение D/Η изменяется в зависимости от происхождения, то есть от пути синтеза.
Природная распространенность дейтерия в земной коре не везде одинакова. В среднем содержание дейтерия составляет 155 м. д., что достаточно точно определено масс-спектрометрическим методом. В результате действия центробежных сил при вращении Земли отношение изотопов D/Η в воде на экваторе в два раза больше, чем на полюсах. Так как вода является источником водорода для всех органических соединений на земном шаре, отношение изотопов D/Η в природных веществах определяется географической широтой и, соответственно, «предысторией» вещества. Другие элементы или соединения в атмосфере также подвержены действию центробежных сил при вращении Земли, но разница их массовых чисел столь мала, что ни о каком сколько-нибудь заметном разделении говорить не приходится.
В случае ядра дейтерия речь идет — в отличие от протона, имеющего спиновое квантовое число ядра I = 1/2, — о квадрупольном ядре с I = 1. Такие ядра имеют асимметричное распределение заряда и, следовательно, представляют собой квадруполь, который, как представляется, состоит из двух электрических диполей. В локально неоднородном электрическом поле, то есть в поле с электрическим градиентом, обусловленным, например, окружающими электронами С—D-связи, электрическое квадрупольное взаимодействие приводит к расщеплению резонансных линий ядра. Так, D-резонансная линия в ЯМР-спектре расщепляется в две линии. Это квадрупольное расщепление наблюдается только в твердых телах или микроскопически упорядоченных системах, например в двойных слоях липидов. Быстрое вращение молекул изотропных жидкостей, напротив, приводит к усреднению квадрупольного взаимодействия и, следовательно, к одной-единственной линии поглощения.
Фурье-приборы с сильным полем и возможностью накопления спектров позволяют сегодня исключить все проблемы при использовании D-ЯМР-спектроскопии. Резонансные частоты дейтерия находятся в магнитном поле 9,39 Т примерно при 61,4 МГц. Интерпретация дейтериевых спектров ядерного магнитного резонанса не вызывает особых затруднений, ибо химические сдвиги 2Н в органических соединениях практически идентичны таковым у 1H.
13.9.3. ЯМР-томография
Применение ЯМР-спектроскопии в медицине открывает замечательные перспективы — уже хотя бы в связи с тем, что в этом случае пациент не подвергается действию опасного излучения [13.12], так что контрольные исследования на стадии лечения можно повторять сколь угодно часто. Используемые радиочастоты обладают энергией на пять десятичных порядков меньше, чем у химических соединений, поэтому нагревания тканей не происходит. В отличие от рентгенографии данный метод не инвазивен и не деструктивен [13.13].
Известное ограничение метода связано с его низкой чувствительностью, поэтому на живых организмах обычно допускается лишь измерение основных компонентов молекул, участвующих в обмене веществ. Но, с другой стороны, исследуемые метаболиты не обязательно должны быть заранее известны, поскольку ЯМР-спектры, как правило, содержат достаточно информации для идентификации вещества. Пробы не нуждаются ни в какой лабораторно-клинической подготовке.
При работе с живым организмом имеется возможность во время либо после проведения контроля «с нагрузкой» регистрировать спектры и сравнивать их с таковыми в нормальном состоянии пациента, получая данные об обмене веществ. Для клинического применения выбирают прежде всего изотопы 1Н, 31Р и 23Na. В силу меньшей природной распространенности 13С-спектры требуют достаточно долгих периодов измерения и используются поэтому только в исключительных случаях, обычно с изотопным насыщением. Наряду с исследованиями живых организмов, регистрируются ЯМР-спектры разных жидкостей человеческого тела — крови, мочи, слюны и клеточных экстрактов.
Одной из популярных областей применения стала в последние годы ядерно-спиновая томография — использование ЯМР-техники в целях медицинской диагностики. При этом с помощью протонных сигналов получают послойные изображения внутренних органов человека. Так как протоны в составе молекул воды повсюду присутствуют в теле и легко обнаруживаются посредством ЯМР-методики, удается получить чрезвычайно подробные анатомические «картинки».
Новейшей разработкой в этой области стала «локализованная» ЯМР-спект- роскопия, дающая информацию о биохимических условиях в определенных, локально ограниченных зонах органа или ткани. Биомедицинский ЯМР помогает, например, аналитически отслеживать процессы обмена веществ в мозге. Данная методика, с одной стороны, служит целям выявления разных опухолей мозга с помощью известных специфичных биохимических образцов и, с другой стороны, позволяет установить вид и размер повреждений, например, в результате мозгового инфаркта, а в последующем оценивать и контролировать эффективность применяемых терапевтических мер.
Все вышесказанное в равной степени относится и к другим болезням головного мозга, в том числе к дегенеративным или психическим заболеваниям, вызванным нарушением обмена веществ. Среди таковых можно назвать, например, рассеянный склероз, эпилепсию, СПИД или болезнь Альцгеймера. ЯМР-спектроскопию успешно используют и при исследовании других органов — печени, почек и сердца. Помимо диагностики и терапевтического контроля, следует назвать также еще одну весьма важную область применения рассматриваемого метода — контроль эффективности лекарственных растений и медикаментов. Во-первых, при этом удается установить действие определенного препарата на обмен веществ того или иного органа или ткани, во-вторых, можно проследить, как в ходе обмена веществ происходит распад медикаментов и каково последействие продуктов их превращения.
13.9.4. ЯМР-микроскопия
Наряду с давно известным применением ЯМР-спектроскопии для медицинских целей в форме ядерно-спиновой томографии, все чаще прибегают к регистрации структур в суб-мм-диапазоне. Основным объектом исследований становятся биологические пробы либо разнообразные материалы. Утвердившийся в последние годы термин «ЯМР-микроскопия» указывает прежде всего на высокое пространственное разрешение, которое, впрочем, лишь в исключительных случаях достигает уровня оптических микроскопов. В отличие от применения ЯМР для решения медицинских проблем с пространственным разрешением порядка 1 мм, при соответствующем переоснащении Я Μ Р-спектрометров удается наблюдать также объекты диаметром в несколько микрометров.
13.9.5. ЯМР твердого тела
Огромный аналитический потенциал хорошо разрешенной Я Μ Р-спектроскопии уже в начале 70-х годов успешно использовался для изучения твердых тел, предоставляя информацию о молекулярных структурах — кристаллической и аморфной зонах пробы. В силу анизотропного поведения многих твердых тел возникают не только резонансы, соответствующие тому или иному химическому окружению, но и резонансы, вызванные разной ориентацией частиц относительно внешнего поля. Стоит упомянуть еще один аспект, связанный с анизотропным взаимодействием обладающих магнитной активностью ядер друг с другом. Чем менее симметрично окружение ядра, тем сильнее проявляется анизотропия химического сдвига в ЯМР-спектрах твердого тела. Это могут быть косвенные взаимодействия, обусловленные концентрированием электронов, либо диполь-дипольные пространственные взаимодействия. В твердых пробах диполь-дипольное взаимодействие определяет форму ЯМР-сигналов [13.14].
В случае полимерных соединений все линии имеют как правило ширину до нескольких кГц, поскольку в аморфном полимере нет четко определенного молекулярного окружения. Если проба, кроме прочего, содержит еше ядра с квадрупольным моментом, то есть I >_ 1/2, то анизотропные взаимодействия квадруполя с градиентами электрического поля определяют форму линий и число резонансов.
У твердых тел, в отличие от растворов, возникает дополнительное прямое спин-спиновое взаимодействие. В растворе броуновское движение молекул способствует значительному усреднению анизотропных эффектов, так что ядра с I = 1/2, то есть с симметричным распределением заряда в ядре, обычно дают Я Μ Р-спектры с очень высоким разрешением. Ширина линий резонансных сигналов в растворах невелика и уменьшается до 0,1 Гц. Напротив, спектральные линии твердых тел чрезвычайно широки и достигают нескольких кГц. По причине достаточно большого периода продольной релаксации Т2 быстрое накопление большого числа спектров здесь едва ли возможно.
Поэтому для регистрации ЯМР-спектров твердого тела проводится эксперимент по принципу СР-MAS (Cross Polarization Magic Angle Spinning — вращение плоскости кросс-поляризации) (см. рис. 13.12). MAS был предложен еще в 1959 г. Лоу и Эндрю, а CP-эксперимент впервые вынесен на обсуждение в 1972 г. Так как протоны по сравнению с другими ядрами обладают чрезвычайно большим магнитным моментом, они в результате анизотропных взаимодействий особенно способствуют распространению резонансных сигналов 13С. Поперечная, или кросс-поляризация представляет собой многомерный эксперимент, при котором часть чувствительности ядер Ή передается менее чувствительным ядрам 13С [13.5].
Любое магнитно активное ядро создает локальное магнитное поле, имеющее компоненту в направлении внешнего магнитного поля. Оказывается, данная компонента в зависимости от направления локального поля меняет свой знак и с углом Ф = 54°44' принимает нулевое значение в соответствии с фактором 3соs2Ф — 1 = 0 для угловой зависимости. Этот угол Ф = 54°44' называют магическим (magic angle). Проба вращается в измерительном устройстве вокруг оси, которая с внешним магнитным полем образует указанный магический угол. Далее происходит следующее: при достаточно быстром вращении (Spinning) во временном среднем все векторы в пробе принимают угол Ф, и тогда анизотропные взаимодействия исчезают. Скорость вращения должна соответствовать ожидаемой разности химического сдвига и составлять не менее 4 кГц при высоком постоянстве на протяжении многих часов. С помощью описанной методики исследуются, например, синтетические макромолекулы, чтобы на основе полученных отношений структуры/свойства целенаправленно изготовлять новые полимерные материалы и оптимизировать их характеристики [13.16].
13.9.6. Ионный циклотронный резонанс
Использование техники и подходов ЯМР-спектроскопии в масс-спектрометрии привело к созданим масс-спектрометрического метода ионного циклотронного резонанса, обладающего сверхвысоким разрешением. В этом методе ионы, вращающиеся в магнитном поле с циклотронной частотой, определяемой отношением т/е, подвергаются действию электромагнитного излучения в диапазоне радиоволн, которое приводит к возбуждению их циклотронного движения, когда радиочастота совпадает с циклотронной частотой вращения в магнитном поле. После возбуждения детектируется сигнал, наводимый свободно вращающимися ионами на детектирующих пластинах ионной ловушки, в которой проводятся измерения. Преобразование Фурье этого сигнала дает спектр частот вращения, а его калибровка на величину магнитного поля дает спектр масс ионов. Этот метод масс- спектрометрии в настоящее время обладает самой высокой разрешающей способностью и точностью измерения масс. Первоначально он использовался главным образом для исследования ионно-молекулярных реакций, а в настоящее время он является одним из основных методов биологической масс-спектрометрии.
13.10. Резюме и перспективы развития ЯМР-спектроскопии
Во многих отраслях химической промышленности структурный анализ органических соединений остается основным и незаменимым способом исследования. Наряду с собственно активными началами, приходится определять и идентифицировать также промежуточные, побочные продукты, продукты распада и метаболиты. Важнейшим средством изучения структуры веществ является здесь спектроскопия на эффекте ЯМР. Никакой другой метод не в состоянии за столь короткое время выдать такой объем информации о химическом соединении, включая число протонов, вид связи и характер функциональных групп. Конечно, оптические методы на основе УФ/видимой, ИК-областей и комбинационного рассеяния по-прежнему занимают важное место в аналитической химии, но все же основные надежды возлагаются сегодня на ЯМР- и масс-спектроскопию и ее многочисленные модификации. Разного рода двухмерные методики, равно как и ЯМР-измерения на ядрах (l3C, l5N, l9F, 31Р и др.), сообщают этому спектроскопическому методу небывало широкое многообразие и разносторонность применения. Сегодня, пользуясь всего одной ампулой для проб, можно спокойно измерить 1H-спектр, а затем сразу 13С-спектр — без всякой замены технических средств.
Потенциал ЯМР-спектроскопии для сфер медицины, биологии и материаловедения еще далеко не исчерпан. Выявлять строение биомолекул можно непосредственно в растворе. И при этом регистрации подлежит динамическая структура, в то время как при рентгенодиагностике протеин должен присутствовать в кристаллической форме. Постоянно появляется много новых и все более сложных импульсных методов. Здесь проблема заключается в правильной интерпретации спектров и также в технике записи. Современные ЯМР-спектрометры предлагают множество самых разных способов измерения, применение которых требует определенных навыков и соответствующего уровня знаний. Необходимо, например, правильно устанавливать зависимые от констант связи периоды ожидания, в противном случае не избежать серьезных ошибок при расшифровке спектров.
В данный момент чрезвычайно нужны и успешно разрабатываются комплексные программы обработки информации, целью которых является интерпретация сложных молекулярных спектров с получением максимально точного результата. Чтобы такое обилие возможностей поставить на службу пользователям, в том числе начинающим специалистам и студентам, должна быть предложена удобная в обращении концепция, основанная на уже имеющихся данных измерения и не требующая от пользователя детального знания используемой методики. Огромный объем получаемой информации невозможно обработать, не прибегая к помощи сложых методов вычислений. Экспертные системы предлагаются в качестве вспомогательного средства для более совершенной интерпретации спектров — в случаях, когда сравнение с банком данных не дает удовлетворительного результата. Следует отметить, что данная концепция не являет собой нечто застывшее, она отличается чрезвычайной гибкостью, позволяющей максимально полно реализовать имеющиеся возможности.
Развитие последовательностей импульсов при двух- и трехмерной ЯМР-спектроскопии позволяет получить ответы на самые разные вопросы. В последнее время ЯМР-спектроскопия с использованием ядерного эффекта Оверхаузера на основе снабженных изотопными индикаторами протеинов прорвалась уже и в четвертое измерение. Спектры NOES Y (Nuklear Overhauser Enhancement Spectroscopy — усовершенствованная ядерная спектроскопия Оверхаузера) успешно применяют при исследовании строения протеинов. Гомоядерная двухмерная корреляция сдвига дает так называемый спектр COSY (Correlated Spectroscopy). Рядом с «нормальным» спектром на диагонали появляются еще перекрестные сигналы (кросс-пики), демонстрирующие спин-спиновое взаимодействие. При DEPT-эксперименте (Distortionless Enhancement by Polarization Transfer), помимо химического сдвига 13С-сигналов, получают также мультиплетность, то есть данные о том, идет ли речь о третичном либо первичной атоме С.
На этом фоне приборная техника тоже не стоит на месте. ЯМР-спектрометры нового поколения отличаются эффективными импульсными программами с соответствующей компьютеризованной обработкой данных. Сложные последовательности импульсов, то есть серии последовательно включенных сигналов, разделенных постоянными или переменными периодами ожидания, способствуют повышению информативности, создавая условия для интерпретации спектров все более сложных, многокомпонентных соединений. Для примера назовем здесь лишь некоторые из известных импульсных программ: SPI (Selective Population Inversion experiment), INEPT (Intensive Nuclei Enhancement by Polarization Transfer) и INADEQUATE (Incredible Natural Abundance Double Quantum Transfer).
Чрезвычайно активно развивается также Я MP-спектроскопия твердых тел, поскольку она способна показать не только химические, но также надмолекулярные структуры, а именно кристаллические и аморфные области пробы. Дополнительно можно получить информацию касательно динамики молекул или, соответственно, их сегментов. Исторически обусловленной считается главная область использования ЯМР-спектроскопии твердых тел - исследование органических молекул, но ее значение возрастает и в сфере изучения однородных материалов и керамических композитов.
В настоящее время в мире работает примерно 15 000 ЯМР-спектрометров, из которых 90% являются приборами высокого разрешения. Примерно треть всех ЯМР-спектрометров находит применение в медицине. В частности, метод MRI (Magnetic resonance imaging) успешно работает при исследованиях на живых организмах. Больницы и клиники оснащены подобной аппаратурой, позволяющей проводить диагностику состояния определенных органов человека.
ГЛАВА 14. РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ
После открытия лучей, названных его именем, Конрад Вильгельм Рентген в 1895 г., в частности, сообщал: «С помощью этих новых лучей можно отобразить на фотопластинке кости руки живого человека». Тогдашняя пресса посчитала это бредом больного воображения либо глупой шуткой. Даже Ф. Браун, сконструировавший некогда «трубку Брауна», прокомментировал это высказывание следующим образом: «До сих пор Рентген выглядел вполне вменяемым человеком». И только обнародованный Рентгеном снимок кисти руки заставил скептиков замолчать. Врачи сразу же поняли практическое значение открытия Рентгена, который теперь был осыпан всяческими почестями. От рыцарского титула он отказался, а Нобелевскую премию по физике в 1901 г. с благодарностью принял. Первым элементом, открытым в 1922 г. с помощью рентгеновской спектроскопии, был гафний.
В химико-аналитической практике оптические атомные и рентгеновские спектры привлекают для проведения качественных анализов и количественного определения элементов. Если в случае оптических атомных спектров используют эмиссию, поглощение и флуоресценцию, то в случае рентгеновских спектров преимущественно оценивают наблюдаемое флуоресцентное излучение. Рентгенофлуоресцентный анализ стал сегодня стандартным методом во многих областях — в минералогии, на промышленном производстве, при идентификации материалов и проч. С его помощью можно исследовать без разрушения образца почти все жидкие и твердые вещества. Классический анализ по принципу рентгеновской флуоресценции, как правило, не требует длительной пробоподготовки и поэтому особенно привлекателен для сферы контроля твердых образцов промышленной продукции разного рода.
При рентгеновской флуоресценции характеристические эмиссионные линии возникают в результате ухода электронов с внутренних орбиталей. При этом освободившиеся орбитали заполняются в результате перехода электронов из внешних оболочек с эмиссией рентгеновского излучения. По сравнению со спектроскопией в УФ- и видимой областях спектра, где вследствие большего числа возможных переходов получаются достаточно сложные спектры, рентгеновские спектры отличаются своей простотой. Помимо прочего, они практически не зависимы от вида химической связи атомов, ибо таковая возникает только в результате электронного взаимодействия с внешними валентными электронами.
Но разности энергий между внутренними орбиталями очень велики, поэтому электромагнитное излучение для наблюдения этих переходов обладает огромной энергией и находится в области рентгеновского излучения. Такое излучение включает в себя интервалы длин волн от 0,01 до 20 нм, причем в химико-аналитических целях используется в большинстве случаев только область от 0,02 до 2 нм. В настоящее время обилие разных типов спектрометров — от самых простых и дешевых исполнений для определения отдельных элементов до более сложных и дорогих систем — позволяет эффективно проводить исследование разных проб в больших объемах.
В основу рентгенофлуоресцентного анализа положен закон Мозеля, согласно которому длина волны исходящего от пробы излучения определяется порядковым номером излучающего элемента. На основе длины волны и энергии спектральной линии достигается качественное определение химического состава пробы. Между тем успешное проведение оптической спектрометрии (атомно-абсорбционной или эмиссионной с индуктивно связанной плазмой) предполагает, что по составу пробы уже можно судить о том, что именно следует искать. Спектроскопия рентгеновской флуоресценции предлагает вариант возможной рационализации многоэлементного анализа сырьевых, вспомогательных и производственных материалов, отличающихся химическим многообразием и широкими аналитическими областями измерения для большого числа элементов.
Поскольку интенсивность излучения зависит от количества одновременно возбужденных атомов, рентгеноспектральный анализ может использоваться и для количественных определений. В зависимости от определяемого элемента, возможна работа на уровне миллионных долей (м. д.). Все шире внедряемые в последнее время управляющие ЭВМ позволяют значительно усовершенствовать процесс управления спектрометрами, что одновременно повышает прецизионность метода в целом. С помощью рентгеновской флуоресценции можно сегодня определять элементы с относительной точностью 0,05%. Однако, принимая во внимание довольно плохие пределы обнаружения, данный метод не столь привлекателен в отношении следовых и ультраследовых анализов.
Хотя рентгеновское излучение было открыто довольно давно и еще в 1913 г. Мозель доказал, что между частотой рентгеновских лучей и квадратом порядковых номеров элементов существует линейная зависимость, лишь в 50-х годах химико-аналитические лаборатории стали оснащаться спектральными приборами серийного производства для проведения рентгенофлуоресцентных анализов. Поскольку данный метод позволяет проводить абсолютно недеструкционное исследование почти всех твердых и жидких образцов, он быстро приобрел популярность. Правда, работать приходилось преимущественно с вполне тяжелыми элементами (с порядковым номером > 20) и требовались достаточно высокие концентрации. Но все возрастающее распространение метода, поставившее его в один ряд с известными стандартными способами спектрального исследования, способствовало стремительному повышению степени автоматизации. В довершение, обслуживание оборудования значительно облегчалось благодаря разработке соответствующего программного обеспечения.
Спектральный метод рентгеновской флуоресценции для измерения толщины слоев был освоен на уровне промышленного производства только в начале 80-х годов, но очень быстро стал одним из важнейших методов бесконтактного и проводимого без разрушения материала измерения толщины слоев, причем с возможностью определения толщин довольно тонких слоев на минимальной площади измерения. С его помощью можно быстро и без проблем измерять толщины гальванических слоев, в том числе и в многослойных образцах.
Указанные преимущества рентгеноспектрального анализа способствовали тому, что благодаря успешным техническим разработкам удалось значительно расширить область применения данного метода, в том числе и в отношении более легких элементов (ограничения остаются пока на уровне бора), создав возможности для проведения даже микро- и следовых определений. Кроме того, с привлечением математических способов коррекции удается в достаточной мере компенсировать — чрезвычайно сильные именно при рентгеновской эмиссии — взаимные влияния элементов на интенсивность характеристических рентгеновских лучей. Необходимые для этой цели средства обработки данных были заметно усовершенствованы в последние годы параллельно с возможностью улучшения управления спектрометрами [14.1].
Микропроцессорная техника внесла неоценимый вклад в дело внедрения спектроскопии рентгеновской флуоресценции в разные отрасли промышленного производства. Конечно, электроника в некотором роде маскирует фактические процессы, связанные с измерением. Все операции по измерению, пересчету, считыванию диаграмм и статистическому анализу выполняются сегодня простым нажатием клавиш. Повышенный уровень автоматизации и удобные в пользовании программные средства позволили поставить рассматриваемый метод в один ряд с широко известными и давно практикуемыми стандартными приемами. Ясно, что при этом было несколько утрачено понимание принципа действия рентгеновской флуоресценции — так сказать, на чувственном уровне. Тем важнее представляется необходимость подробного описания этого метода и уточнения относящейся к нему терминологии.
Из всей сферы рентгеноспектральных анализов следует особо выделить рентгеновскую спектрометрию с полным внутренним отражением, обладающую чрезвычайно высокой способностью к абсолютному обнаружению. Возбуждение осуществляется здесь посредством первичного луча с полным отражением на пробе. Абсолютная обнаружительная способность достигается уровня пикограмм (пГ), так как в условиях полного отражения возбуждающее излучение не проникает в держатель пробы, значит, фон в спектре — при отсутствии рассеянного излучения — остается предельно низким. Благодаря многократному отражению удается еще более усилить чувствительность метода.
14.1. Понятие рентгеновской флуоресценции
Под флуоресценцией понимают наблюдаемое у твердых тех, жидкостей и газов явление, при котором падающее электромагнитное излучение (например, свет или рентгеновский луч) частично поглощается и затем вновь испускается в виде излучения равной или большей длины волны. В отличие от фосфоресценции, при флуоресценции вторичное испускание света затухает практически одновременно с прекращением первичного излучения.
В случае рентгеновской флуоресценции речь идет о возбуждении эмиссионных линий в области рентгеновского спектра, причем возбуждение осуществляется также посредством рентгеновских лучей. При облучении пробы мягким рентгеновским излучением характеристические для каждого атома длины волн в зоне рентгеновского излучения исходят в виде флуоресцентного свечения. Этот эффект издавна используют для проведения количественных анализов при изучении химического состава поверхности металлов, горных пород и т.п. При этом никакого разрушения исследуемой поверхности не происходит. В последнее время описанное явление стало широко применяться при измерении толщины слоев.
14.2. Теоретические основы метода
В одном только 1896 г. было опубликовано свыше 1000 научных работ на тему рентгеновских лучей. Интересно, что при этом никто точно не знал, что же они собой, собственно, представляют. Рентген лишь сообщал, что такие лучи возникают, когда электроны в вакуумной трубке сталкиваются с неким препятствием. И лишь в 1912 г. стало ясно, что речь идет об электромагнитных волнах. Итак, рентгеновское излучение есть электромагнитное излучение с длинами волн в нанометровом интервале и энергией кванта в области кэВ-единиц, где для пересчета берем: 1,24 кэВ = 1 нм. Таким образом, энергия рентгеновского излучения примерно в 5000 раз превышает энергию видимого света. Генерируется рентгеновское излучение, как и видимый свет, в электронной оболочке атома, но поступает оно из крайней внутренней зоны электронных орбиталей. Проба, испускающая рентгеновское излучение, предварительно возбуждается электронами, рентгеновскими или гамма-лучами. При этом для интенсивности эмиссии решающее значение имеют вероятность возбуждения элементов и поглощающая способность пробы. Рентгеновский спектр, возбужденный электронами соответствующей кинетической энергии, состоит из:
Но возбуждение электронами возможно только в высоком вакууме. Поскольку для получения высокого вакуума требуется достаточно дорогое оборудование, такой способ возбуждения используется сегодня почти исключительно только в растровых электронных микроскопах (микрозондах) [14.2].
Гораздо менее затратным оказался метод возбуждения высокоэнергетическими фотонами, то есть теми же рентгеновскими лучами, но с более короткой длиной волны, либо гамма-лучами соответствующей энергии. Именно на основании этого поглощаемого коротковолнового, высокоэнергетического электромагнитного излучения данный метод получил название рентгеновской флуоресценции. Следовательно, на практике имеет место возбуждение, которое приводит к характеристической для данной пробы рентгеновской эмиссии, что достигается посредством излучения рентгеновской трубки либо гамма-излучения радионуклида.
В соответствии с оболочечной моделью (рис. 14.1), электроны кружат вокруг ядра атома по определенным траекториям. Ближайшую к атомному ядру оболочку называют К-оболочка, прочие же, более удаленные, именуются L-, Μ-, N-оболочками и т.д. Для удаления электрона из атома придется потратить определенную энергию. Эта энергия, а именно энергия ионизации, тем больше, чем ближе находится электрон к ядру атома, то есть тем больший энергетический вклад потребуется для извлечения электрона из оболочки.
При этом имеем:
|
где mе — масса_ покоя электрона, е0 — элементарный заряд, σ - константа экранирования, Ζ — порядковый номер элемента, n1, n2 — главные квантовые числа.
Поскольку каждый отдельный атом имеет характеристическую для него схему энергетических уровней, то и разности энергий между отдельными оболочками будут абсолютно характеристическими для разных сортов атомов. Характеристический рентгеновский спектр имеет меньше линий, чем оптические спектры. Это объясняется ограниченным числом энергетических уровней, участвующих в генерации рентгеновских лучей. УФ-спектры, у которых электроны поднимаются на внешние, частично либо полностью пустые, орбитали, по причине большего числа возможных электронных переходов значительно сложнее рентгеновских спектров. К тому же рентгеновские спектры в большинстве случаев никак не зависят от вида химической связи. Их зависимость от номера элемента открыл английский физик Мозель, и в его честь соответствующий закон был назван законом Мозеля.
Все переходы, заканчивающиеся на определенной оболочке, по аналогии с оптическими спектрами объединяются в серию. В соответствии с этим К-серия включает в себя все рентгеновские переходы, конечным уровнем которых является К-оболочка (рис. 14.2).
Следует различать Κα-излучение, которое возникает, когда электрон переходит из L-оболочки в К-оболочку, и Кβ-излучение, возникающие при переходе электрона из Μ-оболочки в К-оболочку. Если причиной характеристического излучения рентгеновской флуоресценции является переход электронов атома на свободное место в L-оболочке, то такое излучение обозначают как L-излучение. В соответствии с приведенной выше классификацией здесь выделяют также Lα-излучение, которое возникает, если электрон до этого находился в М-оболочке, и Lβ-излучение, если электрон прежде был в N-оболочке.
Процесс перераспределения электронов в атоме может продолжаться до тех пор, пока атом вновь не вернется в основное состояние, то есть обмен последнего электрона происходит из самых крайних внешних оболочек атома, где изменения в электронной конфигурации квазинепрерывны.
14.2.1. Оже-эффект
Чтобы вернуть атом в невозбужденное, или основное, состояние, имеется, помимо рентгеновской флуоресценции, еще второй вариант, связанный с безызлучательным переходом. Этот процесс известен под названием эффекта Оже. Первое возбужденное состояние вызывается здесь дыркой в К-оболочке, после чего идет процесс релаксации, обусловленный переходом электрона L-оболочки на это пустое место в К-оболочке. При таком переходе генерируется Кα-излучение, которое, однако, не покидает атом, а, в свою очередь, выбивает М-электрон (рис. 14.3).
Таким образом, при Оже-эффекге энергия передается третьему электрону, у которого теперь хватает энергии чтобы преодолеть барьер внутриатомной связи, — это и есть так называемый Оже-электрон. Следовательно, сначала создается высокоэнергетический квант рентгеновского излучения в результате внутреннего перехода электрона, который в процессе внутреннего фотоэффекта выбрасывает электрон внешней оболочки с соответствующей кинетической энергией.
14.2.2. Квантовый выход флуоресценции
Когда же происходит эмиссия кванта рентгеновского излучения и когда «катапультируется» Оже-электрон? Эти процессы регулируются законами квантовой механики, на основе которых вычисляются вероятности возбуждения. Фактически оба явления происходят одновременно, и от типа используемого спектрометра и системы детектирования зависит, какой из сигналов используется для получения информации.
Итак, у элементов с высокими порядковыми числами преобладает рентгеновское излучение, а в случае более легких элементов детектируется Оже-электрон.
Интенсивность рентгенофлуоресцентного излучения и, следовательно, чувствительность обнаружения и точность определения зависят от вида возбуждаемого элемента, а также от энергии и интенсивности возбуждающего излучения. В целом, из n совершенных электронных переходов лишь доля nf/n приводят к эмиссии кванта рентгеновского излучения и это есть так называемый выход флуоресценции.
Таким образом, выход флуоресценции есть число _nf рентгеновских фотонов, излученных определенной серией в единицу времени, деленное на совокупность n дырок, образовавшихся в единицу времени на соответствующем уровне._
Кванты рентгеновского излучения, освободившиеся в результате оставшихся (n — n1) электронных переходов, пребывают в атоме и приводят к испусканию Оже-электронов. Как для К-, так и для L-серии выход флуоресценции заметно снижается с уменьшением порядкового номера элемента (рис. 14.4.). Поэтому анализ более легких элементов на основе рентгеновской флуоресценции требует особенно благоприятных условий возбуждения.
14.3. Характеристические спектральные линии
Пошаговый возврат в основное состояние происходит согласно простым правилам отбора, с помощью которых можно объяснить основную часть наблюдаемого характеристического излучения. Итак, следует различать три категории переходов:
В отношении нормальных переходов действуют следующие правила отбора:
Δn ≥ 1 n - главное квантовое число;
Δl = ±1 - l орбитальное квантовое число;
Δj = ±1 или 0 - j спиновое квантовое число.
Таким образом, переходы с s-орбитали на s-орбиталь (Δl = 0) или, соответственно, с d-орбитали на s-орбиталь (Δl = 2) — запрещены.
Самой распространенной причиной появления линий-сателлитов являются переходы, происходящие при двукратной ионизации атома. Возможное излучение как следствие электронного перехода в однократно ионизированном атоме отличается от излучения, при котором атом находится в состоянии двукратной ионизации. Это очевидно, поскольку вторая дырка приводит к возмущению уровня первой, и в обычной ситуации приводит к повышению энергии связи электронов.
По этой причине длины волн излучения, испускаемого атомами с двукратной ионизацией, сравнительно короче. Двукратная ионизация может быть реализована разными способами, причем доминирующим процессом является эффект Оже.
Различные виды разрешенных переходов лучше всего продемонстрировать с помощью диаграмм переходов и соответствующих эмиссионных линий. Ниже будет рассмотрено два наиболее типичных примера.
14.3.1. К-спектр олова
К-спектры появляются при заполнении электронами дырок в К-оболочке и, как правило, построены достаточно просто. При выбивании К-электрона из олова можно наблюдать семь линий (рис. 14.5). Согласно правилам отбора, должно быть только шесть линий, три дублета соответственно переходам с 4p-, 3р- и 2р-уровней. Эти линии фактически и появляются, правда, при этом в эмиссионной диаграмме можно распознать только α1 и α2 в виде дублета.
Имеется два запрещенных перехода, а именно 3d > 1s и 4d > 1s. Они считаются запрещенными в силу того, что для них обоих разница в орбитальном квантовом числе принимает значение 2, что противоречит правилам отбора. Как все запрещенные линии, эти линии очень слабы и едва ли могут быть распознаны в наблюдаемом спектре.
14.3.2. L-спектр золота
L-спектры всегда возникают как результат электронных переходов, заполняющих дырки L-уровня. В отличие от одного-единственного К-уровня, существует целых три L-уровня, так что число разрешенных L-переходов в соответствии с правилами отбора значительно больше. В связи с этим L-спектры сложнее по своей структуре, и в случае элементов с высоким порядковым номером удается наблюдать от 20 до 30 нормальных линий. На рис. 14.6 представлен L-спектр золота.
14.4. Закон Мозли
Мозли измерил эмиссионные спектры для ряда элементов и вывел в 1913 г. названный его именем закон, согласно которому существует прямая связь между энергией Е или, соответственно, длиной волны λ линии одной спектральной серии и порядковым номером или зарядовым числом Z излучающего атома.
|
Итак, длина волны линии рентгеновского спектра обратно пропорциональна квадрату зарядового числа атома соответствующего элемента.
Константа экранирования σ описывает экранирующее действие электронной оболочки относительно ядра. С увеличением порядкового номера возрастает и σ, (Ζ — σ) обозначается как эффективное зарядовое число. В отличие от оптической атомной спектрометрии, при такой зависимости существует закономерная возможность прогнозирования положения линий в рентгеновском спектре (рис. 14.7). Если мы в состоянии определить величины энергии и, соответственно, длины волн излученного пробой характеристического спектра, то на этом основании можем сделать вывод о содержащихся в пробах элементах (качественный анализ). Это и есть основа рентгеноспектрального анализа, причем данное условие — за некоторым исключением для элементов с низким порядковым номером — не зависит от состояния связи.
Поскольку интенсивность рентгеновской эмиссии пробы при определенной длине волны или, соответственно, при определенной энергии зависит от числа одновременно возбужденных атомов, то измерение интенсивности после соответствующей калибровки можно использовать в целях количественного анализа. При этом рентгеновское К-излучение обладает гораздо большей энергией, чем рентгеновское L-излучение.
14.5. Возбуждение
Рентгенофлуоресцентное излучение возможно только при условии, что атомы исследуемого материала предварительно ионизируются. В принципе любая высокоэнергетическая частица может использоваться для возбуждения характеристического излучения. Если энергия, необходимая для генерации кванта рентгеновского излучения hν, передается в результате столкновения электронов, то можно говорить о рентгеновской эмиссии, в то время как при возбуждении посредством высокоэнергетического первичного рентгеновского излучения имеет место рентгеновская флуоресценция. Возбуждение электронами соответствующей кинетической энергии возможно только в высоком вакууме. Если пробы предстоит исследовать таким способом, то их придется поместить сначала в высокий вакуум. В аппаратурном отношении это весьма сложный и затратный метод, применяемый практически лишь в растровых электронных микроскопах.
Много проще возбуждение пробы излучением из рентгеновской трубки либо y-излучением радионуклидов. Большинство предлагаемых фирмами рентгеноспектрометров оснащено источником первичного рентгеновского излучения, состоящего из закрытой рентгеновской трубки со стабилизированным генератором высокого напряжения. Таким образом, материя ионизируется посредством рентгеновских лучей, причем энергия такого излучения выше энергии испускаемого затем характеристического излучения. Впрочем, для целей возбуждения можно использовать также электроны, протоны, ионы и гамма-лучи.
14.5.1. Генерация рентгеновских лучей
Электронная рентгеновская трубка, описанная впервые еще в 1913 г. и затем отлично зарекомендовавшая себя в качестве источника рентгеновского излучения при проведении простых рентгеноспектральных анализов, питается от стабилизированного высоковольтного генератора мощностью 2—5 кВт при напряжении до 100 кВ. Вольфрамовым накаливаемым катодом испускаются электроны, которые при подаче отрицательного высокого напряжения ускоряются в электрическом поле. Для достижения достаточно большой длины свободного пробега электронов рентгеновская трубка находится в разреженном состоянии. При столкновении электронов с анодом кинетическая энергия электронов в результате взаимодействия с атомами материала анода преобразуется в рентгеновское излучение (рис 14.8). При этом в рентгеновских трубках возможна генерация только полихромного излучения. Возникшее рентгеновское излучение складывается из линейчатого спектра материала анода и непрерывного спектра тормозного излучения.
14.5.1.1. Тормозное рентгеновское излучение
При встрече пучка электронов с анодом лишь часть бомбардирующих электронов вызывает характеристическое излучение. Так называемые первичные электроны проникают в анод и затормаживаются в результате взаимодействия с бомбардируемыми атомами. Если затормаживание первичных электронов осуществляется под действием электрических полей атомов (кулоновских полей), то кинетическая энергия электронов частично либо полностью преобразуется в электромагнитное излучение. И тогда возникает так называемое тормозное рентгеновское излучение. Так как уменьшение кинетической энергии при таком процессе не имеет ограничений, но может принимать значения от нуля до максимума, тормозное рентгеновское излучение дает непрерывный спектр тормозного излучения.
14.5.1.2. Характеристическое излучение
При проникновении в анод первичные электроны затормаживаются не только посредством кулоновских полей атомов, но и за счет прямых столкновений с электронами оболочки бомбардируемых атомов. Как результат подобных столкновительных процессов возможна ионизация первичными электронами внутренних электронных оболочек бомбардируемых атомов. Образовавшаяся дырка заполняется за счет переходов электронов из вышележащих энергетических уровней, и тогда происходит рентгеновская флуоресценция материала анода. Наряду с характеристическим излучением (Κα,, Ка2 и Kß) на рис. 14.9 показаны заштрихованные участки компонентов излучения в виде непрерывного спектра (тормозного излучения).
14.5.1.3. Выбор материала для анода
Для возбуждения рентгеновской флуоресценции можно при использовании рентгеновской трубки выбирать как тормозное излучение, так и собственное излучение анодного материла. Для достижения высокой интенсивности и, следовательно, сокращения периода регистрации рекомендуются рентгеновские трубки с высокой термостойкостью анода.
Более 99% кинетической энергии, которой обладают испускаемые катодом электроны, преобразуется в аноде в тепловую энергию, и лишь менее 1 % может использоваться в качестве рентгеновского излучения.
Поэтому рентгеновские трубки мощностью выше 200 Вт необходимо обязательно охлаждать водой. При работе с трубками меньшей мощности от такого охлаждения можно отказаться. Предлагаются трубки с анодами из вольфрама, молибдена, хрома, железа, иногда из меди. При этом флуоресцентное излучение будет тем интенсивнее, чем ближе возбуждающее излучение на коротковолновой стороне к границе поглощения возбуждаемого элемента.
Итак, самое интенсивное собственное излучение будет у анода из материала, чей порядковый номер на 2 единицы больше порядкового номер возбуждаемого элемента.
Этим правилом следует руководствоваться при выборе рентгеновской трубки для особо чувствительных измерений. На практике же обычно требуется определение сразу нескольких элементов в одной пробе, так что при выборе анода приходится искать некое компромиссное решение. Для анализа смеси элементов используют в большинстве случаев интенсивный спектр тормозного излучения вольфрама или молибдена.
14.6. Поглощение рентгеновских лучей
Когда рентгеновское излучение попадает на абсорбер, то наряду с собственно рентгеновской флуоресценцией протекает еще много других процессов (рис. 14.10). Рентгеновские лучи при прохождении через материю поглощаются и рассеиваются. В показанном примере рентгеновский луч с длиной волны λ и интенсивностью I0 попадает на поглощающий материал i толщиной хi и плотностью ρi Каждый отдельный падающий рентгеновский фотон может проходить через один из трех описанных ниже процессов.
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ЭФФЕКТ
При этом явлении речь идет о выбивании электронов в результате взаимодействия фотонов. Фотоэлектрическое поглощение происходит на любом энергетическом уровне атома.
РАССЕЯНИЕ
Рассеяние может возникнуть при взаимодействии между рентгеновским фотоном и электроном материала абсорбера. Если при этом имеет место упругое столкновение, то есть если при столкновении нет потери энергии, то говорят о когерентном, или рэлеевском, рассеянии. Такой процесс не связан с изменением энергии, поэтому длина волны рассеянного излучения равна длине волны падающего излучения. Но может так случиться, что рентгеновский фотон при столкновении потеряет часть своей энергии, особенно если электрон слабо связан, и тогда это будет некогерентное рассеяние. В результате обусловленной этим обстоятельством потери энергии длина волны при так называемом эффекте Комптона превышает таковую у первичного излучения.
АБСОРБЦИЯ
Часть излучения проходит сквозь абсорбер. Длина волны проходящего излучения не претерпевает при этом никаких изменений. Для такого процесса поглощения действительны в основном те же закономерности, что и для поглощения света, то есть в отношении интенсивности проходящего луча будет справедливо:
|
где μ есть весовой коэффициент поглощения абсорбера для определенной длины волны, зависимый от фотоэлектрического поглощения и рассеяния.
На рис. 14.11 для вольфрама показана зависимость весового коэффициента поглощения от длины волны. Весовой коэффициент поглощения монотонно повышается с увеличением длины волны, причем это повышение протекает пропорционально третьей степенью длины волны и четвертой степенью порядкового номера абсорбера. На приведенной характеристической кривой отмечено несколько мест перехода, так называемых границ поглощения, обозначаемых через К, L1 L2, L3 и т.д.
Границы, или края (полосы), поглощения соответствуют энергии связи электронов на определенных уровнях. Если поглощенная длина волны меньше длины волны этой границы, электрон соответствующего уровня может отделяться. Если длина волны достигает величины, превышающей границу поглощения, то фотоэлектрическое поглощение уже не возможно, и общий коэффициент поглощения соответствующим образом уменьшается. Значения весовых коэффициентов поглощения известны для большей части рентгеновского излучения и представлены в наглядной табличной форме.
14.6.1. Возбуждение характеристического излучения
На рис. 14.12 показана геометрия лучей, какая обычно имеет место в рентгеноспектрометре. С целью упрощения отношений, в графическом изображении выбрана только одна длина волны λ, хотя падающее первичное излучение является полихромным. Первичное излучение обладает интенсивностью ΙФλ. Часть ее проникает в пробу на глубину до dp проходит при этом путь xp и имеет затем интенсивность I. Величина хp определяется весовым коэффициентом поглощения пробы.
При условии, что энергия падающих рентгеновских фотонов больше потенциала возбуждения пробы, происходит возбуждение характеристических линий. На приведенном рисунке показана только одна из этих линий. Исходная интенсивность для вторичного излучения IФλi. Предполагается на глубине ds пробы, и измеряемая интенсивность вторичного излучения Iλi опять-таки зависит от весового коэффициента поглощения пробы.
14.6.2. Первичная и вторичная абсорбция
Из предыдущего раздела следует, что интенсивность вторичного излучения зависит от поглощения первичного излучения в пробе и от ослабления вторично возбужденного излучения. Рисунок 14.13 приводит общую схему процесса возбуждения, где в определенном элементе длина волны Л возбуждается непрерывным излучением из источника — рентгеновской трубки. Эффективная зона такого излучения находится между коротковолновым концом непрерывного спектра λмин и краем полосы поглощения λк возбужденного элемента (рис. 14.13).
Как правило, самым эффективным для возбуждения излучением является ближайшее к границе поглощения.
Коротковолновое первичное излучение достаточно глубоко проникает в пробу, поскольку оно обычно меньше поглощается матрицей пробы, чем возбужденное флуоресценцией низкоэнергетическое излучение. Первичное излучение коротковолновой зоны непрерывного спектра, возможно, и вызывает возбуждение, но характеристическое излучение при этом возникает в пробе на глубине, из которой ему уже не пробиться. Это означает, что длины волн, ближе всех располагающиеся к границе поглощения на коротковолновой стороне, лучше прочих подходят для возбуждения.
Интенсивность излучения зависит от поглощения при выходе из материала пробы. Этот эффект называется вторичной абсорбцией. Еще одним влияющим фактором является поглощение в пробе возбужденного излучения с непрерывным спектром, так называемая первичная абсорбция. Поскольку в случае возбуждения характеристического излучения речь идет о монохромной линии, то при изменении характеристики поглощения пробы она гораздо чувствительнее полихромного непрерывного спектра. Поэтому вторичная абсорбция в любом случае многократно превышает первичную абсорбцию.
Если в пробе содержится несколько элементов, то интенсивность флуоресценции анализируемого элемента определяется видом и количеством сопутствующих элементов или примесей. Первичное излучение поглощается также и матрицей, в связи с чем интенсивность флуоресценции анализируемого элемента падает. Исходящее от анализируемого элемента флуоресцентное излучение также частично поглощается матрицей. Флуоресценция, испускаемая примесями, возбуждает анализируемый элемент для дальнейшего флуоресцентного излучения. В силу этих межэлементных явлений уже не соблюдается пропорциональность между интенсивностью флуоресценции и числом частиц. Однако, в отличие от оптической спектрометрии, в простых случаях интенсивность флуоресценции элемента при заданном составе пробы можно корректировать при обработке спектров.
14.7. Рентгеновская трубка
Первичное излучение рентгеновской трубки возбуждает элементы в пробе для флуоресценции. Трубки в большинстве случаев имеют окно для выхода излучения сбоку, поэтому их так и называют — рентгеновские трубки с боковым окном. Но имеются также рентгеновские трубки с торцевым окном, естественно, с выходным окном на торцевой поверхности. В качестве материала для окон выбирается исключительно бериллий толщиной 0,3 мм. Трубки с торцевым окном используются все чаще, поскольку при таком исполнении, в отличие от трубок с боковым окном, катод находится при потенциале земли, а анод соответственно при положительном потенциале. За счет этого достигается меньшее обратное рассеяние электронов катодных лучей, что уменьшает нагрузку на материал окна, и, значит, окна могут быть значительно тоньше — толщиной всего 0,125 мм.
Прежде чем генерируемые в трубке лучи начнут взаимодействовать с пробой, они еще должны проникнуть через это окно. При этом потери будут тем меньше, чем легче и тоньше будет материал окна. Именно по этой причине их почти всегда изготовляют из бериллия. Однако уменьшение толщины окна, что особенно важно в случае возбуждения легких элементов, имеет свои пределы, так как отраженные анодом электроны нагружают материал окна. Но поскольку это обратное рассеяние электронов уменьшается с понижением порядкового номера материала анода, в настоящее время для определения легких элементов применяют трубки из скандия (с порядковым номером 21) вместо ранее популярных хромовых трубок (с порядковым номером 24).
Так как чувствительность обнаружения в немалой степени обусловливается фоновым излучением, а оно состоит прежде всего из рассеянного пробой излучения трубки, то это влияние удается заметно ослабить с помощью фильтров первичного излучения.
Итак, для возбуждения рентгеновской флуоресценции требуется только рентгеновское излучение, энергия которого больше таковой на границе поглощения определяемого элемента.
Однако необходимое для анализа характеристическое излучение элемента находится в интервале более длинных волн, чем граница поглощения, так что рассеянное излучение этого диапазона длин волн может быть значительно понижено фильтром первичного излучения. Но тогда при отборе придется учитывать все подлежащие определению элементы пробы.
При возбуждении с помощью рентгеновской трубки одинаково важны как тормозное излучение, так и собственное излучение материала анода. С одной стороны, следовало бы стремиться к как можно более высокой интенсивности рентгеновской флуоресценции, так как при этом можно было бы достигнуть большей чувствительности и, следовательно, низких пределов обнаружения. С другой стороны, интенсивность возбужденной флуоресценции тем выше, чем в большей степени возбуждающее излучение на коротковолновой, богатой энергией стороне приближается к соответствующей границе поглощения. Но поскольку почти всегда анализируются пробы с большим количеством элементов, здесь приходится идти на определенный компромисс. Самым универсальным вариантом представляется анод из родия, для легких элементов предлагается рентгеновская трубка из скандия, а для тяжелых элементах чаще всего используется вольфрамовый анод.
Для специального применения можно попробовать также двуханодные рентгеновские трубки, состоящие, например, из тонкого слоя хрома, нанесенного на золотой анод. В этом случае при работе с небольшим напряжением электроны проникают только в хромовый слой, и тогда получается эффект действия хромовой трубки, которая очень удобна для возбуждения флуоресценции легких элементов. При более высоких напряжениях ускорения электронов в трубке она действует уже как золотая трубка, рекомендуемая для возбуждения достаточно тяжелых элементов.
14.7.1. Возбуждение посредством радионуклидов
Подходящими радиоактивными изотопами для возбуждения рентгеновской флуоресценции считаются 55Fe, 109Cd, 241Am и 244Cm. При использовании таких источников возбуждения приходится дополнительно учитывать период полураспада радионуклидов, так как при малом периоде нередко требуется дополнительная калибровка или даже замена источника.
Если рентгеновские трубки возбуждают все элементы пробы, кроме таковых с очень низким порядковым номером, то с помощью радионуклидов могут возбуждаться только совершенно определенные группы элементов. Поэтому соответствующие приборы приходится оснащать сразу несколькими источниками. В данном случае речь обычно идет о портативных устройствах особого назначения, оснащенных специальными системами детектирования с дисперсией по энергии.
14.8. Рентгеновские спектрометры
Так как при качественном анализе характеристической является длина волны эмиссионного излучения, а при количественном анализе измеряется интенсивность в зависимости от длины волны, то перед измерением интенсивности излучение надо разложить на отдельные длины волн. Дисперсия рентгеновского излучения в отдельные длины волн возможна с помощью дифракционных кристаллов, причем излучение дифрагируется на плоскостях кристаллической решетки.
Энергию излучения можно измерять с помощью полупроводниковых детекторов, импульс напряжения которых прямо пропорционален соответствующей энергии излучения. Итак, с точки зрения приборной техники различают следующие виды анализа на основе рентгеновской флуоресценции:
Для записи рентгеновского спектра проб с дисперсией по длине волны отдельные длины волн сканируются последовательно друг за другом при непрерывном вращении дифракционного кристалла и детектора в гониометре, после чего осуществляется регистрация спектра, например с помощью линейного самописца. При рентгенофлуоресцентном анализе с дисперсией по энергии все энергетические зоны регистрируются одновременно, после чего спектр (интенсивность в зависимости от энергии) непрерывно отображается, например на экране дисплея присоединенной системы обработки данных, с последующим выводом на печать (рис. 14.14).
Для количественного анализа пробы спектрометр может последовательно измерять интенсивности отдельных характеристических линий. В приборах с дисперсией по длине волны, оснащенных несколькими дифракционными кристаллами и детекторами, это осуществляется всегда одновременно, как и в случае приборов с дисперсией по энергии. Поэтому, с учетом того или иного принципа действия, различают:
14.8.1. Метод с дисперсией по длине волны
В этом методе флуоресцентное излучение материала пробы подвергается спектральному разложению с помощью крупного монокристалла согласно условиям брэгговской дифракции. Здесь устанавливается, какие специфичные для элементов длины волн содержатся во флуоресцентном свечении и какой интенсивностью они обладают. Спектральное разложение достигается в результате дифракции на кристаллах, отражающих на каждой плоскости кристаллической решетки. Из этих отраженных лучей путем интерференции усиливаются те, для которых выполнено отношение Брэгга:
|
Все прочие лучи, наоборот, посредством интерференции элиминируются. В приведенном отношении d есть межплоскостное расстояние в дифракционном кристалле, Ф — угол падения излучения на кристаллическую плоскость, n — натуральное число, показывающее порядок дифракции.
Поскольку известно, под каким углом определенная длина волны дифрагируется на монокристалле, то достаточно измерить углы и отнести затем к каждому из них соответствующие длины волн. Так как теперь синус может принимать максимальное значение 1, от кристалла тоже может излучаться длина волны максимум 2d/n, то есть для каждого кристалла существует предельная анализируемая длина волны, равная двойному интервалу между плоскостями кристалла. Так как угловое разрешение понижается с уменьшением угла дифракции, то с точки зрения пригодности кристаллов имеется некий нижний предел длин волн, составляющий около 15% межплоскостного расстояния для дифракции в первом порядке. Таким образом, для каждого отдельного кристалла существует определенный интервал длин волн, в котором этот кристалл может использоваться. Для полного анализа — от бериллия до урана — потребуется от 8 до 10 разных кристаллов.
В рентгеноспектрометрии существует достаточно большой выбор разных кристаллов, так что для определенного интервала длин волн можно выбрать оптимальный вариант. Применительно к каждому монокристаллу имеется своя таблица с указанием углов дифракции для соответствующих длин волн. При измерении интенсивности излучения той или иной длины волны счетчик устанавливается в соответствующем угловом положении относительно монокристалла, и через определенный промежуток времени измеряется число квантов падающего рентгеновского излучения. Частота повторения импульсов соответствует интенсивности излучения и пропорциональна концентрации измеряемого элемента в пробе.
Рентгенофлуоресцентные спектрометры с дисперсией по длине волны функционируют последовательно, так как при измерении один элемент следует за другим. В многоканальных спектрометрах одновременного действия встроены полностью автоматические гониометры, регистрирующие весь набор элементов, измеряемых посредством рентгеновской флуоресценции. Спектр измеряемых элементов у приборов такого типа в силу аппаратурных причин значительно больше, чем это бывает при одновременном измерении с дисперсией по энергии. Кроме того, в случае методики последовательного действия создается возможность гибкого реагирования на самые разные составы пробы. Это касается, например, измерения фоновых сигналов и коррекции перекрытий линий [14.3].
В отличие от рентгенофлуоресцентного анализа с дисперсией по энергии, достаточно дорогостоящая техника для анализа с дисперсией по длине волны работает с оптикой высокого разрешения и, благодаря своим конструктивным особенностям, имеет лучшие пределы обнаружения для легких элементов. Как правило, здесь находят применение рентгеновские трубки мощностью 3 кВт, так что такие устройства нуждаются в водяном охлаждении. Разработанные не так давно трубки с керамическим выходным окном расходуют всего 200 Вт [14.4]. Благодаря долговременной стабильности этих приборов они вполне пригодны даже для проведения следовых анализов. Это относится также к неметаллическим элементам, таким как галогены, фосфор и сера, не всегда поддающимся регистрации путем оптической атомной спектрометрии [14.5].
14.8.2. Метод с дисперсией по энергии
При рентгеновской флуоресценции с дисперсией по энергии флуоресцентное излучение анализируется с помощью других физических методов. При этом используется тот факт, что длины волн строго соотносятся с энергией рентгеновских квантов. При анализе флуоресценции по данному принципу прибегают к подходящему физическому или электронному фильтрованию с той целью, чтобы оценке подлежали только рентгеновские кванты одинаковой энергии. Для этого используют полупроводниковые детекторы или пропорциональные счетчики, которые при облучении выдают токовые импульсы, мощность которых пропорциональна энергии образующихся квантов рентгеновского излучения.
Каждый отдельный рентгеновский квант детектируется в полупроводниковом кристалле, включенном в режиме диода. Благодаря преобразованной энергии при поглощении создаются пары носителей зарядов, число которых пропорционально энергии кванта падающего рентгеновского излучения. Посредством электронного многоканального анализатора можно сортировать импульсы тока по их величине и затем отображать на экране в зависимости от энергии кванта или, соответственно, длины волны. Это позволяет отнести интенсивность, которая пропорциональна концентрации измеренного элемента к элементно-специфичной энергии. На основе амплитудного анализа импульсов получают статистическое распределение энергий падающих квантов, которое может интерпретироваться как спектр.
Этот не требующий больших затрат метод позволяет создавать малогабаритные, компактные приборы настольного типа. Для исследования образцов с сильно меняющимся составом рентгенофлуоресцентный анализ с дисперсией по энергии является просто идеальным вариантом, ибо при этом могут одновременно регистрироваться все элементы от натрия (Z = 11) до урана (Z = 92) и вся область концентраций. И при этом никакой специальной подготовки проб конкретно к данному методу исследования не потребуется. Следовая аналитика в достаточно широком диапазоне элементов может быть реализована здесь быстрее и дешевле, чем при использовании других способов.
Благодаря прогрессу в области усилительной техники и применению поляризованного излучения, обеспечивающего заметное ослабление фона рассеяния, стали достижимы пределы обнаружения на уровне субмиллионных долей, что сравнимо с рентгенофлуоресцентным анализом с дисперсией по длине волны. Возбуждающее излучение рассеивается, в частности, более легкими элементами, вызывая шумы, воздействующие на предел обнаружения. С поляризованным, полихромным излучением удается минимизировать сечение атомного рассеяния [14.6]. Поскольку чувствительность метода измерения определяется отношением полезного сигнала к сигналу фона, то уменьшение фонового излучения при неизменяемой интенсивности полезного сигнала дает безусловное улучшение предела обнаружения.
14.9. Рентгеновские детекторы
Для обнаружения рентгеновских лучей прибегают к помощи детекторов, используемых в радиохимии. Преимущественно это сцинтилляционные счетчики для области коротких волн и газовые счетчики для области длинных волн. Они преобразуют испускаемое пробой рентгеновское излучение в пропорциональные электрические величины, чаше всего в импульсы напряжения. Сцинтилляционные счетчики имеют при этом значительно больший квантовый выход — до 100%.
14.9.1. Сцинтилляционные счетчики
Сцинтилляционный счетчик по своей конструкции соответствуют вторично-электронному умножителю (ВЭУ). Дополнительно они содержат еше светящийся кристалл, преобразующий кванты рентгеновского излучения во флуоресцентное свечение. Регистрируемый квант рентгеновского излучения возбуждает кристалл легированного таллием йодистого натрия, который испускает квант света, порождающего в фотоумножителе электроны, которые там соответственно множатся. Сцинтилляционный счетчик используется преимущественно в исследованиях с применением более жестких рентгеновских лучей, начиная от излучения молибдена и выше, то есть при работе с излучением серебра или золота. Квантовый выход составляет в этой области более 90%.
14.9.2. Газовые счетчики
Здесь используется способность квантов рентгеновского излучения к ионизации атомов газа, что и служит способом обнаружения этих квантов. Такие газовые счетчики состоят из металлической трубки с размещенной в ней по центру тонкой проволокой и заполненной газом, в большинстве случаев инертным. Кванты возникающего рентгеновского излучения поглощаются «счетным» газом и ионизируют его, вследствие чего при наличии приложенного между металлической трубкой и проволокой высокого напряжения формируется импульс тока. Закрытую счетную трубку с определенной смесью газов называют пропорциональным счетчиком. Если смесь газов проходит через трубку непрерывным потоком, то речь идет о проточном счетчике.
У пропорционального счетчика по сравнению со сцинтилляционным квантовый выход хуже, особенно в случае более жесткого излучения. Газовые счетчики находят применение прежде всего в длинноволновой области рентгеновского излучения. Чтобы свести к минимуму потери на поглощение, входное окно для рентгеновских лучей выполнено из полипропиленовой пленки.
Даже если импульсы напряжения, генерируемые в газовых и сцинтилляционных счетчиках на каждый квант рентгеновского излучения, пропорциональны энергии этих квантов, все же достигаемая в этих счетчиках зависимая от энергии дисперсия излучения без кристаллических анализаторов оказывается недостаточной и они могут быть применены лишь в некоторых особых случаях. Импульсы пропорциональных счетчиков отличаются меньшей относительной полушириной, то есть лучшим разрешением по энергии, чем это имеет место у сцинтилляционных счетчиков.
14.9.3. Полупроводниковые детекторы
Несравненно лучшим энергетическим разрешением обладают специальные полупроводниковые детекторы. Среди них наибольшей популярностью пользуются исполнения из легированного литием кремния, в которых при падении кванта рентгеновского излучения образуется определенное число электронно-дырочных пар, прямо пропорциональное энергии данного кванта. Под действием высокого напряжения, приложенного к этому полупроводниковому диоду, из электроннодырочных пар возникают облака зарядов, которые менее чем за микросекунду могут быть измерены как импульс напряжения с помощью полевого транзистора, напрямую соединенного с кристаллом детектора.
Для освобождения электрона в детекторе требуется определенная энергия. Измерение числа электронов, одновременно освобожденных в результате поглощения отдельного кванта рентгеновского излучения, просто показывает энергию соответствующего кванта. Поступающие аналоговые импульсы напряжения преобразуются в цифровую форму, и многоканальный анализатор относит их, согласно величине, к соответствующим каналам, причем «номер канала» есть мера энергии зарегистрированного кванта рентгеновского излучения. По окончании времени измерения импульсы после распределения энергий по соответствующим каналам суммируются и затем отображаются на экране дисплея или выводятся в графической форме через самопишущее устройство.
Разрешающая способность таких систем с дисперсией по энергии определяется прежде всего количеством каналов у многоканального анализатора. В зависимости от исполнения и поставленной задачи, таких каналов может быть от 1024 до 4096. Si(Li)-детектор способен регистрировать флуоресцентное излучение в диапазоне 0,05—0,7 нм почти со 100%-ным выходом, поэтому он годится для всех элементов, начиная с порядкового номера 11 (натрий). Для К-излучения Sn и более тяжелых элементов лучше все же выбрать Gе(Li)-детектор, который, кроме прочего, имеет еще то преимущество, что в отключенном состоянии его можно хранить при комнатной температуре, в то время как Si(Li)-детектор требует обязательного охлаждения жидким азотом.
14.10. Применение в химико-аналитических целях
Метод рентгеновской флуоресценции позволяет проводить исследования компактных или порошкообразных твердых проб, равно как жидких веществ и различных газов [14.7]. При качественном анализе пробы с гладкой поверхностью можно анализировать в том виде, в каком они представлены. Для количественного анализа потребуется специальная пробоподготовка, например использование соответствующих стандартов в целях исключения матричных эффектов. Металлы нуждаются в тщательном полировании и травлении во избежание понижения интенсивности флуоресценции в возможных глубоких трещинах и бороздках. В случае неоднородных проб можно добиться гомогенизации путем соответствующего растворения. К добавкам очень легких или очень тяжелых элементов прибегают во избежание мешающих явлений в матрицах. Кроме того, пробы можно таблетировать с применением В2О3 либо смешивать их с наполнителями типа целлюлозного порошка или воска и подвергать прессованию. Матричные эффекты по мере разбавления постепенно затухают.
Рентгеновская флуоресценция отлично зарекомендовала себя при проведении качественных и количественных анализов элементов с порядковым номером выше Z = 9, то есть после фтора. Флуоресценция легких элементов отличается очень большими длинами волн. Поэтому она особенно сильно поглощается атмосферным воздухом и с большим трудом либо вообще никак не поддается обнаружению обычными рентгеновскими спектрометрами. Применяя специальную технику, можно регистрировать и элементы с порядковым номером до Z = 3, то есть, например, бериллий. В принципе любой образец, независимо от его размера и формы, удается анализировать без разрушения. Обзорный качественный анализ дает полный рентгеновский спектр, из которого сначала выделяются самые интенсивные линии для идентификации отдельных элементов. Для количественного анализа предпринимается цифровое измерение интенсивности одной или нескольких линий.
С помощью рентгеновской флуоресценции возможно одновременное определение катионов и анионов в питьевой воде. Однако по сравнению с атомноабсорбционной спектроскопией и оптической эмиссионной спектрометрией с индуктивно связанной плазмой этот метод не столь чувствителен, и для определения низких концентраций не обойтись без предварительного обогащения. Но поскольку здесь не используется никаких агрессивных химикатов, его можно по праву отнести к экологически чистым методам спектрального исследования [14.8].
14.10.1. Калибровка
Насколько изящна методика рентгенофлуоресцентного анализа с точки зрения измерительной техники, настолько она сложна в математическом плане при вычислении по измеренным для определенного элемента интенсивностям характеристического излучения концентрации этого элемента в пробе. С одной стороны, общая интенсивность излучения линии в спектре элемента обусловлена временем запаздывания детектора, имеющимся фоном и интенсивностями накладывающихся линий других элементов. С другой стороны, присутствующие примеси оказывают поглощающее действие на возбуждающие лучи и излучение флуоресценции, а флуоресценция сопутствующих элементов может вызывать дополнительное возбуждение излучения флуоресценции.
Математический способ расчета интенсивностей рентгеновского излучения был впервые предложен Хиллом в 1952 г. При этом измеренная интенсивность флуоресценции подлежит сначала корректировке с учетом времени запаздывания детектора, ибо с возрастающей частотой повторения импульсов увеличивается вероятность того, что два кванта рентгеновского излучения за столь большой промежуток времени не попадут на детектор, а ионизация между тем вновь замрет. Какое именно время запаздывания следует принимать во внимание, зависит от типа используемого детектора и измеренной частоты импульсов.
При коррекции фона из суммарной интенсивности вычитается имеющееся при измеряемой длине волны фоновое излучение, проистекающее преимущественно от рассеянного пробой рентгеновского излучения и зависящее от вида пробы. Возможно только косвенное определение фона путем измерения интенсивностей слева и справа от линии. В случае рентгеноспектрометрии с дисперсией по энергии подлинная коррекция достигается, когда для всего спектра общих интенсивностей проводится преобразование Фурье, после чего отфильтровываются линейчатые части. Но это будет работа с массой сложных вычислений, чрезвычайно трудоемкая в математическом плане.
Но даже после математической коррекции измеренные интенсивности лишь в исключительных случаях прямо пропорциональны концентрации; более того, именно при рентгеновской флуоресценции межэлементные эффекты столь значительны, что градуировочные характеристики чаще всего сильно отклоняются от линейности. Стремительный прогресс в области компьютерных технологий способствовал созданию эффективных программ обработки информации, с помощью которых удается решать практически любые проблемы. Современные рентгеновские спектрометры предлагают многочисленные опции для быстрого проведения качественных, полуколичественных и количественных анализов самых разных видов материалов. Специально разработанная программа способна на основе минимального числа стандартов автоматически вычислять градуировочные характеристики для большой области концентраций. Это позволяет анализировать пробы неизвестных веществ с точностью, порой не уступающей результатам, полученным с применением общепринятых методов градуировки 114.9|.
Межэлементные явления основаны прежде всего на том, что толщина слоя, в котором генерируется излучение флуоресценции и из которого оно способно затем выйти, определяется абсорбционным поведением данной пробы. Но поглощающая способность пробы, в свою очередь, зависит от весовых коэффициентов поглощения и концентраций всех имеющихся примесей. В дополнение ко всему, флуоресценция элемента определяется не только излучением рентгеновской трубки: флуоресценция сопутствующих элементов с более высоким (на две единицы) порядковым номером возбуждает дополнительное излучение определяемого элемента. В результате такой вторичной флуоресценции возрастающая концентрация более тяжелых примесей усиливает поглощение и уменьшает толщину слоя, из которой выходит излучение флуоресценции. Кроме того, увеличивается вторичная флуоресценция, которая опять-таки приводит к повышению излучения флуоресценции измеренного элемента.
Оба этих влияющих фактора могут корректироваться математическим путем, для чего существуют специальные вычислительные программы, основанные на различных математических подходах и имеющие в значительной мере эмпирическую природу. Поскольку вряд ли можно говорить о модели, способной дать для всех без исключения областей применения одинаково хорошие результаты, многие устройства рассчитаны на использование большого числа разных вычислительных моделей для оценки полученных данных.
Независимо от методики подготовки проб, общим недостатком классического анализа по принципу рентгеновской флуоресценции остается достаточно сложная и требующая больших затрат градуировка, причем для некоторых видов проб может не оказаться эталонных материалов либо их будет слишком мало. Определенную проблему создает влияние матрицы на отдельные элементы пробы, но оно может быть скорректировано с помощью математических алгоритмов.
Многие производители приборов для проведения рентгенофлуоресцентного анализа прилагают к своему оборудованию специальные программы для полуколичественных определений. В этом случае можно отказаться от достаточно трудоемкого процесса составления градуировочного графика на основе подходящих стандартов. Полуколичественные определения можно проводить для самых разных проб, принятых в любом объеме и без всякой их специальной подготовки. Данный вариант особенно интересен в отношении неизвестных проб с резко меняющимся составом. Однако данные таких измерений — по причине отсутствующей математической коррекции влияющих факторов в пробе и недостаточной точности счетной статистики — часто представлены лишь на уровне порядка величины. И все же даже такой результат, при необходимости более точного анализа, существенно поможет в деле отбора соответствующих стандартов [14.10].
14.10.2. Предел обнаружения
Предел обнаружения в рентгеноспектральных анализах определяется почти исключительно отношением сигнал/шум: поэтому элемент можно считать надежно обнаруженным, если его сигнал показывает четкое выделение из фона. И тогда решающим моментом становится стандартное отклонение фона. В зависимости от требуемой вероятности обнаружения элемент поддается детектированию, когда частота повторения его импульсов в два-три раза превышает стандартное отклонение фона. Относительно высокое фоновое излучение, имеющее место при нормально реализуемом методе рентгеновской флуоресценции, вытекает из того, что первичное излучение рентгеновской трубки рассеивается на пробе, причем это рассеяние возрастает по мере уменьшения порядкового номера элементов пробы.
14.11. Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внутренним отражением
В прошедшие годы, благодаря возможности возбуждения посредством полностью отраженного на носителе пробы первичного луча, спектрометрия рентгеновской флуоресценции стала привлекать интерес и с точки зрения ее использования для ультраследовых анализов [14.11]. Рентгеновская флуоресценция с полным внутренним отражением отличается от классической рентгенофлуоресценции по многим параметрам - по способу подготовки проб, приемам градуировки, обработке данных и пределу обнаружения [14.12]. Из-за известных матричных эффектов обычная рентгеновская флуоресценция не очень подходит для следовых или тем более ультраследовых анализов. Метод полного внутреннего отражения рентгеновских лучей, открытый в 1930 г. Комптоном, впервые был применен на практике лишь в 1971 г. и с тех пор успешно практикуется в химико-аналитических целях.
Так как при исследованиях методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии проб очень малых объемов рассеянное излучение вызывается почти исключительно носителем пробы, то предел обнаружения может быть заметно снижен за счет того, что в этом случае отполированный до зеркального глянца носитель, выполненный, например, из кварцевого стекла, углеродного стекла или плексигласа, полностью отражает возбуждающее излучение. Итак, полное внутреннее отражение достигается при наличии максимально гладкого и ровного носителя пробы, а именно таким образом, что первичное излучение под очень малым углом (всего в несколько дуговых минут) через специальный отражатель направляется на пробу, где излучение флуоресценции измеряется с дисперсией по энергии под углом 90° относительно поверхности носителя пробы. Классический же рентгенофлуоресцентный анализ действует с углом падения возбуждающего излучения около 45°.
Ниже критического угла для полного внутреннего отражения рентгеновских лучей на кварце почти не наблюдается неупругого взаимодействия возбуждающего излучения с материалом носителя пробы, так что достигается резкое ослабление спектрального фона по сравнению с обычной геометрией возбуждения. Отражательная способность и глубина проникновения зависят от угла падения. Ниже предельного угла полного отражения отражательная способность приближается к 1, а глубина проникновения составляет всего несколько нанометров. Именно с учетом чрезвычайно малой глубины проникновения рентгеновская флуоресценция с полным внутренним отражением особенно удобна для изучения поверхности разных материалов. Выше этого предельного угла отражательная способность резко падает, а глубина проникновения достигает уровня мкм-единиц [14.13].
Благодаря значительному уменьшению вызванного комптоновским непрерывным спектром фонового излучения при рентгеновской флуоресценции с полным внутренним отражением пределы обнаружения в пг-области и ниже стали возможны для более чем 60 элементов, если проводить измерение на растворах без матрицы. Влияние матрицы в этом методе ослаблено, так как излучение флуоресценции не поглощается пробой. Таким образом, рентгеновская флуоресценция с полным внутренним отражением обладает чрезвычайно высокой абсолютной обнаружительной способностью, и калибровка для такого анализа довольно проста, если анализируемое вещество находится на подходящей для возбуждения поверхности, например на плоской пластинке из кварца или плексигласа. Однако серьезные проблемы связаны с подготовкой пробы в микромасштабном объеме, ибо матрица даже в ничтожном количестве способна повысить интенсивность рассеянного излучения. В качестве примера можно назвать применение метода в целях определения следов элементов в гистологических тонких срезах.
Но, как и в случае любой рентгеновской флуоресценции, при анализе с полным внутренним отражением пределы обнаружения тоже стремительно идут вверх, когда число рассеивающих атомов увеличивается с объемом матрицы. Еще одно отличие от «нормальной» рентгеновской флуоресценции состоит в том, что указанные преимущества удается использовать лишь при условии, что проба в виде очень тонкой пленки нанесена на полированную поверхность носителя. С этой целью пробу приходится предварительно переводить в состояние раствора или хотя бы сверхтонкой суспензии.
Рентгеновская флуоресценция с полным внутренним отражением отлично себя зарекомендовала и при проведении анализов растворов, опять-таки при условии, что в растворе присутствует лишь минимальное количество твердых компонентов. В противном случае крупинки соли, появившиеся при высыхании мельчайшей капли пробы на носителе из кварцевого стекла, способны значительно увеличить долю рассеянного излучения. Посредством возбуждения остатков растворителя в жидких пробах можно на основе рентгеновской флуоресценции с полным отражением проводить, с малыми затратами на калибровку, весьма эффективные прямые определения с анализом реагентов высокой чистоты, дождевой воды или масел. В области аналитического исследования материалов метод рентгеновской флуоресценции с полным отражением оказался — после отделения матрицы — тоже весьма успешным при проведении анализов сверхчистого алюминия и технически чистого железа. Здесь для микроанализа потребуется всего несколько микролитров раствора или, соответственно, несколько микрограммов твердого вещества.
Благодаря малой глубине проникновения в условиях полного внутреннего отражения описанная методика представляется особенно удобной для поверхностно-сенситивных измерений. В случае биологических проб данный метод находит применение для целей прямого определения металлов в тонких слоях, например в тканевых срезах или мазках крови. В области изучения полупроводников рентгеновская флуоресценции с полным внутренним отражением используется для определения поверхностных загрязнений на кремниевых пластинах. Кроме того, с ее помощью можно, не разрушая образца, распознавать свойства красителей, применяемых в производстве одежды, причем для определения элементного состава достаточно количества вещества, собранного ватной палочкой с поверхности одежды.
Полихроматическое излучение рентгеновских трубок наводится зеркалом, которое, действуя как фильтр нижних частот, путем рассеяния и поглощения уничтожает обладающее более высокой энергией тормозное излучение и направляет на пробу только излучение под углом ниже критического для полного отражения. В то время как спектрометры для следовых анализов функционируют с постоянно установленным углом, при исследовании поверхности используется высокая чувствительность измеряемого сигнала к углу падения. Незначительные изменения угла падения и энергии возбуждения вызывают отчетливые изменения в сигнале флуоресценции. Угловая настройка осуществляется при этом с точностью ±0,005°. Рентгеновское излучение должно быть для этого монохроматическим. С этой целью используют рентгеновские монохроматоры с кристаллом, которые отфильтровывают определенную узкую энергетическую полосу, например Κα-линию из спектра молибдена либо Lβ-линию из спектра вольфрама.
14.12. Измерение толщины слоя по методу рентгеновской флуоресценции
Уже давно в промышленности существует потребность в приборной технике, с помощью которой можно было бы быстро и без разрушения образца проводить качественные и количественные анализы материалов на заводе, любом другом производственном предприятии, на складе, стройке или в режиме он-лайн без отбора проб и доставки их в центральную лабораторию. Требуемый прибор должен «уметь» анализировать образцы в любом виде, в том числе отливки, трубы, металлические листы, чушки и т.д. В частности, в электронном производстве предъявляются максимально высокие требования к качеству все более мелких деталей все более сложной формы. Особые трудности возникают при необходимости измерения с высокой точностью толщины слоя даже на самых мелких элементах. Все чаще используемые в последние годы покрытия из дорогостоящих благородных металлов — золота, серебра, родия и т.п. — требуют надежного, точного способа измерения толщины слоев [14.14].
Но даже самый лучший измеритель толщины слоя не получит широкого признания, если его обслуживание может быть поручено только высококвалифицированному персоналу. Точные измерения толщины слоев приходится проводить в ходе текущего производства, и они должны быть под силу соответствующим образом обученному специалисту среднего звена. Развитие микроэлектроники и микропроцессорной техники позволило значительно облегчить операции по обслуживанию оборудования, сопровождаемые немедленной выдачей результата измерения и определением разного рода статистических данных. Эти процессы способствовали созданию компактных и приемлемых по цене измерителей толщины слоя на основе рентгеновской флуоресценции [14.15].
Все большее значение приобретают высокоточные измерения толщины слоя при минимальной геометрии измеряемого пятна. Нередко приходится иметь дело с двух- или трехслойной структурой материалов или многослойными сплавами, когда требуется одновременно измерять — без разрушения! — толщину и состав материала. При этом процесс измерения должен отвечать следующим общим требованиям:
Самым распространенным в настоящее время способом измерения толщины слоев, отвечающим приведенным выше требованиям, является именно рентгеновская флуоресценция. При этом объект измерения размешается на измерительном приборе с таким расчетом, чтобы он облучался в месте измерения выведенным рентгеновским лучом. Тогда возникает характеристическое рентгеновское излучение в слое и основном материале, а также в промежуточных слоях, если таковые имеются. С помощью системы детекторов (пропорционального счетчика) получают пропорциональные энергии электрические сигналы. В качестве примера на рис. 14.15 показан для разных материалов спектр электрических импульсов.
На оси X отложена амплитуда электрического сигнала. Поскольку данный сигнал пропорционален энергии рентгеновского излучения, представленный спектр равным образом является энергетическим. На оси Y можно увидеть повторяемость такого электрического сигнала. Теперь задача измерения толщины слоя решается путем электронного выделения из спектра определенной его части. Эта часть, именуемая также окном в спектре, используется для регистрации измеряемого сигнала [14.16].
Итак, измерение толщины слоя по принципу рентгеновской флуоресценции суть измерение интенсивности излучения совершенно определенной лучистой энергии.
Существует два принципиальных метода измерения (рис. 14.16):
Измеренная интенсивность излучения есть мера толщины слоя. Требуемый метод измерения определяется при фиксации окна в спектре. Если работа ведется по трансмиссионному принципу (то есть с пропусканием), следует принимать во внимание следующее: ни в коем случае не должно быть промежуточного слоя между измеряемым покрытием и основным материалом, так как промежуточный слой тоже действует на ослабление излучения основного материала; толщина основного материала относительно используемого для него характеристического рентгеновского излучения должна соответствовать плотности насыщенной фазы, или толщины слоя насыщения, например при Си около 60 мкм; состав основного материала изменяться не может, то есть изменения интенсивности распознанного излучения должны быть обусловлены исключительно изменением толщины верхнего слоя.
Интенсивность рентгеновского излучения индицируется в виде скорости счета. В зависимости от вида детектора, каждый фотон или квант регистрируется и подсчитывается отдельно. Следовательно, высокая интенсивность означает в таком представлении много квантов света или, соответственно, фотонов, то есть высокую скорость счета.
Данный параметр пересчитывается в нормированную скорость счета по следующей формуле:
|
где х0 означает скорость счета, измеряемую с деталью без покрытия, xs есть скорость счета для толщины слоя насыщения, а х — измеренная скорость счета. Этот пересчет измеренной скорости счета в нормированную скорость счета имеет множество преимуществ. Прежде всего, подлежащий теперь обработке результат измерения имеет порядок величины от 0 до 1. Нормированная скорость счета 0 представляет собой результат, получаемый с материалом без покрытия; нормированная скорость счета 1 означает, что толщина слоя относительно измеряемого эффекта обладает толщиной слоя насыщения.
Заметим, что под толщиной слоя насыщения понимается та толщина, начиная с которой увеличение толщины слоя уже не вызывает усиления измеряемого эффекта.
Это означает, что выше этой толщины слоя измерение уже невозможно.
Достоинство подобного представления заключается также в том, что независимо от того, ведется работа по эмиссионному либо трансмиссионному принципу, с увеличением толщины слоя нормированная скорость счета возрастает. Через указание нормированной скорости счета в знаменателе обеспечивается то обстоятельство, что при изменениях интенсивности, обусловленных параметрами прибора, например при изменениях интенсивности излучения, выходящего из рентгеновской трубки, посредством нового определения скорости счета х0 и xs измерительное устройство полностью заново настраивается, и для этого не требуется построения новой характеристической кривой (рис. 14.17).
На основе указанной зависимости между нормированной скоростью счета и толщиной слоя можно теперь вычислить собственно толщину слоя. Форма приведенной характеристической кривой зависит от конкретной задачи измерения и определяется с помощью стандартов толщины известных слоев. Подходящим математическим способом, запрограммированным в измерителях с микропроцессорным управлением, эта форма может быть описана с использованием ряда коэффициентов. При этом определенный набор коэффициентов представляет конкретную задачу измерения и определяется так называемой программой градуировки, приспосабливающей его для всех времен в решаемой задаче [14.17]. На рис. 14.18 приведена характеристическая кривая для измерения толщины слоя золота на никеле.
Для понимания названной программы чрезвычайно важно четко различать коэффициенты, описывающие эту характеристику и являющиеся, следовательно, типичными для данной задачи измерения, и постоянные х0 и xs, используемые для пересчета измеренных скоростей счета в нормированную скорость, а именно на основе указанной выше формулы. Обе величины x0 и xs могут зависеть от аппаратурных особенностей и должны поэтому регулярно определяться заново. Такая нормализация измерительного прибора сравнима с установкой нулевой точки другого измерителя, например вольтметра, и не имеет ничего общего с определением характеристики для пересчета измеренного результата в измеряемую физическую величину.
Если рассматривать точность измерения, которая может быть достигнута прибором, действующим по принципу рентгеновской флуоресценции, то здесь особое значение имеет тот факт, что для регистрации привлекается только излучение какого-то определенного материала. Это достигается путем соответствующего выбора окна в спектре. В результате получают очень хорошее отношение сигнал/шум либо весьма благоприятное отношение скорости xs к скорости x0. Теоретически достаточно было бы просто скорости счета х0 = 0, но, в силу физических свойств детектора и измерительной конструкции в целом, можно измерить незначительную фоновую скорость счета даже при материалах без покрытия.
14.12.1. Применение селективных поглощающих пленок (фильтров)
У элементов, расположенных в периодической системе рядом друг с другом, например у Ni и Сu, разность энергий генерированного характеристического излучения очень мала. По причине того, что пропорциональный счетчик обладает лишь ограниченной избирательностью в отношении излучения разных энергий, характеристическое излучение никеля невозможно четко отделить от характеристического излучения меди. Если при таких условиях измеряют по эмиссионному принципу толщину слоя никеля на куске меди, то в выбранном окне получают излучение, часть которого принадлежит меди. В этом случае результат измерения обусловлен свойствами основного материала, то есть будет определяться разная толщина слоя никеля в зависимости от того, нанесено ли никелевое покрытие на медь, на Cu-Zn, на медную бронзу либо иные подобные материалы. Избежать такого искажения результата удается иногда с применением дополнительных вспомогательных средств.
Итак, рентгеновское излучение вновь поглощается материалом. При этом энергия излучения идет на ионизацию атомов этого материала. Кстати, на извлечение электрона из К-оболочки атома требуется больше энергии, чем ее освобождается при последующем процессе заполнения образовавшейся дырки в результате перехода электрона из вышележащей L-оболочки. Энергия, необходимая для удаления электрона из К-оболочки, есть энергия связи К-оболочки. Следующим процессом и будет характеристическое К-излучение, содержащее в качестве энергии лишь разность энергий: между энергией связи К-оболочки и энергией связи L-оболочки. Тогда на основе закона Мозли находят следующую зависимость, которая справедлива почти во всех случаях.
Характеристическое излучение атома с порядковым номером Zспособно вызвать ионизацию атомов с порядковым номером Z-2 в К-оболочке, однако ионизация атомов с порядковым номером Z-1 посредством данного излучения исключается.
Поясним это на практическом примере. Когда излучение никеля (Z = 28) и меди (Z = 29) падает на кобальтовую пленку (Z = 27) толщиной от 8 до 12 мкм, то излучение никеля в более или менее ослабленном виде проходит сквозь нее, в то время как излучение меди сильно уменьшается в этой пленке по той причине, что исходящие от меди лучи идут на ионизацию атомов кобальта в К-оболочке. Такая ионизация невозможна с излучением, посылаемым атомами никеля. Коэффициент поглощения есть мера силы поглощения по интенсивности при проникновении излучения в пленку. На полученной кривой распознается острая грань, показывающая, что начиная с определенной (пороговой) энергии появляется возможность ионизации атомов кобальта в К-оболочке. Энергии, превышающие эту пороговую величину, претерпевают достаточно сильное поглощение в пленке (рис. 14.19).
Одновременно на этом рисунке схематически отображается интенсивность излучения никеля или меди, измеряемая детектором излучения без кобальтовой пленки между местом измерения и самим детектором. Широкой полосой в виде гистограммы обозначена интенсивность, измеряемая при условии, что между местом измерения и детектором излучения помещена кобальтовая пленка.
Конечно, излучение от никеля тоже несколько ослабевает, но излучение меди уменьшается несравненно сильнее. Понижения интенсивности излучения никеля и вызванного этим определенного ухудшения точности измерения удается в значительной степени избежать благодаря почти полному поглощению излучения меди и исключению в связи с этим мешающих эффектов, возможных при изменении состава основного материала.
Данный прием может быть реализован и для любой другой комбинации веществ. Допустим, требуется измерить слои цинка (Z = 30) на латуни (Z для Сu = 29): в этой ситуации имеет смысл воспользоваться поглощающей пленкой из никеля (Z = 28).
14.12.2. Измерение толщины верхнего и промежуточного слоев
Если деталь имеет не только покрытие, но в дополнение к нему еще и промежуточный слой, например если берется золото как покровный слой, никель — как промежуточный слой, и все это наносится на медь или латунь, используемые в качестве основного материала, то при измерении толщины слоя методом рентгеновской флуоресценции наблюдается не только излучение материала самого верхнего слоя (золота) и излучение основного материала (меди или латуни), но и излучение материала промежуточного слоя (никеля). Все три характеристических излучения попадают на детектор. Путем выбора подходящего окна в спектре можно отдельно анализировать соответствующее излучение. Так как три разных излучения попадают на детектор одновременно, то представляется целесообразным оснастить используемую электронику таким образом, чтобы излучение верхнего и промежуточного слоев можно было распознавать одновременно в двух раздельных счетных каналах (рис. 14.20).
На основе нормированной скорости счета, определяемой по измеренной скорости счета излучения покровного слоя, можно обычным способом установить толщину слоя покрытия. Теперь, зная толщину этого верхнего слоя, можно скорректировать измеренный результат скорости счета промежуточного слоя с расчетом на достижение требуемого влияния поглощения верхнего слоя на результат измерения скорости счета излучения, исходящего от промежуточного слоя. Затем на основе этой скорректированной скорости счета можно вновь установить нормированную скорость счета и общепринятым способом с помощью известной характеристики определить толщину промежуточного слоя.
Очень важно, что обе скорости счета измеряются одновременно в одном и том же месте, так что коррекция измеренной скорости счета излучения на промежуточном слое проводится с правильной толщиной верхнего слоя. Существенным моментом в деле достижения такого одновременного измерения верхнего и промежуточного слоев является правильное определение характеристических кривых с использованием программы градуировки и установочных нормалей толщины слоев на основе известных данных толщины. В частности, необходимо правильно определять соответствующие константы для коррекции измеренного результата скорости счета промежуточного слоя с учетом существования вышележащего покровного слоя. Чтобы выполнить это требование, рекомендуется использовать следующие градуировочные нормали:
Например, в варианте «золото через никель на меди» используют комплект градуировочных нормалей «золото на никеле» и комплект нормалей «никель на меди». Для правильного выполнения коррекции совершено необходимо, чтобы величины толщины слоев используемых стандартов имели значения, однозначно соответствующие характеристическим кривым, то есть с равномерным распределением в определенном диапазоне измерения.
14.12.3. Измерение толщины двухкомпонентного легированного слоя
Если материал слоя состоит не из чистого вещества, а из сплава, то понятно, что в месте измерения генерируются характеристические излучения всех присутствующих в сплаве компонентов. Возьмем в качестве примера такой слоистой структуры слой свинца и олова (оловосвинцовый припой). В месте измерения возникает характеристическое К-излучение олова, характеристическое L-излучение свинца и, конечно, также излучение основного материала, причем последнее в данном конкретном случае после толщины слоя свинцово-оловянного сплава в несколько мкм уже никак не попадет на детектор. На основе большой разности энергий двух характеристических излучений удается с помощью подходящей системы детектирования регистрировать эти излучения с достаточно четким разделением.
Наибольшая трудность при измерении толщины легированных слоев методом рентгеновской флуоресценции заключается в том, что интенсивность характеристического излучения одного компонента может быть в значительной степени обусловлена существованием других компонентов. Причиной этого является так называемое поперечное возбуждение отдельных компонентов сплава. Здесь уместно было бы вспомнить главу, посвященную теме использования абсорбера в процессах измерения. Коротко все вышесказанное можно выразить следующим образом: характеристическое излучение, испускаемое атомами олова, может вновь вызвать ионизацию атомов свинца и тем самым возбудить их излучение.
Это приводит к тому, что при измерении толщины свинцово-оловянного слоя обнаруживают непропорционально меньшее излучение олова и непропорционально большее излучение свинца. Степень такого влияния зависит, естественно, от соотношения объемов свинца/олова. Таким образом, невозможно определить толщину легированного слоя, если регистрируется интенсивность излучения только одного компонента (например, олова).
Характеристические кривые, отображающие зависимость между интенсивностью излучения и толщиной слоя, в значительной мере определяются составом этого слоя. Следовательно, толщину легированного слоя, состоящего из двух или более компонентов, можно определить лишь в том случае, если состав материала данного слоя не изменяется, а характеристика снимается с применением калибровочных стандартов, состоящих из такого же материала.
Если эти требования невыполнимы, как в случае свинцово-оловянных слоев, и приходится иметь дело с дополнительным поперечным возбуждением, что также вполне возможно в такой ситуации, то в обязательном порядке придется одновременно с измерением толщины слоя проводить определение концентрации, причем требования в отношении точности результата подобного измерения не должны быть слишком высокими: для определения концентрации достаточно точности порядка 0,5—1 вес.%.
На уровне измерительной техники это решается довольно просто, особенно если одновременно могут детектироваться раздельные излучения обоих компонентов, что вполне достижимо при варианте «олово-свинец на меди или латуни». Впрочем, этот способ не годится для тех ситуаций, когда один из компонентов сплава как материала слоя является в то же время составной частью основного материала. Это можно наблюдать, например, в случае палладия-никеля на никеле или сплава золота и меди на меди или латуни: здесь вряд ли можно с уверенностью сказать, где именно возникла обнаруженная интенсивность излучения меди — в материале слоя или в основном материале. Точное измерение толщины слоя по методу рентгеновской флуоресценции возможно здесь только при условии, что состав сплава остается постоянным (допустимое изменение концентрации составляет менее 0,5—1 вес.%).
На рис. 14.21 показана зависимость между нормированной скоростью счета и концентрацией в двухкомпонентном сплаве. В качестве примера здесь берется интенсивность излучения свинца, исходящего из оловянно-свинцового сплава. Отклонение приведенной характеристики от прямой линии с наклоном 45° точно показывает упомянутую непропорционально большую долю излучения свинца в оловянно-свинцовом сплаве. Следовательно, например, для 50%-ного сплава олова и свинца имеют в качестве нормированной характеристики интенсивность, превышающую 50% интенсивности, которая была бы получена при определении излучения (свинца) из материала, состоящего из чистого свинца.
Составление такого графика, отображающего зависимость между интенсивностью излучения заготовки бесконечной толщины и долей соответствующего компонента данной детали в весовых процентах, совершенно необходимо для проведения измерения толщины легированного слоя. Математически подобную кривую можно описать с помощью одной-единственной константы и, следовательно, определить тоже с одним-единственным стандартом сравнения — известного состава бесконечно большой толщины слоя.
Особую сложность при измерении толщины легированного слоя представляет тот факт, что толщина слоя насыщения и скорость счета слоя насыщения, как и форма графика, есть функция концентрации отдельных компонентов в материале слоя. Рисунок 14.21 дает обзорную картину влияния разных концентраций олова/ свинца на зависимость между нормированной скоростью счета и излучением олова и, соответственно, свинца. В этом представлении уже выполнено нормирование из расчета на соответствующую скорость счета насыщения, причем это тоже является функцией концентрации (рис. 14.22).
Эта, казалось бы, неразрешимая и действительно сложная задача на самом деле решается довольно просто, а именно с помощью подходящих математических операций и современных микропроцессорных устройств обработки данных. Как уже упоминалось выше, подобный способ измерения толщины слоя с помощью рентгеновской флуоресценции возможен только при условии, что интенсивности излучения обоих компонентов могут определяться раздельно.
14.13. Новые разработки в рентгеновской спектрометрии
На основе рентгенофлуоресцентного анализа можно определять содержание элементов с относительной точностью 0,05%. Правда, для этого требуется наличие достаточно совершенной техники подготовки проб. Для определения легких элементов использование многослойных псевдокристаллов, вместо традиционных кристаллов, стало весьма прогрессивным шагом. Благодаря успехам в области детекторных технологий появилась возможность использования обладающих высоким разрешением и разработанных для конкретных элементов газовых и газово-сцинтилляционных пропорциональных счетчиков. Применение усовершенствованных методов обработки данных и установление связи с системами управления полученной в лабораториях информацией способствовали повышению эффективности рентгеноспектральных анализов.
Все более широкое распространение метода рентгеновской флуоресценции в области проведения стандартных исследований привело к повышению уровня автоматизации. С внедрением подходящего программного обеспечения обслуживание оборудования становилось все более удобным и надежным. Замена механики электроникой, а затем электроники — программными средствами стала основой для получения в высшей степени благоприятного отношения цены/качества. Между тем столь высокий уровень техники в сфере рентгеновской флуоресценции привел к форсированной разработке спектрометров порой весьма сомнительных достоинств, предлагаемых, например, для определения содержания углерода. В некоторых конструкционных исполнениях повышение интенсивности достигается за счет понижения разрешающей способности прибора или ухудшения иных характеристик.
14.13.1. Рентгенофлуоресцентный анализ легких элементов
Возможность определения углерода с помощью рентгеновской флуоресценции следовало бы рассматривать как тест на эффективность системы, но не как решение конкретной аналитической задачи. Выход флуоресценции для углерода составляет всего 0,001, а глубина проникновения излучения (90%) только 0,02 мкм [14.18]. Поверхностные примеси оказывают чрезвычайно большое влияние на результат измерения. Простое прикосновение к поверхности польцем уже способно привести к повышению содержания углерода на несколько процентов. Отсюда следует, что данный метод может использоваться для определения присутствия соединений углерода на стальных поверхностях. В промышленном масштабе его применяют, например, в целях обнаружения углеродных примесей на листовой стали, предназначенной для автомобильного производства, что очень важно, если учесть, что такого рода загрязнения способствуют образованию ржавчины [14.19].
В сфере определения углерода и других легких элементов отмечается тенденция к привлечению для этой цели других кристаллов либо псевдокристаллов [14.20]. Большие надежды здесь возлагаются на псевдокристаллы в форме множественных слоев. Легкие элементы, такие как углерод, азот и кислород, можно определять, потратив на весь анализ около 15 минут [14.21]. Несмотря на очевидные успехи в области анализов по принципу рентгеновской флуоресценции, этот метод успешно работает только при решении тщательно подобранных задач, поэтому знание пределов его возможного применения является залогом плодотворной аналитической деятельности.
14.13.2. Псевдокристаллы
Впечатляющий прогресс в деле развития кристаллов был достигнут с получением варианта в многослойном исполнении. Легкие и тяжелые элементы размешаются друг за другом тонкими слоями, образуя многослойную структуру. В качестве тяжелых элементов находят применение W, Ni, Ti, Nb или Mo. Толщина и интервал между отдельными слоями выдерживается на уровне нескольких 10-6 см. Как легкий элемент для промежуточных слоев идеальным представляется углерод. Диффузия внутри структуры снижается за счет карбидообразования с тяжелыми элементами.
Именно с появлением такого рода псевдокристаллов вообще стал возможен анализ легких элементов. Так как излучение легких элементов значительно поглощается уже воздухом, приходится разрежать пространство между пробой и детектором и заполнять его гелием.
14.14. Резюме и перспективы развития рентгенофлуоресцентного анализа
Понятие рентгеновской флуоресценции обычно применяют в тех случаях, когда фотоны рентгеновских лучей используются для генерации характеристического излучения элементов, содержащихся в пробе. Необходимое для инициации рентгенофлуоресценции первичное рентгеновское излучение должно обладать достаточной энергией, чтобы электрон внутренней оболочки элемента вырвать из существующей атомной связи. Образующаяся при этом электронная вакансия заполняется внешним электроном, который отдает освобождающуюся энергию в виде кванта рентгеновского излучения. Результирующий отсюда рентгеновский спектр очень просто идентифицируется и описывается, как правило, лишь небольшим числом линий.
Вместе с тем рентгенофлуоресцентный анализ считается методом чрезвычайно многостороннего применения и отличается ничтожным числом случайных погрешностей, как и малыми затратами времени на его реализацию. Рентгеновская флуоресценция действует без разрушения образца, не нуждается в пробах большого объема и снискала популярность при решении самых разных задач в области элементной аналитики. С ее помощью удается обнаружить почти все известные элементы, причем область применения метода простирается до твердых и жидких проб самых разных видов. Достигаемая обнаружительная способность в значительной мере зависит от исследуемой комбинации элементов, причем особенно благоприятны в этом смысле тяжелые элементы в легкой матрице.
Обычно говорят о двух принципиально разных системах рентгеновской флуоресценции — с дисперсией по энергии и с дисперсией по длине волны. Спектрометр с дисперсией по энергии отличается тем, что все вторичные рентгеновские лучи одновременно измеряются детектором. Это самый простой, самый компактный и потому самый дешевый анализатор на основе рентгеновской флуоресценции. Доступные по цене анализаторы такого типа в настольном исполнении уже на протяжении многих лет создают пользователю условия для проведения легкого и быстрого анализа элементов с максимально простой пробоподготовкой. Предпочтение здесь отдается рентгеновским трубкам невысокой мощности, функционирующим без охлаждающей воды. Связанные с этим потери чувствительности у таких приборов с лихвой компенсируются компактностью их конструкционного исполнения. Но область применения рентгеноспектральных приборов такого типа ограничена в силу недостаточно четкого разделения расположенных рядом элементов.
Системы с дисперсией по длине волны предлагают гораздо лучшее разрешение спектральных линий при высокой скорости счета, чем обеспечивается очень хорошая чувствительность. Для этого необходима рентгеновская трубка мощностью до 3 кВт с соответствующим водяным охлаждением и питанием трехфазным током для работы установки. Разложение вторичного излучения осуществляется посредством кристалла, расположенного относительно детектора под углом, соответствующим конкретному элементу. Отдельные длины волн для элементных линий отрабатываются последовательно друг за другом. Такими спектрометрами обычно оснащают центральные лаборатории и научно-исследовательские центры. По аппаратурным причинам гамма измеряемых элементов у прибора такого типа значительно больше. Кроме того, при технике последовательного действия удается гибко реагировать на самые разные составы проб. Благодаря оптике высокого разрешения достигаются лучшие пределы обнаружения для легких элементов.
Применение способа рентгеновской флуоресценции для измерения толщины слоев позволяет решить множество задач, приспособленных для подобной обработки. На основе разделения излучения, исходящего от материала слоя, и излучения, посылаемого основным материалом или промежуточными слоями, можно проводить измерения толщины слоев независимо от изменений основного материала или существования промежуточных слоев разной толщины. Подходящие математические методы в сочетании с соответствующим образом рассчитанной детекторной электроникой дают возможность одновременно определять толщину верхнего и промежуточных слоев. Математические подходы другого рода позволяет измерять толщину легированных слоев при одновременном определении концентрации отдельных компонентов. Непрерывное совершенствование имеющегося в этой сфере оборудования и новые разработки создают условия для определения все более сложных слоистых систем и структур, причем наибольшие преимущества всегда предлагают, конечно, высокоэффективные вычислительные системы анализирующих устройств, с помощью которых комплексные математические программы могут быть реализованы в кратчайшие сроки и активизированы простым нажатием клавиши.
Поскольку в случае рентгеновской флуоресценции речь идет об относительном, но не об абсолютном способе измерения, приходится прибегать к калибровке с привлечением проб того же состава, что и анализируемые неизвестные пробы. Часто для этой цели берутся образцы, предварительно измеренные обычными аналитическими методами. Обязательным условием при этом являются стабильные стандарты, предварительно обработанные таким же способом, что и анализируемые пробы, и с интервалом концентраций, охватывающим предполагаемую область анализируемых концентраций. Только в наипростейшей ситуации получают затем прямолинейное отношение между интенсивностью излучения и имеюшейся концентрацией. В большинстве же случаев не обойтись без математической коррекции. Специальные аналитические программы способны выдать оптимальные эталонные параметры, поэтому для калибровки достаточно выполнить измерение стандартных проб. Таким образом, точные результаты анализов вполне может получить даже пользователь, не обладающий обширными знаниями по вопросам рентгенофлуоресцентного анализа.
Наличие компактных спектральных приборов в настольном исполнении для работы с рентгеновской флуоресценцией позволяет решать аналитические задачи из самых разных областей. Подготовка проб здесь достаточно проста и не отнимает много времени. Можно напрямую анализировать жидкости, твердые вещества или порошки. Простота и быстрота пробоподготовки, хорошо разрешенные спектры и возможность многоэлементного анализа делают этот метод чрезвычайно удобным для химико-аналитической практики. Все более широкое применение рентгеновской флуоресценции для рутинных лабораторных исследований способствовало повышению уровня автоматизации. Теперь компьютер берет на себя большой объем достаточно кропотливой работы по обработке данных. Это позволяет — даже при самых строгих требованиях к качеству проводимого анализа — действовать на уровне оптимальной экономии средств.
Чувствительность и, следовательно, предел обнаружения зависят не только от возбуждающего излучения, но и от рассеянного рентгеновского излучения пробы. Чем меньше фоновое излучение в зоне подлежащей измерению линии флуоресценции, тем ниже предел обнаружения. Рассеянное излучение в области линии флуоресценции можно заметно уменьшить с помощью правильно выбранных фильтров первичного излучения. Поскольку рассеянное излучение резко возрастает с уменьшением порядкового номера элемента, то эта мера представляется особенно целесообразной в случае анализа проб с легкой матрицей. В рентгеновской спектрометрии диапазон применения в отношении легких элементов расширился вплоть до бора, а способность к обнаружению значительно улучшилась. При регистрации более легких элементов решающее значение приобрели новые концепции рентгеновских трубок для возбуждения, кристаллов-анализаторов и детекторов.
Эффективность большинства детекторов, используемых для рентгенофлуоресцентного анализа, составляет от 50 до 90% и зависит от длины волны. У спектрометров последовательного действия оптимальный выбор детектора зачастую не реализуем. Здесь приходится искать определенный компромисс с учетом относительно большого интервала длин волн. В отношении приборов этого типа намечается тренд использования газовых пропорциональных счетчиков в количестве более одного. Это позволило бы оптимизировать процесс определения всей гаммы элементов, которые в настоящее время регистрируются с применением газовых проточных детекторов. В спектрометрах одновременного действия можно оптимизировать детектор для каждого отдельного элемента. Здесь используются газовые пропорциональные счетчики с Не, Ne, Кг и Хе-наполнением, а также сцинтилляционные счетчики. При правильном выборе подходящих материалов для окон и соответствующего газового наполнителя достигается высокий процент поглощения интересующего излучения в детекторе, причем через окно отфильтровывается флуоресценция кристалла, а излучение с отражением более высокого порядка проходит через детектор. Оптимальный выбор детекторного газа попутно решает и многие другие проблемы, связанные с переходами.
Газовый пропорциональный сцинтилляционный счетчик открывает перспективы значительного повышения уровня техники детектирования. В счетчике такого типа газ ионизируется рентгеновским излучением. Электрическое поле, находящееся между двумя проволочными электродами, ускоряет электроны, которые, сталкиваясь, возбуждают атомы газа, а те при последующем переходе в основное состояние излучают ультрафиолет. Это излучение регистрируется сцинтилляционным счетчиком либо фотоионизационным детектором. Данный тип детектора открывает новые возможности для улучшения энергетического разрешения. Высокая разрешающая способность газового пропорционального сцинтилляционного счетчика для излучения легчайших элементов представляет особый интерес еще и потому, что с его помощью такие элементы, как бор и углерод, можно определять без применения кристалла.
Корректировки, особенно в отношении матричных эффектов, в будущем предполагается вычислять методом фундаментальных параметров. В настоящее время в этом плане существует серьезное ограничение по причине недостаточного быстродействия используемых ЭВМ. С внедрением новых типов процессоров такое ограничение должно быть снято. Сейчас вычисление поправок проводится преимущественно по фундаментальным параметрам не совсем стандартных задач. При этом могут анализироваться пробы, для которых нет или почти нет требуемых стандартов. Главным источником погрешностей остается неточное знание весового коэффициента поглощения. Самым надежным способом все еше считается калибровка с подходящими стандартами, причем здесь находят применение полученные опытным и теоретическим путем альфа-коэффициенты. В этом случае ненадежность в определении элементов сводится к ошибкам в процессе подготовки проб и погрешностям в химических характеристиках стандартов.
Поскольку за последние годы появилось множество технических и программных средств обработки информации, предназначенных для спектральных приборов, приборостроители стараются так рассчитывать свое оборудование, чтобы можно было использовать сразу несколько числовых моделей анализа. Этим обеспечивается необходимая при разработке метода оптимизация математического вычисления концентрации по данным измерения после соответствующей калибровки, и тогда важная роль отводится как числу имеющихся в распоряжении стандартов, так и числу содержащихся в них элементов.
Чрезвычайно низкие пределы обнаружения до уровня пг-единиц достигаются при рентгеновской флуоресценции с полным внутренним отражением. Так как в случае рентгенофлуоресцентного анализа проб небольших объемов рассеянное излучение вызывается почти исключительно носителем пробы, то это влияние может быть в значительной мере сглажено за счет полного внутреннего отражения первичного излучения на отполированных до зеркального глянца носителях. Но преимущества такого метода ультраследовой аналитики удается реализовать только при условии, что проба будет представлена в форме раствора или хотя бы сверхтонкой суспензии и нанесена тончайшим слоем на максимально ровный носитель из кварца, плексигласа или углеродного стекла.
Для полного отражения рентгеновских лучей требуются углы падения всего в несколько дуговых минут; излучение флуоресценции измеряется тогда под углом 90° к поверхности пробы. Для проведения микроисследований рентгенофлуоресцентный анализ с полным внутренним отражением, как он в настоящее время предлагается на коммерческом уровне, представляется весьма эффективным методом. Он позволяет при определении примерно 70 элементов обнаруживать без разрушения образцов абсолютные объемы от 2 до 20 пг.
ГЛАВА 15. МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ
Профессиональные химики-аналитики относятся к категории людей, которые редко бывают полностью удовлетворены полученным результатом. Когда много лет назад стала популярна растровая электронная микроскопия и утихли первые восторги по поводу прекрасных трехмерных изображений, все чаще стал подниматься вопрос о том, что вообще-то хотелось бы увидеть нечто большее, то есть речь зашла о химическом составе той или иной частицы. В итоге растровая микроскопия получила вскоре дополнительное оснащение в виде специальных приставок для проведения микроанализов (рентгеновский микроанализатор с дисперсией по энергии). Только-только укоренилась мысль о возможности анализировать частицы диаметром в несколько микрометров, то есть определять их состав на уровне содержащихся в них химических элементов и, следовательно, получать ответы на вопрос, в каком месте поверхности какой элемент находится, как неугомонные аналитики уже высказали новое желание. Теперь им хотелось бы знать, а сколько именно каждого элемента содержится в той или иной точке поверхности.
На этот раз прошло почти 10 лет, пока исследователи в полной мере овладели количественным рентгеновским микроанализом с дисперсией по энергии. Все ли пожелания этим были выполнены? — Отнюдь нет! Немедленно были подняты новые проблемы: теперь активно обсуждалась тема анализа тонких слоев. На этом фоне появился некто, производящий релейные контакты для Германии, предъявил две группы контактов и поинтересовался, почему одна из них обладает значительно более высоким переходным электрическим сопротивлением. Тогда были проведены все необходимые испытания с растровым электронным микроскопом и выполнены рентгеновские микроанализы с дисперсией по энергии (Energy Dspersive Analysis of X-rays, EDAX), но это не дало никакого результата — причина не была найдена. Тем не менее было высказано предположение, что поверхность контактов могла быть покрыта сверхтонким слоем, лежащим ниже предела обнаружения данного метода. Годы спустя это предположение подтвердилось благодаря Оже-электронной спектроскопии: на поверхности было обнаружено сернистое соединение толщиной 3 нм.
Свойства поверхности в полной мере определяют возможную область применения того или иного материала, но они отвечают также за внешний вид изделия. В центре интереса специалистов по материаловедению находятся разработки металлических материалов, сенсорных материалов, керамики, стекла, сверхпроводников, полупроводников, изоляторов и ферроэлектриков. Точное знание процессов, протекающих на поверхности материалов, обеспечивает их целенаправленное улучшение и оптимизацию технологических операций. При этом удается уже в начальной стадии распознать и исключить возможные источники погрешностей.
Методы анализа поверхностей и границ раздела требуются также при катализе и адсорбции для получения информации о механических свойствах материалов или их поведении при разных применениях. Поверхности материалов все чаще подвергаются предварительной механической обработке, химическим модификациям, покрытиям разного рода и структурированию с целью повышения требуемых для конкретного назначения свойств - сцепления, трения, коррозионной стойкости и т.д. Для изучения структур, состава и физико-химических свойств веществ требуется точная характеристика их поверхности. Аналитика поверхности является поэтому важным дополнением к известным способам испытания материалов [15.1].
Но что понимать под термином «сверхтонкий» и что есть вообще «поверхность»? В общем употреблении этим словом обозначают тонкий наружный слой, а также цвет, блеск или шероховатость заготовки. Таким образом, любую поверхность представляют только в сочетании с некоей конечной толщиной. К сожалению, данное понятие не стандартизовано, так что подразумеваемая «толщина» зависит от того, к какому разделу науки или производственной отрасли она относится и где это понятие используется.
Скажем, механик увидит в поверхности материалов определенные отклонения в форме волнистости или шероховатости как результат механической обработки. Если взять химический состав, то он отличается от материала объема на порядок величины и до нескольких мкм. Специалист по растровой электронной микроскопии, говоря о шероховатости поверхности, имеет в виду диапазон от 10 до 100 нм, а если поинтересоваться у физиков, то окажется, что те понимают под термином «поверхность» первую пару атомных слоев, которые не достигают и одного нанометра.
Чаще всего слово «поверхность» применяется для обозначения наружного или граничного слоя, отделяющего заготовку от окружающей среды либо другого, граничащего с ним материала. Толщина этого слоя определяется соответствующими, технологически важными, свойствами и процессами и может варьировать в диапазоне от нанометров до микрометров. Первый атомный слой обычно несет ответственность за адгезионную способность, смачиваемость, катализ и биопереносимость, в то время как коррозионные процессы развертываются на уровне нескольких нанометров. Такие оптические свойства поверхности, как глянец и шероховатость, определяются только через слой толщиной примерно 100 нм.
Если классические способы испытания материалов и, соответственно, дефектоскопии предназначены для определения разного рода вторичных свойств материала или изделия, то в случае аналитики поверхности получают информацию о микроскопической структуре материи, то есть о химии, топографии и строении микрозон. Методами анализа поверхности, о которых далее мы поговорим более подробно, можно регистрировать слои толщиной от 0,1 до 10 нм, а при использовании приемов, основанных на съеме поверхности, удается анализировать и слои толщиной почти до 1 мкм.
15.1. Методы анализа поверхности
Как же функционируют методы физической аналитики? Подлежащая исследованию проба возбуждается с помощью зонда, выбранного с учетом интересующей исследователя информации. Подобной зондовой технике требуется первичное излучение для бомбардировки пробы. В качестве первичного излучения находят применение:
Как следствие этого возбуждения от пробы исходит вторичное излучение, которое затем анализируется. При этом проба также может посылать электроны, ионы, рентгеновские кванты или световые лучи в качестве ответной реакции либо даже множество таких частиц одновременно (рис. 15.1).
Теперь экспериментатор выбирает один или несколько детекторов, определяя тем самым, какие из излучаемых пробой частиц он намерен анализировать. Если допустима любая из возможных комбинаций, то получают квадратную схему с 16 полями, в которую теперь заносятся условные обозначения аналитических методов, чтобы из множества способов вывести определенную систематику. Таблица 15.1 ограничивается лишь наиболее известными методами и не претендует на завершенность.
Количество таких методов давно превысило 50 и, к сожалению, их названия не унифицированы. Существует две причины возможного непонимания: ряд идентичных способов носит разные названия (например, рентгеновский микроанализ и электронно-зондовой микроанализ) или разные способы имеют одинаковое название. Ситуация усложняется еще и тем, что некоторые способы в немецком языке обозначены совсем иначе, чем в английском.
Способ возбуждения |
Способ обнаружения |
||||
|---|---|---|---|---|---|
Электроны |
Ионы |
Рентгеновские лучи |
Свет |
||
Электроны |
SEM, ТЕМ, STEM, ELS, LEED\HEE D/RHEED |
ESID |
ESMA/EDX |
CL |
|
Ионы |
SIM/IMMA |
||||
Рентгеновские лучи |
ESCA/XPS |
LAMMA |
PIXE |
OES, лазерный зонд, зонд Рамана |
|
Способы получения изображения |
Способы анализа |
||||
SEM |
Растровая электронная микроскопия |
AES |
Оже-электронная спектроскопия |
||
ТЕМ |
Просвечивающая электронная микроскопия |
SAM |
Растровая Оже-микроскопия |
||
STEM |
Растровая просвечивающая электронная микроскопия |
ESCA |
Электронная спектроскопия для химического анализа |
||
CL |
Катодолюминесценция |
ELS |
Спектроскопия потерь энергии |
||
PHEEM |
Фотоэмиссионная электронная микроскопия |
LEED |
Дифракция электронов низкой энергии |
||
RHEED |
Дифракция отраженных электронов высокой энергии |
||||
ESID |
Электронно-стимулированная десорбция ионов |
||||
IMMA |
Ионно-зондовый масс-спектральный анализ |
||||
RIBS |
Резерфордовское обратное рассеяние ионов |
||||
LAMMA |
Масс-спектральный анализ с лазерным микрозондом |
||||
PIXE |
Индуцированная протонами рентгеновская эмиссия |
||||
RFA |
Рентгенофлуоресцентный анализ |
||||
XRD |
Рентгеновская дифракция |
||||
XPS |
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия |
||||
EDAX |
Энерго-дисперсионный рентгеновский анализ |
||||
OES |
Оптический эмиссионный анализ |
||||
UPS |
Фотоэлектронная спектроскопия с возбуждением УФ-светом |
||||
SIMS |
Масс-спектрометрия вторичных ионов |
||||
ISS |
Спектроскопия ионного рассеяния |
||||
ESMA |
Электронно-зондовый микроанализ |
||||
Из приведенных в табл. 15.1 способов выбраны для подробного обсуждения лишь те, которые уже прошли стадию проверки на лабораторном уровне и внедрены как стандартные методы исследования. Рассматриваемые методы анализа поверхности различают с точки зрения следующих характеристик:
Весьма важным параметром представляется информационная глубина: имеется в виду та глубина, из которой поступают анализируемые частицы. Методы анализа собственно поверхности отличаются тем, что их информационная глубина на 3—4 порядка меньше, чем при рентгеновском микроанализе, а это значит, что они пригодны для регистрации слоев, более тонких на 3—4 десятичных порядка.
Рисунок 15.2 демонстрирует это в схематическом изображении. Расположенная по центру полосы более темная зона должна означать, что информационная глубина не есть величина постоянная, но зависит от многих параметров, например от энергии падающих частиц и, естественно, от вида самого материала.
С учетом малой информационной глубины при способах анализа поверхности весьма важную роль играют условия ультравысокого вакуума, поскольку отдельные виды излучения в большинстве случаев активно поглощаются воздухом. Кроме того, необходимо избегать появления на поверхности отложений из остаточных газов. Для надежной работы сейчас предлагаются вакуумные системы с диапазоном до 10-8 Па. Из приведенного рисунка видно, что любая проба, находившаяся до сих пор в природном окружении, имеет на своей собственной поверхности покрытия, которые невозможно удалить даже путем предварительной очистки в ультразвуковой ванне. Речь идет при этом о прочно сцепленных слоях из воды и углеводородов, с хемосорбцией, не исчезающих даже в условиях высокого вакуума.
Здесь не поможет ни нагревание, ни ионная бомбардировка. Под этим слоем загрязнения находится в большинстве случаев более или менее тонкий окисленный слой, и только через него можно прорваться к основному материалу. Эта слоистая зона часто вызывает наибольший интерес — независимо от того, стоит ли задача определения толщины окисленного слоя или обнаружения примесных слоев.
На рис. 15.3 показано для примера, насколько важно иметь в распоряжении аналитический метод с малой информационной глубиной. Допустим, у нас есть две разные пробы, которые имеют в самом верхнем слое толщиной 1 мкм одинаковую концентрацию примесных атомов, по-разному распределенных в пробе (на рисунке эти атомы обозначены кружками).
Анализ, проведенный с помощью рентгеновского микрозонда, даст для этих двух столь разных проб измеряемый сигнал одинаковой величины, что приводит к выводу, что обе пробы по их химическому составу абсолютно идентичны. Таковыми они и являются — при интегральном рассмотрении, но не с точки зрения их глубинного распределения. Если теперь на обеих пробах провести анализ поверхности, то получится два абсолютно отличающихся друг от друга спектра, которые со всей очевидностью докажут, что примесный элемент у одной из проб сосредоточен на поверхности.
15.2. Рентгеновский микроанализ с дисперсией по энергии
Вторичные электроны, возникшие в результате электронной бомбардировки пробы, позволяют получить в растровом электронном микроскопе (Scanning electron microscope, SEM) изображение поверхности объекта с высокой глубиной резкости и разрешающей способностью по горизонтали от 5 до 7 нм. Электронный луч фокусируется и растровым способом сканирует поверхность пробы. Интенсивность генерируемых вторичных электронов - в зависимости от распределения элементов, поверхностного рельефа вещества и структуры кристалла - используется для отображения пробы.
Центральным узлом растрового электронного микроскопа является электронно-оптическая колонна, которая служит для получения тонкофокусного электронного луча. В верхней части колонны находится электронная пушка, состоящая, как правило, из вольфрамового игольчатого катода, который в результате термоэмиссии излучает электроны[63]. Цилиндр Венельта, обладающий относительно катода отрицательным потенциалом около 100 В, возбуждает поток электронов. Анод ускоряет выходящие электроны и придает им желаемую энергию. Благодаря подходящему формообразованию цилиндр Венельта обеспечивает концентрацию пучка электронов в непосредственной близости от анодной диафрагмы - так называемый кроссовер, с диаметром от 20 до 50 мкм. Электронная оптика, состоящая из двух-трех магнитных линз и системы диафрагм, уменьшает кроссовер до требуемого диаметра пучка и отображает его на поверхности.
Снизу к электронно-оптической колонне примыкает камера образца со специальным шлюзовым устройством, служащим для доставки анализируемого вещества в находящуюся под вакуумом систему. В камере образца находится гониометр, позволяющий движение пробы в направлениях х, ynz- Хорошие гониометры обеспечивают наклон препарата относительно оптической оси системы, а также его вращение. Снаружи гониометра с целью перемещения объекта в камере имеются детекторы для обратнорассеянных, вторичных и поглощенных электронов, а также для возможности подключения спектрометров с дисперсией по длине волны и по энергии.
В зависимости от типа прибора, до или после электронной линзы, встраивается пара отклоняющих катушек. Их задачей является отклонение электронного пучка в направлениях х и у, вследствие чего становится возможным растрирование объекта. Растровый генератор заботится о том, чтобы электронный пучок проводился через пробу синхронно с лучом электронно-лучевой трубки. Тогда определенная точка на пробе будет соотноситься с соответствующей точкой на экране. Сигналы, генерируемые в результате взаимодействия электронов с мишенью, регистрируются детекторами, затем усиливаются и наконец подаются для формирования изображения. Для отображения поверхности пробы отлично подходят прежде всего вторичные электроны. В силу низкой энергии около 50 эВ они исходят от зоны, очень близкой к поверхности. Хотя пучок первичных электронов способен проникнуть в пробу на глубину до нескольких микрометров, вторичные электроны возникают в непосредственной близости от ее поверхности. Максимальная глубина, из которой могут исходить вторичные электроны, составляет у металлов примерно 5 нм, а у изоляторов около 50 нм [15.3].
Используемый в растровом электронном микроскопе пучок первичных электронов, который проникает в поверхность пробы на глубину нескольких микрометров и одновременно возбуждает атомы в близком к поверхности объеме для элементно-характеристической рентгеновской эмиссии, служит для определения химического состава отображенного участка пробы (рис. 15.4). Спектральное разложение может осуществляться, во-первых, путем анализа с дисперсией по длине волны и, во-вторых, путем анализа с дисперсией по энергии. При этом метод с дисперсией по энергии — именно благодаря возможности проведения быстрого качественного анализа содержащихся в пробе элементов — оказался идеальным дополнением к растровому электронному микроскопу. Возможная область применения такого сочетания простирается от исследования материалов и конструкций до изучения однородности и анализа включений и загрязнений в самых разных веществах, в том числе в металлах, сплавах, полупроводниках.
Падение электронного пучка на поверхность пробы вызывает, наряду с возбуждением разного вторичного излучения, возникновение рентгеновского излучения двух видов — тормозного и характеристического. Из непрерывного спектра тормозного излучения нельзя получить никакой информации относительно участвующих в процессе элементов. В случае чисто качественного анализа непрерывный спектр рентгеновского излучения далее уже не учитывается, а вот при количественном анализе эта часть рентгеновского спектра подлежит удалению подходящими вычислительными методами [15.4].
15.2.1. Качественный рентгеновский анализ
При рентгеновской системе с дисперсией по энергии успешно распознаются все элементы Периодической системы вплоть до натрия (Z = 11). Чувствительность обнаружения варьирует здесь в зависимости от порядкового номера исследуемого элемента, причем для высоких номеров она выше. Пределы обнаружения у среднетяжелых элементов составляют порядок величины на уровне 1 000 миллионных долей. Существуют разные возможности регистрации и представления рентгеновских спектров и рентгенограмм, которые позволяют в первую очередь получить качественную информацию касательно элементного состава пробы. Здесь различают анализы всей или только части (отдельных мест) поверхности, а также отображения распределения элементов и форм спектральных линий [15.5].
При анализе всей или локальной поверхности пробы выбранные зоны перекрываются пучком первичных электронов и излучаемые при этом кванты рентгеновского излучения проходят через детектор и используются для построения рентгеновского спектра. Локальный анализ служит преимущественно для характеристики включений или отложений. При этом разрешающая способность по горизонтали в случае компактных проб находится в области диаметра облака диффузии электронов, а именно около 1 мкм. Следовательно, надо иметь в виду, что по причине столь ограниченного разрешения обычно оказывается невозможен сам по себе анализ включений < 1 мкм.
И еще один важный момент следует иметь в виду при интерпретации рентгеновских спектров: речь пойдет об эффектах затенения у сильно расколотых поверхностей. Наличие глубоких трещин может привести к тому, что определенные элементы в спектре окажутся полностью «стертыми», если они для детектора будут находиться в «тени» возвышения либо, в другой ситуации, будут резко выделяться на фоне окружения.
При получении изображений распределения элементов используется интенсивность предварительно установленной рентгеновской спектральной линии (окна) для модуляции яркости экрана растрового электронного микроскопа, в то время как пучок первичных электронов растрирует выбранный участок поверхности пробы (поверхностный растр). Подобное изображение элементного распределения обеспечивает — обязательно именуемую количественной — идентификацию различий в материале пробы как объекте исследования.
Аналогично созданию такой картины распределения элементов, можно предпринять медленное растрирование вдоль любой линии в направлении х (линейный растр) и получить на экране электронного микроскопа изображение интенсивности характеристической рентгеновской линии определенного элемента в виде модулируемого в направлении оси у сигнала. Такой способ линейного анализа дает так называемый профиль распределения концентрации, при котором на «качественном» уровне отображается статистическое распределение элемента вдоль рассматриваемого участка.
15.2.2. Количественный анализ
В то время как при качественном рентгеновском анализе чаще всего приходится довольствоваться демонстрацией вида и распределения находящихся в пробе элементов, количественный анализ дает возможность получить с помощью вычислительной системы и разного рода числовых моделей точные данные концентрации. В зависимости от используемого формализма необходимо либо ввести в ЭВМ дополнительные сведения о спектре пробы, либо — при определенных обстоятельствах — дополнительно записать спектры сравнения самых чистых элементов веществ, содержащихся в пробе. Эти так называемые стандарты в качестве опорных значений войдут затем в расчеты коррекции. При этом во всех вычислениях исходят в первом приближении из линейной зависимости между концентрацией с и интенсивностью рентгеновского излучения I.
Без стандарта могут проводиться полуколичественные анализы с типичной неопределенностью ±10% концентрации в атомных и весовых процентах. С градуировочными стандартами возможны количественные анализы с ±1% концентрации в атомных или весовых процентах.
15.3. Индуцированная протонами рентгеновская эмиссия
Если ионизация атома в одной из внутренних оболочек осуществляется не электронами, а путем бомбардировки высокоэнергетическими протонами с последующей рентгеновской эмиссией, то речь идет об индуцированном протонами испускании рентгеновских лучей (Proton Induced X-ray Emission, ΡΗΧΕ). Преимущества этого метода состоят в возможности фокусировать в диаметре пучок протонов посредством диафрагм и магнитных квадрупольных линз примерно до 1 мкм. С такой разрешающей способностью по горизонтали протонный луч может растрироваться затем с помощью отклоняющих магнитов. В случае многоэлементного метода могут регистрироваться все элементы, начиная от порядкового номера Ζ = 2, с чувствительностью обнаружения до миллионных долей. С точностью около 10% определяется состав пробы после предварительной градуировки без ссылки на внутренние или внешние стандарты и без специальной подготовки по принципу «мокрой» химии. Информационная глубина зависит от матрицы и составляет порядка 10—30 мкм [15.6].
Методом индуцированного протонами испускания рентгеновских лучей удается с хорошей точностью анализировать образцы твердых веществ малой массы и небольшого размера, пучок протонов может использоваться также как способ, несущий изображение, для получения картины элементного распределения с микроскопическим разрешением. Необходимые для этой цели протоны генерируются в тлеющем разряде водорода и должны ускоряться затем до энергии от 2 до 4 МэВ. Однако потребность в соответствующем (очень дорогом!) ускорителе тормозит распространение описанного способа анализа.
15.4. Оже-электронная спектроскопия
На основе Оже-электронной спектроскопии можно анализировать практически все (кроме водорода и гелия) элементы в области поверхности твердых тел, и в сочетании с ионным травлением инертным газом определять зависимость концентрации от глубины. При этом возможно получение информации о состоянии связи. Данный метод пригоден в принципе для всех твердых проб, а для изоляторов или, соответственно, непроводящих слоев — с определенными ограничениями с учетом зарядов.
У метода Оже-электронной спектроскопии первая часть процесса идентична таковой при рентгеновском микроанализе, но освобождающаяся здесь энергия передается третьему электрону, получающему в результате этого достаточно энергии для разрыва атомной связи. Это явление было открыто в 1925 г. французским естествоиспытателем П. Оже. Названный его именем Оже-электрон отлетает затем с определенной скоростью, для измерения которой требуется электронный спектрометр [15.7].
Когда ударный электрон с достаточно большой энергией ионизирует электронную орбиталь с энергией ЕK вблизи атомного ядра, то при наличии незаселенного теперь энергетического уровня немедленно индуцируется переход другого электрона (например, L1 в К). Высвобождающаяся при этом переходе энергия (ЕK — EL1) предстает в виде характеристического рентгеновского излучения. Но она может быть перенесена и на другой электрон (например, в энергетическом уровне LIII) (см. рис. 15.5). Электрон из этого энергетического уровня покидает атом с кинетической энергией:
|
Энергии Оже-электронов есть свойство материи и не зависят от энергии возбуждающего электронного луча. Это означает, что энергия Оже-электрона имеет для каждого элемента свою специфичную величину, следовательно, определив эту энергию, можно определить и элемент.
Так как в Оже-процессе участвуют три электрона, можно сделать вывод, что водород и гелий не способны к эмиссии Оже-электронов. У элементов с высоким порядковым номером преобладает возбуждение рентгеновского кванта, а у более легких элементов чаще происходит Оже-электронная эмиссия. Таким образом, Оже-электронная спектроскопия обладает большим преимуществом по сравнению с рентгеновским микроанализом, обеспечивая именно для интересующих легких элементов В, С, N и О особенно высокую вероятность возбуждения. Как известно, в случае рентгеновского микроанализа эти элементы могут быть обнаружены только с применением особых искусственных кристаллов.
Первичная ионизация осуществляется любыми приемами возбуждения, но самым надежным считается метод с использованием электронов. Это объясняется прежде всего легко реализуемым изменением интенсивности и энергии электронного луча, его хорошей фокусируемостью и возможностью работы в растровом режиме. У разных типов приборов разрешающая способность по горизонтали составляет от 10 до 50 нм и зависит от фокусировки электронного пучка. Предел обнаружения достигает почти 0,01 атомного%. Оже-электронная спектроскопия осуществляется в ультравысоком вакууме [15.8].
Рисунок 15.6. демонстрирует снимок Оже-спектра для серебра. Производная dN/dE приведена, кроме прочего, для более наглядного изображения положения максимумов, имеющихся в кривой распределения энергии. С использованием градуировки могут быть проведены количественные измерения. Определять соединения по спектрам удается лишь в ограниченном объеме. Органические молекулы менее пригодны для Оже-анализа, поскольку при электронной бомбардировке разрушаются валентности связи.
Информационная глубина при Оже-электронной спектроскопии составляет всего несколько нанометров, так как низкоэнергетические электроны не отличаются большим пробегом. Точнее так: проникающим электронным лучом Оже-электроны могут генерироваться и на больших глубинах, но они уже не попадают на поверхность, значит, не могут выйти из нее и быть зарегистрированы детектором.
На рис. 15.7 показан Оже-спектр поверхности плохо промытого алюминиевого листа после травления. На поверхности (информационная глубина около 2 нм) присутствуют элементы S, Cr, О, Na и Аl. Речь идет, таким образом, о слое Аl2О3 с вкраплениями Na-хромата и серы как результат плохой промывки.
Оже-электронную спектроскопию нередко используют в сочетании с ионным распылением инертного газа (ion-sputtering), именуемым также ионным травлением. В качестве инертного газа выбирают чаше всего аргон. Для травления поверхностного слоя прибегают к ионной бомбардировке. Состав экспонируемого при этом атомного слоя в образовавшейся полости прослеживается как функция времени. При известной скорости травления отсюда вычисляется характер концентрационной кривой как функция глубины. Это называют также профилем глубины Оже-электронной спектроскопии и используется для определения толщины тонких слоев. Ионное распыление может осуществляться непрерывно в течение всего процесса измерения либо с определенными интервалами (рис. 15.8).
Рисунок 15.9 показывает Оже-электронный профиль глубины алюминиевого листа до 40 нм. Падение кривой кислорода (О) и подъем кривой алюминия (А1) характеризуют «конец» или, соответственно, толщину слоя А12О3. Таковой составляет около 15 нм и определяется снижением концентрации О при половине концентрации кислорода на поверхности [15.9].
15.4.1. Растровый Оже-микроскоп
Оже-сигналы могут использоваться и для получения изображений. Тогда говорят о растровом Оже-микроскопе (scanning auger microscope, SAM), с помощью которого можно получать изображения распределения элементов. Растровая Оже-микроскопия является усовершенствованным вариантом Оже-электронной спектрометрии, где моноэнергетический пучок первичных электронов сканирует пробу растровым способом, причем только интересующие в отношении конкретного элемента характеристические вторичные электроны определенной энергии привлекаются для создания электронно-микроскопического изображения поля концентрации на поверхности. Дополнительно можно также определять элементный состав в любой точке полученного с помощью растрового электронного микроскопа изображения Оже-спектров — как изменение концентрации элемента вдоль выбранной линии (line scan). При этом предел обнаружения, глубина регистрации и разрешающая способность по горизонтали соответствуют таковым при Оже-электронной спектроскопии [15.10].
15.5. Электронная спектроскопия для химического анализа
Электронная спектроскопия для химического анализа (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis, ESCA) имеет еще одно название — фотоэлектронная спектроскопия, поскольку в основе ее лежит фотоэффект, наблюдаемый при облучении материи рентгеновскими или УФ-лучами. Это метод функционирует без разрушения образца, с информационной глубиной в несколько нанометров, что позволяет также проводить определения органических соединений и полимеров. Данный способ измерения базируется на индуцированной излучением эмиссии электронов, спектроскопируемых соответственно их кинетической энергии. При этом могут детектироваться все элементы, кроме водорода и гелия [15.11].
Речь идет не о чем ином, как о классическом фотоэффекте по Ленарду и Эйнштейну: чистая металлическая поверхность облучается УФ-светом или квантами рентгеновского излучения с последующей электронной эмиссией. Удивившим всех результатом данного эксперимента было то, что с повышением силы облучающего света возрастает не энергия электронов, а только их число. Энергия же покидающих поверхность металла электронов зависит от длины волны падающего излучения. Это открытие не отвечало тогдашним представлениям, и «странный» эффект предположительно объясняли тем, что излучение света происходит в квантах, а энергия каждого кванта есть целочисленное кратное кванта действия h: Е = hν.
Наблюдение фотоэлектронной спектроскопии было впервые описано шведами К. Зигбаном и К. Эдварсоном еще в 1956 г. [15.12], но лишь к середине 60-х годов этот способ приобрел достаточную известность. Зигбан за свои заслуги в области электронной спектроскопии получил в 1981 г. Нобелевскую премию по физике — совместно с двумя американскими учеными, отмеченными за развитие лазерной спектроскопии.
В случае фотоэлектронной спектроскопии каждый электрон, стремящийся покинуть атомную связь, должен сначала забрать энергию связи у атома. Все, что будет сверх нее, используется затем как энергия движения (Eкин.). В первом приближении действительно следующее простое отношение:
|
где Есв. есть энергия связи.
Поскольку длина волны — а с ней и энергия — падающего излучения известны, а кинетическую энергию электронов можно измерить с помощью анализатора энергии электронов, то по приведенному выше уравнению легко вычислить энергию связи. Кинетическая энергия фотоэлектронов является характеристической для элементов в имеющихся у них состояниях связи.
Но это справедливо лишь в том случае, если электрон не претерпевает неупругих столкновений внутри твердого тела. Средняя глубина выхода электронов без потери энергии из-за столкновений есть функция энергии электронов, и для фотоэлектронов она находится в диапазоне от 0,5 до 5 нм. Измерение осуществляется в высоком вакууме. Здесь преобладают исследования твердых веществ, а измерения жидкостей и газов возможны с использованием специальных методик. Основную область применения составляет исследование электронного строения валентного и остовного уровней [15.13].
В то время как аналитический предел обнаружения в зависимости от порядкового номера элемента находится в объеме около 0,1%, в аналитике поверхности удается обнаружить даже меньше, чем один монослой. Такая поверхностная чувствительность обусловливает большой спрос на этот метод при исследовании физико-химических феноменов на граничных и верхних плоскостях, в том числе явлений окисления, адсорбции, гетерогенного катализа, коррозии и т.д. В целях повышения информативности результатов электронной спектроскопии для химического анализа иногда прибегают к сравнению полученных данных с результатами других спектроскопических методов и производят соответствующую коррекцию.
Основные работы по этой тематике были выполнены К. Зигбаном в конце 60-х годов. При всех методах фотоэлектронной спектроскопии монохроматические фотоны, то есть фотоны с определенной энергией, падают на пробу и посредством фотоэлектрического эффекта генерируют электроны, которые с кинетической энергией Екин. попадают в анализатор (рис. 15.10). На основе известной энергии фотонов hν и кинетической энергии Екин. электрона можно сделать вывод об энергии связи Есв. электрона в атоме или, соответственно, в молекуле. Установленная таким путем энергия сравнивается с известными табличными данными энергии связи, что позволяет идентифицировать атом или молекулу.
В качестве важнейшего параметра фотоэлектронной спектроскопии получают энергию связи электронов. Ее экспериментальное определение осуществляется путем измерения кинетической энергии Екин. в соответствующем анализаторе энергии. Кинетическая энергия излученных фотоэлектронов находится в той же области, что и энергия Оже-электронов, испускаемых, впрочем, одновременно с фотоэлектронами. Вследствие этого получают и почти одинаковую информационную глубину в несколько нанометров.
Значение электронной спектроскопии для химического анализа состоит в том, что дополнительно к аналитической информации касательно присутствующих элементов можно получить еще и сведения о виде связи. Поскольку энергия захвата электронов в атомной связи в некоторой степени зависит от соседних атомов, образуется незначительная разница между энергиями связи чистого элемента и соединения. Эта разность проявляется в химическом сдвиге (chemical shift) соответствующих пиков.
Если используется электронный спектрометр с высоким спектральным разрешением, то эти сдвиги, составляющие максимум несколько эВ, можно измерить. В результате создается возможность определения того, имеет ли, например, соединение углерода и кислорода простую С—O-связь либо двойную С=О-связь и в какой доле какой вид связи присутствует. В случае окиси металла можно даже установить степень окисления, точнее, валентность, отвечающую степени окисления.
Но для точного вычисления энергий связи необходимо принимать во внимание и другие влияющие факторы. Наряду с доминирующей энергией электронной ионизации, придется учесть еще доли энергии, привнесенные внутри- и внеатомной релаксацией, а также компоненты корреляционной и релятивистской энергии. Среди них значительных величин достигают, в частности, энергии релаксации. После процесса ионизации в результате реорганизации орбиталей имеет место новое распределение энергии для ионного состояния по сравнению с атомным состоянием. При дырочном состоянии вклад релаксации включает в себя как внутриатомную долю, обусловленную локальным изменением плотности электронов на атоме из-за более сильного притяжения электрона к ядру, так и внеатомную долю, обусловленную экранированием положительной заряженной дырки соседними атомами.
При записи спектров, в силу фотоэмиссионного процесса с реорганизацией орбиталей, постоянно возникают процессы релаксации. Истинную энергию связи можно определить лишь при условии, что известна энергетическая компонента, привнесенная релаксацией. Часто бывает так, что наряду с основной линией электронов наблюдаются дополнительные пики и структуры, причиной которых могут быть мультиплетности, многоэлектронные процессы или характеристические явления потери энергии. Эти сопутствующие структуры частично затрудняют интерпретацию измеряемых спектров, но, с другой стороны, являются также источником дальнейшей информации.
Еще больший интерес, чем абсолютные энергии связи, представляет химический сдвиг энергетического уровня, вызываемый разным состоянием связи атома. При этом влияние оказывает не только сама валентная связь, но принимаются во внимание и индуцированные эффекты дальних атомов. Химический сдвиг складывается из межатомного терма, учитывающего кулоновское взаимодействие валентных электронов с остовными электронами под действием вызванного состоянием связи заряда, и внутриатомной доли, учитывающей кулоновское взаимодействие эффективного заряда соседних атомов.
Внутриатомный вклад зависит в первую очередь от типа атомов, их геометрии относительно друг друга, а также от распределения заряда и поляризуемости валентных электронов. Межатомный вклад примерно пропорционален состоянию заряда неионизированного атома и содержит терм, учитывающий сжатие атомных орбиталей в результате состояния ионизации. Практически наблюдают сдвиги энергии связи для элемента в разных состояниях примерно до 5 эВ, а при небольших молекулах даже до 10 эВ. Таких спектральных сдвигов в принципе достаточно для идентификации соответствующего зарядового состояния либо уровня окисления атомов.
В общем и целом можно утверждать следующее: чем выше формальная валентность атомов в соединении, тем больше соответствующая энергия связи электронов. Отклонения от абсолютно линейной характеристики можно объяснить тем, что, наряду с простым представлением переноса заряда, необходимо принимать во внимание и ковалентности.
В подтверждение эффективности электронной спектроскопии для химического анализа приведем следующие основные характеристики данного метода.
-
Детектировать можно все элементы, кроме водорода. Точность измерения столь высока, что удается не только идентифицировать вид атома, но также определять по сдвигу энергетического уровня электронов вид химической связи. При очень малых сдвигах возникает ограничение разрешающей способности спектров. Обнаружение элементов является абсолютно однозначным; многозначность из-за наложений линий разных элементов встречается крайне редко. Почти всегда возможен уход на другой уровень либо другие Оже-линии. Для идентификации могут быть привлечены также отношения интенсивностей при спин-орбитальных взаимодействиях и независимая от состояния связи разница энергий ионизации.
-
Интенсивность линий есть мера числа атомов в определенном состоянии связи (при соответствующей градуировке возможно проведение количественных анализов).
-
В сочетании с техникой распыления (sputtering) могут регистрироваться профили глубины, но при этом весь процесс, включая измерение, должен осуществляться в прерывистом режиме.
-
Данная методика исследования, в отличие от прочих способов, преимущественно недеструкционна, что позволяет анализировать с ее помощью органические вещества (например, полимеры).
15.6. Масс-спектрометрия вторичных ионов
К сожалению, с помощью описанных выше методов можно определять только элементы, содержащиеся в соединениях, но не сами соединения. Масс-спектрометрия вторичных ионов является здесь в некотором роде шагом вперед, предлагая информацию об осколочных ионах, на основе которой изощренный ум способен реконструировать исходное соединение.
Понятие масс-спектроскопии вторичных ионов подразумевает сочетание процесса распыления и отрыва посредством фокусированного пучка ионов с собственно масс-спектрометрией инициируемых при этом вторичных ионов поверхности. Данный масс-спектрометрический метод детектирования позволяет проводить исследование всех элементов Периодической системы, включая изотопные анализы. Он используется во всех тех случаях, когда интерес для изучения представляет химический состав поверхности либо близкой к поверхности зоны [15.14]. Анализы тонких слоев с профилем глубины могут проводиться при высоком разрешении по глубине. При этом количественные определения отдельных элементов осуществляются до диапазона миллионных долей. Особым достоинством данной методики является возможность обнаружения даже таких легких элементов, как Н, В, Be и С [15.15].
Метод масс-спектрометрии вторичных ионов действует без всякого разрушения образца[64]. Поверхность пробы бомбардируется положительными ионами инертного газа (аргона) с энергией от 1 до 20 кэВ. При этом имеют место разные эффекты, используемые в химико-аналитических целях. Среди них:
-
упругое рассеяние первичных ионов на поверхности посредством ионной спектроскопии,
-
вторичная ионная эмиссия на основе масс-спектрометрии вторичных ионов,
-
эмиссия нейтральных частиц при SNMS (Sputtered Neutral Mass Spectrometry),
-
индуцированное ионами светоизлучение при BLE (Bombardement induced Light Emission).
Общим для всех этих методов является то, что первичные ионы фокусируются в пучок, диаметр которого составляет от 1 мм до менее 1 мкм. В то время как упругое рассеяние — по крайней мере, при энергиях ниже 1 кэВ — не вызывает разрушения образца, проникающие в твердое тело первичные ионы приводят к более или менее сильным разрушениям. Процесс отрыва наглядно представлен на рис. 15.11. Индуцированная ионами Оже-электронная эмиссия используется по тому же принципу, что и излучение, инициируемое электронами.
Процесс отрыва происходит, когда атомы отдачи вблизи поверхности твердого тела обладают энергией и направлением, необходимыми для того, чтобы покинуть это твердое тело. Первичные ионы — в зависимости от энергии, массы и атомной массы мишени, а также угла бомбардировки поверхности пробы — с разной глубиной проникают в пробу и отдают свою энергию в результате столкновения с частицами пробы. Вызванные этим каскады столкновений забирают у частиц вблизи или на поверхности пробы энергию, превышающую энергию связи: происходит эмиссия частиц. Последние отрываются от поверхности в виде нейтральных частиц или как отрицательные либо положительные ионы.
При бомбардировке ионами инертного газа в высоком или ультравысоком вакууме излучаемые частицы преимущественно электрически нейтральны. Доля возбужденных или, соответственно, ионизированных частиц мала и составляет обычно менее 1%. Образуются как положительные, так и отрицательные ионы, причем основное правило гласит: электроположительные элементы, например металлы, образуют преимущественно положительные ионы, а электроотрицательные элементы, например галогены, образуют преимущественно отрицательные ионы.
Глубина выхода распыленных частиц составляет около 20 ангстрем в зависимости, например, от энергии первичных ионов, массовых чисел участников столкновения и зарядового числа. Глубина обнаружения находится на уровне нескольких монослоев при медленном разрушении поверхности. Чувствительность в большинстве случаев превышает 10~6 частиц на каждый монослой.
Спектры масс-спектрометрии вторичных ионов, как правило, сильно насыщены линиями, поскольку всегда существует масса возможностей образования ионных осколков, которые к тому же способны к рекомбинациям. В связи с этим интерпретация вторичных ионов определенным образом ограничена, ибо в результате ионной бомбардировки могут возникать новые химические соединения. Чтобы по спектру определить точный состав поверхности, требуются довольно обширные сравнительные измерения. Масс-спектрометрия вторичных ионов позволяет проводить детектирование изотопов. Регистрация профилей глубины для элементного распределения вполне сравнима с растровой Оже-электронной микроскопией.
В зависимости от назначения различают два режима работы при масс-спектрометрии вторичных ионов: статический и динамический. Рассматриваемый метод остается деструкционным даже при небольшой скорости травления поверхности, по крайней мере, в динамическом режиме.
В статическом режиме работа ведется с пучком первичных ионов малой энергии; плотность тока составляет менее 10-9 А·см2 соответственно дозе ионов < 1012/см2. Это означает, что один ион аргона приходится на площадь 1600 Å2. Во время измерения снимаются только осколки монослоев. Для достижения пределов обнаружения в области миллионных долей монослоя диаметры пучков составляют несколько миллиметров. С учетом сильного влияния среды остаточного газа на вторичную ионную эмиссию требуется очень высокий вакуум.
При динамической масс-спектрометрии вторичных ионов работа ведется с дозой больше в 104 раз. Энергии первичных ионов находятся в кэВ-диапазоне, диаметр пучка составляет от 1 мкм до 1 мм. Так как сигналы масс-спектрометрии вторичных ионов по определению не имеют фона, то представляется вполне возможным обнаружение даже одного-единственного иона. Это значит, что данный метод пригоден для проведения следовых анализов.
В 1986 г. был впервые предложен коммерческий вариант спектрометра на основе времени пролета (Time-of-flight, TOF) именно для масс-спектрометрии вторичных ионов. Разработка и применение спектрометра по принципу времени пролета с фокусировкой по энергии положили начало новому поколению анализаторов в области исследования поверхностей. Благодаря подключению импульсного источника первичных ионов или импульсного лазера такой спектрометр может быть легко преобразован в масс-спектрометр вторичных ионов либо в лазерный микрозонд.
Если вместо ионного пучка облучать поверхность пробы лазерным лучом, то в результате лазерного нагрева молекулы поверхности претерпевают десорбцию. При такой методике масс-анализа с помощью лазерного микрозонда можно использовать для нагрева резко сфокусированный лазер с типовой плотностью мощности выше 108 Вт·см-2. Большинство частиц покидают поверхность незаряженными; небольшая часть ионов, выходящих из поверхности, анализируется в масс- спектрометре.
15.7. Спектроскопия ионного рассеяния
Недостатки и ограничения, связанные с одним методом анализа, иногда могут оказаться сильной стороной другого спектрального метода. Если Оже-электронная спектроскопия представляется идеальным дополнением к рентгеновскому микроанализу (особенно при исследовании легких элементов), то спектроскопия ионного рассеяния прекрасно дополняет масс-спектрометрию вторичных ионов.
В то время как в последнем случае анализируются ионы, оторванные от поверхности, при спектроскопии ионного рассеяния (Ion Scattering Spectroscopy, ISS) измеряются потери энергии, которые претерпевают рассеянные на поверхности ионы инертного газа. Точнее говоря: определению подлежит отношение энергий Е/Е0 ионов до и после процесса рассеяния (рис. 15.12).
При этом предполагается, что поступающие ионы инертного газа и одиночные поверхностные атомы подвергаются двойному столкновению. Так как рассеянные ионы всегда обладают одинаковой массой, то здесь нужен не масс-спектрометр, а электростатический анализатор для разделения энергий. С учетом разделения энергий упруго отражающих ионов можно на основе пакета импульсов и закона сохранения энергии получить данные массового числа атомов на поверхности.
Здесь можно детектировать все элементы, которые тяжелее падающего иона. Следовательно, водород в мономолекулярном слое — адсорбированный либо химически связанный — не поддается обнаружению по методу масс-спектрометрии ионного рассеяния. С ионами более высокой энергии (от 0,1 до 1 МэВ) удается получить информацию о глубинной структуре материалов. Этот спектроскопический метод обозначают как RIBS (Rutherford Ion Back Scattering) — резерфордовское обратное рассеяние ионов или HEIS (High Energy Ion Scattering) — рассеяние высокоэнергетических ионов. Он особенно чувствителен в отношении тяжелых элементов в легкой матрице. Начиная с железа, все соседние элементы едва ли удастся обнаружить по причине ограниченной масс-разрешающей способности метода. Мешающий эффект при данном методе — нейтрализация низкоэнергетических ионов — целенаправленно используется в спектроскопии ионной нейтрализации.
Предел обнаружения здесь заметно хуже, чем при масс-спектрометрии вторичных ионов, поскольку при этом методе наблюдается достаточно высокий фон. Эффективность метода основана на том, что он позволяет исследовать самый верхний монослой (информационная глубина составляет один монослой). Как правило, для обнаружения соединений он неприменим. Возможно сочетание его с распылительным устройством для регистрации профилей глубины.
15.8. Микроскопия с растровыми зондами
Микроскопия с растровыми зондами, именуемая также наноскопией, открыла ученым, работающим в сфере физики, химии и биологии, новое поле деятельности — возможность проведения анализов объектов в нанометровом диапазоне. Если все прочие методы изучения мельчайших объектов терпят крах на пороге Аббе, где объекты, которые меньше половины длины волны используемого излучения, уже не подлежат разрешению, микроскопия с растровыми зондами перешагивает эту границу благодаря совсем иному принципу измерения. Со времени внедрения данного метода в 1981 г. появились совершенно новые возможности проведения исследований в научной и технологической областях. Благодаря ему было впервые получено изображение поверхностных атомов или дан ответ на вопрос о расположение атомов в кристаллической решетке на поверхности кремния.
Микроскопия с растровыми зондами (Scanning Probe Microscopy, SMP) является просто революционной методикой. Микроструктуры, вплоть до одиночных атомов, впервые были получены в прямом отображении с 108-кратным увеличением. Это резко расширило область применения метода — до уровня, о котором раньше не приходилось даже помышлять. За последние 10 лет никакой другой метод анализа поверхности не получил столь широкого распространения, как микроскопия с растровыми зондами [15.16]. Первые снимки, демонстрирующие одновременно атомы на поверхности твердого тела и удерживающие их связи, были получены группой ученых из научно-исследовательского IBM-центра Томаса Дж. Уотсона в Йорктаун Хайтс, США.
Растровый зондовый микроскоп имеет три свойства, отличающие его от всех прочих микроскопов:
Семейство растровых зондовых микроскопов можно условно разделить на две группы:
Страстное желание многих ученых получить простое изображение атомной структуры поверхностей твердых тел было реализовано в 1982 г. двумя физиками, Г. Биннигом и Г. Рорером, с помощью растрового туннельного микроскопа, разработанного ими в научно-исследовательском IBM-центре г. Цюриха [15.17]. За эту поистине гениальную идею оба ученых получили в 1982 г. Нобелевскую премию в области физики. Одновременно тем самым были заложены основы для создания целого ряда микроскопов нового образца. Принцип растровой туннельной микроскопии базируется на самых разных взаимодействиях между зовдом и пробой, причем вместо туннельного тока для измерения используются другие параметры.
Простая конструкция этого микроскопа с возможностью максимального разрешения вплоть до атомных единиц объясняет столь стремительное развитие, какое в последние годы показала данная отрасль микроскопии. Так, не в последнюю очередь под влиянием открытия растрового туннельного микроскопа в последующие годы появился совершенно новый класс растровых зондовых микроскопов с кратким обозначением RXM. Через «X» здесь обозначен физический эффект (как «Т» для туннельного эффекта), посредством которого регулируется расстояние между подходящим острым измерительным зондом и пробой. В зависимости от используемого зонда можно, например, с высоким пространственным разрешением измерять локальные изменения температуры вблизи поверхности (растровая микроскопия теплового излучения [15.18]) или оптические свойства (оптическая растровая микроскопия ближней зоны [15.19]).
Помимо растрового туннельного микроскопа, отнюдь не последним среди микроскопов с растровыми зондами является также созданный Биннигом и коллегами растровый силовой микроскоп [15.20]. Он не имеет ограничения, характерного для растрового туннельного микроскопа, который предназначен для исследования исключительно электропроводящих образцов.
15.8.1. Принцип растровой туннельной микроскопии
Растровый туннельный микроскоп разработан для исследований поверхностей проводящих или полупроводящих твердых тел. Принцип действия этого метода поразительно прост (рис. 15.13). Здесь используется эффект «электронного туннеля» — процесс, который можно объяснить только понятиями квантовой механики, приписывающей электронам одновременно волновые и корпускулярные свойства. Их волновые свойства дают возможность электронам проводимости попадать наружу через поверхность материала и окружать поверхность проводящего материала электронным облаком.
Если тонкое металлическое острие, также окруженное электронным облаком, достаточно близко подвести к поверхности проводящего материала, то электронные облака накладываются друг на друга, образуя «туннель». Если теперь между острием зонда и исследуемой поверхностью приложить напряжение, то электроны начнут движение по этому туннелю и потечет ток. Сила такого туннельного тока зависит от удаленности металлического острия от исследуемой поверхности. Открытие принципа туннельного тока восходит еще к 1928 г. [15.21].
Итак, два металлических проводящих материала, в данном случае тонкое, играющее роль зонда острие и подлежащая исследованию проба, приближены друг к другу на расстояние всего в несколько диаметров атома (рис. 15.13). Одновременно между ними прикладывается электрическое напряжение UT, причем классическая физика запрещает протекание тока по причине существующего потенциального барьера. Но, согласно квантовой механике, для электронов все же не исключена определенная вероятность преодоления этого барьера и попадания с одного металла на другой, причем соответствующий туннельный ток IT течет в пико- и наноампер-диапазоне [15.22].
Подвод зонда из Pt/Ir или вольфрама на расстояние 1—2 нм к поверхности электропроводящей пробы осуществляется с помощью пьезоэлектрического исполнительного элемента, который после приложения напряжения может растягиваться или сжиматься. Когда острие зонда движется по исследуемой поверхности, туннельный ток колеблется в зависимости от изменения удаленности острия от поверхности. При этом туннельный ток экспоненциально зависит от ширины потенциального барьера, то есть от интервала острие — проба. Таким образом, колебания тока есть показатель качества поверхности. Эта характеристика используется теперь в целях формирования изображения, для чего существует два режима работы.
РАБОТА В РЕЖИМЕ ПОСТОЯННОГО ТОКА
При таком режиме туннельный ток удерживают на постоянном уровне во всех точках петли обратной связи. При выполнении измерения острие зонда построчно проводится по поверхности. Если при движении по гладкой поверхности острие попадает, например, на один-единственный дополнительный атом, то туннельный ток резко возрастает, так как обычно равномерное электронное облако при этом как бы вспучивается. Через контур обратной связи острие поднимается настолько, что туннельный ток вновь возвращается к прежнему значению. Таким образом, зонд точно следует за профилем поверхности, так что в результате записи вертикальных движений зондирующего острия получается нечто вроде контурной карты атомов на поверхности. Чтобы удовлетворять чрезвычайно высоким требованиям к точности управления движением в пикометровом диапазоне, применяют пьезокерамические исполнительные элементы. На основе оценки управляющих напряжений и преобразования в информацию о высоте получают в результате построчного растрирования трехмерное изображение поверхностного рельефа пробы.
РАБОТА В РЕЖИМЕ ПОСТОЯННОЙ ВЫСОТЫ
Другая возможность записи рельефа пробы состоит не в изменении интервала между зондом и пробой, а только в детектировании изменения туннельного тока при растрировании поверхности. Однако полученное таким способом изображение поверхности пробы представляет собой не топографию в известном смысле этого слова, а нечто большее — плоскости с постоянной вероятностью туннелирования. Эта вероятность зависит как от вероятности пребывания электронов на поверхности, так и от распределения разных энергетических уровней.
С помощью дополнительных мер можно получить более подробную информацию о форме и плотности электронных облаков на поверхности и между поверхностными атомами. Эти электронные облака определяют силы связи между атомами. Для проведения дополнительных измерений петля обратной связи периодически прерывается, одновременно изменяется напряжение между зондирующим острием и поверхностью и регистрируется относящийся сюда ток (рис. 15.14).
При этом получают карту локальных электронных свойств исследуемой поверхности, которые являются отображением отношений связи поверхностных атомов. Наложив друг на друга контурную и электронную карты, можно узнать отношение поверхностных атомов и отношение существующих между ними связей.
Таким способом можно, например, при растрировании с атомным разрешением получать изображения структур из разных химических элементов. Так достигается спектроскопический анализ химического состава поверхности путем соответствующего изменения расстояния, туннельного напряжения или туннельного тока (рис. 15.14). Основным условием успешной реализации всех этих вариантов остается электропроводимость образца.
15.8.2. Принцип атомной силовой микроскопии
Как результат совершенствования растровой туннельной микроскопии в конце 80-х годов стал успешно применяться новый метод из этой серии — атомная силовая, или растровая силовая, микроскопия (Atomic Force Microscopy, AFM, или Scanning Force Microscopy, SFM). Растровые туннельные и растровые атомные (силовые) микроскопы сконструированы практически одинаково. И здесь и там тонкое острие зонда, управляемое исполнительным пьезоэлементом, проводится с эффектом растрирования по поверхности пробы (рис. 15.15).
В последнем случае острие смонтировано на служащей в качестве рычага слабой пружине — своеобразной консоли (cantilever). Когда лазерный луч от нее отражается на координатно-чувствительном фотодиоде, можно регистрировать изгиб консоли и, значит, усилие, оказываемое на зонд в зависимости от расстояния до поверхности пробы [15.23].
В наипростейшем случае регулировка и здесь тоже осуществляется с расчетом на постоянное расстояние или, соответственно, воздействие силы, причем усилия в области всего нескольких наноньютонов подчиняются закону отталкивания. Регулируемые значения тогда вновь преобразуются измерительной ЭВМ в трехмерное высотное изображение поверхности. Важнейшим отличием от растровой туннельной спектроскопии является, согласно описанному принципу действия, тот факт, что применение атомной силовой спектроскопии не ограничивается только электропроводящими образцами. Более того, с помощью этого метода можно получать изображения поверхности изоляторов или органических соединений, следовательно, он представляет интерес и для сферы изучения биологических материалов [15.24].
НАНОЗОНДЫ
Очевидно, что качество зондирующего острия и упругая прочность «консоли» решающим образом определяют разрешение и чувствительность растрового силового микроскопа. При исследовании поверхностей важнейшую роль играет геометрия острия. Если его радиус слишком велик, то небольшие структуры уже не разрешимы, а кромки и пики выглядят закругленными. Мелкие отверстия иногда вообще не поддаются регистрации. Даже когда радиус острия бесконечно мал, чрезмерно большой угол конуса острия дает неверное изображение. Крутые фронты более не сканируются, а днища возможных углублений с высоким отношением глубины/ширины вообще не достижимы для зонда. Короче говоря, с плохо выполненным острием можно получить иногда прекрасные, но, увы, искаженные изображения.
Рычажно-зондовая комбинация в самом простом варианте состоит из тонкой проволоки диаметром в несколько микрометров и длиной в несколько сотен микрометров, конец которой загнут под углом 90° и заканчивается тонким острием. Такие зонды, состоящие из тонкой металлической проволоки, легко изготовить с помощью процессов электрохимического травления и полировки, придав им нужную форму посредством микроплавления. Радиус острия зондов исчисляется обычно в нанометрах.
С учетом высокой чувствительности в отношении детектируемого усилия упомянутая выше консоль должна быть по возможности не слишком жесткой, в то время как желаемая нечувствительность к внешним помехам требует высоких резонансных частот и, следовательно, наличия жесткой консоли. Эти на первый взгляд взаимоисключающие требования удается выполнить за счет миниатюризации чувствительного элемента датчика силы. Новые, изготовленные литографским способом встроенные рычажно-зондовые системы имеют ориентировочные размеры: длина х ширина х высота = 100 х 10 х 1 мкм3. Типичная жесткость рычажной пружины составляет около 1 Н/м. Силовое взаимодействие на уровне 1 наноньютона соответствует тогда отклонению рычага на 1 нм.
В настоящее время рынок предлагает два разных вида сенсоров серийного производства. Используемые до сих пор чувствительные элементы из нитрида кремния отличаются простотой и дешевизной изготовления. Но геометрия острия у них имеет определенные пределы. Угол конуса, равный 70°, относительно велик, радиус острия достигает 500 ангстрем. Кроме того, нитрид кремния известен своей способностью удерживать электрические заряды. Вызванные этим бесконтрольные электростатические силы способствуют иногда повышению «склеивающей» силы подобных сенсоров. Новинкой последних лет являются чувствительные элементы из монокристаллического кремния, у которых радиус острия обычно составляет менее 100 Ангстрем, а угол конуса равен от 40 до 50°. В самой верхней зоне острия (несколько сотен нанометров) угол конуса меньше и достигает на конце примерно 10°. Этим обеспечивается адекватное изображение поверхности.
Между зондирующим острием и поверхностью пробы имеется множество взаимодействий: на отталкивающие силы очень малой дальности действия накладываются притягивающие силы Ван-дер-Ваальса большей дальности действия. В дополнение к ним при работе на воздухе появляются еще и капиллярные силы - из- за присутствия загрязняющих и водных слоев. Растровая силовая микроскопия в принципе может функционировать двумя разными способами: контактным и бесконтактным.
КОНТАКТНЫЙ РЕЖИМ РАБОТЫ
При таком способе работы, который еще называют отталкивающим, острие проводится по поверхности — в квазиконтакте — с полезным усилием от 10-7 до 10-9 Н. Дальнодействующие притягивающие силы и ближнедействующие отталкивающие силы находятся примерно в равновесии, но при этом, несмотря на пренебрежимо малые полезные усилия, могут возникнуть относительно высокие отталкивающие силы на передних контактных атомах.
БЕСКОНТАКТНЫЙ РЕЖИМ РАБОТЫ
При таком способе работы, который еще называют притягивающим, консоль и острие возбуждаются для резонансных колебаний. Притягивающие силы, проявляющие себя уже на расстоянии нескольких нанометров от поверхности пробы, действуют как маленькие добавочные пружинки на зондирующем острие. В результате происходит сдвиг резонансной частоты. Это детектируется и используется для регулирования, как уже описывалось выше. Таким способом получают изображения с постоянным градиентом силы. В случае изображений рельефа это означает, что поверхность пробы растрируется с постоянным (и регулируемым) интервалом между острием и пробой, равным нескольким нанометрам. Возникающие при этом силы носят чисто притягивающий характер, и они на несколько порядков меньше (предел обнаружения около 10-12 Н).
15.8.3. Магнитодинамический микроскоп
Если проба и острие имеют магнитное покрытие, то магнитные взаимодействия могут использоваться для создания топографии магнитной поверхности, и тогда мы получим то, что называют магнитодинамическим микроскопом (Magnetic Force Microscope, MFM) [15.25]. В качестве зондов здесь чаще всего находят применение игольчатые наконечники из никеля. Наряду с определенной геометрией, они обладают еще и определенными магнитными свойствами. Так, намагниченность на основе очень высокой анизотропии формы у таких зондов первично параллельна продольной оси зонда и, следовательно, ориентирована перпендикулярно поверхности пробы. Динамическое взаимодействие определяется тогда через магнитный момент зонда в локальном, неоднородном, близком к поверхности магнитном поле пробы перпендикулярно ее поверхности. Взаимодействие сил сравнимо здесь с механизмом отталкивания или притягивания двух магнитов в зависимости от ориентации торцов полюсов.
Область применения микроскопа такого типа не ограничивается только фундаментальными исследованием, но простирается и до уровня промышленного производства. У магнитных запоминающих устройств для хранения данных одна единица количества информации имеет величину, равную всего нескольким микрометрам. Изучение подобных двоичных структур с помощью магнитодинамического микроскопа возможно без всякой пробоподготовки и позволяет проводить быстрый, без разрушения образца, с высокой разрешающей способностью, контроль качества этих запоминающих сред [15.26].
15.8.4. Растровый электрохимический микроскоп
Если зондирующее острие как рабочий электрод, а исследуемую поверхность как противоположный электрод с относящимся сюда опорным электродом присоединить к стабилизатору напряжения, то можно исследовать электрохимические процессы с высоким пространственным разрешением. Растровый электрохимический микроскоп (Scanning Electrochemical Microscope, SECM) был разработан в 1989 г. и с тех пор успешно используется при исследовании осаждений разного рода, а также процессов коррозии и травления. Рабочий электрод из высококачественной стали диаметром несколько микрометров служит в качестве ультрамикроэлектрода для растрирования поверхности на микрометровом расстоянии. В зависимости от приложенного потенциала начинается электрохимическая реакция на поверхности, результирующий ток которой пропорционален локальной концентрации. При этом возможны разрешения до диаметра примерно 1 мкм.
Многообещающие возможности данной методики основаны на микроструктурировании, позволяющей осуществлять локальные изменения поверхности. Ультрамикроэлектрод может при этом использоваться в микродиапазоне либо для структурированного травления, либо для осаждения металлов или полимеров [15.27].
15.8.5. Практическое применение анализов поверхности
Атомы состоят из ядра, окруженного подвижным электронным облаком. Некоторые из окружающих ядро электронов очень контактны и в молекулах собираются вместе. Большая или меньшая склонность электронов к образованию связей является решающим фактором того, как атомы взаимодействуют между собой. Атомы внутри тела имеют характерную конфигурацию в зависимости от сил связи своего окружения. Атомы вблизи поверхности располагаются иначе, поскольку из одного какого-то направления на них не действует никаких сил связи. Этим различием и объясняются отличающиеся друг от друга электронные свойства у поверхности твердого тела и внутри него. Таким образом, связи могут выступать из поверхности твердого тела и вызывать химические реакции.
Растровая силовая и растровая туннельная микроскопия, равно как магнитодинамическая микроскопия, представляют собой новое и весьма ценное дополнение к прежней традиционной методике микроскопирования. Такие свойства, как чрезвычайно высокая разрешающая способность (вплоть до молекулярных и атомных единиц), настоящее трехмерное изображение структуры поверхностей и возможность работать в разных условиях окружающей среды (в вакууме, в воздухе и прочих атмосферах, а также в жидкости), выгодно отличают эту технику от прочих методов микроскопии. Затраты на подготовку образцов здесь сведены к минимуму и ограничиваются в большинстве случаев просто фиксацией пробы. Это позволяет с самого начала в значительной мере исключить возможные артефакты и создает условия для проведения исследований прямо на месте (in-situ).
Здесь можно сделать видимыми и атомы, и их связи, определяя таким образом силы, свойства и отличительные признаки отдельных материалов. Эти силы, в частности, ответственны за то, что один материал ведет себя как благородный металл, а другой, напротив, проявляет высокую реакционную способность. С этим знанием открываются новые перспективы во многих сферах научных исследований. Удается, например, изготовить до сих пор неизвестные в природе вещества или лучше понять протекание важных биологических процессов в атомах.
Наряду с использованием на уровне фундаментальных исследований в физике и химии, методы растровой туннельной и растровой силовой микроскопии широко применяются в материаловедении и при проведении анализов в электрохимии. Особо следует выделить такую область, как изучение структуры поверхностей электронных деталей, полупроводников и оптических средств хранения информации. Так, незначительные дефекты, которые очень легко распознаются с помощью этого метода, могут привести к сбоям в процессе производства и поломкам при эксплуатации полупроводниковых схем. Поскольку эти схемы постоянно увеличивают свое быстродействие и уменьшаются в размерах, то вопрос обнаружения и своевременного устранения указанных дефектов приобретает все большую важность.
Расширяется и применение зондовых микроскопов в биологических и биотехнических исследованиях, причем именно в этой сфере открываются новые возможности проведения анализов на живом, не препарированном материале, вплоть до целенаправленных манипуляций в молекулярном масштабе. Представление ДНК в атомном масштабе указывает перспективы будущего использования атомного силового микроскопа в качестве миниприбора упорядочивания ДНК.
Бурное техническое развитие подобных микроскопов, главная особенность которых состоит в способе физического взаимодействия между измерительным зондом и поверхностью образца, приводит к появлению все более компактных и чувствительных приборов, которые можно легко приспосабливать к решению специальных задач или изменившимся требованиям. В настоящее время рынок предлагает множество коммерческих систем, облегчающих вхождение в эту захватывающую область.
Неуклонное совершенствование конструктивных исполнений соответствующего оборудования продолжает открывать все новые и новые области его применения, о которых прежде не приходилось и мечтать. Уже известны сообщения разработке термических, емкостных или оптических зондов, а за ними, безусловно, последуют другие, предназначенные для использования иных физических взаимодействий. Эти успехи дают все основания ожидать дальнейшего повышения точности и чувствительности описанных методов, которые продолжают развиваться и совершенствоваться.
ГЛАВА 16. ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Одномерные методы анализа дают для каждого вещества всего один измеряемый параметр (например, температуру плавления). Методы спектроскопии являются, как минимум, двумерными, сообщая о веществе для каждого разрешимого интервала длин волн спектра хотя бы одно значение интенсивности. Поэтому их информативность достаточно велика для того, чтобы ответить практически на любой осмысленный вопрос аналитической химии. Это определенно является одной из причин поразительно быстрого развития спектральных методов анализа.
Аналитическая техника, взятая на вооружение спектроскопией, использует переходы в схемах энергетических уровней молекул и атомов, дающих фотоны в интервале от рентгеновского излучения до ультракоротких волн. Многообразие предлагаемых методов позволяет решать самые разные проблемы, в том числе проблемы следового и микроанализа, а также анализа поверхности. Большинство спектроскопических методов являются недеструктивными, то есть действуют без разрушения образца: пробы в процессе анализа не претерпевают никаких изменений и могут быть использованы для дальнейшей работы. Это чрезвычайно ценное качество, широко используемое, например, при экспертизе произведений искусства или при конечном контроле готовой продукции.
Наряду с совершенствованием техники и методики анализа, продолжают развиваться многочисленные варианты проблемно-ориентированного применения аналитических исследований при решении комплексных проблем из самых разных областей. Как уже упоминалось, в сфере стандартной аналитики отмечается все большее стремление к сочетанию способов разделения и предварительного обогащения, где особые надежды возлагаются на метод проточной инжекции. В прикладной аналитике успешно продвигаются работы по объединению систем проточной инжекции и атомно-абсорбционной спектроскопии.
Инструментальные возможности коммерческих спектральных приборов были значительно улучшены благодаря привлечению эффективных систем сбора и обработки данных, а также на основе представления измеренных параметров с помощью персональных компьютеров, что открыло интересные перспективы в плане контроля в режиме он-лайн, например в случае технологических потоков либо сточных вод. Здесь стоит указать еще на обширную инновационную область электрохимических сенсоров, демонстрирующую несомненные успехи.
При разработке новых методов большое внимание уделяется, кроме прочего, созданию условий для максимально точной обработки данных и извлечения необходимых сведений из больших массивов информации. Для обработки данных сейчас предлагаются самые разные пакеты программ, включающие способы сокращения объема данных и их предварительной обработки, а также варианты пространственного представления и анализа с функцией группирования.
В заключение можно утверждать, что прогресс как в элементной, так и в общей аналитике активно следует за необходимостью создания оптимального равновесия между обязательным совершенствованием и неизбежно связанным с ним риском для нашего здоровья и общей безопасности. Иными словами, многочисленные манипуляции в химико-аналитических целях способствовали, с одной стороны, оптимизации химических процессов, большему пониманию влияния загрязнений и примесей - даже на уровне ультраследов — на химические и физические свойства материалов, с другой стороны, обнаружению возможного присутствия вредных и опасных веществ.
Здесь следует еще раз подчеркнуть, что аналитические фундаментальные исследования не только создают базу для максимально экономичной рутинной аналитики завтрашнего дня. Они являются также непреложным условием для исследования ряда не совсем понятных пока процессов в биологии, медицине и окружающей среде. Можно назвать здесь хотя бы весьма сложный и мало пока изученный вопрос касательно значения «следовых элементов» в повседневной жизни человека, которые в слишком высокой концентрации способны оказывать токсическое действие, при умеренной концнтрации действовать с разной степенью активности, а в слишком малом объеме вызвать явления недостаточности.
Каким же видится дальнейшее развитие атомной и молекулярной спектрометрии? Безусловно, некие новые, до сих пор еще не нашедшие применения принципы будут в ближайшее время опробованы в фундаментальных исследованиях и аналитике, но каких-то потрясений или невероятных открытий здесь вряд ли стоит ожидать. Наблюдаемый в данный момент тренд создания более сложных устройств больших размеров не может продолжаться одинаково активно во всех сферах. Во- первых, это не оправдано с финансовой точки зрения, во-вторых, это просто не нужно. При более детальном рассмотрении возможных тенденций развития в данной области обнаруживается, что классические приборы сначала проходят модернизацию за счет замены отдельных узлов. Конкретнее это выглядит следующим образом.
-
Тепловые источники света инициируются лазером, световоды позволяют проводить дистанционные исследования.
-
Призмы заменяются дифракционными решетками, плоские решетки с механически нанесенными штрихами — выполненными голографическим способом вогнутыми решетками; широко применяются интерферометры.
-
Фотопластины были заменены сначала сканирующими одноканальными детекторами, а затем — растровыми (построчными) и матричными детекторами.
-
Цифровые вычислительные машины, используемые сначала только для обработки спектров, сейчас управляют всем процессом измерения и расшифровки результатов.
Период переоснащения, похоже, еще далеко не завершен. Совершенно новые и обширные области применения спектроскопических методов требуют наличия оборудования в новом конструктивном исполнении: все чаще анализы приходится выполнять в реальном времени, решая проблему прямо на месте; для этого нужны надежные, компактные спектрометры. Спектральные способы привлекают все больший интерес со стороны аналитики окружающей среды. И конечно, без этих методов не обойтись в деле сортировки мусора. Да и медицинская диагностика открывает просто необъятное поле деятельности.
Создается впечатление, что наконец настало время вновь подумать о возможности оптимизации всех существующих методик, еще раз скрупулезно рассчитать каждый узел прибора и более точно согласовать все стадии того или иного аналитического способа. Можно ожидать, что в ходе этого процесса появятся устройства и способы, значительно более эффективные, но при этом и более дешевые [16.1]. Неизбежная при этом миниатюризация будет способствовать увеличению отношения сигнал/шум, следовательно, понижению предела обнаружения и повышению точности измерения. Одновременно это может привести также к уменьшению требуемого для исследования объема проб, что опять-таки есть прямой путь к сокращению затрат.
Методы спектроскопии, особенно молекулярной спектрометрии, представляется целесообразным использовать в целях идентификации веществ лишь при наличии надежных банков спектров. Понятно, что эти спектры должны быть представлены в цифровой форме. Подобные собрания будут достаточно эффективны только в том случае, если хотя бы для наиболее важных методов в распоряжении будет некая критическая масса из более чем 10000 спектров. Для достижения этой цели необходимо систематически и ответственно коллекционировать все имеющиеся спектры, а химиков следовало бы обязать спектры вновь созданных либо выделенных из естественных веществ элементов публиковать в некоем глобальном сборнике.
В заключение следует заметить, что целесообразное применение спектроскопических методов, несмотря на прогрессирующую автоматизацию, возможно лишь при условии, что все работы будут выполняться под контролем опытных спектроскопистов, обладающих глубокими познаниями в области аналитики и понимающих в этом деле больше, чем те, кто аналитикой считает только умение проводить неорганические количественные анализы. Химико-аналитические лаборатории должны иметь в своем штате и хорошо обученных техников-лаборантов. Обязанностью научного сообщества, совместно со специализированными высшими школами, практикующими естествоиспытателями и всеми, так или иначе причастными к этой теме, является обучение предмету «спектроскопия» разными способами и средствами, будь то курсы повышения квалификации, конференции, циклы лекций и т.п. Надеемся, что и настоящая книга послужит на пользу этому благородному делу.
Литература
-
Kraus, G., J. Göppert, W. Rosenstiel und G. Gauglitz: Neuronale Netze in der chemischen Analytik. GITFachz. Lab. 38, Nr. 10, 1133-1138 (1994).
-
Schmitz, K.: Neue Impulse für die Materialwissenschaft. Nachr. Chetn. Tech. Lab. 42, Nr. 11, 1138-1139 (1994).
-
Tölg, G., und R.P.H. Garten: Angew. Chetn. Int. Ed. Engi. 24, 485 (1985).
-
Garten, R.P.H., und H.W. Werner: Anal. Chim. Acta 297, 3 (1994).
-
Warnecke, H.-J.: Interdisziplinär handeln! Statement über die Zukunft des Forschungsstandortes Deutschland. Process 2, Nr. 7/8, 20-21 (1995).
-
Eder, A.: Das Wasser ist sein Element. Das Institut Fresenius und die Mineralwasser analyse. Labor 2000, 18-24 (1994).
-
Hollemann, A.F., und E. Wiberg: Lehrbuch der Anorganischen Chemie. Berlin, New York: Walter de Gruyter Verlag, 1985.
-
Kabisch, R., und I. Witte: Wenn Ungiftiges giftig wird! Labor 2000, 66-73 (1988).
-
Hauthal, H.G.: Abgaskatalysatoren — mehr Leistung, komplettes Recycling. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 10, 1148(1993).
-
Tschöpel, R, und G. Tölg, J.: Trace Microprobe Techn. 1, 1 (1982).
-
Andrle, C., und J.A.C. Broekaert: Speziation von Cr(III) und Cr(VI). Nachr. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 11, 1140-1146 (1994).
-
Hässelbarth, W: Traceability — Rückfiihrbarkeit in der chemischen Analytik. GITFachz. Lab. 39, Nr. 9, 835-838 (1995).
-
Bremser, W, und A. Zschunke: Zuverlässigkeit in der Analytischen Chemie. Die Abteilung «Analytische Chemie; Referenzmaterialien» der Bundesanstalt für Materialforschung und -Prüfung (ВАМ) Berlin. GITFachz. Lab. 39, Nr. 9, 825-834 (1995).
-
Linscheid, Μ., W Nigge und U. Marggraf: Kopplungstechniken Chromatographie/ Spektroskopie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 9, M67-M78 (1995).
-
Ballschmiter, K.: Analytische Chemie — ein Fach im Wandel. GIT Fachz. Lab. 38, Heft 10, 1042-1046(1994).
-
Kurfürst, U.: Homogenität und Analysengenauigkeit. Theorie und Beispiele aus der Spurenanalytik der Elemente. GITFachz. Lab. 37, Nr. 10, 868-875 (1993).
-
Schmid, R.D.: Globale Umweltprojekte in Japan. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 4, 428-434 (1993).
-
Hauthal, H.G.: Das Umweltforschungszentrum Leipzig-Halle. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 9, 984-989(1993).
-
Cikryt. P.: Dioxine: Eine unendliche Geschichte? Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 5, 550-556 (1993).
-
Hoffmann, H.-J.: Analytik im Recht. Analytik in den rechtlichen Regelungen für Abwasser und Klarschlamm. Labor 2000, 158—165 (1993).
-
Hahn, J.: Gesetzgebung und Analytik am Beispiel der Wasserwirtschaft. Labor 2000, 244-262 (1987).
-
Stroetmann, C: Umweltanalytik — ihre Bedeutung aus der Sicht der Bundesregierung. LABO22, Nr. 6, 7-12(1991).
-
Gauweiler, R: Umweltanalytik und Gesetzgebung. Labor 2000, Ausgabe 1992, 3.
-
Mandelatz, K.W.: Chemische Emissionen und ihre Bewertung. Labor 2000, 102—105 (1994).
-
Fritz, R., und Μ. Spiteller: Metabolismusforschung für den Umweltschutz. Labor2000, 20-31 (1993).
-
Kerndorff, H., und H.H. Dieter: Das Gefährdungspotential von Altablagerungen — Trinkwasser aus Grundwasser und seine standortnahe wissenschaftliche Bewertung. GIT Fachz. Lab. 37, Nr. 5, 388-392 (1993).
-
Franzius, V: Aktuelle Entwicklung zur Altlastenproblematik in der Bundesrepublik Deutschland. UTA 5, Nr. 6, 443-449 (1994).
-
Pudill, R.: Strategien der Altlastenuntersuchung. LP Special: Chromatographie/ Spektroskopie, 80—84 (1991).
-
Gesellschaft DeutscherChemiker, Beratergremium für umweltrelevante Altstoffe (BUA): Umweltrelevante Alte Stoffe, Auswahlkriterien und Stoftliste. VCH-Verlagsgesellschaft, Weinheim 1986.
-
Williams, R. H.: Gefordert sind neue und erschwingliche Technologien. Ein Rückblick auf die 2. Internationale Konferenz zur Altlastensanierung. UTA 5, Nr. 6, 450—453 1994).
-
Bahdir, Μ.: Organische Abfallanalytik als Screenig und auf Einzelstoffe. GIT Fachz. Lab. 38, Nr. 4, 308-316 (1994).
-
Wagner, L, und W. Fink: Tips zur respirometrischen BSB-Bestimmung. Labor Praxis 19, Nr. 10, 30-32(1995).
-
Link, Μ.: Biotests in der Abwasseranalytik. LP Special: Chromatographie/Spektroskopie, 99-101 (1991).
-
Fabian, R: Das Ozonloch: chemische Aspekte. Labor 2000, 8-15(1988).
-
Günther, A.: Umweltprobleme. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 10,1114—1120 (1993).
-
Gökcek, С., P. Kunik und D. Schmicker: Umwelt auf dem Pröstand. Labor 2000, 103— 110 (1991).
-
Schmidt, E: Umweltdaten, Sammeln, Verstehen, Entscheiden. Labor 2000, 48—58 (1989).
-
Bongartz, A., S. schweighoefer und J. Karnes: Luftchemie — die Atmosphäre im Labor. Labor 2000,146-154 (1989).
-
Riede, K. R: Mobile Analytik - 25 Jahre Fortschritt in der Umweltanalvtik. LABO 26, Nr. 2, 48-49(1995).
-
Hartmann, B.: EU-Umweltaudit. Galvanotechnik 86, Heft 9, 2970—2976 (1995).
-
Schemmer, Μ.: Öko-Audit. Erfahrungen der AEG Daimler-Benz Industrie mit Umwelt-audits nach EU-Vorgaben. UTA 6, Nr. 1, 58—61 (1995).
-
Hatzopoulos, L: Chemiestandort Europa. Gentechnik und mehr. Nach. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 9, 864-868 (1994).
-
Hein, H.: Labormanagement in der Umweltanalytik. Labor 2000, 46-52 (1992).
-
Gauglitz, G.: Trends in der UV/Vis-Spektroskopie. Labor 2000, 74—83 (1994).
-
Talsky, G., L. Mayring und H. Kreuzer: Feinauflösende UV/VlS-Derivativspektrometrie höherer Ordnung. Angew. Chem. 90, 840—854 (1978).
-
Talsky, G.: Warum Derivativspektrophotometrie höherer Ordnung? GIT Fachz. Lab. 26, 929-932 (1982).
-
Müller, H.: Neues Spektrometerkonzept für die Routine-UV/VIS-Spektroskopie. LaborPraxis November 1988, 1218.
-
Bayerbach, S.: Moderne Werkzeuge zur Entwicklung einer UV-Vis-Methode im Hinblick auf eine Validierung. GIT Fachz. Lab. 37, Nr. 11, 978-980 (1993).
-
Eifler, K.-J., und C. Cottrell: LaborPraxis April 1982, 248.
-
McCarthy, C.J. und E.E. King: Hochauflusende Photodiodenarray-Spektrometrie. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 126—129 (1989).
-
Gauglitz, G.: UV/Vis-/Fluoreszenz-Spektroskopie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 11, Ml-M5(1994).
-
Owen, T, und J. Emmert: Diodenarray-Technik fbr Routineanalysen. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 141 — 143 (1987).
-
Emmrich, R., und E Fiedler: Spektralphotometrie mit faseroptischen Sonden. Labor Praxis 18, Nr. 5, 42-51 (1994).
-
Fitch, R, und A.G. Garges: International Laboratory Sept. 1987, 100.
-
Wolfbeis, O. S.: Optoden und Fluorophore. Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 3, 313—316 (1995).
-
Markert, B.: Wasseranalytik II. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 11, M1-M12 (1993).
-
Schwedt, G., В. C. Seo, S. Dreyer und E.-U. Ruhdel: Nitrit, Nitrat in Wässern. Photometrische Schnellverfahren und lonenchromatographie im Vergleich. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 46—47 (1987).
-
Bishop, J., G. Forderkunz und J. Maassen: Neue Wege in der UV/VIS-Spektroskopie. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 112—114 (1991).
-
Lassak, H.-E: Lumineszenz im Microplate-Format. LaborPraxis 14, Nr. 5, 370—374 (1990).
-
DIN 38 407-F8: Bestimmung von polycyclischen aromatischen Kohlenwasserstoffen in Trinkwasser. Juni 1981.
-
Greulich, Κ.-O., K. Kleinermanns, P. Monkhouse und J. Wolfrum: Laser im Labor. Labor 2000, 229-242 (1987).
-
Bradley, A.B., und R.N. Zare: J. Am. Chem. Soc. 98, 620 (1976).
-
Resch, U., K. Rurack und Μ. Senorer: Zeitaufgelöste Fluorometrie in der Wasseranalytik. Nachr. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 5, 504-506 (1994).
-
Mingram, W: Umweltverträgliche Umweltanalytik. Trennung von PAK in Trink- und Grundwasser. LaborPraxis 16, Nr. 9, 896—900 (1992).
-
Jäger, E., und H. Lucht: Zeitaufgelöste Laserspektroskopie. Nachweis von PAK in Wasser. LaborPraxis 16, Nr. 9, 872-877 (1992).
-
Gerwert, K., und G. Souvignier: Zeitaufgelöste FTIR-Differenzspektroskopie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 9, 950-956 (1993).
-
Molt, К.: FT-IR-, NIR- und Raman-Spektroskopie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 9, Ml-M12(1993).
-
Birch, J. R., und F. J. J. Clarke: Fifty Categories of Ordinate Error in Fourier Transform Spectroscopy. Spectroscopy Europe 7, No. 4,16—22 (1995).
-
Wolters, J.: Die Langweg-Gaszelle. Eine Anwendungsmöglichkeit des zukunftsträchtigen IR-Zubehörs. LaborPraxis 17, Nr. 6, 78—79 (1993).
-
Oelichmann, J., und A. Rau: Neuere Reflexionsmethoden in der FTIR-Spektroskopie. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 134—140 (1987).
-
Krohmer, R,und R. Dunelli: UR-Tips35. Überlingen: Bodenseewerk Perkin-Eimer, 1967.
-
Wfeiss, J.: FIR-Messung von Festkörpern per ATR. LaborPraxis 19, Nr. 9,36—38 (1995).
-
Viktorin, Μ.: H-ATR. Spezielle FTIR-Techniken in der Anwendung. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 102—106 (1991).
-
Hohmann, H.: FT1R und ATR-Technik in wäßrigen Systemen. Qualitative und quantitative Analyse. GITFachz. Lab. 38, Nr. 4, 343—347 (1994).
-
Fischer, G., und Μ. Bader: Schmelzfilmtechnik für die IR-Spektroskopie. LABO 25, Nr. 7-8, 28-32(1994).
-
Golden, W.G., und D.D. Saperstein: J. Phys. Chem. 88, 574 (1984).
-
Hauser, Μ., und J. Oelichmann: 6th International Conference on Fourier Transform Spectroscopy, Wien 24.-28. Aug. 1987.
-
Röd: Photoakustische Gasdetektion. Von der Beobachtung bis zur industriellen Anwendung. LaborPraxis 17, Nr. 3, 54-65 (1993).
-
Göke, G.: Mikroskopie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 4, M1-M10 (1994).
-
Zachmann, G., und A. Simon: FTIR-Mikroskopie. LaborPraxisSpecial, Chromatographie/ Spektroskopie, 122-127 (1987).
-
Oelichmann, J., und A. Rau: Mikro-Methoden in der FTI R-Spektroskopie. LaborPraxis Special, Chromatographie/Spektroskopie, 144—148 (1987).
-
Compton, D.A.C., M.L. Mittleman und J.G. Grasseli: Appl. Spectroscopy 39,909 (1985).
-
Utschick, H., und W. Kunze: Qualitätssicherung durch Anwendung thermoanalytischer Methoden. LABO 26, Nr. 4, 33-35 (1995).
-
Schönherr, R.: TGA-FTIR-Kopplung. Identifikation von Basispolymeren in Elastomeren. LaborPraxis September 1995, 24—27.
-
Obrenski, R. J., J. Miller und R. Fischer: Anwendung von Vektoren in der analytischen IR- Spektrometire. Labor Praxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 205—212 (1986).
-
Molt, K.: NIR-Spektroskopie für die Identitätsprüfung. Nachr. Chetn. Tech. Lab. 43, Nr. 3, 330-336(1995).
-
Kurowski, Ch.: Einsatz der NIR-Spektroskopie in der Qualitätssicherung für Lebensmittel. GITFachz. Lab. 39, Nr. 9, 785-788 (1995).
-
Bünning-Pfaue, H., undC. Urban: Untersuchung von Fleischerzeugnissen mittels NIR-Spektrometrie und deren Leistungsparameter. GIT Fachz. Lab. 39, Nr. 9, 775—782 (1995).
-
Molt, K.: FT-IR-, NIR- und Raman-Spektroskopie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 9, Ml-M12(1994).
-
Seibel, W, und E. Rabe: Backwaren. Einteilung und Analytik. Labor2000, 184—196 (1987).
-
Isengard, H.-D.: Wasserbestimmung in Lebensmitteln nach Karl Fischer. GIT Fachz. Lab. 39, Nr. 9, 792-794 (1995).
-
Isengard, H.-D., und Th. Krahl: Feuchtebestimmung — eine Übersicht. GITFachz. Lab. 38, Nr. 3, 158-160(1994).
-
Böhme, W, W. Liekmeier, K. Horn und C. Wilhelm: Wasserbestimmung mit N1R- Spektroskopie. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 86—89 (1990).
-
Krahl, T: Schnelle Feuchtebestimmung. Neuheiten und Trends. GIT Fachz. Lab. 38, Nr. 4, 317-320(1994).
-
Winter, B.: Intelligentes Sortieren. Berührungslose, automatisierte Erkennung von Kunststoffen. Process 2, Nr. 9, 56—57 (1995).
-
Sawatzki, J.: FT-Raman-Spektroskopie—Die Renaissance einervielseitigen Analysenmethode. GIT Facbz. Lab. 8, 686-687 (1993).
-
Hirschfeld, T, und D.B. Chase: Applied Spectroscopy 40,\33 (1986).
-
Williams, K.P.J., G.D. Pitt, D.N. Batchelder und B.J. KiP: Confocal Raman Micro-spectroscopy Using a Sigmatic Spectrograph and CCD Detector. Applied Spectroscopy 48, No. 2, 232-235 (1994).
-
Vogt, H.: FT-Raman — eine sinnvolle Methode? Labor Praxis Special: Chromatographie/ Spektroskopie, 147—148 (1989).
-
Davtes, A.N.: Ordinary Trouble with Raman? Spectroscopy Europe 7, No. 5,26—29(1995).
-
Garton, A., D.N. Batchelder und C. Cheng: Raman Microscopy of Polymer Blends. Applied Spectroscopy 47, No. 7, 922-927 (1993).
-
Pohl, В., B. Horstkotte und U. Steeg: LaborPraxis März 1992, 230.
-
Dymott, T. C, D. S. Widmer und О. Heisz: Die Probenzerstäubung in der AAS. Labor- Praxis 7, Nr. 10, 954-964 (1983).
-
Steglich, E: Optimierung flammenatomabsorptionsspektrometrischer Verfahren bei der analytischen Überwachung galvanischer Goldbäder. Galvanotechnik 79, Nr. 3, 762—769 (1988).
-
Völlkopf, U., Z. Grobenski, R. Tamm und В. Welz: Analyst 110, 573 (1985).
-
Schulze, H.: Rationelle Überwachung von Metallspuren. CAVNr. 2, 23—26 (1979).
-
Chang, S.B., und C.L. Chakrabarti: Prog. Anal At. Spectrosc. 8, 83 (1985).
-
L’vov, B.V., V.G. Nikolaev, E.A. Normann, L.K. Polzik und Μ. Mojica: Spectrochim. Acta 41В, 1043 (1986).
-
Schlemmer, G., und H.D. Schulze: AAS — 33 Jahre alt und immer noch jung. Labor 2000, 170-180(1987).
-
Völlkopf, U., Z. Grobenski und B. Welz: G1TFachz. Lab. 26, 444 (1982).
-
Küllmer, G., und P.J. Whiteside: Pyrographitrohre (TPC) für die AAS. Labor Praxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 156—163 (1986).
-
Völlkopf, IL, R. Lehmann und D. Weber: Metallspurenbestimmung in Kunststoffen mit der «Cup-in-Tube»-Technik. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 182-187(1986).
-
Schlemmer, G.: Graphitrohrofen-AAS: auf dem Weg zu absoluter Analyse. Nachr. Chem. Tech. Lab. 57, Nr. 11, 1138-1149 (1989).
-
Piwonka, J., G. Kaiser und G. Tölg: Fresenius Z. Anal. Chem. 321, 225 (1985).
-
Dedlxa J., und I. Rubeska: Spectrochim. Acta 35B, 119 (1980).
-
Kurfürst, U., und B. Rues: Quecksilberbestimmung direkt aus dem Feststoff. LaborPraxis 6, Nr. 10. 1094-1099 (1982).
-
Tasche. H.. Μ. Otto, Th. Grünberg, C. Ahlemeyer und К. E. von Mühlendahl: Queck- silberanalvtik im unteren Nanogrammbereich. GITFachz. Lab. 37, Nr. 5,411 —413 (1993).
-
SLaviN, W, und D. C. Manning: Anal. Chem. 51, 2, 261 (1979).
-
Besse. A.. A. Rosopulo, C. Busche und G. Küllmer: Feststoff-AAS mit Deuterium- Untergrundkompensation. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 102— 107 (1987).
-
Liddel, RR., N. Athanasopoulous und R. Grey: LaborPraxis Januar 1987, 34.
-
Slavin, W, G.R. Camick, D.C. Manning und E. Pruskowska: At. Spectrosc. 4,69 (1983).
-
Kurfürst, U.: 20 Jahre Zeeman-AAS. Labor 2000, 80-91 (1989).
-
Fernandez, F.J., S.A. Myers und W. Slavin: Anal. Chem. 52, 741 (1980).
-
Wirz, R, U. Kurfürst und K.-H. Grobecker: LaborPraxis Januar 1980, 16.
-
Knowles, Μ., und E. Vanclay: Zeeman-Graphitrohr-AAS. Auswahlkriterien für den Anwender. LaborPraxis 17, Nr. 8, 50-57 (1993).
-
Kurfürst, U.: Untersuchungen über die Schwermetallanalyse in Feststoffen mit der Direkten Zeeman-Atom-Absorptions-Spektroskopie. FreseniusZ. Anal. Chem. 315,304(1983).
-
De Loos-Vollebregt, M.T.C., und L. de Galan: Spectrochim. Acta 35B, 495 (1980).
-
De Loos-Vollebregt, M.T.C., und L. de Galan: Spectrochim. Acta 33B, 954 (1978).
-
Schlemmer, G., W. Schrader und H. Schulze: Neues Konzept für die Graphitrohr- AAS. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 107—111 (1991).
-
Grobecker, Κ.-H., und B. Klüssendorf: Routinebestimmung von Spurenelementen mit der ZAAS. Labor Praxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 214—217 (1986).
-
Fernandez, F.J., W. Böhler, Μ.Μ. Beaty und W.B. Barnett: At. Spectrosc. 2, 73 (1981).
-
Smith, S.B., und G.M. Hieftje: Appl. Spectrosc. 37, 419 (1983).
-
Schulze, H.: Die neue Qualität der Routuine-AAS. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 149—151 (1987).
-
Whiteside, P.J., T.J. Stockdale, J. W. Price und G. Küllmer: LaborPraxis April 1983, 284.
-
Brauner, J., und H. de Laffolie: Anwendung der Lichtleitertechnik in de Spektrometrie. Chromatographie/Spektroskopie ’91, 86—89.
-
Schulze, H.: Höhere Produktivität in der Metallspurenanalytik. LaborPraxis 19, Nr. 2, 30-39(1995).
-
Barber, T. E., P. E. Walters, Μ. W. Wensing und J. D. Winefordner: Spectrochim. Acta 46B, 1009 (1991).
-
Frenzei, W: Separationstechniken in der Fließinjektionsanalyse. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 4, 456-460 (1993).
-
Ruzicka, J., und E.E Hansen: Anal. Chem. Acta 78, 145 (1975).
-
Schulze, H., und J. Baasner: Hoher Probendurchsatz garantiert. Vollautomatische Quecksilber-Spurenbestimmung mit Fließinjektions-Kaltdampf-AAS. CAVChemie Anlagen Verfahren 4, 92—94 (1994).
-
Schrader, W, und H. Schulze: FIAS — Die Innovation für die AAS. Chromatographie/ Spektroskopie, 108—110 (1990).
-
Projahn, H.-D., und A. Keim: Intelligentes Fließsystem für die Flammen-AAS. LaborPraxis 19, Nr. 6, 48-54 (1995).
-
N.N.: Ein Hochdruckfließ- und Hochdruckzerstäubungssystem zum Probeneintrag in der Atomspektrometrie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 40, Nr. 7/8, 820—828 (1992).
-
Blödorn, W.: Atomspektrometrie: Anreicherungs- und Abtrenntechniken. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 11, 1252-1258 (1993).
-
Knapp, G., und Μ. Michaelis: CLB Chemie Labor Biotechnik 44, 56 (1993).
-
Werner, R. W: Gesetzesvorschrift für die Reinhaltung der Laborluft. Labor 2000, Ausgabe 1995, 134 und 151-155.
-
Ohls, K.: 30 Jahre hochfrequente Plasmaflammen. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 5, 572-577 (1993).
-
Ifeprek, S.: Plasmachemie heterogener Systeme. Nachr. Chem. Tech. Lab. 36, Nr. 3, 248-258 (1988).
-
Greenfield, S., I.L. Jones und CT. Berry. Analyst 89, 713 (1964).
-
Leb, E, und J.A.C. Broekert: Fresenius Z. Anal. Chem. 333, 2 (1989).
-
Masamba, W.R.I., B.W. Smith und J.D. Winefordner: Appl. Spectrosc. 46, 1741 (1992).
-
Camman, К., und H. Mbller: Fresenius Z. Anal. Chem. 331,336 (1988).
-
Röhl, R.: Mikrowelleninduzierte Plasmen und Atomemissionsspektrometrie. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 188—193 (1986).
-
Camman, К., L. Lendero, H. Feuerbacherund K. Ballschmiter: FreseniusZ. Anal. Chem. 316,194 (1983).
-
Kollotzek, D., D. Oechsle, G. Kaiser, P. TschöpelundG.Tölg: FreseniusZ.Anal. Chem. 318,485 (1984).
-
Fono, A., S. Birch, T. Schmidt und H. Billhofer: LaborPraxis Juni 1991, 512.
-
Backhaus, G.: Weiterentwicklungen in der ICP-Technik, LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 152-159 (1987).
-
Nölte, J.: ICP-OES-Analyse mit Ultraschallzerstäuber. LaborPraxis 17, Nr. 2,46—50 (1993).
-
Pohl, B., und R. Bombelka: Gesicherte ICP-Analysen durch vollautomatische Qualitätssicherung. GIT Fachz. Lab. 37, Nr. 11, 981-986 (1993).
-
Lautenschläger, W: ICP mit Echelle-Gitter-Anordung. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 178-181 (1986).
-
Kolczynski, J.D., D.A. Radspinner, R. S. Pomeroy, M.E. Baker, J.A. Norris, Μ. В. Moran und Μ. J. Pilon: International Laboratory, Mai 1991, 49.
-
Nölte, J.: Spektrometer mit CCD-Detektoren. Neue Möglichkeiten in der ICP-Emission. LaborPraxis 17, Nr. 6, 70-77 (1993).
-
Reipke, J., und U. Jerono: Klärschlammanalyse mit einem Multisimultan ICP Spektrometer. GITFachz. Lab. 38, Nr. 2, 100-101 (1994).
-
Jagdt, S., und H. Schiesing: Erprobung eines Multielement-ZAAS. LaborPraxis 13, Nr. 11, 1036-1039(1989).
-
Brauner, J., und H. de Laffolie: Anwendung der Lichtleitertechnik in der Spektrometrie. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 86—89 (1991).
-
Bewertunge, J., J. Brauner, P. Friedhoff, Μ. Heinen, K.-J. Kremerund K. A. Slickers: Weiterentwicklung der Emissionsspektrometrie durch die Anwendung der Lichtleitertechnik und der Elektronik. Stahl und Eisen 106, 575—581 (1986).
-
Bohle, W, T. Brandt, H. Falk und S. Wolf: Optisches Plasma-Interface fw ICP-OES bis in den Vakuum-UV-Bereich. GIT Fachz. Lab. 8/95, 715-716.
-
Nölte, J.: CLB Chemie in Labor und Biotechnik 42, 72 (1991).
-
Kollotzek, D., P. Tschöpel und G. Tölg: Spectrochim. Acta 39B, 625 (1984).
-
Brenner, LB., A. Zander, S. Kim und A. Henderson: Direct Solids Analysis of Geological and Related Non-Conducting Materials Using Spark Ablation and Slurry Nebulisation. Spectroscopy Europe 7, No. 4, 24-32 (1995).
-
Brenner, I. B., A. Zander, S. Kim und A. Henderson: Spectroscopy Europe 7, No. 4,24 (1995).
-
Boumans, P.W.J.M., J.A.C. Broekert und К. Marcus: Analytical Atomic Spectrome-try: Use and Exploration of Low Pressure Discharges. Spectrochim. Acta, Hefte 2 und 4 (1991).
-
Singer, R.: Universelle Analyse von Oberflächen. LaborPraxis 19, Nr. 10, 78—79 (1995).
-
Heyner, R., S. Männel und G. Marx: GDOS-Tiefenprofil und Spurenanalyse. Labor- Praxis 19, Nr. 9, 28-34 (1995).
-
Winchester, M.R., C. Lazirund R.K. Marcus: Spectrochim. Acta 46B, 483 (1991).
-
Leis, R: Glimmentladungen in der analytischen Atomspektrometrie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 9, 967-972 (1995).
-
Lobe, K., und H. Lucht: Millisekundenschnelle Multielementanalyse. LaborPraxis 19, Nr. 4, 92-102(1995).
-
Falk, Η., E. Hoffmann und Ch. Lüdke: Spectrochim Acta 39B, 283 (1984).
-
Maassen, J.R., und M.W. routh: Gegenüberstellung verschiedener AAS- und AES-Techniken. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 153—157 (1989).
-
Tyler, G.: ICP-MS, or ICP-AES and AAS? A Comparison. Spectroscopy Europe 7, No. 1,14-22(1995).
-
Blödom, W, T. Rippert, D. Thierig und H. Unger: Spuren- und Elementanalyse von Stählen und Ferrolegierungen. Emissionsspektrometrie mit ICP-Anregung. LaborPraxis 16, Nr. 10,982-987(1992).
-
Schmiding, T, B. Pohl und R. Bombelka: Bestimmung von Blei in Paprikapulver. Vergleich von Flammcn-AAS, Graphitrohr-AAS und ICP-OES. GITFachz-Lab. 39, Nr. 6, 569-571 (1995).
-
Houk, R.S., VA. Fassel, G.D. Flesh, H. Svec, A.L. Gray und C.E. Taylor: Anal. Chem. 52, 2283(1980).
-
Dietze, H.-J., und S. Becker: Massenspektrometrische Festkörperanalyse. Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 5, 563-568 (1995).
-
Kuss, H.-М.: Spurenelementanalytik von Stählen mit ICP-MS. Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 7/8, 804-808(1995).
-
Bombelka, R., und B. Pohl: Vereinfachte Spurenanalvtik per ICP-MS. LaborPraxis 19, Nr. 10, 80-86(1995).
-
Hoffmann, H.-J.: Einsatz der ICP-MS in der Wasseranalytik. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 142—146 (1989).
-
Hutton, R. C.: LaborPraxis Special Chromatographie/Spektroskopie 90, 98.
-
Jin, Q., C. Zhu, M.W. Borerund G. Hieftje: Spectrochim. Acta 46B, 417 (1991).
-
Jakubowski, N., D. Stüwer und G. Tölg: Spectrochim. Ada 46B, 155 (1991).
-
Broekert, J.A.C, und G. Tölg: Fresenius Z. Anal. Chem. 326. 495 (1987).
-
Hübschmann, H.-J.: ECD-MS: Über Funktion und Einsatz der Detektion negativer Ionen in der Rückstandsanalytik. GITFachz-Lab. 39, Xr. 5. 434—438 (1995).
-
Rauch, W, U. Tegtmeyerund R. Schlögl: lonen-Molekül-Massenspektrometrie (IMR-MS). GITFachz. Lab. 38, Nr. 2, 93-98 (1994).
-
Paulus, G., und Μ. resch: Molmassen-Bestimmung mittels MALDI-MS. Nachr. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 7/8, 719-722 (1994).
-
Krüger, R.: Molmassenbestimmung mittels MALDI-MS. Nachr. Chem. Tech. Lab. 42, Nr. 7/8, 719-722 (1994).
-
Dawell, Μ. A.: MS - ohne geht nichts mehr in der Proteinchemie. LaborPraxis 19, Nr. 10, 46-49 (1995).
-
Krüger, R.-R: MALDI-TOF-MS synthetischer Polvmere. GITFachz. Lab. 39, Nr. 3, 189-194(1995).
-
Lattimer, R.P., und H.R. Schulten: Anal. Chem. 61, 1201 (1989).
-
Barber, Μ., R. S. Bordoli, R.D. Sedgwick und A.N. Tylor: Nature 293, 270 (1981).
-
Röllgen, F.W: «Fast AtomBombardemento-Massenspektrometrie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 31, Nr. 3, 174-177 (1983).
-
Tuszynski, W., und E. Hilf: Plasma-Desorptions-Massenspektrometrie. Labor2000, 99—103 (1989).
-
Becker, J.S., und H.-J. Dietze: Fresenius J. Anal. Chem. 344, 69 (1992).
-
Karas, Mvund U. Giessmann: Matrix-unterstützte Laserdesorptions-Massenspektrometrie. Labor 2000, 71-83 (1992).
-
Dietze, H.-J., und S. Becker: Massenspektrometrische Festkörperanalyse. Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 5, 563-568 (1995).
-
Illenberger, E.: Massenspektrometrie mit negativen Ionen. LABO15, Nr. 8,868—870 (1984).
-
Johnson, J. V., und R.A. Yost: Tandem Mass Spectrometry in Trace Analysis. Anal. Chem. 758A, 57(1985).
-
Schubert, R.: Triple-Stage-Quadrupol-Massenspektrometrie. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 108—121 (1987).
-
Karaghiosoff, К., H.A. Mayer und B. Costisella: Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 9,966 (1995).
-
Asche, W: Aus der Geschichte der NMR. 50 Jahre Kernresonanz. LABO 26, Nr. 1, 126-128 (1995).
-
Seimet, U.: Dynamische Moleküle im NMR. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 5, 584—586 (1993).
-
Roth, K.: NMR-Spektroskopie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 37, Sonderheft Spektroskopie, 249-260 (1989).
-
Glaser, S. J.: Entwicklung maßgeschneiderter Multipuls-Experimente für die NMR- Spektroskopie biologischer Makromoleküle. GIT Fachz. Lab. 37, Nr. 8,677—678 (1993).
-
Meusinger, R., und H. Schindlbauer: Struktur-Eigenschaftsbeziehungen von Vielstoffgemischen (Oktanzahlbestimmung mit Hilfe der NMR-Spektroskopie. GITFachz. Lab. 38, Nr. 2, 115-116(1994).
-
Rapp, A., undA. Markowetz: Anwendung der NMR-Spektroskopie in der Weinanalytik. Labor2000, 113-120 (1991).
-
Meusinger, R., R. Hommelund U. Himmelreich: Invivo NMR des Kohlenhydratstoffwechsels von Candida apícola. GITFachz. Lab. 38, Nr. 4, 363-366 (1994).
-
Leibfritz, D.: Medizinische Anwendungen der NMR-Spektroskopie. Labor 2000, 50—60 (1991).
-
Emst, H., D. Freude, H. Pfeiferund I. Wolf: Multinuclear Solid-State NMR. GITFachz. Lab. 38, Nr. 6, 708-710 (1994).
-
Blümler, R., und В. Blümich: NMR of Polymers in the Solid-State. Spectroscopy Europe 7, No. 3,8-16(1995).
-
Spiess, H.W.: NMR-Spektroskopie von Makromolekülen. Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 2, 204-205(1995).
-
Berrie, P. G.: Hochpräzis bei dünnen Schichten. Das Röntgenfluoreszenz-Verfahren zur Messung galvanischer Schichten. Industrieanzeiger, Nov. 334—337 (1986).
-
Knipping, B., Μ. G. Siemann und K. Herrmann: Analyse von Bodenproben und Abfällen per RFA mit RDA. LaborPraxis 18, Nr. 11, 78-82 (1994).
-
Röd: Über 50 Jahre Röntgenanalytik. LaborPraxis 17, Nr. 9, 40-42 (1993).
-
Koch, K.H., K. Ohls und J. Flock: Rationalisierung der Multi-Elementanalytik durch Einsatz der RFA. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 120—124 (1991).
-
Haschke, Μ., Μ. Brumme und J. Heckel: Neue Möglichkeiten der energiedispersiven Röntgenfluoreszenzanalyse. LaborPraxis 15, Nr. 9, 736—740 (1991).
-
Ollmann, B., und H. Hölzer: Röntgenfluoreszenzanalyse. Kontrolle 6, 183—185 (1985).
-
Warner, T., H. Rethfeld und A. Jannsen: RFA zur Mineralstoffbestimmung in Trinkwasser. LaborPraxis 19, Nr. 6, 66-69 (1995).
-
Van de Kemenade, J.: Röntgenanalyse — die ersten 100 Jahre (1985—1995). Labor2000, Ausgabe 1995, 48-53.
-
De Jongh, W.K., H.-P. Schäfer und U. Medune: Semiquantitatives Verfahren für die XRF-Analyse. LaborPraxis 13, Nr. 10, 870-872 (1989).
-
Wobranschek, R., und H. Aiginger: Spectrochim. Acta 35B, 607 (1980).
-
Knoth, J., und H. Schwenke: Fresenius Z. Anal. Chem. 301, 7 (1980).
-
Prange, A.: Totalreflexions-Röntgenfluoreszenz. Nachr. Chem. Tech. Lab. 41, Nr. 1, 40-45 (1993).
-
Gühring, W.H.: Meßverfahren und Geräte zur Dickenmessung metallischer Schichten. Galvanotechnik 72, Nr. 10, 1059—1071 (1981).
-
Lehmann, W: Exakte Schichtdicken-Messung mittels Röntgenfluoreszenz. Metalloberfläche 39, Heft 3, 85-88 (1985).
-
Paatsch, W.: Verfahren zur Dickenmessung sehr dbnner Schichten. Galvanotechnik 68, Nr. 10, 865-870 (1977).
-
Gollan, D., G. HaschkeundV. Rößinger: Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)galvanischer Messingüberzüge auf Drähten. Metalloberfläche 37, Nr. 12, 496—499 (1983).
-
Kikkert, J., und J. Hohler: Neuere Entwicklungen in der Röntgenspektrometrie. LaborPraxis Special: Chromatographie/Spektroskopie, 174—177 (1986).
-
Kikkert, J., und H. Hohler: Neuere Entwicklungen in der Röntgenspektrometrie. LaborPraxis Special Chromatographie/Spektroskopie 86, 174—177.
-
Untenecker, H., S. Jentsch und B. Diebel: Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) leichter Elemente in pastenartigen Proben. GITFachz. Lab. 39, Nr. 6, 577-581).
-
N.N.: C-, N- und О-Analyse mit RFA. LaborPraxis 17, Nr. 10, 84-85 (1993)
-
Kanani, N.: Oberflächenanaylse: technische Möglichkeiten, praktische Anwendungen. Galvanotechnik 86, Nr. 5, 1526-1534 (1995).
-
Matthieu, H.J.: Moderne Oberflächen-Analysenmethoden. Obetfläche/Surface 24, 78—82 (1983).
-
Koch, Μ., und K. Schwitzgebel: Untersuchung von Oberflächen mit Licht-, Röntgen- und Elektronenstrahlen. Metalloberfläche 20, Nr. 6, 253—260 (1966).
-
Schäfer, W: Energiedispersive Röntgenmikroanalyse am Rasterelektronenmikroskop. LaborPraxis 7, Nr. 9, 786-796, Nr. 10, 946-952 (1983).
-
Hantsche, H.: Energiedispersive Röntgenmikroanalyse — Anwendungsgebiete, Grenzen und Fehlermöglichkeiten. GIT Fachz. Lab. 25, 682-698 (1981).
-
Niecke, Μ.: PIXE-Pikogramm-Protonenmikrosonde. Labor 2000, 94—102 (1991).
-
Landolt, D.: Elektrochemie und Oberflächenchemie von Metallen. Material und Technik Nr. 1,72-76(1985).
-
Frommeyer, G,. und H.-J. Sölter: Anwendung spektroskopischer Analysenmethoden für Oberflächen- und Grenzschichten. Teil 1. Scanning Auger Microscopy. Metalloberfläche 33, Nr. 12, 546-550 (1979).
-
Kaufmann, R., und H. Höcker: XPS eine Methode zur Charakterisierung von Faserveränderungen in der Oberfläche. GITFachz. Lab. 38, Nr. 4, 348—352 (1994).
-
Frommeyer, G., und H.-J. Sölter: Anwendung spektroskopischer Analysenmethoden für Oberflächen- und Grenzschichten. Teil 2. ESCA, SIMS, ISS, LEED, Raman- Spectros-copy. Metalloberfläche 34, Nr. 1, 19—23 (1980).
-
Persch, G., und H. Strecker: Das Rastertunnelmikroskop. Labor 2000, 72-79 (1989).
-
Binnig, G., und H. Rohrer: Scanning Tunneling Microscopy. Helv. Phys. Acta 55, 726 (1982).
-
Williams, C.C., und H.K. Wickramasinghe: Appl Phys. Lett. 49, 1587 (1986).
-
Dührig, U., D. Pohl und F. Rohner: IBM J. Res. Develop. 30, 478 (1986).
-
Binnig, G., C.F. Quatc und Ch. Gerber: Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986).
-
Fowler, R.H., und L. Nordheim: Electron Emission in Intense Electric Fields. Proc. Roy. Soc. Lond. A 119, 173 (1928).
-
Binnig, G., und H. Rohrer: Scanning tunneling microscopy. IBM J. Res. Develop. 30, No. 4, July 1986, 355-369.
-
Friedbacher, G.: Rasterkraftmikroskopie. Nachr. Chem. Tech. Lab. 43, Nr. 3, 342—346 (1995).
-
Martin, Y, D. Rugar und H.K. Wickramsinghe: Appl. Phys. Lett. 52, 244 (1988).
-
Göddenhenrich, T: Rasterkraft- und Magnetokraft-Mikroskopie. Labor 2000, 164—169 (1992).
-
Ricken, С., К. Borgwarth, D.G. Ebling und J. Heinze: Das Raster-Elektrochemische Mikroskop (SECM). GITFachz. Lab. 8/95, 730-731. .Ohls, K. D., H. Edel und K. Cammann: High-Tech fws Labor. Neue instrumentelle Methoden, die noch nicht geratetechnisch vermarktet sind. Hier: Varianten der spektroskopischen Analyse. LABO-TREND 95, 4—10.
Дополнительная литература
К главе 1:
Bernabei, D..: Sicherheit - Handbuch fiir das Labor. GIT-Verlag 1993.
Kromidas, S.: Qualität im analytischen Labor. Weinheim: VCH-Verlag, 1995.
Söhngen, K.: Qualitätssicherungs-Handbuch. Berlin, Heidelberg, New York, London, Paris, Tokyo, Hong Kong: Springer-Verlag, 1995.
Christ, G. A, F.J. Harston und H.W. Hembeck: GLP— HandbuchfiirPraktiker. GIT-Wrlag, 1992.
Huber, L.: Gute Labor-Praxis (GLP) — Ein Leitfaden. Hewlett-Packard Publ. 1993.
Fusfeld, H.I.: Industry’s Future — Changing Patterns of Industrial Research. Washington, DC: American Chemical Society, 1994.
Sargent, Μ. und G. Mackey: Guideline for Achieving Quality in Trace Analysis. Cambridge: Royal Society of Chemistry, 1995.
Schwedt, G.: Analytische Chemie — Methoden und Praxis. Stuttgart: Thieme-Verlag, 1995.
Koch, O. G. und G. A. Koch-Dedic: Handbuch der Spurenanalyse. Berlin: Springer-Verlag, 1974.
Krull, Т.-S.: Trace Metal Analysis and Speciation. Amsterdam: Elsevier Science Publishers, 1992.
Otto, Μ.: Analytische Chemie. Weinheim: VCH-Verlagsgesellschaft, 1995.
Smyth, Μ. R.: Chemical Analysis in Complex Matrices. Chichester: Ellis Horwood, 1992.
Bliefert, C: Umweltchemie — schneller Einstieg. Weinheim: VCH-Verlag, 1994.
Hulpke, Η., H. Hartkamp und G. Tölg: Analytische Chemie für die Praxis: Umweltanalytik — Eine allgemeine Einführung. Stuttgart: Thieme Verlag, 1988.
Arendt, G.: Analytik bei Abfallentsorgung und Altlasten. Düsseldorf: VDI-Verlag, 1991.
Fabian, R: Atmosphäre und Umwelt; Chemische Prozesse, menschliche Eingriffe. Berlin: Springer-Verlag, 1985.
Schwedt, G.: Mobile Umweltanalytik. Würzburg: Vogel Buchverlag, 1994.
Stoeppler, Μ.: Probennahme und Aufschluß. Basis der Spurenanalytik. Berlin, Heidelberg, New York, London, Paris, Tokyo, Hong Kong: Springer-Verlag, 1994.
Günzler, H., und R. Borsdorf: Analytiker Taschenbuch. Berlin, Heidelberg, New York, London, Paris, Tokyo, Hong Kong: Springer-Verlag, 1994.
Richardson, Μ.: Ecotoxicology Monitoring. Weinheim: VCH, 1993.
К главе 2:
Schmidt, W.: Optische Spektroskopie — Eine Einführungfür Naturwissenschaftler und Techniker. Weinheim, New York, Basel, Cambridge, Tokyo: VCH Verlagsgesellschaft, 1994.
Perkampus, H.-H.: Encyclopedia of Spectroscopy. Weinheim: VCH-Verlagsgesellschaft, 1995.
Andrews, D. L., und A. Μ. C. Davies: Frontiers in Analytical Spectroscopy. Cambridge: Royal Society of Chemistry, 1995.
Staab, Η. A.: Einführung in die theoretische organische Chemie. Weinheim: Verlag Chemie.
К главе 3:
Perkampus, H.-H.: UV-VIS Atlas of Organic Compunds. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft, 1992.
Perkampus, H.-H.: UV-VIS-Spektroskopie und ihre Anwendungen. Berlin, Heidelberg, New York, Tokyo: Springer-Verlag, 1986.
Svehla, G.: Analytical Visible and Ultraviolet Spectrometry, Vol. XIX. Compre hen. Analytic. Cehm. Amsterdam: Elsevier, 1986.
Talsky, G.: Derivative Spectrophotometry. Weinheim: VCH-Verlagsgesellschaft, 1994.
К главе 4:
Baeyens, W.R.G., D. de Keukeleire und К. Kordikis: Luminiscence Techniques in Chemical and Biochemical Analysis. New York: Marcel Dekker, 1991.
Lakowicz, J. R.: Principles of Fluorescence Spectroscopy. New York, London: Plenum Press, 1983.
Schwedt, G.: Fluorometrische Analyse. Weinheim: Verlag Chemie, 1981.
Wolfbeis, O.S.: Fluorescence Spectroscopy — New Methods and Applications. Heidelberg: Springer-Verlag, 1993.
К главе 5:
Barrow, G. Μ.: Introduction to Molecuar Spectroscopy. McGraw-Hill 1962.
Ferraro, J. R. und L. J. Baisle: Fourier Transform Infrared Spectroscopy. Academic Press, New York 1978.
Griffith, P. R. und J. A. DeHaseth: Fourier Transform Infrared Spectroscopy. John Wiley & Sons, New York 1986.
Harrick, N.J.: Internal Reflection Spectroscopy. Scientific Corporation, Ossining, New York 1987.
Kortüm, G.: Reflexionsspektroskopie. Springer Verlag, Berlin 1969.
Pao, Y.-H.: Optoacoustic Spectroscoy and Detection. Academic Press 1977.
Roeges, N. P. G.: A Guide to the Complete Interpretation ofInfrared Spectra of Complex Structures.
John Wiley & Sons Ltd, Chichester 1994.
Rosenwaig, A.: Photoacoustics and Photoacoustic Spectroscopy. Wiley 1980.
Schrader, B.: Infrared and Raman Spectroscopy. VCH, Weinheim 1994.
Weitkamp, H. und R. Barth: Einführung in die Infrarotspektroskopie. Thieme-Verlag, Stuttgart 1976.
К главе 6:
Burns, D.A. und E.W Ciurczak: Handbook of Near-Infrared Analysis Practical Spectroscopy. New York: Marcel Dekker Inc., 1992.
Osborne, B. G., T. Fearn und P. Η. Hindie: Practical NIR Spectroscopy with Applications in Food an Beverage Analysis. Longman Scientific & Technical, 1993.
К главе 7:
Andrews, D. L.: Applied Laser Spectroscopy. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft, 1992. Schrader, B.: Infrared and Raman Spectroscopy. Weinheim: VCH, 1994.
К главе 8:
Chantry, G.W: Modern Aspects of Microwave Spectroscopy. London: Academic Press, 1979.
Gordy, W. und R. L. Cook: Microwave Molucular Spectra. New York John Wiley & Sons, 1984.
Varma, R. und L.W. Hrubesh: Chemical Analysis by Microwave Rotational Spectroscopy. New York: John Wiley & Sons, 1979.
К главе 9:
Dedina, J. und D. L. Tsalev: Hydride Generation Atomic Absorption Spectrometry. Chichester: John Wiley & Sons, 1995.
Fang, Z.: Flow Injection Separation and Preconcentration, Weinheim: VCH-Verlagsgesellschaft, 1993.
Grobecker, K.-H. und U. Kurfürst: Fortschritte in der atomspektrometrischen Spurenanalytik. Weinheim: Verlag Chemie, 1984. Welz, В.: Atomabsorptionsspektrometrie. VCH, Weinheim 1990.
К главе 11:
Adams, Е, R. Gijbels und R. Klockenkämper: Inorganic Mass Spectrometry. New York: John Wiley & Sons, 1988.
Boumans, RWJ. Μ.: Inductively Coupled Plasma Emission Spectroscopy, Part I und IL New York, Chichester, Brisbane, Toronto, Singapore: John Wiley & Sons 1987.
Boumans, RW.J. Μ.: Line Coincidence Tables for Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry. Oxford: Pergamon Press, 1984.
Montaser, A. und D.W Golightly: Inductively Coupled Plasmas in Atomic Spetrometry. New York: VCH-Verlagsgesellschaft, 1992.
Winge, R.K., V.A. Fassel, V.J. Peterson und Μ. A. Floyd: Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy. Amsterdam: Elsevier, 1985.
К главе 12:
Budzikiewicz, H.: Massenspektrometrie — eine Einführung. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft, 1992.
Busch, K.L., G.L. Glisch und S.A. McLuckey: Mass Spectrometry. VCH Publishers, 1988.
Holland, G. und A. N. Eaton: Applications of Plasma Source Mass Spectrometry. Cambridge: Royal Society of Chemistry, 1993.
McLafferty, F. E.: Tandem Mass Spectrometry. New York: John Wiley, 1983.
McLafferty, F. W. und F. Turecek: Interpretation von Massenspektren. Heidelberg: Spektrum Akademischer Verlag.
Vertes, A., R. Gijbels und F. Adams: Laser Ionization Mass Analysis. Chichester: Wiley & Sons, 1993.
К главе 13:
Abraham, R. J.: Introduction to NMR Spectroscopy. Chichester: Wiley & Sons, 1988.
Blümich, B. und W. Kuhn: Magnetic Resonance Microscopy — Methods and Applications in Material Science, Agriculture and Biomedicine. Weinheim: VCH-Verlagsgesellschaft, 1992.
Breitmaier, E.: Vom NMR-Spektrum zur Strukturformel organischer Verbindungen. Stuttgart, Leipzig: B. G. Teubner Verlag GmbH, 1992.
Callaghan, P. T: Principles ofNuclear Magnetic Resonance Microscopy. Oxford: Oxford University Press, 1992.
Derome, A. E.: Modern NMR Techniques for Chemical Research. New York: Peigamon Press, 1987.
Emst, R. R., G. Bodenhausen und A. Wokaun: Principles fo Nuclear Magnetic Resonance in one and two Dimensions. Oxford: Clarendon Press, 1987.
Forster, M.A. und J.Μ. S. Hutchison: Practical NMR Imaging. Oxford: IRL Press, 1987.
Friebolin, H.: Ein- und zweidimensionale NMR-Spektroskopie. Weinheim: VCH-Verlagsgesellschaft, 1988.
Günther, H.: NMR-Spektroskopie. Grundlagen, Konzepte und Anwendungen der Protonen- und Kohlenstoff-13-Kemresonanzspektroskopie in der Chemie. Stuttgart: Thieme Verlag, 1992.
Hennel, J. W. und J. Klinowski: Fundamentals of Nuclear Magnetic Resonance. Harlow: Longman Scientific & Technical, 1993.
Herzog, W-D. und Μ. Messerschmidt: NMR-Spektroskopie für Anwender (Hrsg.: U. Gruber und W Klein). Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft mbH, 1995.
Pihlaja, K. und E. Kleinpeter: Carbon-13 NMR Chemical Shifts in Structural and Stereo-chemical Analysis. Weinheim: VCH-Verlagsgesellschaft, 1994.
Roberts, G.C.K.: NMR of Macromelecules. A Practical Approach. Oxford: Oxford University Press, 1993.
Schmidt-Rohr, К. und Н. W Spiee: Multidimensional Solid-State NMR and Polymers. London: Academic Press, 1994.
Stejskal, E. O. und J. D. Memory: High Resolution NMR in the Solid State: Fundamentals of СР/MAS. Oxford: Oxford University Press, 1994.
К главе 14:
Hahn-Weinheimer, R, A. Hirner und K. Weber-Diefenbach: Grundlagen und praktische Anwendung der Runtgenfluoreszenzanalyse. Braunschweig, Wiesbaden Vieweg & Sohn, 1984.
Ehrhardt, H.: Röntgenfluoreszenzanalyse. Heidelberg: Springer-Verlag, 1989.
Berlin, E. R: Principles and Practice ofX-Ray Spectrometric Analysis. New York, London: Plenum Press, 1975.
Blochin, Μ. A.: Methoden der Röntgenspektralanalyse. München: Verlag Otto Sagner, 1964.
К главе 15:
Grabke, H. J.: Oberflächenanalytik in der Metallkunde. Deutsche Gesellschaft für Metallkunde, 1983.
Johansson, S. А. E. und J. L. Campbell: PIXE: Novel Technique for Elemental Analysis. John Wiley & Sons, New York, 1988.
Niemantsverdriet, J.W.: Spectroscopy in Catalysis. Vfeinheim: VCH-Verlagsgesellschaft, 1993.